探针的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及到一种探针(Probe)。具体来讲，该探针设于探针单元(Probe unit)，并可在其上面移动，从而精确多轴(X、Y、Z)控制探针单元。
【背景技术】
[0002]—般来讲，探针保持在显示器(包括液晶或平板显示器等)面板上的固定状态，与面板交换电信号，检查相应的显示器面板是否为次品。
[0003]此类探针将同根据显示器面板大小所选的探针单元一起移动。根据不同显示器面板大小，设置不同长度的探针单元。
[0004]在平板显示器(flat panel display)中薄膜场效应晶体管液晶显示屏(TFT-LCD，以下简称TFT液晶显示屏)为主力产品。随着TFT液晶显示屏确保量产技术及研发成果，飞速向大型及高分辨率领域发展。目前，不仅有手提电脑用显示屏，还开发完成大型显示器用产品，从而扩大其在显示器产业中的比重。
[0005]在如今的信息化社会，显示器作为视觉信息传递媒体，其重要性日益凸显。尤其，在所有电子产品走向“轻、薄、短、小”的趋势下，耗电低、薄型化、轻量化、高清晰度、便携性的重要性变得更加突出。
[0006]由于TFT液晶显示屏不仅拥有可以满足上述平板显示器的各项条件的性能，还可以批量生产，利用TFT液晶显示屏的各种新产品开发得到了飞速发展，因而在电子产业界被视为新一代主力技术，其比重比实现爆发性增长，快要胜过半导体。
[0007]上述的TFT液晶显示屏在生产工艺的最后一道工序中将进行点灯检查。该工序在特殊检查设备上利用探针单元对液晶显示面板的数据线和扫描线进行短路检查和颜色检查，并利用显微镜等设备进行肉眼检查。
[0008]另一方面，目前液晶面板的大小分为30英寸、40英寸、46英寸、52英寸、57英寸等进行供应，因此，在检查时使用可以检查不同大小的液晶面板的检查设备。
[0009]安装于上述检查设备的探针根据各种液晶面板的大小以一定间距固定。由此，放在检查设备上的液晶面板可能不在正位置，而以一定的角度有所歪斜。
[0010]若液晶面板歪斜或非正位置摆放在检查设备的状态下接触探针，则不能利用探针控制位置，从而导致液晶面板与探针之间的接触不良情况，甚至有时因接触不良导致液晶面板破损等。
[0011]如上所述，由于根据不同液晶面板大小可能发生接触不良情况，或因液晶面板没有放在正位置而更换全部探针单元，从而带来了不便。
[0012]另一方面，由于近来生产高分辨率的产品，需要更加稠密间距、精密接触的探针。但是由于X、Y轴的误差、探针检查接触位置高低差，导致接触不良等错误，提升了检查次品率，甚至发生不能检查的情况。
[0013]为此，对于探针或探针单元(Probe Unit)要求具备可克服道具管理上的界限，并通过确认各个探针的位置信息后单独启动的最佳性能。
[0014]液晶面板一般使用液晶显示面板(LCD、Liquid Crystal Display)、有机电激光面板(OLED、Organic Light Emitting D1des)等。作为此类液晶面板的检查工序可采取液晶组件检查(CELLTESTER)或OLED的面板检查等各种形式的检查工序，且需要不同工序所需的检查设备。此类设备均为高价设备，因此使用上非常受限。
[0015]例如，下列专利文献I中公开了 “直接连接集成电路(TABIC)的探针单元”。
[0016]下述专利文献I中所公开的直接连接TABIC的探针单元，其块体的左右侧面上形成微调构件可实现排列调控，通过松紧角板上的上述微调构件中螺栓，进行左右移动实现微排列调整。根据上述角板的微排列调整，可在其他块体也可将角板排列到同一位置，从而可以实现个块体之间的兼容性。同时，在块体支持体底面设置与上述角板相同角度的固定构件，可通过拧紧螺栓固定上述角板。
