测试系统和方法

测试系统和方法
【技术领域】
[0001]一般来说，本公开涉及供测试结构的物理特性中使用的测试系统，以及更具体来说，涉及用于配置和使用测试系统的方法。
【背景技术】
[0002]供结构的无损测试(“NDT”)中使用的测试装置例如经常配置成执行多种测试功能，或者配置成用于多种不同的操作模式。由用户(或者“测试操作员”)对测试功能或操作模式的选择和实现常常取决于测试条件，例如被测结构的类型或配置以及测试期间将要检测的特性或现象。但是，虽然这类测试装置可以能够执行大量功能，但是这类测试装置通常在本质上是被动的，因为测试装置的正确操作和/或用于采用测试装置进行特定测试的正确过程可能与测试装置是不易于区分的。这类测试装置依靠对测试操作员部分的较高程度的专业知识。在没有操作这类测试装置的先备经验的情况下，可要求测试操作员参阅单独保持的指南和指导手册、历史测试数据的记录和/或来自其他有经验测试操作员的报告输入，以便充分执行测试并且取得预期结果。
[0003]相应地，期望提供测试装置，其配置成使无经验测试操作员能够采用测试装置来执行测试，而无需依靠测试装置外部的资源。

【发明内容】

[0004]在一个实施例中，提供一种供进行结构的测试中使用的测试系统。该测试系统包括测试装置，其包括呈现接口、用户输入接口、存储器装置以及耦合成与呈现接口、用户输入接口和存储器装置进行通信的处理器。处理器编程为使测试装置在测试会话之前向用户呈现用于使用测试装置进行测试会话的至少一个示范指令。处理器还编程为使测试装置在测试会话期间向用户呈现使用测试装置的至少一个测试指令。
[0005]在另一个实施例中，提供一种用于配置测试装置的方法。测试装置包括存储器装置。该方法包括在存储器装置中存储表示用于使用测试装置进行测试会话的至少一个示范指令的数据，供在测试会话之前向用户呈现。该方法还包括在存储器装置中存储表示至少一个测试指令的数据，供在测试会话期间向用户呈现。
[0006]在又一实施例中，提供一种用于进行结构的测试的测试装置。该测试装置包括传感器、呈现接口、用户输入接口、存储器装置以及耦合成与传感器、呈现接口、用户输入接口和存储器装置进行通信的处理器。处理器编程为使测试装置在测试会话之前向用户呈现用于使用测试装置进行测试会话的至少一个示范指令。处理器还编程为使测试装置在测试会话期间向用户呈现使用测试装置的至少一个测试指令。
【附图说明】
[0007]图1是供操作测试仪器中使用的已知计算装置的框图。
[0008]图2是可与图1所示的计算装置配合使用的已知监测系统的框图。
[0009]图3是供进行测试过程中使用的示范计算装置的框图。
[0010]图4A是示出典型显示图像的示范计算装置的正视图。
[0011]图4B是示出另一个典型显示图像、图4A所示的示范计算装置的另一个正视图。
[0012]图5是用于配置测试系统的示范方法的流程图。
【具体实施方式】
[0013]虽然本发明的各个实施例的具体特征可在部分附图中示出而在其他附图中未示出，但是这只是为了方便起见。按照本发明的原理，可与任何其他附图的任何特征结合引用和/或要求保护附图的任何特征。
[0014]本文所述的方法和系统对于将测试装置配置用于在测试过程之前和期间向用户提供指南是有用的。本文所述的方法和系统可使用计算机编程或工程技术来实现，包括计算机软件、固件、硬件或者它们的任何组合或子集，其中技术效果可通过执行下列步骤的至少一个来实现:a)在存储器装置中存储表示用于使用测试装置进行测试会话的至少一个示范指令的数据，供在测试会话之前向用户呈现；b)在存储器装置中存储表示在测试会话期间至用户的至少一个测试指令的数据；c)将基本计算装置耦合到测试装置；d)从基本计算装置向测试装置传递至少一个数据文件，其包含表示至少一个示范指令和至少一个测试指令中的至少一个的数据；e)在存储器装置中存储表示供校准所述测试装置中使用的至少一个校准指令的数据；f)在存储器装置中存储表示供准备测试会话期间所得到的结果的报告中使用的至少一个报告准备指令的数据；g)将传感器耦合成与关联测试装置的处理器进行通信；以及h)将呈现接口和用户输入接口作为触摸屏耦合在一起。
