一种光电耦合器性能和电特性的验证装置及系统的制作方法

1.本技术涉及电路设计技术领域，尤其涉及一种光电耦合器性能和电特性的验证装置及系统。


背景技术：

2.光电耦合器是通过光信号的传递，实现输入与输出间的电隔离器件，可以在电路或系统之间传输电信号，同时确保彼此间的电绝缘。光电耦合器广泛应用于现场总线、军用电子系统和航空航天电子设备中，尤其是一些应用环境比较恶略的场合，市场需求量持续增长，是一类重要的基础电子元器件。随着进口元器件的出口限制、停产、禁运，需要寻求相关元件的替代。虽然国内研制出了多款国产光电耦合器，但由于缺少相应的验证手段，很多国产光电耦合器都没有得到很好的应用。


技术实现要素：

3.本技术实施例提供一种光电耦合器性能和电特性的验证装置及系统，用以实现对光电耦合器性能和电特性的验证。
4.本技术实施例提供一种光电耦合器性能和电特性的验证装置，包括信号输入模块、被测器件验证板、数据采集模块和直流电源，其中，
5.所述信号输入模块，用以为所述被测器件验证板提供输入信号；
6.所述被测器件验证板，接入待检验光电耦合器，用以隔离电信号，实现检验待检验光电耦合器在不同环境条件下的板级动态性能和电特性；
7.所述数据采集模块，与所述待检验光电耦合器连接，用以采集所述待检验光电耦合器的输出电参数；
8.所述直流电源，作为电源。
9.可选的，所述被测器件验证板包括三极管v1，继电器k1；
10.所述三极管v1，其基极通过电阻r2引出信号输入端，以连接所述信号输入模块，其发射极接地，其集电极通过所述继电器k1的线圈连接至供电电压vcc；
11.所述继电器k1，其至少具有两组触点，其中一组触点的输入端接入供电电压vcc，所述一组触点的常闭输出端悬空，所述一组触点的常开输出端连接至电阻r3的一端，另一组触点的输入端接地，所述另一组触点的常开输出端连接至所述电阻r3的另一端，所述另一组触点的常闭输出端悬空；
12.所述电阻r3的另一端通过电阻r4和电阻r5的串联接入二极管v2的正极，所述二极管v2的负极连接至所述电阻r3的一端；
13.所述二极管v2，其负极还通过电容c1连接在所述电阻r4和所述电阻r5之间，其负极还连接至所述待检验光电耦合器的正极，其正极连接至所述待检验光电耦合器的负极；
14.所述待检验光电耦合器，其集电极通过电阻r1连接至工作电压vdd，其集电极通过电阻r6引出数据采集端，以通过所述数据采集端连接至所述数据采集模块，其集电极还通
过电容c2接地，其发射极接地。
15.可选的，所述继电器k1为g6k系列继电器。
16.可选的，还包括电源转换模块，与所述直流电源连接，并将输入电压转换为所需的工作电压。
17.可选的，所述输出电参数包括所述待检验光电耦合器的输出电压和电流。
18.可选的，还包括通信控制模块，用以基于控制指令对所述待检验光电耦合器进行配置。
19.本技术实施例还提出一种光电耦合器性能和电特性的验证系统，包括上位机和前述光电耦合器性能和电特性的验证装置；
20.所述上位机与所述光电耦合器性能和电特性的验证装置的数据采集模块通信连接，以收所述数据采集模块采集的输出电参数。
21.本技术实施例通过被测器件验证板接入待检验光电耦合器，并通过数据采集模块来采集待检验光电耦合器的输出电参数，从而实现检验待检验光电耦合器在不同环境条件下的板级动态性能和电特性。
22.上述说明仅是本技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本技术的具体实施方式。
附图说明
23.通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
24.图1为本技术实施例的光电耦合器性能和电特性的验证装置的结构示例；
25.图2为本技术实施例的光电耦合器性能和电特性的验证装置被测器件验证板的电路结构示例；
26.图3为本技术实施例的光电耦合器性能和电特性的验证系统的结构示例。
具体实施方式
27.下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
28.本技术实施例提供一种光电耦合器性能和电特性的验证装置，如图1所示，包括信号输入模块、被测器件验证板、数据采集模块和直流电源。
29.其中，所述信号输入模块，用以为所述被测器件验证板提供输入信号；
