光学薄膜的检查装置及方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及光学薄膜的检查装置及方法。
【背景技术】
[0002] 偏光件、TAC、相位差薄膜等之类的各种各样的光学薄膜用于图像显示装置中。由 于图像显示装置的发展而用于其中的光学薄膜也要求高质量。
[0003] 尤其是，偏光板由偏光件和与偏光件的至少一表面接合的保护薄膜构成，因此有 以下各种各样的原因，形成各分层薄膜的树脂组成物中混合有异物的情况、树脂组成物的 薄膜硬化时产生气泡的情况、各分层薄膜的层叠时层间混入异物的情况、薄膜表面产生刮 痕的情况、薄膜产生翘曲的情况等。
[0004] 由于上述那样的产生不良的各种各样的原因而产生各种各样形态的缺陷。例如， 如果插入有异物、或者产生气泡，则光学薄膜的表面在该部位产生凹凸状的缺陷，而在产生 刮痕时在薄膜表面产生直线状的缺陷。
[0005] 另外，在液晶显示装置中，偏光板由上部偏光板和下部偏光板这两张构成，上部偏 光板和下部偏光板可根据需要配置在其吸收轴相互垂直或者平行的位置，但是，有些缺陷 在吸收轴相互垂直配置或者平行配置时更容易发现、或者仅在某一配置时才能被发现。
[0006] 因而，在光学薄膜制造完成之后，为了除去产生这样的缺陷的部分而配备用于检 测缺陷的工序。因而，分别需要对制造好的偏光板进行吸收轴相互垂直配置的检查及平行 的配置的检查。
【发明内容】
[0007] 本发明要解决的技术问题
[0008] 本发明的目的在于，提供能够对各种光学薄膜完成各种模式的全部检查的检查装 置及方法。
[0009] 用于解决技术问题的方式
[0010] 1.提供一种光学薄膜检查装置，其中，具备：光源部，其具备照射绿色光或者蓝色 光的第一光源部及照射红色光或者红外线的第二光源部，且所述第一光源部和第二光源部 交替地向偏光部照射光；偏光部，其具备配置在所述光向摄像部入射的路径上的检查对象 薄膜及检查用偏光板；以及摄像部，其以所述偏光部为基准而在所述光源的相反侧对所述 偏光部进行摄像。
[0011] 2.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述第一光源部一 同照射绿色光和蓝色光。
[0012] 3.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述第二光源部一 同照射红外线和红色光。
[0013] 4.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述检查对象薄膜 为从偏光件、相位差薄膜、保护薄膜及它们的二个以上的层叠薄膜构成的组中选择出的光 学薄膜。
[0014] 5.在所述项目4的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，在所述检查对象薄 膜包含偏光件的情况下，所述检查用偏光板的吸收轴与所述偏光件的吸收轴垂直。
[0015] 6.在所述项目5的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，在所述检查对象薄 膜为偏光件及相位差薄膜的层叠薄膜的情况下，所述相位差薄膜位于偏光件与所述检查用 偏光板之间，且所述光为绿色光。
[0016] 7.在所述项目5的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述检查用偏光板 在第二光源部的光照射时以所述偏光件与其吸收轴成为平行的方式旋转90°。
[0017] 8.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述检查用偏光板 在第二光源部的光照射时脱离所述摄像部的摄像区域而进行移动。
[0018] 9.在所述项目1的基础上提供一种光学薄膜检查装置，其中，所述检查装置用于 检查对象薄膜被连续地提供的在线制造工序之中，还具备：编码器，其用于测定检查对象薄 膜的移动速度；以及控制器，其通过从所述编码器接收到的移动速度来确定第一光源部及 第二光源部的照射周期，进而将所述周期信号向光源部发送。
[0019] 10.提供一种光学薄膜的检查方法，其中，通过照射绿色光或者蓝色光的第一光源 部和照射红色光或者红外线的第二光源部、交替地向具备检查对象薄膜及检查用偏光板的 偏光部照射光，以检测不良。
