膜片检测机构、涂布装置及膜片涂布方法与流程

本技术涉及膜片检测，特别是涉及一种膜片检测机构、涂布装置及膜片涂布方法。

背景技术：

1、在生产电池之前，需要对电池的极片进行涂染工作，以使极片形成有膜片。在对极片进行涂染时，可应用现有的涂布装置，但现有的涂布装置的膜片检测机构具有膜片外观、膜片重量监控两个功能，无法获取膜片的湿度，从而也无法及时确认膜片的干膜重量，会导致存在阴阳面的风险，若膜片存在阴阳面则会导致膜片流拉从而致使电池内部存在析锂的风险；且现有的涂布装置也需要员工手动调节烘箱，存在滞后性。

技术实现思路

1、本技术提供一种膜片检测机构、涂布装置及膜片涂布方法，旨在解决上述存在的问题。

2、本技术提供了一种膜片检测机构，该膜片检测机构包括：壳体组件、测重组件、测湿件及隔绝件，壳体组件形成用于设置待测膜片的测量腔；测重组件安装于壳体组件，且用于获取待测膜片的重量；测湿件安装于壳体组件，且用于获取待测膜片的湿度；其中，壳体组件包括两个壳体，两个壳体间隔设置以形成测量腔；测重组件包括发射件及接收件，发射件及接收件分别设置在两个壳体上，测湿件设置在其中一壳体上；隔绝件设置在设有测湿件的壳体上，且位于同一壳体上的测湿件和发射件或接收件之间。由此，可以通过膜片检测机构同时检测并获取待测膜片的重量和湿度，能够提高确认待测膜片的干膜质量的效率，从而可以降低了待测膜片存在阴阳面的风险；且这种方式能够提高膜片检测机构的集成度，提高测量精度；此外，将测重组件及测湿件安装在一个壳体上可以测试待测膜片同一位置的湿度和重量，便于后续计算待测膜片的干膜质量，且将隔绝件设置在同一壳体上的测湿件和发射件或接收件之间，可以进一步降低测湿件和发射件或接收件之间的信号干涉，提高获取到的重量和湿度的准确性。

3、在一些实施例中，发射件及接收件沿两个壳体的排布方向重叠设置，且位于同一壳体上的测湿件及发射件或接收件间隔设置。由此，将发射件及接收件沿两个壳体的排布方向重叠设置有利于接收件接收发射件穿透待测膜片的发射信号，可以提高测重组件测试待测膜片重量的效率，测湿件及发射件或接收件间隔设置可以降低两者之间的信号干涉及温度干涉。

4、在一些实施例中，膜片检测机构还包括温度传感器，温度传感器设置于隔绝件上，用于获取待测膜片的温度。由此，设置温度传感器可以获取待测膜片的温度，从而降低温度对测重组件和测湿件的干扰。

5、在一些实施例中，两个壳体上分别设置有第一导轨及第二导轨，第一导轨及第二导轨的延伸方向与待测膜片的传输方向及排布方向垂直设置。由此，设置第一导轨及第二导轨可以使膜片检测机构配合其他机构进行移动，此外，将第一导轨及第二导轨的延伸方向设置为与待测膜片的传输方向及排布方向垂直可以方便膜片检测机构对工作台上任意位置的待测膜片进行检测。

6、在一些实施例中，测重组件包括面密度仪组件；和/或测湿件包括水分仪。由此，测重组件设置为面密度仪组件可以提高获取待测膜片重量的精度，测湿件设置为水分仪可以提高获取待测膜片湿度的精度。

7、本技术还提供了一种涂布装置，该涂布装置包括上述任一项的膜片检测机构、烘箱机构及控制机构，烘箱机构用于对待测膜片进行烘干处理；膜片检测机构用于获取从烘箱机构输出的待测膜片的重量及湿度；控制机构分别与烘箱机构及膜片检测机构通信连接，并用于对重量及湿度进行处理，得到控制信号，并利用控制信号控制烘箱机构。由此，本实施例的涂布装置可以对重量及湿度进行处理得到待测膜片的干膜质量，并生成控制信号，从而利用控制信号控制烘箱机构，可实现智能调控烘箱机构，无需人工调整，从而减少待测膜片因出现缺陷而造成的损失。

8、在一些实施例中，涂布装置还包括放卷机构、收卷机构及工作台；膜片检测机构、放卷机构、收卷机构及烘箱机构均与工作台连接，烘箱机构设置于放卷机构及收卷机构之间；膜片检测机构设置于烘箱机构及收卷机构之间；其中，放卷机构用于将待测膜片释放至工作台上；收卷机构用于对烘干后的待测膜片进行收卷工作。由此，将膜片检测机构设置于烘箱机构及收卷机构之间可以使膜片检测机构及时检测经烘箱机构烘干后的待测膜片，并使控制机构能够及时对烘箱机构进行调整，从而降低待测膜片的损耗。

9、在一些实施例中，涂布装置还包括外观检测机构，外观检测机构设置于烘箱机构及膜片检测机构之间，用于获取工作台上待测膜片的外观信息；其中，控制机构还与外观检测机构通信连接，控制机构还用于对外观信息进行处理，得到缺陷类型，并利用缺陷类型及控制信号控制烘箱机构。由此，设置外观检测机构可以快速获取待测膜片的可视缺陷，从而有利于控制机构及时对烘箱机构进行调整，从而进一步降低待测膜片的损耗。

