.4S。
[0039]如遇到特殊卡款:这里假定一张卡片经过刷卡器到光电感应的时间为tl，两张卡片经过刷卡器到光电感应的时间为t2，延时时间为t3，则此延时时间的调整按照tl < t3< t2的原则进行调整。
[0040]其中一号主板为延时继电器控制板，延时时间可调整，主要用于调整不同卡款的光电感应延时。
[0041]二号主板为反馈信号接收板，可以接收刷卡器反馈的高频信号并作出判断，改变相应端口的通断。
[0042]正常卡片通过刷卡器时，刷卡器工作，反馈高频信号至一号主板，同时反馈信号至计数器，计数器会累计计数+1，一号主板依据设定的延迟时间控制二号主板+_端口电压，再由二号主板来控制断开光电开关的感应功能，断开时间即一号主板设置的延时时间。此时卡会正常通过检测机，不会停留。
[0043]如遇IC异常卡片在经过检测机刷卡器位置时，刷卡器不会感应，此时光电管正常工作，异常卡片经过光电感应时，光电感应会反馈信号给制卡设备，暂停当前制卡，由操作员检查该张卡片是否芯片不良。
[0044]根据上述实施例，本发明实施例还提供根据本发明的另一方面，本发明实施例还提供一种用于检测非接触卡芯片不良的方法，包括如下步骤:
[0045](I)刷卡器接收非接触卡反馈的高频信号；
[0046](2)延时继电器控制器接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器;
[0047](3)制卡设备控制器接收所述高频信号后，如果没有接收到所述高频信号，则判定所述非接触卡不良。
[0048]进一步地，还包括如下步骤:(4)制卡设备控制器控制制卡设备暂停工作。
[0049]进一步地，所述步骤(3)包括:高频信号接收板接收延时继电器控制器发来的高频信号，并控制光电感应开关的通断；当没有接收到所述高频信号时，控制所述光电感应开关打开，使制卡设备停止工作。
[0050]进一步地，当检测到所述非接触卡为良好芯片时，反馈高频信号给计数器，计数器对良好卡片进行计数。
[0051]进一步地，还包括如下步骤:所述延时继电器根据非接触卡类型进行延时时间调整控制。
[0052]具体操作步骤为:
[0053]一、打开检测装置电源开关。
[0054]二、按“ RESET ”键手动清零刷卡计数器。
[0055]三、当蜂鸣报警器响起时，手动将传送带上面的卡片清空。
[0056]四、点击继续按钮继续生产。
[0057]五、手工检测点继续之后出来的5张卡片，检查是否有非接不良品。(批
[0058]卡检测好卡槽最后一张以及点继续生产之后的第一张卡片)
[0059]六、如遇点击继续按钮后有连续暂停情况。关闭检测器电源，待正常过卡一张之后再次打开电源开关继续生产。
[0060]由于在上述装置实施例中已经详细介绍了整个检测的过程，本方法不再赘述。
[0061]以上描述仅为本申请的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本申请中所涉及的发明范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离所述发明构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本申请中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。
【主权项】
1.一种用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，包括: 刷卡器，用于接收非接触卡反馈的高频信号； 延时继电器控制器，与所述刷卡器相连，用于接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器； 制卡设备控制器，用于判断是否接收到所述高频信号，如果没有接收到所述高频信号，则控制制卡设备暂停工作。
2.根据权利要求1所述的用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，所述制卡设备控制器包括: 高频信号接收板，与所述延时继电器控制器相连，用于接收所述高频信号，并控制光电感应开关的通断； 光电感应开关，与所述高频信号接收板相连，根据高频信号板的控制产生反馈信号给制卡设备。
3.根据权利要求1或2所述的用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，所述装置还包括计数器，与所述延时继电器控制器相连，当刷卡器接收到所述非接触卡反馈的高频信号后，延时继电器将所述高频信号发送到计数器。
4.根据权利要求1或2所述的用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，所述延时继电器包括一延时时间调整控制，用于控制延时时间。
5.根据权利要求1或2所述的用于检测非接触卡芯片不良的装置，其特征在于，所述装置还包括一报警装置，用于当待检测到非接触卡芯片不良时发出报警信号。
6.一种用于检测非接触卡芯片不良的方法，其特征在于，包括如下步骤: (1)刷卡器接收非接触卡反馈的高频信号； (2)延时继电器控制器接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器； (3)制卡设备控制器接收所述高频信号后，如果没有接收到所述高频信号，则判定所述非接触卡不良。
7.根据权利要求6所述的用于检测非接触卡芯片不良的方法，其特征在于，还包括如下步骤: (4)制卡设备控制器控制制卡设备暂停工作。
8.根据权利要求6或7所述的用于检测非接触卡芯片不良的方法，其特征在于，所述步骤⑶包括: 高频信号接收板接收延时继电器控制器发来的高频信号，并控制光电感应开关的通断；当没有接收到所述高频信号时，控制所述光电感应开关打开，使制卡设备停止工作。
9.根据权利要求8所述的用于检测非接触卡芯片不良的方法，其特征在于，当检测到所述非接触卡为良好芯片时，反馈高频信号给计数器，计数器对良好卡片进行计数。
10.根据权利要求6或7所述的用于检测非接触卡芯片不良的方法，其特征在于，还包括如下步骤:所述延时继电器根据非接触卡类型进行延时时间调整控制。
【专利摘要】本发明实施例提供一种用于检测非接触卡芯片不良的装置，包括：刷卡器，用于接收非接触卡反馈的高频信号；延时继电器控制器，与所述刷卡器相连，用于接收所述高频信号并在一段延时后传递给制卡设备控制器；制卡设备控制器，用于判断是否接收到所述高频信号，如果没有接收到所述高频信号，则控制制卡设备暂停工作。本发明实施例还相应提供一种用于检测非接触卡芯片不良的方法。本方案可以有效提高不良卡的检测效率。
【IPC分类】G01R31-00
【公开号】CN104865459
【申请号】CN201510128993
【发明人】胡安辉, 周斌, 张琛航, 龚家杰
【申请人】珠海市金邦达保密卡有限公司
【公开日】2015年8月26日
【申请日】2015年3月23日