1.本实用新型涉及检测电路技术领域,具体涉及一种非隔离双开关单线带过零检测电路。
背景技术:2.市场上的检测高低电压都是通过双开关多线通信到mcu方式,如压力电饭煲上的双压力开关,都是采用双开关多线通信方式等等。每个开关都是单对单对mcu通信,占用mcu宝贵io口并添加多个辅助线,成本较高。
技术实现要素:3.针对现有技术的不足,本实用新型提出了一种非隔离双开关单线带过零检测电路,通过对低压开关、高压开关、过零电路合并到一条线上进行处理,只占用一条通信线,大幅减少配线,有效提高mcu io口的利用。
4.为实现上述技术方案,本实用新型提供了一种非隔离双开关单线带过零检测电路,包括:高压开关s1、低压开关s2、三级管q1、电阻r1、r2、r3、r4和电容c1,其中高压开关s1的一端与高压输入电源连接,高压开关s1的另外一端与电阻r4的一端连接,电阻r4的另外一端与三级管q1的基极连接,电阻r5的一端与三级管q1的基极连接,电阻r5的另外一端接地,电容c1与电阻r5并联,电容c1的一端与三级管q1的基极连接,电容c1的另外一端接地,电阻r1的一端与低压输入电源连接,电阻r1的另外一端与三级管q1的集电极连接,电阻r2的一端与三级管q1的集电极连接,电阻r2的另外一端与mcu的ad输入端连接,电阻r3的一端与三级管q1的集电极连接,电阻r3的另外一端与低压开关s2的一端连接,低压开关s2的另外一端接地,三极管q1的发射极接地。
5.上述技术方案中,当高压开关s1导通时,输入电经过高压开关s1、电阻r4、电阻r5分压后给三极管q1产生方波信号,再送到mcu处理,当低压开关s2导通时,低压输入电源通过电阻r1、电阻r3、低压开关s2进行分压后送到mcu处理。mcu收到以上信号后,采用分时方式对信号处理,处理高压开关时,mcu对接收的方波判定开关状态,并对方波处理过零型号。处理低压开关时,mcu暂停过零处理,开通ad检测功能,对方波的电压高低进行判定开关状态。通过mcu程序处理而达到一线双开关检测与过零一体化。在实际操作过程中,三极管q1与电阻r1串联到低压输入电源,当高压输入电源经过高压开关s1到电阻r4、r5、电容c1给到三极管q1处理,三极管q1、电阻r1与r2产生方波信号通过muc
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ad送到mcu的io口上进行处理,电阻r1、r3与开关s2低压开关是串联分压关系,当低压开关s2低压开关闭合时,电阻r1与r3对低压输入电源分压后经过电阻r2通过muc
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ad给到mcu的io口上进行处理,通过将电阻r4、r5、电容c1、三极管q1产生方波信与r1、r3与低压开关s2分电压后产生的两个不同信号合并到一起,并利用muc的的复合口ad、过零、普通io一体功能脚上进行对反馈信号处理,而达到非隔离双开关单线带过零检测电路效果。
6.优选的,所述高压输入电源的电压为110
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220v,频率为50
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60hz。
7.优选的,所述低压输入电源的电压为5v。
8.本实用新型提供的一种非隔离双开关单线带过零检测电路的有益效果在于:本非隔离双开关单线带过零检测电路结构简单,通过对低压开关、高压开关、过零电路合并到一条线上进行处理,只占用一条通信线,大幅减少配线,有效提高mcu io口的利用。在实际操作过程中,三极管q1与电阻r1串联到低压输入电源,当高压输入电源经过高压开关s1到电阻r4、r5、电容c1给到三极管q1处理,三极管q1、电阻r1与r2产生方波信号通过muc
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ad送到mcu的io口上进行处理,电阻r1、r3与开关s2低压开关是串联分压关系,当低压开关s2低压开关闭合时,电阻r1与r3对低压输入电源分压后经过电阻r2通过muc
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ad给到mcu的io口上进行处理,通过将电阻r4、r5、电容c1、三极管q1产生方波信与r1、r3与低压开关s2分电压后产生的两个不同信号合并到一起,并利用muc的的复合口ad、过零、普通io一体功能脚上进行对反馈信号处理,而达到非隔离双开关单线带过零检测电路效果。
附图说明
9.图1为本实用新型的电路结构图。
具体实施方式
10.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。本领域普通人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,均属于本实用新型的保护范围。
11.实施例:一种非隔离双开关单线带过零检测电路。
12.参照图1所示,一种非隔离双开关单线带过零检测电路,包括:高压开关s1、低压开关s2、三级管q1、电阻r1、r2、r3、r4和电容c1,其中高压开关s1的一端与电压为110
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220v,频率为50
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60hz的高压输入电源连接,高压开关s1的另外一端与电阻r4的一端连接,电阻r4的另外一端与三级管q1的基极连接,电阻r5的一端与三级管q1的基极连接,电阻r5的另外一端接地,电容c1与电阻r5并联,电容c1的一端与三级管q1的基极连接,电容c1的另外一端接地,高压输入电源经过高压开关s1到电阻r4、r5、电容c1给到三极管q1处理,当高压开关s1导通时,输入电经过高压开关s1、电阻r4、电阻r5分压后给三极管q1产生方波信号;
13.电阻r1的一端与5v低压输入电源连接,电阻r1的另外一端与三级管q1的集电极连接,电阻r2的一端与三级管q1的集电极连接,电阻r2的另外一端与mcu的ad输入端连接,电阻r3的一端与三级管q1的集电极连接,电阻r3的另外一端与低压开关s2的一端连接,低压开关s2的另外一端接地,三极管q1的发射极接地,当低压开关s2导通时,低压输入电源通过电阻r1、电阻r3、低压开关s2进行分压后送到mcu处理。
14.本非隔离双开关单线带过零检测电路结构简单,通过对低压开关、高压开关、过零电路合并到一条线上进行处理,只占用一条通信线,大幅减少配线,有效提高mcu io的口利用。当高压开关s1导通时,输入电经过高压开关s1、电阻r4、电阻r5分压后给三极管q1产生方波信号,再送到mcu处理,当低压开关s2导通时,低压输入电源通过电阻r1、电阻r3、低压开关s2进行分压后送到mcu处理。mcu收到以上信号后,采用分时方式对信号处理,处理高压开关时,mcu对接收的方波判定开关状态,并对方波处理过零型号。处理低压开关时,mcu暂
停过零处理,开通ad检测功能,对方波的电压高低进行判定开关状态。通过mcu程序处理而达到一线双开关检测与过零一体化。在实际操作过程中,三极管q1与电阻r1串联到低压输入电源,当高压输入电源经过高压开关s1到电阻r4、r5、电容c1给到三极管q1处理,三极管q1、电阻r1与r2产生方波信号通过muc
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ad送到mcu的io口上进行处理,电阻r1、r3与开关s2低压开关是串联分压关系,当低压开关s2低压开关闭合时,电阻r1与r3对低压输入电源分压后经过电阻r2通过muc
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ad给到mcu的io口上进行处理,通过将电阻r4、r5、电容c1、三极管q1产生方波信与r1、r3与低压开关s2分电压后产生的两个不同信号合并到一起,并利用muc的的复合口ad、过零、普通io一体功能脚上进行对反馈信号处理,而达到非隔离双开关单线带过零检测电路效果。
15.以上所述为本实用新型的较佳实施例而已,但本实用新型不应局限于该实施例和附图所公开的内容,所以凡是不脱离本实用新型所公开的精神下完成的等效或修改,都落入本实用新型保护的范围。