[0017]现有技术文献
[0018]专利文献
[0019]专利文献1:韩国专利公开第10-2010-0092400号(2010年8月20日公开)
【发明内容】
[0020]发明所要解决的课题
[0021]根据现有技术中的直接连接TABIC方式探针单元可以利用设于块体上的微调构件调控块体的位置，但位置调整方向限于单向，操作人员需要一一调整探针，比较不方便。不仅如此，还存在不能从多轴调控位置的问题。
[0022]本发明的目的在于解决上述问题，提供一种可以自由控制并调整位置的探针。
[0023]本发明的另一个目的在于提供一种探针，其特征在于可以通过将接触到液晶面板的探针从多轴(X、Y、Z)进行位移提供适当接触到液晶面板。
[0024]本发明的又一个目的在于提供一种在调整探针位置时可以设置移动位置的探针。
[0025]本发明的再一个目的在于提供一种探针，其特征在于在提高对高分辨率产品的定位准确度的同时，单独调整各探针的液晶面板接触性，从而减少接触不良，提高检查准确度。
[0026]本发明的又一个目的在于提供一种探针，其特征在于不需要更换探针单元所需的更换时间，以及更换组件单元，可直接处理不同液晶面板型号。
[0027]用于解决课题的手段
[0028]为达到上述目的，本发明中所涉及的探针包括以第一马达的旋转单向移动的第一位置调整装置，设于第一位置调整装置的下方，并通过第二马达的旋转力转换上述第一位置调整装置的移动方向的第二位置调整装置。上述第一位置调整装置的特征在于其包括通过第一马达旋转的第一驱动轴、使其沿着第一驱动轴移动而结合的第一滑块、使在第一滑块的斜面上移动而结合的第二滑块。
[0029]同时，本发明中所涉及的探针包括以第一马达的旋转力移动到Z轴的第一位置调整装置、设于第一位置调整装置下方，并以第二马达的旋转力使第一位置调整装置沿着X轴或Y轴方向移动的第二位置调整装置。上述第一位置调整装置的特征在于其包括通过第一马达旋转的第一驱动轴、使其沿着第一驱动轴移动而结合的第一滑块、使在第一滑块的斜面上移动而结合的第二滑块。
[0030]发明的效果
[0031]如上所述，根据本发明中所涉及的探针，可以利用第二位置调整装置可将第一位置调整装置的X轴移动方向转换为Y轴方向，并以X轴及Y轴方向移动第一位置调整装置。同时，通过第一位置调整装置可从Z轴方向达到升降效果。
[0032]根据本发明中所涉及的探针，即使液晶面板非正位置摆放而以一定角度歪斜，探针也自行移动位置放到正确位置，使其更正确的与引线框对接，从而可以多品种少量生产各种高分辨率的电路板或组件等产品，并获得经济、时间、品质上的优势。
[0033]根据本发明中所涉及的探针，在液晶面板检查工序，可用一个检查设备进行LCD组件检查、OLED面板检查等各种形式的检查工序。
[0034]根据本发明中所涉及的探针，可调节各个探针块的接触力，可以适用到液晶面板的特定位置测试OXD阵列基板测试(IXD ARRAY TEST)、OLED阵列基板测试(0LEDARRAY))、外引脚接合(0LB:0UTER LEAD BONDING)或裸片绑定(IC BONDING)等工序上。
【附图说明】
[0035]图1为根据本发明的建议实施例制作的探针立体图。
[0036]图2为根据本发明的建议实施例制作的探针立体分解图。
[0037]图3为根据本发明的建议实施例制作的探针结构中第一位置调整装置的正面立体分解图。
[0038]图4为根据本发明的建议实施例制作的探针结构中第二位置调整装置的正面立体分解图。
[0039]图5为根据本发明的建议实施例制作的探针组合完成后的主视图。
[0040]图6为根据本发明的建议实施例制作的探针结构中第一位置调整装置向上位移后的状态的主视图。
[0041]图7为根据本发