一种通道校准方法及电子设备的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明设及电子技术领域，特别设及一种通道校准方法及电子设备。
【背景技术】
[0002] 相控阵天线作为一种新型电扫描天线，通过控制各天线单元通道中的移相器和衰 减器来改变天线馈电电流的相位和幅度，达到波束扫描的目的，由于具有波束指向和形状 变化迅速，定向增益高，易于实现空间干扰抑制等优点，越来越受到人们的重视并被广泛应 用于实际工程领域。但是相控阵天线的副瓣电平、波束指向、波束宽度和零值深度等重要指 标容易受到许多因素的影响，如：移相器误差、装配误差、制造公差、阻抗不匹配、天线热变 形等因素，运些因素将会导致相控阵天线的各单元通道的馈电幅度和相位的不一致性。因 此，研究相控阵天线校准技术，保证各通道幅相的一致性，对保证天线系统的各项指标，提 高天线的实际性能具有重要的理论和实际意义。
[0003] 在现有技术中，为了实现对相控阵天线的各通道的幅相校准，需要检测和计算出 每个通道的幅度和相位值。对于天线单元数量较少的天线，可W为每个通道设计导通开关 和负载，并进行独立检测。但随着天线单元数量的增加，为每个通道配置导通开关和负载加 重了硬件设计负担，并且，在校准时需要单独对每一个通道进行测试，导致校准工作量较 大，所W，现有技术中存在通道校准方式复杂，且所需成本较高的技术问题。
【发明内容】
[0004] 本申请实施例提供一种通道校准方法及电子设备，用于解决现有技术中存在通道 校准方式复杂，且所需成本较高的技术问题。
[0005] 本发明实施例一方面提供了一种通道校准，包括：
[0006] 采集与N个通道对应的M个样本信号，其中，所述M个样本信号中每个样本信号包括 校准信号通过所述N个通道中各个通道后合成的信号，N为大于0的整数，M为大于N的整数；
[0007] W预设策略对所述M个样本信号进行拟合，获得所述N个通道中各通道的信号幅相 偏移值；
[000引基于所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值，对所述N个通道校准。
[0009] 可选的，所述采集与N个通道对应的M个样本信号，具体包括：
[0010] 获得预存的与所述N个通道对应的M组移相值，所述M组移相值中每组移相值均包 含所述N个通道中每个通道的移相值，所述M组移相值中各组移相值互不相同；
[0011] 依次取i为1至M，在所述N个通道的移相值调节为所述M组移相值中的第i组移相值 时，获得所述校准信号通过所述N个通道后合成的第i个样本信号；
[001 ^ 在功M时，获得M个样本信号。
[0013] 可选的，所述采集与N个通道对应的M个样本信号，具体包括：
[0014] 获得预存的与所述N个通道对应的L组移相值，所述L组移相值中每组移相值均包 含所述N个通道中每个通道的移相值，所述L组移相值中各组移相值互不相同，L为大于M的 整数；
[0015] 依次取j为I至L，在所述N个通道的移相值调节为所述L组移相值中的第j组移相值 时，获得所述校准信号通过所述N个通道后合成的第j个样本信号；
[0016] 在j为L时，获得L个样本信号；
[0017] 从所述L个样本信号中随机选取M个样本信号。
[0018] 可选的，在所述获得L个样本信号后，所述方法还包括：
[0019] 基于所述L个样本信号，确定K组样本信号，所述K组样本信号中每组样本信号均包 含M个样本信号，每组包含的M个样本信号为从所述L个样本信号随机选取的样本信号，K为 大于1的整数；
[0020] 依次取t为1至K，W所述预设策略对第t组样本信号中的M个样本信号进行拟合，获 得与所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值对应的第t组参数值;在t为即寸，获得K组参数 值；
[0021] 从所述K组参数值中确定出N个值，所述N个值对应所述N个通道中各通道的信号幅 相偏移值。
[0022] 可选的，所述W预设策略对所述M个样本信号进行拟合，具体为：
[0023] W线性回归方式对所述M个样本信号进行拟合;或