[0015]图1是可用来进行测试、例如结构101的无损测试的已知计算装置105的示意框图。在一些已知示例中，计算装置105是数据收集装置。计算装置105包括一个或多个传感器106、存储器装置110以及在操作上耦合到存储器装置110供运行指令的处理器115。在一些实施例中，可执行指令存储在存储器装置110中。计算装置105由编程处理器115可配置成执行本文所述的一个或多个操作。在一些已知示例中，通过将操作编码为一个或多个可执行指令，并且在存储器装置110中提供可执行指令，来对处理器115编程。在一些已知示例中，处理器115包括一个或多个处理单元(例如按照多核配置)。
[0016]在一些已知计算装置105中，存储器装置110配置成存储操作测量，其中非限制性地包括振动读数、场电压和电流读数、场参考设置点、定子电压和电流读数、转子速度读数、维护任务和/或任何其他类型的数据。在一些已知计算装置105中，处理器115基于数据的使用时间从存储器装置110中删除或“清除”数据。例如，处理器115可改写与后续时间和/或事件关联的、先前所记录和存储的数据。作为补充或替代，处理器115可删除超过预定时间间隔的数据。
[0017]一些已知计算装置105包括呈现接口 120，其在通信上耦合到处理器115。呈现接口 120向用户125呈现诸如用户接口和/或告警之类的信息。例如，呈现接口 120可包括显示适配器(未示出)，其可耦合到显示装置(未示出)，例如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(IXD)、有机LED (OLED)显示器和/或“电子墨水”显示器。呈现接口 120包括一个或多个显示装置。作为补充或替代，呈现接口 120可包括音频输出装置(未示出)(例如音频适配器和/或喇叭)和/或打印机(未示出)。
[0018]一些已知计算装置105包括用户输入接口 130，其在通信上耦合到处理器115，并且接收来自用户125的输入。用户输入接口 130包括例如键盘、指针装置、鼠标、触控笔、触敏面板(例如触摸板或触摸屏)、陀螺仪、加速计、位置检测器和/或音频输入接口(例如包括话筒)。单个组件、例如触摸屏可用作呈现接口 120和用户输入接口 130的显示装置。
[0019]在一些已知计算装置105中，通信接口 135耦合到处理器115，并且配置成耦合成与诸如传感器或者另一个计算装置105之类的一个或多个其他装置进行通信，以及执行相对这类装置的输入和输出操作。例如，通信接口 135可非限制性地包括有线网络适配器、无线网络适配器、移动电信适配器、串行通信适配器和/或并行通信适配器。通信接口 135可从一个或多个远程装置接收数据和/或向其传送数据。例如，计算装置105的通信接口 135可向另一个计算装置105的通信接口 135传送告警。
[0020]图2是可用来监测和/或操作机器205的已知系统200的框图。系统200可以是数据获取系统(DAS)和/或监控和数据获取系统(SCADA)。机器205可以是与任何工业过程配合使用的任何工业设备，非限制性地包括化学过程反应器、热回收蒸汽发生器、蒸汽涡轮机、燃气涡轮机、开关场断路器和开关场变压器。在一些已知示例中，机器205是较大的集成工业设施208的组件。设施208可以非限制性地包括多个机器205。另外，在一些已知示例中，系统200包括机器控制器210和无损测试(NDT)仪器控制器215，其经由网络220共同耦合成进行通信。
[0021]机器控制器210和/或NDT控制器215可以是计算装置105。另外，各计算装置105可经由通信接口 135耦合到网络220。备选地，在一些已知示例中，控制器210与控制器215集成。
[0022]控制器210配置成与第一操作员225进行交互(例如经由用户输入接口 130和/或经由呈现接