ADC应用结构及电子设备的制作方法

本实用新型涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种ADC应用结构及电子设备。

背景技术：

ADC(Analog-to-Digital Converter，模/数转换器或者模数转换器)，用于将真实世界的温度、压力、声音或者图像等模拟信号转换成更容易储存、处理和发射的数字信号，被广泛应用于各种电子设备中。例如，现在电子设备的处理器、充电装置等元器件在大功率、长时间工作时产生较大的热量，如不进行热管理控制，会严重降低电子设备的性能，甚至烧坏电子设备。现有技术中将热源器件的温度变化通过热敏电阻转化为电压信号传给ADC单元后再转换成数字信号传给处理器，接着处理器根据数字信号进行分析处理以方便热管理，然而，目前的电子设备要么设置有限的ADC仅对关键的热源器件进行热管理控制，要么增加ADC的数量或者增设专用ADC芯片来对所有的热源器件进行热管理控制，前者降低电子设备的寿命和性能，后者较大增加电子设备的软硬件成本。

鉴于此，实有必要提供一种ADC应用结构及电子设备以克服上述缺陷。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种ADC应用结构及使用该ADC应用结构的电子设备，旨在通过单通道的ADC来检测多个采样单元，降低电子设备的软硬件成本。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种ADC应用结构，包括处理器、ADC、多路模拟开关及若干采样单元，每个采样单元经多路模拟开关、ADC与处理器形成检测回路，所述处理器通过多路模拟开关控制每个检测回路的断开与闭合。

在一个优选实施方式中，所述ADC的输入端与多路模拟开关相连以用于接收采样单元的模拟信号，所述ADC的输出端与处理器相连以将转化后的数字信号发给处理器。

在一个优选实施方式中，每个检测回路在所述处理器的控制下按照预设的时间和频率依次断开与闭合。

在一个优选实施方式中，所述采样单元的数量至少为两个。

在一个优选实施方式中，所述多路模拟开关包括一个控制端、一个连接端及若干选择端，所述控制端通过导线连接到所述处理器，所述连接端通过导线连接到所述ADC的输入端，每个选择端通过导线与一个采样单元相连，所述处理器通过所述控制端控制所述连接端与一个选择端导通以将对应的采样单元与ADC的输入端导通。

在一个优选实施方式中，所述多路模拟开关为场效应晶体管。

在一个优选实施方式中，所述选择端的数量大于或等于所述采样单元的数量。

本实用新型还提供一种包括上述ADC应用结构的电子设备。

本实用新型提供的ADC应用结构通过多路模拟开关使得ADC能接收多个采样单元的模拟信号以达到多路检测的目的，可以减少电子设备中ADC的数量，降低电子设备的软硬件成本。

为使实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本实用新型较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

【附图说明】

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型提供的ADC应用结构的结构示意图。

图2为图1所示多路模拟开关与ADC、处理器及采样单元的连接示意图。

【具体实施方式】

为了使本实用新型的目的、技术方案和有益技术效果更加清晰明白，以下结合附图和具体实施方式，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解的是，本说明书中描述的具体实施方式仅仅是为了解释本实用新型，并不是为了限定本实用新型。

请参阅图1，本实用新型提供一种ADC应用结构100及使用该ADC应用结构100的电子设备，以单路ADC20实现多路采样的目的，从而减小电子设备中ADC20的数量，进而降低电子设备的成本。

在本实用新型的实施例中，ADC应用结构100包括处理器10、ADC20、多路模拟开关30及若干采样单元40，每个采样单元40经多路模拟开关30、ADC20与处理器10形成检测回路，且处理器10通过多路模拟开关30控制每个检测回路的断开与闭合。在本实施方式中，ADC20的输入端201与多路模拟开关30相连以用于接收采样单元40的模拟信号，ADC20的输出端202与处理器10相连以将转化后的数字信号发给处理器10。

根据本实用新型的实施例，可以理解的是，采样单元40用于将预设采样对象的温度、压力、声音或者图像信息转化为模拟信号后经多路模拟开关30发给ADC20，且通过多路模拟开关30使得ADC20能接收多个采样单元40的模拟信号以达到多路检测的目的，可以减少电子设备中ADC20的数量，降低电子设备的软硬件成本。例如：采样单元40为设置于采样对象上的NTC热敏电阻(Negative Temperature Coefficient，负温度系数热敏电阻)，ADC20将检测到的NTC热敏电阻的分压状态转化为数字信号并发给处理器10，处理器10将数字信号还原成NTC热敏电阻的温度状态，以在采样对象的温度过高时通过降频、降帧、降电流、降亮度等降功率的方式来降低采样对象的发热量，从而达到降温的目的，避免温度较高损坏电子元件，以延长电子设备的使用寿命，同时，多路模拟开关30可以连接多个采样对象，亦即，本实用新型的电子设备中通过一个ADC20便可对所有发热器件进行温度检测，热管理效果良好，且降低热管理的软硬件成本。

进一步的，在一个实施例中，处理器10分时处理检测回路的断开与闭合，亦即，每个检测回路在处理器10的控制下按照预设的时间和频率依次断开与闭合。在本实施方式中，处理器10通过软件来控制多路模拟开关30以断开或者闭合检测回路。

进一步的，在一个实施例中，采样单元40的数量至少为两个。

进一步的，在一个实施例中，多路模拟开关30为场效应晶体管，工作速度快，导通电阻低，截止电阻高。

如图2所示，在一个具体实施例中，多路模拟开关30包括一个控制端301、一个连接端302及若干选择端303，控制端301通过导线连接到处理器，连接端302通过导线连接到ADC20的输入端201，每个选择端303通过导线与一个采样单元40相连，处理器通过控制端301控制连接端302与一个选择端303导通以将对应的采样单元模拟信息输送到ADC20的输入端201，可以理解的是，处理器10可以通过控制端301控制连接端302按照预设的时间频率依次与每个控制端301导通。在本实施方式中，选择端303的数量大于或者等于采样单元40的数量。

进一步的，在一个实施例中，多路模拟开关30为场效应晶体管，工作速度快，导通电阻低，截止电阻高。

在一个实施例中，提供一种电子设备，该电子设备包括上述任一实施例中提供的ADC应用结构。

本实用新型并不仅仅限于说明书和实施方式中所描述，因此对于熟悉领域的人员而言可容易地实现另外的优点和修改，故在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念的精神和范围的情况下，本实用新型并不限于特定的细节、代表性的设备和这里示出与描述的图示示例。