本技术涉及自动化设备控制,特别是涉及一种多动子多检测工位可变控制方法、系统、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
背景技术:
1、多功能测试线体设备是一种用于测试和检测电子产品的设备,它可以在生产线上进行多种测试和检测操作,包括电气测试、功能测试、可靠性测试等。这些测试可以检查电子产品的性能、品质和可靠性,确保产品符合相关标准和要求。多功能测试线体设备通常包括测试仪器、测试夹具、测试软件等组成部分,可以快速、准确地测试和诊断各种电子产品,例如手机、平板电脑、电视、音响等。这种设备可以大大提高生产效率和产品质量,减少产品缺陷和质量问题的出现。
2、多功能测试线体设备的设计和制造需要考虑多种因素,例如测试的精度、速度和可靠性,测试的自动化程度,测试的适应性和灵活性等。由于不同的电子产品有不同的测试需求,所以多功能测试线体设备需要根据具体产品进行定制和调整。
3、相关技术中,自动化领域的三动子多功能测试线体系统中,通常为一个线体设备上存在三种不同的测试功能,通过三动子进行调度搬运,使得整个线体流转运行。
4、然而,目前的三动子或多动子测试设备的控制方法,存在如下的技术问题:
5、在固定式的线体设备中,不同模块遵循固定式的测试功能,且设备调整、测试的成本过高,导致测试设备的使用灵活性大大降低。
技术实现思路
1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高测试设备的灵活性,以及设备的复用率的一种多动子多检测工位可变控制方法、系统、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面,本技术提供了一种多动子多检测工位可变控制方法,所述方法应用于设有多个动子设备的多功能测试系统,所述方法包括:
3、获取目标测试任务,并根据所述目标测试任务确定测试流程信息;
4、根据所述测试流程信息确定所述测试系统中可变测试工位的功能配置信息;
5、根据所述功能配置信息设定所述测试系统中动子设备的动子控制约束条件,所述动子控制约束条件包括各动子设备的行程范围;
6、基于所述功能配置信息以及所述动子控制约束条件配置所述测试系统,完成所述目标测试任务。
7、在其中一个实施例中,所述根据所述测试流程信息确定所述测试系统中可变测试工位的功能配置信息,之前包括:
8、获取与所述测试系统相关联的测试系统信息,
9、其中,所述测试系统信息包括测试工位与其对应的动子设备之间的预设关系。
10、在其中一个实施例中,所述根据所述测试流程信息确定所述测试系统中可变测试工位的功能配置信息,包括:
11、基于所述测试流程信息确定完成相应测试功能的工步效率,以根据所述工步效率确定模块工位容量,其中,所述模块工位容量包括完成相同测试功能的测试工位;
12、根据所述模块工位容量得到可变测试工位的功能配置信息,以更新所述测试工位与其对应的动子设备之间的预设关系。
13、在其中一个实施例中,所述测试工位还包括测试功能不变的固定测试工位,所述根据所述模块工位容量得到可变测试工位的功能配置信息,包括:
14、确定所述可变测试工位的相邻固定测试工位的测试功能;
15、基于所述相邻固定测试工位的模块工位容量完成所述可变测试工位的功能配置,得到更新后的可变测试工位的功能配置信息。
16、在其中一个实施例中,所述根据所述功能配置信息设定所述测试系统中动子设备的动子控制约束条件,包括:
17、获取所述固定测试工位的功能配置信息;
18、根据所述可变测试工位和所述固定测试工位的功能配置信息调整所述测试系统中动子设备的动子控制约束条件。
19、在其中一个实施例中,所述测试系统中具有相同测试功能的固定测试工位位于同一测试区域,且具有相同初始测试功能的可变测试工位位于同一测试区域;
20、所述测试系统设有一个或多个由所述可变测试工位构成的测试区域,具有相同测试功能的所述测试区域包括一个或多个所述可变测试工位。
21、在其中一个实施例中,当需要重新进行测试功能配置的测试区域由多个所述可变测试工位构成,其特征在于,所述根据所述可变测试工位和所述固定测试工位的功能配置信息调整所述测试系统中动子设备的动子控制约束条件,包括:
22、根据所述可变测试工位的功能配置信息和需要重新进行测试功能配置的测试区域的可变测试工位数量选取目标可变测试工位;
23、对所述目标可变测试工位匹配设定对应的动子设备,以调整所述测试系统中相应动子设备的动子控制约束条件。
24、第二方面,本技术还提供了一种多动子多检测工位可变控制装置。应用于设有多个动子设备的多功能测试系统,所述装置包括:
25、测试任务解析模块,用于获取目标测试任务,并根据所述目标测试任务确定测试流程信息;
26、功能配置信息模块,用于根据所述测试流程信息确定所述测试系统中可变测试工位的功能配置信息;
27、动子控制约束模块,用于根据所述功能配置信息设定所述测试系统中动子设备的动子控制约束条件,所述动子控制约束条件包括各动子设备的行程范围;
