一种万用表校准检测方法、设备、产品及存储介质与流程

文档序号:39964880发布日期:2024-11-15 14:11阅读:29来源:国知局
一种万用表校准检测方法、设备、产品及存储介质与流程

本技术涉及万用表领域,尤其涉及一种万用表校准检测方法、设备、产品及存储介质。


背景技术:

1、随着科技的不断进步,电子测量技术在各个领域的应用日益广泛。作为一种常用的电子测量仪器,万用表在电气工程、电子设备维修和科学研究等领域发挥着重要作用。在相关技术中,目前,业界普遍采用的万用表校准检测方法主要依赖于自动化校准系统。这些系统通常包括高精度的程控标准源、数字万用表和专用的校准软件。校准过程在温度、湿度和气压等环境参数受控的实验室中进行。系统按照预设的校准程序,自动在多个特定测量点上对被测万用表进行重复测量。校准软件会自动记录被测万用表与标准设备之间的读数差异,并通过内置的算法评估万用表的各项性能指标,如准确度、精度、线性度和重复性等。

2、然而,这种现有的自动化校准检测方法主要针对理想的实验室条件,难以全面模拟万用表在实际使用中可能遇到的各种环境变化。在实际应用中,万用表的测量性能会受到多种环境因素的动态影响,在面对复杂多变的实际工作环境时,影响了测量结果的准确性。


技术实现思路

1、本技术提供了一种万用表校准检测方法、设备、产品及存储介质,用于提高在环境因素影响下的万用表测量准确性。

2、第一方面,本技术提供了一种万用表校准检测方法,应用于万用表校准检测设备,该方法包括:实时监测当前环境参数,该当前环境参数包括当前温度、当前湿度和当前气压;根据该当前环境参数计算该当前环境参数对万能表的影响参数;若该影响参数大于预设影响阈值,将该当前环境参数输入至预设环境参数-校正参数映射模型中,得到该当前环境参数对万能表的影响值;基于补偿算法将该影响值转换为校正参数调整值;根据该校正参数调整值对该万能表的检测数据进行校正,得到校正数据。

3、通过采用上述技术方案,实现了对万用表校准检测的实时动态调整。方法通过实时监测当前环境参数,计算其对万能表的影响参数,并在影响超过阈值时,利用预设映射模型得到具体影响值,随后,基于补偿算法将影响值转换为校正参数调整值,最终对万能表的检测数据进行校正。这种动态校准机制有效消除了环境因素对测量精度的干扰,提高了万用表在各种实际工作环境下的测量准确性,提升了校准效率,为确保电子测量仪器的可靠性和稳定性提供了有力保障。

4、结合第一方面的一些实施例,在一些实施例中,该根据该当前环境参数计算该当前环境参数对万能表的影响参数的步骤,具体包括:获取预设时间段内的历史环境参数和与该历史环境参数对应的测量误差数据;将该历史环境参数和该测量误差数据作为训练数据,并根据该训练数据训练得到环境参数-测量误差映射模型;将该当前环境参数输入至该环境参数-测量误差映射模型中,得到预测测量误差值;基于该万能表的测量范围、该万能表的精度等级和该预测测量误差值计算得到该当前环境参数对万能表的影响参数,其中该影响参数表示为当前环境条件下的预测测量误差值相对于该精度等级的比值。

5、通过采用上述技术方案,建立了一个基于历史数据的智能预测模型,首先获取历史环境参数和对应的测量误差数据,利用这些数据训练出环境参数-测量误差映射模型,当输入当前环境参数时,模型能够预测出可能的测量误差值。随后,结合万能表的具体参数,如测量范围和精度等级,计算出环境参数对万能表的影响参数,使得系统能够更精确地评估环境变化对测量结果的影响,从而为后续的校准调整提供更可靠的依据,提升了校准过程的准确性和适应性。