[0020] 11.在所述项目10的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述第一光源 部一同照射绿色光和蓝色光。
[0021] 12.在所述项目10的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述第二光源 部一同照射红外线和红色光。
[0022] 13.在所述项目10的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述检查对象 薄膜为从偏光件、相位差薄膜、保护薄膜及它们的二个以上的层叠薄膜构成的组中选择出 的光学薄膜。
[0023] 14.在所述项目13的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，在所述检查 对象薄膜包含偏光件的情况下，所述检查用偏光板的吸收轴与所述偏光件的吸收轴垂直配 置，从而完成对象薄膜的暗黑模式及白色模式的全部检查。
[0024] 15.在所述项目14的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，在所述检查对 象薄膜为偏光件及相位差薄膜的层叠薄膜的情况下，所述相位差薄膜位于偏光件与所述检 查用偏光板之间，且所述光为绿色光。
[0025] 16.在所述项目14的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述检查用偏 光板在第二光源部的光照射时以所述偏光件与其吸收轴成为平行的方式旋转90°。
[0026] 17.在所述项目10的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述检查用偏 光板在第二光源部的光照射时脱离所述检查区域而进行移动。
[0027] 18.在所述项目10的基础上，提供一种光学薄膜的检查方法，其中，所述检查方法 用于检查对象薄膜被连续地提供的在线制造工序之中，在所述检查方法中使用：编码器，其 用于测定检查对象薄膜的移动速度；以及控制器，其通过从所述编码器接收到的移动速度 来确定光源部的绿色光及红外线的照射周期，进而将所述周期信号向光源部发送。
[0028] 发明效果
[0029] 本发明的检查装置通过采用特定波长的光，由此在光学薄膜的检查时能够更加精 确地检查，且能够实现各种各样的检查。
[0030] 在对偏光板进行检查的情况下，能够完成暗黑模式及白色模式的全部缺陷检测。 由此，无需另行进行各模式的缺陷检测，能够没有额外的设备而更加迅速地完成偏光板的 检查。
[0031] 尤其是，即便在偏光板在其一表面作为保护薄膜而采用相位差薄膜的情况下（或 者保护薄膜具有相位差的情况下），也能够实现准确的暗黑模式的检查。
【附图说明】
[0032] 图1是概略性地表示本发明的检查装置的一实施方式的图。
[0033] 图2是概略性地表示基于本发明的光源的一实施方式的图。
[0034] 图3是表示试验例1的影像的图像的图。
[0035] 图4是表示试验例2的影像的图像的图。
[0036] 图5是表示试验例3的影像的图像的图。
[0037] 图6是表示试验例4的影像的图像的图。
[0038] 附图标记说明
[0039] 100 :光源部
[0040] 200 :偏光部
[0041] 210:检查对象薄膜
[0042] 220 :检查用偏光板
[0043] 300 :摄像部
[0044] 400 :编码器
[0045] 5〇0 :控制器
【具体实施方式】
[0046] 本发明涉及一种光学薄膜检查装置，具备：光源部，其具备照射绿色光或者蓝色光 的第一光源部及照射红色光或者红外线的第二光源部，且所述第一光源部和第二光源部交 替地向偏光部照射光；偏光部，其具备配置在所述光向摄像部入射的路径上的检查对象薄 膜及检查用偏光板；以及摄像部，其以所述偏光部为基准而在所述光源的相反侧对所述偏 光部进行摄像，由此能够完成暗黑模式及白色模式的全部检查。
[0047] 在本发明中，所谓暗黑模式的检查为：在将两张偏光板以其吸收轴成为相互垂直 的方式配置之后，使光源位于所述偏光板的一侧，并向偏光板照射光，通常由于光无法透射 所述两张偏光板，故以黑暗的状态作为基准（暗黑模式）而在其相反侧对亮点缺陷（