微短路检测方法、电子设备及存储介质与流程

本技术涉及电池，尤其涉及一种微短路检测方法、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、电芯是电池的蓄电部分，电芯的性能能够直接决定电池的性能。在电池的制备过程中，通常需要对电芯的微短路进行检测，确保电池的安全性。

2、在相关技术中，通常采用k值检测法，衡量电芯的自放电性能，从而判断电芯是否存在微短路。k值为单位时间内电芯的电压降。具体的，对待测电芯进行第一次静置，在t1时刻测量待测电芯的开路电压(open circuit voltage，ovc)，继续对待测电芯进行第二次静置，在t2时刻测量待测电芯的开路电压，k值即为两次测量的开路电压的差值，和t2时刻与t1时刻的时间差的比值，基于k值可以确定电芯是否存在微短路。

3、然而，在通过k值检测法判断电芯的微短路情况时，由于需要经过长时间静置，耗费大量时间，导致微短路检测的效率较低。

技术实现思路

1、本技术提供一种微短路检测方法、电子设备及存储介质，以解决在通过k值检测法判断电芯的微短路情况时，由于需要经过长时间静置，耗费大量时间，导致微短路检测的效率较低的问题，实现了提高检测效率的目的。

2、第一方面，本技术提供一种微短路检测方法，该方法包括：

3、通过对多个待测电芯分别充电或者放电进行电压调节，以使所述多个待测电芯各自的电压位于预设电压范围之内；

4、将所述多个待测电芯连接，对每个所述待测电芯的电流进行检测，得到多个电流结果；

5、针对每个所述待测电芯，根据所述待测电芯对应的电流结果，确定所述待测电芯的微短路情况，所述微短路情况包括所述待测电芯存在微短路，或者，所述待测电芯正常。

6、通过第一方面提供的方法，通过对多个待测电芯分别充电或者放电进行电压调节，以使多个待测电芯各自的电压位于预设电压范围之内。从而在检测待测电芯的微短路情况之前，对待测电芯进行预处理，使得待测电芯的电压、温度等达到一致性，快速排除或者减小由于制作工艺、存放条件、材料属性等存在差异导致的多个待测电芯之间的电压、温度等存在差异的影响。将电压调节后的多个待测电芯连接，对每个待测电芯的电流进行检测，得到多个电流结果，针对每个待测电芯，根据待测电芯对应的电流结果，确定待测电芯的微短路情况，从而能够缩短检测待测电芯的微短路情况的时间，快速识别待测电芯的微短路缺陷和差异，提高了检测效率。

7、在一种可能的设计中，所述通过对多个待测电芯分别充电或者放电进行电压调节，包括：

8、针对每个所述待测电芯，检测所述待测电芯的第一开路电压；

9、在所述第一开路电压位于所述预设电压范围之外时，将所述第一开路电压与基准电压的差值，确定为第一调节电压，所述基准电压为所述预设电压范围内的一个电压值；

10、根据所述第一调节电压和第一参数，对所述待测电芯进行充电或者放电，所述第一参数为用于评估所述待测电芯的容量与电压关系的参数；

11、经过第一时长，检测所述待测电芯的第二开路电压，所述第一时长包括对所述待测电芯进行充电或者放电的第二时长以及等待充电或放电后的待测电芯稳定的第三时长；

12、在所述第二开路电压位于所述预设电压范围之内时，完成对所述待测电芯的电压调节；

13、在所述第二开路电压位于所述预设电压范围之外时，根据所述第一开路电压、所述第二开路电压以及对所述待测电芯进行充电或者放电的电量，计算新的第一参数，并将所述第二开路电压与所述基准电压的差值，确定为新的第一调节电压；

14、继续根据所述新的第一参数和所述新的第一调节电压，对所述待测电芯进行充电或者放电，直至所述待测电芯的第二开路电压位于所述预设电压范围之内。

15、在一种可能的设计中，所述将所述多个待测电芯连接，对每个所述待测电芯的电流进行检测，得到多个电流结果，包括：

16、将所述多个待测电芯并联连接；

17、对每个所述待测电芯的电流进行检测，得到多个电流结果。

18、在一种可能的设计中，所述将所述多个待测电芯连接，对每个所述待测电芯的电流进行检测，得到多个电流结果，包括：

19、获取每个所述待测电芯的第三开路电压；

20、根据所述第三开路电压，对所述待测电芯进行分组，得到多个电芯组，所述电芯组的第一电压差小于分组前的多个待测电芯的第二电压差，所述第一电压差为所述电芯组中第三开路电压最大的待测电芯的开路电压与第三开路电压最小的待测电芯的开路电压的差值，所述第二电压差为所述分组前的多个待测电芯中第三开路电压最大的待测电芯的开路电压与第三开路电压最小的待测电芯的开路电压的差值；

21、分别将每个电芯组中的待测电芯并联连接；

22、对每个所述待测电芯的电流进行检测，得到多个电流结果。

23、在一种可能的设计中，在对多个待测电芯进行电压调节之前，所述方法还包括：

24、将所述多个待测电芯缓存静置第四时长。

25、在一种可能的设计中，在对每个所述待测电芯的电流进行检测之前，所述方法还包括：

26、将所述多个待测电芯缓存静置第五时长。

27、在一种可能的设计中，所述第五时长小于或者等于2小时。

28、在一种可能的设计中，所述根据所述待测电芯对应的电流结果，确定所述待测电芯的微短路情况，包括：

29、在所述电流结果的绝对值大于预设电流范围时，确定所述待测电芯存在微短路；

30、在所述电流结果的绝对值位于预设电流范围内时，确定所述待测电芯正常。

31、第二方面，本技术提供一种微短路检测装置，用于执行第一方面及第一方面任一种可能的设计中的微短路检测方法的模块。

32、第三方面，本技术提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机可执行程序或指令，所述处理器执行所述计算机可执行程序或指令时实现如第一方面及第一方面任一种可能的设计中所述的微短路检测方法。

33、第四方面，本技术提供一种电子设备，包括处理器，所述处理器执行存储器中的计算机可执行程序或指令时实现如第一方面及第一方面任一种可能的设计中所述的微短路检测方法。

34、第五方面，本技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机可执行程序或指令，计算机可执行程序或指令被处理器执行时，实现如本技术实施例的第一方面及第一方面任一种可能的设计中提供的微短路检测方法。

35、第六方面，本技术提供一种计算机程序产品，包括：执行指令，执行指令存储在可读存储介质中，电子设备的至少一个处理器可以从可读存储介质读取执行指令，至少一个处理器执行执行指令使得电子设备实现第一方面及第一方面任一种可能的设计中的方法。

36、上述说明仅是本技术实施例技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术实施例的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术实施例的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。