6、结合第一方面的一些实施例,在一些实施例中,该若该影响参数大于预设影响阈值,将该当前环境参数输入至预设环境参数-校正参数映射模型中,得到该当前环境参数对万能表的影响值的步骤,具体包括:设置多个预设影响阈值,并根据该预设影响阈值将该影响参数的取值范围划分为多个区间;确定该影响参数所属的该区间,并选择与该区间对应的环境参数-校正参数映射模型;将该当前环境参数输入该环境参数-校正参数映射模型中,得到校正参数估计值,并根据插值法对该校正参数估计值进行计算得到当前校正参数;将该当前校正参数与预设标准校正参数的差值作为该当前环境参数对万能表的影响值。

7、通过采用上述技术方案,实现了对校准过程的精细化分级管理,设置多个预设影响阈值,将影响参数的取值范围划分为多个区间,并为每个区间选择相应的环境参数-校正参数映射模型,通过插值法计算得到当前校正参数,并与预设标准校正参数比较,得出环境参数对万能表的具体影响值,不仅提高了校准的精度,还优化了资源利用效率,为不同程度的环境影响提供了更加灵活和精准的校准方案。

8、结合第一方面的一些实施例,在一些实施例中,该基于补偿算法将该影响值转换为校正参数调整值的步骤,具体包括:获取该万能表的电路结构参数和元器件特性数据,并根据该电路结构参数和该元器件特性数据建立万能表电路仿真模型;将该影响值输入到该电路仿真模型中,模拟计算得到该当前环境下的理论误差值,该理论误差值为在当前环境下万用表测量量程与预期测量的偏差;基于最小二乘法对拟合得到该校正参数调整值与环境影响值的函数关系;将该影响至输入至该函数关系计算得到校正参数调整值,该校正参数调整值包括零点调整值和增益调整值;

9、通过采用上述技术方案,实现了对万用表校准过程的精确模拟和补偿,首先获取万能表的电路结构参数和元器件特性数据,建立电路仿真模型。将环境影响值输入该模型,模拟计算出当前环境下的理论误差值,基于最小二乘法拟合得到校正参数调整值与环境影响值的函数关系,进而计算出具体的零点调整值和增益调整值,基于仿真和数学模型的方法,充分考虑了万用表内部结构和环境因素的相互作用,使得校准补偿更加精准,通过将复杂的环境影响转化为具体的校正参数,提高了校准的针对性和有效性,提升了万用表在各种环境条件下的测量准确度。

10、结合第一方面的一些实施例,在一些实施例中,在该根据该校正参数调整值对该万能表的检测数据进行校正,得到校正数据的步骤之后,该方法还包括:建立万用表标准数据库,该万用表标准数据库中包含每次校准的环境参数、校正参数和校正结果;基于该万用表标准数据库中的历史数据构建校准参数预测模型,该校准参数预测模型用于根据当前环境参数和万用表使用时长预测最优校准参数;根据该校准参数预测模型生成该万用表在当前时间阶段的初始校正参数,并根据该初始校正参数生成校准信号;将该校准信号输入至该万用表,得到该万用表的测量结果;将该测量结果与该初始校正参数对应的校准理论值进行对比,得到该该测量结果与该校准理论值的测量误差;若该测量误差大于预设误差阈值,则发送第一提示信息至客户端。

11、通过采用上述技术方案,建立了包含历次校准数据的标准数据库,并基于此构建校准参数预测模型,系统生成初始校正参数和校准信号,通过对比万用表的实际测量结果与理论值,评估测量误差。当误差超过阈值时,系统自动发送提示信息,这种校准管理不仅提高了校准的准确性和效率,还实现了对万用表性能的实时监控,通过及时发现和反馈异常情况,降低了测量错误的风险,确保了万用表的持续可靠运行。

12、结合第一方面的一些实施例,在一些实施例中,在该将该测量结果与该初始校正参数对应的校准理论值进行对比,得到该该测量结果与该校准理论值的测量误差的步骤之后,该方法还包括:从该万用表标准数据库中提取提取历次校准的测量误差数据和校准间隔时间数据;根据该测量误差数据和该校准间隔时间数据进行趋势分析,得到该万能表的性能变化趋势;根据该性能变化趋势预测该万用表到达预设性能阈值的时间,得到第一预测时间;将包含该第一预测时间的第二提示信息发送至客户端。

