一种评价膜层附着力变化的设备和方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示面板制造技术领域，尤其涉及一种评价膜层附着力变化的设备和方法。
【背景技术】
[0002]目前，随着科技的发展，液晶显示器成为了人们生活工作中必不可少的工具。然而，人们使用显示面板的环境差异性越来越大，常温常湿常压下，显示面板通常不会出现品质问题；但是在某些恶劣环境下，显示面板中的彩膜层容易产生分离，导致产品出现间隙异常，产生气泡不良。严重情况下，甚至出现彩膜基板与阵列基板裂开问题。因此，正确评估膜层间的附着力显得尤为重要。
[0003]但是，目前对膜层间附着力的评价方法并无统一的标准。常用的一种方法为百格刀测试法，该方法使用小刀手动分割样品，因此不能保证恒力分割样品，且不能保证样品分割面积大小一致，对于不同的样品，也不能确保分割数量一致。分割之后，再使用胶带粘附样品，然后再确认被剥离膜层的数据，由于不能保证使膜层分开的力恒定，因此也无法用精确数值来评价膜层附着力变化，更不能有效地评价在恶劣环境下，膜层附着力的可靠性程度。
[0004]此外，现有的评价方法均使用显示模组成品进行评价，不仅造成了资材浪费，也增加了批次性产品不良的风险，属于后知后觉型评价，不利于产品品质改善。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种评价膜层附着力变化的设备和方法，以准确评价膜层附着力随时间或外力变化的规律，评估产品在信赖性测试中出现不良的风险。
[0006]为解决上述技术问题，作为本发明的第一个方面，提供一种评价膜层附着力变化的设备，所述膜层设置在第一基板上，所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与第二基板相贴附，所述膜层被分割为多个单元，所述设备包括评价机台，所述评价机台包括相对设置的上固定机构和下固定机构，所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定机构上，所述第一基板上未设置所述膜层的一侧可拆卸地固定在所述下固定机构上，所述评价机台还包括施力装置，所述施力装置能够向所述上固定机构和/或所述下固定机构施加预定值的外力，以使得所述上固定机构和所述下固定机构之间产生互相远离的相对移动。
[0007]优选地，所述施力装置包括下拉机构，所述下拉机构设置在所述下固定机构下方，以对所述下固定机构施加预定值的拉力。
[0008]优选地，所述下拉机构包括可拆卸地设置在所述下固定机构下方的至少一个砝码。
[0009]优选地，所述上固定机构包括上真空吸附盘，所述下固定机构包括下真空吸附盘。
[0010]优选地，所述设备还包括分割机台，所述分割机台包括载台、设置在所述载台上方的刀头、和用于控制所述刀头的切割压力的压力控制器，所述载台用于放置所述第一基板，且所述第一基板上设置有所述膜层的一侧朝向所述刀头，所述分割机台用于将所述膜层分割为多个单元。
[0011]优选地，所述刀头上朝向所述载台的一侧设置有间隔均匀的多个刀片，所述刀头能够相对于所述载台移动，且所述刀头能够绕安装所述刀头的安装轴转动。
[0012]优选地，所述评价机台上还设置有定时计时器，所述定时计时器用于设定所述施力装置施加拉力的时间。
[0013]优选地，所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与所述第二基板通过透明的胶体相贴附。
[0014]优选地，所述膜层为彩色滤光层。
[0015]优选地，所述设备还包括计算模块，所述计算模块用于:
[0016]建立坐标系，所述坐标系的横轴X为外力或时间，纵轴I为膜层分离单元数；
[0017]在所述坐标系中绘制出坐标值为(xN，yN)的多个点，N为正整数；
[0018]根据上述坐标值，拟合获取X与y的方程式y = kx+C，其中，k为斜率，C为常数。