28、测试系统配置模块,用于基于所述功能配置信息以及所述动子控制约束条件配置所述测试系统,完成所述目标测试任务。
29、在其中一个实施例中,所述功能配置信息模块之前,还包括:
30、测试系统信息模块,用于获取与所述测试系统相关联的测试系统信息,其中,所述测试系统信息包括测试工位与其对应的动子设备之间的预设关系。
31、在其中一个实施例中,所述功能配置信息模块,包括:
32、模块工位容量模块,用于基于所述测试流程信息确定完成相应测试功能的工步效率,以根据所述工步效率确定模块工位容量,其中,所述模块工位容量包括完成相同测试功能的测试工位;
33、映射关系配置模块,用于根据所述模块工位容量得到可变测试工位的功能配置信息,以更新所述测试工位与其对应的动子设备之间的预设关系。
34、在其中一个实施例中,所述测试工位还包括测试功能不变的固定测试工位,所述映射关系配置模块,包括:
35、测试功能模块,用于确定所述可变测试工位的相邻固定测试工位的测试功能;
36、可变工位功能模块,用于基于所述相邻固定测试工位的模块工位容量完成所述可变测试工位的功能配置,得到更新后的可变测试工位的功能配置信息。
37、在其中一个实施例中,所述动子控制约束模块,包括:
38、固定工位功能模块,用于获取所述固定测试工位的功能配置信息;
39、约束条件调整模块,用于根据所述可变测试工位和所述固定测试工位的功能配置信息调整所述测试系统中动子设备的动子控制约束条件。
40、在其中一个实施例中,所述测试系统中具有相同测试功能的固定测试工位位于同一测试区域,且具有相同初始测试功能的可变测试工位位于同一测试区域;
41、所述测试系统设有一个或多个由所述可变测试工位构成的测试区域,具有相同测试功能的所述测试区域包括一个或多个所述可变测试工位。
42、在其中一个实施例中,当需要重新进行测试功能配置的测试区域由多个所述可变测试工位构成,所述约束条件调整模块,包括:
43、目标可变工位模块,用于根据所述可变测试工位的功能配置信息和需要重新进行测试功能配置的测试区域的可变测试工位数量选取目标可变测试工位;
44、目标动子约束调整模块,用于对所述目标可变测试工位匹配设定对应的动子设备,以调整所述测试系统中相应动子设备的动子控制约束条件。
45、第三方面,本技术还提供了一种多动子多检测工位可变控制系统,所述系统包括:
46、上料平台,所述上料平台用于存储并向目标测试设备供给待测产品;
47、测试工位,所述测试工位用于容纳并对所述待测产品执行预设的测试工步,所述测试工位设有多个,所述测试工位基于功能配置信息实现不同的测试功能;
48、动子设备,所述动子设备用于调度并传递所述待测产品,以使所述待测产品在所述测试工位内以及所述测试工位之间移动,所述动子设备设有多个;
49、下料平台,所述下料平台用于收集并处理完成目标测试流程的所述待测产品;
50、控制装置,所述控制装置与所述上料平台、所述测试工位、所述动子设备以及所述下料平台均信号连接,所述控制装置用于基于如第一方面中任意一项所述的一种多动子多检测工位可变控制方法实现所述多动子多检测工位可变控制系统的控制。
51、第四方面,本技术还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如第一方面中任意一项实施例所述的一种多动子多检测工位可变控制方法中的步骤。
52、第五方面,本技术还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任意一项实施例所述的一种多动子多检测工位可变控制方法中的步骤。
53、第六方面,本技术还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如第一方面中任意一项实施例所述的一种多动子多检测工位可变控制方法中的步骤。
54、上述一种多动子多检测工位可变控制方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品,通过独权中的技术特征进行推导,能够达到对应背景技术中的技术问题的如下有益效果:
55、本实施例中的一种多动子多检测工位的可变控制方法,主要包括获取目标测试任务,通过目标测试任务确定测试流程信息,随后根据测试流程信息对目标测试设备中的测试工位进行功能配置,从而实现不同测试工位的测试功能设定,同时根据不同测试工位的功能为不同的测试工位配置模块工位容量,在测试工位的功能参数以及容量均配置完成后,此时由于中间位置的测试工位的测试功能的改变,改变为相邻测试工位的功能或取消此测试工位,使得位于中间位置的动子设备跟随其设定完成重新配置,改变其对应的取放工位,继而改变运行范围,因此可以通过不同工步的测试工位对应的测试工位容量确定动子设备的动子控制约束条件,也即动子设备的动作范围。最终基于上述针对目标测试流程的适应性配置信息实现了目标测试设备的可变控制。在实施中,与常规技术手段相比,本技术提供的方案能够提高测试设备的复用性,使得技术人员得以根据实际的使用需求进行测试功能、设备功能的配置,提高了测试设备的使用灵活度。