本发明涉及硬件领域，尤其涉及一种加密产品的扫描和集成校验比对方法。
背景技术：
在BQ2022A系列加密IC产品生产过程中，需要将程序烧录在BQ2022A系列加密IC产品中，然后然后再对烧录程序进行校验测试，以确保烧录的程序满足客户需求。目前，企业在BQ2022A系列加密IC产品烧录程序后，需要对产品进行校验，校验合格后才进行产品的性能测试，而行业内现有的BQ2022A系列加密IC产品的测试通常采用BQ2022A加密IC的所提供的配套软件和硬件。测试时，通过搭架模式实现BQ2022A系列加密IC产品的烧录校验，性能测试，复校验进行细分为三个工位进行测试，增加测试难度，测试成本投入大，需要支出较高的人力物力，局限性大，可扩展性差，同时投入成本高，整体测试稳定性差，同时作业效率低下，品质安全系数低。同时，由于产品在烧录时，产品的ID并不是产品芯片内的ID值，而是产品自身的ID，因此，产品在获取原始出厂配置的序列ID 时，存在产品获取初始序列ID出错，获取出的值并未是真值，使得烧录在产品中的ID值不对，导致烧录错误，另外，现在的产品测试过程中的校验和性能测试均分开，因此，增加测试的工作量，降低了测试效率，不能满意大批量测试要求。
因此，如何开发出高效高稳定的测试方法，增加设备集成度，提高测试效率，降低成本，成为企业亟待解决的问题。
技术实现要素：
基于此，本发明提供了一种加密产品的扫描和集成校验比对方法。
一种加密产品的扫描和集成校验比对方法，包括：
在硬件模块提供主控模块和校验读取模块；
在硬件模块中添加通信模块，将所述通信模块连接于所述主控模块中；
通过性能测试软件对烧录固定字节进行对比，以及序列ID号进行对比，以及制造信息日期进行对比。
优选地，所述通过性能测试软件对烧录固定字节进行对比，以及序列ID号进行对比，以及制造信息日期进行对比的步骤包括：
读取产品系列ID；
获取产品序列ID；
开发8位CRC循环冗余校验码；
执行计算出序列ID对应的CRC校验码；
对所述校验码与加密IC计算出的8位校验码进行验证比对；
若比对一致，则执行下一步的烧录，若否，则停止当前烧录。
优选地，所述方法还包括：
在主控模块电路板中采用21个单片机分配排布，其中主控单片机分布在主控板中的主控区域中，分布在主控电路板的左上侧。
优选地，所述方法还包括：
在主控模块中增加12V电压供电模块和多通道的EDB导通管脚。
优选地，所述方法还包括：
在设备与产品之间连接采用针床、夹具、探针、导线进行连接。
优选地，所述在设备与产品之间连接采用针床、夹具、探针、导线进行连接的步骤包括：
针床与导线连接，其中针床与各通道烧录测试板的输出端口连接采用“母式插槽”，而各通道烧录测试板输出端口是“公式插槽”。
优选地，所述在设备与产品之间连接采用针床、夹具、探针、导线进行连接的步骤还包括：
针床本身采用螺丝固定，与测试夹具针板焊点进行接触导通，而控制其导通的是通过气缸的垂直方向上下运作导通。
优选地，所述在设备与产品之间连接采用针床、夹具、探针、导线进行连接的步骤还包括：
针板夹具上的探针随着气缸的垂直方向上下运作，而与产品的测试点形成脱离和接触测试点 。
优选地，所述方法还包括：在烧录校验测试时，在烧录校验一体化设备上首先进行产品拼板二维码的扫描（采用扫描枪扫描），此二维码与产品拼板绑定，即一个二维码对应40个产品捆绑绑定，待产品在烧录校验一体工位烧录校验完成后，则把烧录校验的数据与对应的二维码一起上传至服务器和在本地备份一份数据，其中上传至服务器的保存格式为SQL数据库的格式，本地备份的数据为ACESS数据库格式。
有益效果：
本发明实现了采用多通道并行烧录校准校验于一体的测试方法和多通道性能复校验测试的方法对BQ2022A系列加密IC产品的烧录校验性能测试节省了复校验的工位，把复校验的功能集成于设备性能测试中，缩短测试时间，提高了效率，满足企业大批量测试要求。同时，增加了扫描功能，把产品的烧录校验的数据与对应的二维码一起上传至服务器和在本地备份一份数据，其中上传至服务器的保存格式为SQL数据库的格式，本地备份的数据为ACESS数据库格式。此种方式捆绑数据能够清楚的让用户知道此批产品是属于哪个批次的产品，用于快速完成产品的品质追溯。
附图说明
图1是本发明的一种加密产品的扫描和集成校验比对方法的方法流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请参照图1，一种加密产品的扫描和集成校验比对方法，所述方法包括：
S100：在硬件模块提供主控模块和校验读取模块；
S200： 在硬件模块中添加通信模块，将所述通信模块连接于所述主控模块中；
S300：通过性能测试软件对烧录固定字节进行对比，以及序列ID号进行对比，以及制造信息日期进行对比。
在其中一个实施例中，所述通过性能测试软件对烧录固定字节进行对比，以及序列ID号进行对比，以及制造信息日期进行对比的步骤包括：