10、在一些实施例中，涂布装置还包括涂料机构，涂料机构与工作台连接，并设置于放卷机构及烘箱机构之间，涂料机构用于进行涂染工作；其中，控制机构还与涂料机构通信连接，还用于基于控制信号控制涂料机构。由此，控制机构基于重量和湿度可获取待测膜片的干膜质量，并基于干膜质量生成控制信号，若待测膜片的干膜质量未达标准，控制机构可以及时对涂料机构进行调整，从而降低因干膜质量未达标造成的损耗。

11、在一些实施例中，涂料机构包括涂料箱组件及螺杆泵组件，涂料箱组件用于存储涂料，螺杆泵组件与涂料箱组件连接，用于对待测膜片进行涂染。由此，可通过控制螺杆泵组件的泵速实现对待测膜片的重量进行调整。

12、本技术还提供了一种膜片涂布方法，该膜片涂布方法应用于涂布装置，涂布装置包括上述任意一项的膜片检测机构，该膜片涂布方法还包括：利用膜片检测机构获取待测膜片的重量和湿度；基于重量及湿度对涂布装置的干燥参数进行调节。由此，本实施例可以实现待测膜片重量与湿度的同时测试，从而可基于重量及湿度对涂布装置的干燥参数进行调节，以使待测膜片出货时符合预设要求。

13、在一些实施例中，涂布装置还包括外观检测机构及工作台，基于重量及湿度对涂布装置的干燥参数进行调节的步骤包括：利用外观检测机构获取工作台上待测膜片的外观信息；基于重量及湿度获取待测膜片的干膜重量；基于外观信息确定待测膜片是否存在缺陷；若存在缺陷，则基于缺陷获取缺陷类型，并基于缺陷类型及干膜重量对涂布装置的干燥参数进行调节。由此，本实施例可以获取待测膜片的外观信息、重量及湿度，并基于三者对涂布装置的干燥参数进行调节，从而有利于提高涂布装置的膜片出货率。

14、在一些实施例中，基于缺陷类型及干膜重量对涂布装置的干燥参数进行调节的步骤包括：响应于缺陷类型为刮带、气泡及涂漏中的任一者或任意组合，则控制涂布装置停止工作。由此，当缺陷类型为刮带、气泡及涂漏中的任一者或任意组合，控制涂布装置停止工作，可以降低因待测膜片出现刮带、气泡或涂漏时造成的待测膜片的损耗。

15、在一些实施例中，基于缺陷类型及干膜重量对涂布装置的干燥参数进行调节的步骤包括：响应于缺陷类型为膜宽偏大或偏小，则在保持干膜重量与预设目标重量之间的差值小于预设差值的情况下，调节待测膜片的宽度以使膜宽达到预设膜宽。由此，可以使涂布装置的待测膜片的符合预设膜宽的要求，提高涂布装置的膜片出货率。

16、在一些实施例中，涂布装置还包括烘箱机构，干燥参数包括烘箱机构的温度和风频，基于缺陷类型及干膜重量对涂布装置的干燥参数进行调节的步骤包括：响应于缺陷类型为开裂和/或打皱，则在保持干膜重量与预设目标重量之间的差值小于预设差值的情况下，降低烘箱机构的温度和/或风频。由此，当缺陷类型为开裂和/或打皱时，降低烘箱机构的温度和/或风频，可以降低待测膜片因开裂和/或打皱造成的损耗。

17、在一些实施例中，涂布装置还包括涂料机构，干燥参数还包括涂料机构的泵速，基于缺陷类型及干膜重量对涂布装置的干燥参数进行调节的步骤包括：响应于干膜重量与预设目标重量的差值大于或等于预设差值，则调节泵速以使干膜重量达到预设目标重量。由此，可以使涂布装置的待测膜片的符合预设目标重量的要求，提高涂布装置的膜片出货率。

18、在一些实施例中，膜片涂布方法还包括：响应于对涂布装置的干燥参数进行调节的次数大于预设次数阈值且待测膜片仍存在缺陷，则控制涂布装置停止工作，并进行报警提示。由此，可以降低方案问题造成的待测膜片的损耗，降低成本。

19、区别于现有技术，本技术的膜片检测机构包括：壳体组件、测重组件、测湿件及隔绝件，壳体组件形成用于设置待测膜片的测量腔；测重组件安装于壳体组件，且用于获取待测膜片的重量；测湿件安装于壳体组件，且用于获取待测膜片的湿度；其中，壳体组件包括两个壳体，两个壳体间隔设置以形成测量腔；测重组件包括发射件及接收件，发射件及接收件分别设置在两个壳体上，测湿件设置在其中一壳体上；隔绝件设置在设有测湿件的壳体上，且位于同一壳体上的测湿件和发射件或接收件之间。通过上述方式，本技术的膜片检测机构可以通过膜片检测机构同时检测并获取待测膜片的重量和湿度，能够提高确认待测膜片的干膜质量的效率，从而可以降低了待测膜片存在阴阳面的风险；且这种方式能够提高膜片检测机构的集成度，提高测量精度；此外，将测重组件及测湿件安装在一个壳体上可以测试待测膜片同一位置的湿度和重量，便于后续计算待测膜片的干膜质量，且将隔绝件设置在同一壳体上的测湿件和发射件或接收件之间，可以进一步降低测湿件和发射件或接收件之间的信号干涉，提高获取到的重量和湿度的准确性。