[0024] W稳健回归方式对所述M个样本信号进行拟合;或
[0025] W脊回归方式对所述M个样本信号进行拟合。
[00%]本发明实施例另一方面提供一种电子设备，包括：
[0027] 信号采集器，用于采集与N个通道对应的M个样本信号，其中，所述M个样本信号中 每个样本信号包括校准信号通过所述N个通道中各个通道后合成的信号，N为大于0的整数， M为大于N的整数；
[0028] 存储单元，用于存储至少一个程序模块；
[0029] 至少一个处理器，所述至少一个处理器通过获得并运行所述至少一个程序模块， 用于W预设策略对所述M个样本信号进行拟合，获得所述N个通道中各通道的信号幅相偏移 值;基于所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值，对所述N个通道校准。
[0030] 可选的，所述信号采集器具体用于：
[0031] 获得预存的与所述N个通道对应的M组移相值，所述M组移相值中每组移相值均包 含所述N个通道中每个通道的移相值，所述M组移相值中各组移相值互不相同；
[0032] 依次取i为1至M，在所述N个通道的移相值调节为所述M组移相值中的第i组移相值 时，获得所述校准信号通过所述N个通道后合成的第i个样本信号；
[0033] 在i为M时，获得M个样本信号。
[0034] 可选的，所述信号采集器具体用于：
[0035] 获得预存的与所述N个通道对应的L组移相值，所述L组移相值中每组移相值均包 含所述N个通道中每个通道的移相值，所述L组移相值中各组移相值互不相同，L为大于M的 整数；
[0036] 依次取j为1至L，在所述N个通道的移相值调节为所述L组移相值中的第j组移相值 时，获得所述校准信号通过所述N个通道后合成的第j个样本信号；
[0037] 在j为L时，获得L个样本信号；
[0038] 从所述L个样本信号中随机选取M个样本信号。
[0039] 可选的，信号采集器具体用于：
[0040] 在所述获得L个样本信号后，基于所述L个样本信号，确定K组样本信号，所述K组样 本信号中每组样本信号均包含M个样本信号，每组包含的M个样本信号为从所述L个样本信 号随机选取的样本信号，K为大于1的整数；
[0041] 依次取t为1至K，W所述预设策略对第t组样本信号中的M个样本信号进行拟合，获 得与所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值对应的第t组参数值;在t为即寸，获得K组参数 值；
[0042] 从所述K组参数值中确定出N个值，所述N个值对应所述N个通道中各通道的信号幅 相偏移值。
[0043] 可选的，所述至少一个处理器还用于：
[0044] W线性回归方式对所述M个样本信号进行拟合;或
[0045] W稳健回归方式对所述M个样本信号进行拟合;或
[0046] W脊回归方式对所述M个样本信号进行拟合。
[0047] 本申请实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下一种或多种技术效 果：
[004引1、由于在本申请实施例中的技术方案中，采用了采集与N个通道对应的M个样本信 号，其中，所述M个样本信号中每个样本信号包括校准信号通过所述N个通道中各个通道后 合成的信号，N为大于0的整数，M为大于N的整数；W预设策略对所述M个样本信号进行拟合， 获得所述N个通道中各通道的信号幅相偏移值;基于所述N个通道中各通道的信号幅相偏移 值，对所述N个通道校准的技术手段。运样，在需要对多个通道进行校准时，仅需要采集到与 运些通道对应的多个样本信号，再对运些样本信号进行拟合即可得到各通道的信号幅相偏 移值，不需要为通道设计任何辅助校准硬件电路，仅采用软件处理方式即可计算得到各通 道的信号幅相偏移值。所W，能有效解决现有技术中存在通道校准方式复杂，且所需成本较 高的技术问题，提供了一种简单且低成本的通道校准方式。
[0049] 2、由于在本申请实施例中的技术方案中，采用了基于所述L个样本信号，确定K组 样本信号，所述K组样本信号中每组样本信号均包含M个样本信号，每组包含的M个样本信号 为从所述L个样本信号随机选取的样本信号，K为大于1的整数;依次取t为1至K，