13、通过采用上述技术方案,从标准数据库中提取历次校准的测量误差数据和校准间隔时间数据,进行趋势分析,得到万能表的性能变化趋势,基于这一趋势,系统能够预测万用表达到预设性能阈值的时间,并将预测结果发送给用户,通过及时通知用户未来可能需要校准或维护的时间,提高了万用表的使用寿命和可靠性,同时优化了校准和维护的时间安排,提升了整体的设备管理效率。

14、结合第一方面的一些实施例,在一些实施例中,在该将该测量结果与该初始校正参数对应的校准理论值进行对比,得到该该测量结果与该校准理论值的测量误差的步骤之后,该方法还包括:若该测量误差不大于预设误差阈值,将该测量结果、该初始校正参数和该测量误差记录到该万用表标准数据库中。

15、通过采用上述技术方案,建立了一个动态更新的万用表校准数据库,当测量误差不超过预设阈值时,系统自动将测量结果、初始校正参数和测量误差记录到万用表标准数据库中,历史数据为后续的校准参数预测和性能趋势分析提供了可靠的基础。同时,通过持续记录符合标准的校准数据,系统能够更精确地识别万用表性能的微小变化,从而更早地发现潜在问题。

16、第二方面,本技术实施例提供了一种万用表校准检测设备,该万用表校准检测设备包括:一个或多个处理器和存储器;该存储器与该一个或多个处理器耦合,该存储器用于存储计算机程序代码,该计算机程序代码包括计算机指令,该一个或多个处理器调用该计算机指令以使得该万用表校准检测设备执行如第一方面以及第一方面中任一可能的实现方式描述的方法。

17、第三方面,本技术实施例提供一种包含指令的计算机程序产品,当上述计算机程序产品在万用表校准检测设备上运行时,使得上述万用表校准检测设备执行如第一方面以及第一方面中任一可能的实现方式描述的方法。

18、第四方面,本技术实施例提供一种计算机可读存储介质,包括指令,当上述指令在万用表校准检测设备上运行时,使得上述万用表校准检测设备执行如第一方面以及第一方面中任一可能的实现方式描述的方法。

19、可以理解地,上述第二方面提供的万用表校准检测设备,第三方面提供的计算机程序产品和第四方面提供的计算机存储介质均用于执行本技术实施例所提供的方法。因此,其所能达到的有益效果可参考对应方法中的有益效果,此处不再赘述。

20、本技术实施例中提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:

21、1、本技术通过实时监测当前环境参数,计算其对万能表的影响参数,并在影响超过阈值时,利用预设映射模型得到具体影响值,随后,基于补偿算法将影响值转换为校正参数调整值,最终对万能表的检测数据进行校正。这种动态校准机制有效消除了环境因素对测量精度的干扰,提高了万用表在各种实际工作环境下的测量准确性,提升了校准效率,为确保电子测量仪器的可靠性和稳定性提供了有力保障。

22、2、本技术通过首先获取历史环境参数和对应的测量误差数据,利用这些数据训练出环境参数-测量误差映射模型,当输入当前环境参数时,模型能够预测出可能的测量误差值。随后,结合万能表的具体参数,如测量范围和精度等级,计算出环境参数对万能表的影响参数。这种基于数据驱动的方法使得系统能够更精确地评估环境变化对测量结果的影响,从而为后续的校准调整提供更可靠的依据,提升了校准过程的准确性和适应性。

23、3、本技术通过从标准数据库中提取历次校准的测量误差数据和校准间隔时间数据,进行趋势分析,得到万能表的性能变化趋势,基于这一趋势,系统能够预测万用表达到预设性能阈值的时间,并将预测结果发送给用户,通过及时通知用户未来可能需要校准或维护的时间,提高了万用表的使用寿命和可靠性,同时优化了校准和维护的时间安排,提升了整体的设备管理效率。

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