[0019]优选地，所述设备还包括判定模块，所述判定模块用于根据在常态条件下和在信赖性测试条件下分别获得的k值的差异来判断被测试的样品是否存在信赖性风险。
[0020]作为本发明的第二个方面，还提供一种利用上述设备评价膜层附着力变化的方法，包括以下步骤:
[0021]取第一测试样品，所述第一测试样品包括第一基板和设置在所述第一基板上的膜层；
[0022]将所述膜层分割成多个单元；
[0023]将所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与第二基板相贴附；
[0024]将所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定机构上，将所述第一基板上未设置所述膜层的一侧可拆卸地固定在所述下固定机构上；
[0025]所述施力装置向所述上固定机构和/或所述下固定机构施加预定值的外力，以使得所述上固定机构和所述下固定机构之间产生互相远离的相对移动；
[0026]以外力和时间中的一者为变量，另一者为定量，然后统计在变量处于不同值的条件下的膜层分离单元数，得到膜层分离单元数与变量的关系。
[0027]优选地，所述施力装置包括下拉机构，所述下拉机构设置在所述下固定机构下方，所述外力指所述下拉机构对所述下固定机构施加的拉力。
[0028]优选地，所述得到膜层分离单元数与变量的关系的步骤包括:
[0029]建立坐标系，坐标系的横轴X为变量，纵轴I为膜层分离单元数，在坐标系中绘制出坐标值为(xN，yN)的多个点，N为正整数；
[0030]根据上述坐标值，拟合获取膜层分离单元数与变量的方程式:y = kp+Ci，其中，Ii1为斜率，(^为常数。
[0031 ] 优选地，所述方法还包括:
[0032]取第二测试样品，所述第二测试样品也包括第一基板和设置在所述第一基板上的膜层；
[0033]将所述膜层分割成多个单元；
[0034]将膜层被切割后的第二测试样品放置在信赖性测试条件中预定时间；
[0035]将所述第一基板上设置有所述膜层的一侧与第二基板相贴附；
[0036]将所述第二基板可拆卸地固定在所述上固定机构上，将所述第一基板上未设置所述膜层的一侧可拆卸地固定在所述下固定机构上；
[0037]所述施力装置向所述上固定机构和/或所述下固定机构施加预定值的外力，以使得所述上固定机构和所述下固定机构之间产生互相远离的相对移动；
[0038]以外力和时间中的一者为变量，另一者为定量，然后统计在变量处于不同值的条件下的膜层分离单元数，得到信赖性测试条件下膜层分离单元数与变量的方程式:y =k2x+C2，其中，k2为斜率，C2为常数；
[0039]根据公式Λ = [0^2-10/\]*100%，计算环境变化前后膜层附着力变化的快慢情况，当△小于等于预定百分比时，判定样品没有信赖性风险。
[0040]优选地，所述信赖性测试条件包括温度大于120°C、湿度大于95%、以及气压大于0.1MPa中的任意一项或多项，所述预定时间大于12小时。
[0041]优选地，所述设备还包括分割机台，所述分割机台包括载台、设置在所述载台上方的刀头、和用于控制所述刀头的切割压力的压力控制器，所述载台用于放置所述第一基板，且所述第一基板上设置有所述膜层的一侧朝向所述刀头，所述分割机台用于将所述膜层分割为多个单元，
[0042]在将所述膜层分割成多个单元的步骤中，利用所述压力控制器控制所述刀头以恒定的压力将所述膜层分割成多个单元。
[0043]优选地，以时间为定量，以拉力为变量，统计不同拉力条件下的膜层分离单元数，得到膜层分离单元数与拉力的关系。
[0044]优选地，以拉力为定量，以时间为变量，统计不同时间条件下的膜层分离单元数，得到膜层分离单元数与时间的关系。
[0045]与现有技术相比，本发明提供的用于评价膜层附着力变化的设备和方法具有以下有益效果:
[0046]采用样品单品(如:彩膜基板)进行评价，减少了对资材的浪费，并且能够更早预知广品品质风险；
[0047]能够对膜层进行恒力分割，且形成分割面积大小相等的多个单元进行评价