器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质与流程

本技术涉及器件测试，尤其涉及一种器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、现有技术中，存在多项板极测试，由于bga(ball grid array，球栅阵列封装)等高密度封装器件的发展，器件焊点密度大且外观不可见，测试人员根据在板测试结果定位到失效的大概位置，直接将器件解焊，会破坏了焊点，破坏了原有失效状态，只能根据解焊下来的器件功能测试合格反推到可能是由于焊点造成的失效，无法进一步定位是原始焊接问题还是在试验过程中造成的失效；或为排除虚焊问题进行重熔，不仅无法排查焊点缺陷，且焊点密度大，重熔之后可能会导致搭接短路等再次失效，同时也破坏了原有失效状态。

技术实现思路

1、有鉴于此，本技术的目的在于提出一种器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质，以解决现有的板极失效分析，无法准确确定失效点位置的问题。

2、基于上述目的，本技术提供了一种器件失效测试方法，包括：

3、确定标准器件的多种状态；

4、根据预设测试点，对所述标准器件的多种状态进行失效测试，得到标准曲线组；

5、确定被测器件多种状态；

6、根据所述预设测试点，对被测器件的多种状态进行失效测试，得到测试曲线组；

7、将所述标准曲线组和所述测试曲线组内的曲线进行比对，确定所述被测器件的失效位置及失效模式。

8、可选地，确定标准器件的多种状态，包括：

9、响应于所述标准器件保留有基板且与ic连接，确定所述标准器件为完整标准器件状态；

10、响应于所述标准器件未保留基板且不与ic连接，确定所述标准器件为拆机标准器件状态；

11、响应于所述标准器件留有基板且不与ic连接，确定所述标准器件为在板标准器件状态。

12、可选地，所述标准曲线组包括完整标准器件状态的标准曲线、拆机标准器件状态的标准曲线和在板标准器件状态的标准曲线；

13、所述根据预设测试点，对所述标准器件的多种状态进行失效测试，得到标准曲线，包括：

14、根据所述预设测试点，对所述完整标准器件状态的标准器件进行失效测试，得到所述完整标准器件状态的标准曲线；

15、根据所述预设测试点，对所述拆机器件状态的标准器件进行失效测试，得到所述拆机标准件状态的标准曲线；

16、根据所述预设测试点，对所述在板标准器件状态的标准器件进行失效测试，得到所述在板标准器件状态的标准曲线。

17、可选地，确定被测器件多种状态，包括：

18、响应于所述被测器件保留有基板且与ic连接，确定所述被测器件为完整被测器件状态；

19、响应于所述被测器件未保留基板且不与ic连接，确定所述被测器件为拆机被测件状态；

20、响应于所述被测器件留有基板且不与ic连接，确定所述被测器件为在板被测器件状态。

21、可选地，所述测试曲线组包括完整被测器件状态的测试曲线、拆机被测器件状态的测试曲线和在板被测器件状态的测试曲线；

22、所述根据所述预设测试点，对被测器件的多种状态进行失效测试，得到测试曲线组，包括：

23、根据所述预设测试点，对所述完整被测器件状态的被测器件进行失效测试，得到所述完整被测器件状态的测试曲线；

24、根据所述预设测试点，对所述拆机器件状态的被测器件进行失效测试，得到所述拆机标准件状态的测试曲线；

25、根据所述预设测试点，对所述在板被测器件状态的被测器件进行失效测试，得到所述在板被测器件状态的测试曲线。

26、可选地，所述失效位置包括器件本身、基板或焊点；

27、所述将所述标准曲线组和所述测试曲线组内的曲线进行比对，确定所述被测器件的失效位置，包括：

28、响应于所述拆机标准器件状态的标准曲线与所述拆机被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值，确定所述被测器件的失效位置为器件本身；

29、响应于所述在板标准器件状态的标准曲线与所述在板被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值，确定所述被测期间的失效位置为基板；

30、响应于所述完整标准测试器件状态的标准曲线与所述完整被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值，确定所述被测器件的失效位置为焊点。

31、可选地，所述失效模式包括：开路失效模式和短路失效模式；

32、将所述标准曲线组和所述测试曲线组内的曲线进行比对，确定所述被测器件的失效模式，包括：

33、响应于所述完整标准测试器件状态的标准曲线与所述完整被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值、所述拆机标准器件状态的标准曲线与所述拆机被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值且所述在板标准器件状态的标准曲线与所述在板被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值，确定所述被测器件的失效模式为短路失效模式；

34、响应于所述完整标准测试器件状态的标准曲线与所述完整被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值、所述拆机标准器件状态的标准曲线与所述拆机被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值或所述在板标准器件状态的标准曲线与所述在板被测器件状态的测试曲线的波形幅度大于预设阈值，确定所述被测期间的失效模式为开路失效模式。

35、基于同一发明构思，本技术还提供了一种器件失效测试装置，包括：

36、第一确定模块，被配置为确定标准器件的多种状态；

37、第一测试模块，被配置为根据预设测试点，对所述标准器件的多种状态进行失效测试，得到标准曲线组；

38、第二确定模块，被配置为确定被测器件多种状态；

39、第二测试模块，被配置为根据所述预设测试点，对被测器件的多种状态进行失效测试，得到测试曲线组；

40、第三确定模块，被配置为将所述标准曲线组和所述测试曲线组内的曲线进行比对，确定所述被测器件的失效位置及失效模式。

41、基于同一发明构思，本技术还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如上述任一所述的方法。

42、基于同一发明构思，本技术还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如上述任一所述的方法。

43、从上面所述可以看出，本技术提供的一种器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质，所述测试方法，包括：确定标准器件的多种状态；根据预设测试点，对标准器件的多种状态进行失效测试，得到标准曲线组；确定被测器件多种状态；根据所述预设测试点，对被测器件的多种状态进行失效测试，得到测试曲线组；将所述标准曲线组和所述测试曲线组内的曲线进行比对，确定所述被测器件的失效位置及失效模式。通过先确定标准器件的多种状态，根据预设测试点，对标准器件的多种状态进行失效测试，得到标准曲线组，也即得到了未失效器件的多种状态下的tdr曲线。在确定被测器件的多种状态，根据预设测试点，对被测器件的多种状态进行失效测试，得到测试曲线组，也即得到了失效器件的多种状态下的tdr曲线。将未失效器件的多种状态下的tdr曲线与失效器件的多种状态下的tdr曲线进行比对，判断tdr曲线的波形变化，进而可以确定被测器件是在那种状态下发生异常，可以准确的确定失效点位置及失效模式。避免了因对器件解焊，破坏焊点，以及破坏了原有的失效状态的问题。