读取产品系列ID；
获取产品序列ID；
开发8位CRC循环冗余校验码；
执行计算出序列ID对应的CRC校验码；
对所述校验码与加密IC计算出的8位校验码进行验证比对；
若比对一致，则执行下一步的烧录，若否，则停止当前烧录。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
在主控模块电路板中采用21个单片机分配排布，其中主控单片机分布在主控板中的主控区域中，分布在主控电路板的左上侧。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
在主控模块中增加12V电压供电模块和多通道的EDB导通管脚。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：
在设备与产品之间连接采用针床、夹具、探针、导线进行连接。
在其中一个实施例中，所述在设备与产品之间连接采用针床、夹具、探针、导线进行连接的步骤包括：
针床与导线连接，其中针床与各通道烧录测试板的输出端口连接采用“母式插槽”，而各通道烧录测试板输出端口是“公式插槽”。
在其中一个实施例中，所述在设备与产品之间连接采用针床、夹具、探针、导线进行连接的步骤还包括：
针床本身采用螺丝固定，与测试夹具针板焊点进行接触导通，而控制其导通的是通过气缸的垂直方向上下运作导通。
在其中一个实施例中，所述在设备与产品之间连接采用针床、夹具、探针、导线进行连接的步骤还包括：
针板夹具上的探针随着气缸的垂直方向上下运作，而与产品的测试点形成脱离和接触测试点 。
在其中一个实施例中，所述方法还包括：在烧录校验测试时，在烧录校验一体化设备上首先进行产品拼板二维码的扫描（采用扫描枪扫描），此二维码与产品拼板绑定，即一个二维码对应40个产品捆绑绑定，待产品在烧录校验一体工位烧录校验完成后，则把烧录校验的数据与对应的二维码一起上传至服务器和在本地备份一份数据，其中上传至服务器的保存格式为SQL数据库的格式，本地备份的数据为ACESS数据库格式。
本发明的一种加密产品的扫描和集成校验比对方法，所述方法包括：
在硬件模块提供主控模块和校验读取模块；在硬件模块中添加通信模块，将所述通信模块连接于所述主控模块中；通过性能测试软件对烧录固定字节进行对比，以及序列ID号进行对比，以及制造信息日期进行对比。在其中一个实施例中，所述通过性能测试软件对烧录固定字节进行对比，以及序列ID号进行对比，以及制造信息日期进行对比的步骤包括：读取产品系列ID；获取产品序列ID；
开发8位CRC循环冗余校验码；执行计算出序列ID对应的CRC校验码；对所述校验码与加密IC计算出的8位校验码进行验证比对；若比对一致，则执行下一步的烧录，若否，则停止当前烧录。我司实现对BQ2022A系列加密IC产品的烧录校验性能测试方案是采用20通道并行烧录校准校验于一体的测试方法和20通道性能复校验测试的方法。现今此种设备测试方案节省了复校验的工位， 把复校验的功能集成于设备性能测试中。
此方法是体现在20通道的性能测试设备上增加一种支持“HDQ状态下在产品EDB管脚进行单线模式的读取校验的功能”。
1）硬件角度：
1.此单节BQ2022A加密管理IC产品的性能测试设备所改造的硬件板块分为“主控模块和校验读取模块”两部分。
a.单片机控制排布方式：由于设计时考虑是20个通道，因此主控模块电路板中采用21个单片机分配排布，其中主控单片机分布在主控板中的主控区域中，分布在主控电路板的左上侧；其余20个单片机片子平行排列，按从右至左的方式从1通道至20通道依次有序分布。
b.在主控模块中增加“12V电压供电模块”和“多通道的EDB导通管脚”（此些管脚是连接每个通道的产品的EDB测试点），以便多通道的进行并行校验读取加密IC产品内部的字节信息参数。此“12V电压供电模块”由变压器按照一定的换算比例进行变换电压输出12V。
c.硬件衔接方式：主控控制电路板采取分布20通道的插槽，并且按照一定的间隙平行排布于控制板后背，并以母插槽的方式焊接，PCB控制板采用多层布线的方式与母插槽连接； 每通道对应的烧录测试板输入和输出两个端口都采取公插槽的方式连接焊接，（并且输入输出两个端口对应位置并不在同一条水平直线上，此方式能有效的避免烧录测试板因输入输出端口处于同一水平线而混淆输入输出端口时而不慎把输出端口当做输入端口插反导致测试板击穿烧坏）。 每通道的烧录测试板与主控控制板的衔接方式是采取“公母插槽”方式衔接插入拔出，便于平时测试板的拆除安装维修。而外部夹具连接端口采用“母插槽”方式，其烧录测试板的输出端口与外部夹具连接端口通过“公母插槽”方式连接。因此烧录测试板是相对动态的，允许维修人员随时通过“插拔方式”进行更换。而设备主控控制板相对静态，采用螺丝固定在设备机架框上。
