功能测试fct测试工装和测试系统的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及功能测试FCT领域，具体涉及功能测试FCT测试工装和测试系统。
【背景技术】
[0002]功能测试FCT(Funct1nal Circuit Test)指的是对测试目标板(UUT:Unit UnderTest)提供模拟的运行环境，使其工作于各种设计状态，从而获取到各个状态的参数来验证UUT的功能好坏的测试方法。简单地说，就是对UUT加载合适的激励，测量输出端响应是否合乎要求。一般专指对实装电路板PCBA (Printed Circuit Board Assembly)的功能测试。图5是现有FCT测试方式示意图，在图5中，51为引线、52为表笔、53为接插件、54为待测电路板，现有技术的测试系统使用手动接线测试的方式，将接插头和焊点连接到测试仪器上测试，这种测试方式测量功能偏弱，通用性较差、测试效率低下。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型提供了一种功能测试FCT测试工装和测试系统，以解决现有技术中的测试方法需要频繁接插件，测试效率低的问题。
[0004]为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的:
[0005]根据本实用新型的一个方面，提供了一种功能测试FCT测试工装，用于对待测电路板进行功能测试，该测试工装包括:探针工装；
[0006]探针工装包括:针板和多个探针；
[0007]多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；
[0008]探针工装能够相对于待测电路板上下运动，探针工装向下运动时，多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。
[0009]可选地，测试工装还包括:用于放置待测电路板的载板；
[0010]载板上设置有定位销，用于对待测电路板进行定位固定。
[0011]可选地，测试工装还包括:屏蔽罩；
[0012]屏蔽罩包括上下两部分，上屏蔽罩与下屏蔽罩对接压合共同形成屏蔽空间。
[0013]可选地，探针工装的针板安装在上屏蔽罩上，上屏蔽罩上设置有供探针工装的探针穿过的通孔；
[0014]载板安装在下屏蔽罩上；
[0015]上屏蔽罩在探针工装相对于载板上的待测电路板向下运动时也同步向下运动，并能够下降到与下屏蔽罩对接压合的位置，使得载板包含在上屏蔽罩和下屏蔽罩对接压合形成的屏蔽空间内。
[0016]可选地，下屏蔽罩上还安装有电磁密封衬垫；电池密封衬垫设置在上屏蔽罩与下屏蔽罩对接压合的位置。
[0017]可选地，下屏蔽罩上与上屏蔽罩对接压合的位置设有安装槽；
[0018]安装槽用于安装电磁密封衬垫。
[0019]可选地，针板的材料为有机玻璃纤维。
[0020]根据本实用新型的另一个方面，提供了一种功能测试FCT测试系统，测试系统包括本实用新型一个方面的测试工装。
[0021]本实用新型的这种FCT测试工装，通过使用探针工装进行功能测试，提高测试效率并且操作简单、省力、成本低，稳定性好，解决了现有技术中频繁接插件的测试方式导致的效率低、通用性差的技术问题。
【附图说明】
[0022]图1是本发明一个实施例的使用该功能测试FCT测试工装进行测试示意图图2是本实用新型一个实施例的一种功能测试FCT测试工装的结构示意图图；
[0023]图3是本实用新型一个实施例的一种功能测试FCT测试工装的结构示意图；
[0024]图4是本实用新型一个实施例的一种功能测试FCT测试系统工作的示意图；
[0025]图5是现有FCT测试方式示意图。
【具体实施方式】
[0026]为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。
[0027]本实用新型的核心思想是:将现有技术中FCT测试中采用手动频繁接插件与待测电路板接触进行测试的方式改为使用探针工装来进行测试从而提高测试效率，并且采用探针工装进行测试时稳定性好、操作方便。另外，本实用新型还可以对测试工装进行改进，在探针工装上加装屏蔽罩，将探针工装屏蔽罩做成一个整体，解决现有技术的FCT测试过程中产生干扰影响测试结果的问题。
[0028]图1是本发明一个实施例的使用该功能测试FCT测试工装进行测试示意图，参见图1，本实用新型的这种功能测试FCT测试工装包括:探针工装11 ;
[0029]探针工装11包括:针板和多个探针；多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接，输入测试信号到待测电路板或者输出电测电路板对所述测试信号的反馈信号大炮外部的控制设备；探针工装11能够相对于待测电路板12上下运动，探针工装向下运动时，多个探针能够与待测电路板12上的测试点一一对应接触进行功能测试。参见图1，该测试工装还包括用于放置待测电路板的载板13 ;载板13上设置有定位销，用于对待测电路板进行定位固定。在实际测试时，可以先将载板放置在测试台面板上再进行测试。
[0030]通过采用探针工装进行FCT测试，具有操作简单方便、成本低廉并且可以克服使用接插件进行FCT测试导致的效率低下的问题，另外，使用探针工装进行FCT测试时，保证了各探针的接触缓冲力相同，因而具有更好的稳定性。
[0031]图2是本实用新型一个实施例提供一种功能测试FCT的测试工装的结构示意图，参见图2，在本实施例中，该测试工装还包括:屏蔽罩；
[0032]屏蔽罩包括上下两部分，上屏蔽罩201与下屏蔽罩202对接压合共同形成屏蔽空间。探针工装的针板1101安装在上屏蔽罩201上，上屏蔽罩201上设置有供探针工装的探针穿过的通孔；通孔以及探针工装与上屏蔽上接触的部分均采用屏蔽滤波技术处理。
[0033]载板13安装在下屏蔽罩202上；上屏蔽罩201在探针工装相对于载板13上的待测电路板12向下运动时也同步向