30.所述被测器件验证板，接入待检验光电耦合器，用以隔离电信号，实现检验待检验光电耦合器在不同环境条件下的板级动态性能和电特性；
31.所述数据采集模块，与所述待检验光电耦合器连接，用以采集所述待检验光电耦合器的输出电参数。在一些实施例中，所述输出电参数包括所述待检验光电耦合器的输出
电压和电流。
32.所述直流电源，作为电源。在一些实施例中，还包括电源转换模块，与所述直流电源连接，并将输入电压转换为所需的工作电压，例如供电电压vcc以及工作电压vdd，电源转换模块用以为其他模块供电。
33.在一些实施例中，如图3所示，所述被测器件验证板包括三极管v1，继电器k1。
34.所述三极管v1，其基极通过电阻r2引出信号输入端，以连接所述信号输入模块，其发射极接地，其集电极通过所述继电器k1的线圈连接至供电电压vcc，一些示例中三极管v1可以是mmbt5551三极管。
35.所述继电器k1，其至少具有两组触点，其中一组触点的输入端接入供电电压vcc，所述一组触点的常闭输出端悬空，所述一组触点的常开输出端连接至电阻r3的一端，另一组触点的输入端接地，所述另一组触点的常开输出端连接至所述电阻r3的另一端，所述另一组触点的常闭输出端悬空；
36.所述电阻r3的另一端通过电阻r4和电阻r5的串联接入二极管v2的正极，所述二极管v2的负极连接至所述电阻r3的一端；
37.所述二极管v2，其负极还通过电容c1连接在所述电阻r4和所述电阻r5之间，其负极还连接至所述待检验光电耦合器的正极，其正极连接至所述待检验光电耦合器的负极，一些示例中二极管v2可以是in4004二极管。
38.所述待检验光电耦合器，其集电极通过电阻r1连接至工作电压vdd，其集电极通过电阻r6引出数据采集端，以通过所述数据采集端连接至所述数据采集模块，其集电极还通过电容c2接地，其发射极接地。
39.例如图3中，待检验光电耦合器编号为n1，通过电源转换模块给测试板供电，测试点t1连接信号输入模块，通过控制继电器开关控制光耦的通断，测试输出测试点t2电压。在一些实施例中，所述继电器k1为g6k系列继电器。例如图3中，继电器k1为g6k-2f-y，信号输入模块在输入控制端t1输入一个控制信号，控制三极管v1的通断从而控制光耦的工作状态。例如当控制信号t1为低电平(≤0.6v)时，三极管v1为断开状态，继电器k1的引脚6、3处于常闭状态，连接引脚7、2，此时光耦不工作，输出测试电压t2。当控制信号t1为高电平(≥0.7v)时，三极管v1为导通状态，继电器k1的线圈吸合，继电器k1的引脚6、3分别连接引脚5、4，此时光耦工作，输出测试电压t2，由此可以通过数据采集模块在数据采集端采集到输出电参数。
40.在一些实施例中，还包括通信控制模块，用以基于控制指令对所述待检验光电耦合器进行配置。具体可以依据后续的上位机发送的指令，来对待检验光电耦合器进行配置。
41.本技术实施例还提出一种光电耦合器性能和电特性的验证系统，如图3所示，包括上位机和前述光电耦合器性能和电特性的验证装置；
42.所述上位机与所述光电耦合器性能和电特性的验证装置的数据采集模块通信连接，以收所述数据采集模块采集的输出电参数。
43.在一些实施例中还可以接入外围测试仪器等，上位机上可以安装控制软件用于实现与下位机交互，完成对下位机的控制及参数配置(例如通过通信控制模块实现参数配置)。此外上位机还可以从数据采集模块获采集的数据、显示、存储，从而完成被测器件性能和电特性测试。
44.通过本技术实施例设计的被测器件验证板和数据采集模块，通过被测器件验证板接入待检验光电耦合器，并通过数据采集模块来采集待检验光电耦合器的输出电参数，从而实现检验待检验光电耦合器在不同环境条件下的板级动态性能和电特性。
45.需要说明的是，在本技术中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
46.上述本技术实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
47.上面结合附图对本技术的实施例进行了描述，但是本技术并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本技术的启示下，在不脱离本技术宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本技术的保护之内。