d.新增校验读取通信模块中配置了12V电源的输入接口，同时排布了ATMEL MEGA通信单片智能片子，
单片通信智能片子与产品连接通过“公母插槽连接方式”进行连接，公插槽用于连接“所新增的校验读取通信模块”，（其中公母插槽中的内部管脚达到20列，即为20个通道同时提供连接，而每列中拥有两个针孔，其中一个针孔连接产品的EDB管脚，一个针孔连接产品的P-点）母插槽用于连接设备各通道的产品，而其连接主要是母插槽上的导线连接至设备中各通道的“公插槽”中（此公插槽是上述C点中讲述的直接通过导线连接于各通道的产品测试点上）；公插槽也是与母插槽一一对应连接，其中与EDB管脚对应的管脚直接与“新增校验读取通信模块”中的单片片子的通信读取端口直接连接，此测试点是用于直接读取产品内部的字节信息。
3.硬件与测试产品间的连接导通方式：
设备与产品之间连接采用以下媒介连接：针床、夹具、探针、导线；
1）针床与导线连接，其中针床与各通道烧录测试板的输出端口连接采用“母式插槽”，而各通道烧录测试板输出端口是“公式插槽”；
2）针床本身采用螺丝固定，与测试夹具针板焊点进行接触导通，而控制其导通的是通过气缸的垂直方向上下运作导通。
3）而针板夹具上的探针随着气缸的垂直方向上下运作，而与产品的测试点形成脱离和接触测试点。
2）软件角度：
a.性能测试设备增加校验读取模块软件角度描述：（分部分固定字节数据，序列ID字节数据，烧录日期字节数据）
a.1 性能测试设备所增加的“校验读取模块”中增加了”烧录文件的解析”功能，在测试之前通过用户选择所需的烧录文件，然后解析出此烧录文件，以字节的形式存储至电脑临时内存中，此部分字节内容为产品中的固定的字节，即某款产品其烧录的这部分内容为固定的一致的字节参数（此解析出来的固定字节参数作为比较的标准）；然后软件控制再从产品寄存器指定的位置中读取出部分的固定的字节数据，待读取完成后采用循环逐个逐个字节比对的方式进行一一比对，一旦发现寄存器某位置上的字节内容与其标准不一致，则拦截出此对应通道的产品，以作不良品处理；
a.2性能测试设备所增加的“校验读取模块”中增加了“产品序列号ID”的比对读取功能，此产品序列号ID是由IC自身配带，此IC是由TI厂商直接分配，保证了产品ID身份的唯一性。性能测试设备中增加的“校验读取模块”，软件方式是首先从厂商分配的寄存器区域中读取出产品自身携带的序列ID号，然后再采用从客户要求的所指定存储序列ID号的寄存器位置中读取出对应的所烧录的序列ID字节，如果所读取出的烧录ID的字节与产品自身携带的序列ID号字节一一逐个比较，若一旦有字节不一致，则拦截出此对应通道的产品，以作不良品处理；
a.3性能测试设备所增加的“校验读取模块”中增加“产品烧录日期”的比对读取功能， 首先从本地电脑或者指定服务器获取出当前的时间，进行时间的采样，作为“标准时间的采样”。然后软件控制从产品所指定位置的寄存器中读取获取出烧录日期（此烧录日期是由8个字节组成，格式为yyyyMMdd，年月日中解析出8位，以每一位的数值作为一个字节烧写进产品寄存器中），待读取出所烧录的日期后，以标准时间为基准，按照一定的日期算法（一般以标准时间的前两天为标准，如果当前测试的产品获取出的烧录日期在标准日期的前两天范围内则判定为OK），进行拦截逾期的产品。同时此日期比对算法，其日期判定范围是属于可变的，软件提供一个接口给用户，用户可根据需要进行变更设定日期判定标准。b.设备读取产品序列ID，进行产品序列ID采样的创新化：（软件创新点）
因产品在获取原始出厂配置的序列ID 时，存在产品获取初始序列ID出错，获取出的值并未是真值，导致最终烧录进去产品中的ID值不对，导致错烧录。为有效控制此方面的错烧录，自主创新开发此系列IC的8位CRC（循环冗余校验码）的验证比对方式进行烧录验证校验，同时所读取的序列ID字节还要与FamilyCode 0X09字节进行对比筛选，如果所获取的八个序列ID字节的Family Code字节不为0x09，则宣告此次读取序列ID失败和错误。具体流程如下图所示：
c.设备采用建立BQ2022A加密产品绑定二维码或条纹码扫描系统进行生产的品质追溯：
BQ2022A加密产品在烧录校验测试时，在烧录校验一体化设备上首先进行产品拼板二维码的扫描（采用扫描枪扫描），此二维码与产品拼板绑定，即一个二维码对应40个产品捆绑绑定，待产品在烧录校验一体工位烧录校验完成后，则把烧录校验的数据与对应的二维码一起上传至服务器和在本地备份一份数据，其中上传至服务器的保存格式为SQL数据库的格式，本地备份的数据为ACESS数据库格式。此种方式捆绑数据能够清楚的让用户知道此批产品是属于哪个批次的产品，用于快速完成产品的品质追溯。
以上对本发明运行原理进行了详细介绍，上述运行原理的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。