一种内存快速检测系统的制作方法

本实用新型涉及半导体器件，具体的说是一种内存快速检测系统。

背景技术：

电脑启动时会对内存SPD（512Byte EEPROM）进行数据读取，如果SPD内部信息错误或者信息丢失，则电脑将无法启动。市场上对SPD信息的读取需要更换内存重新开启电脑来查看SPD信息，SPD信息是以ASCII码储存，在读取信息后需要转换成我们能够正常理解的英文&数字信息，操作繁琐且效率低下。现仅有DDR3 SPD 快速检测系统，无DDR4 SPD 快速检测系统。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于克服上述不足之处，从而提供一种DDR4内存快速检测系统。本实用新型是通过下述技术方案解决上述技术问题的：一种DDR4内存快速检测系统，其特征在于，包括：测试机台1及设于所述测试机台1上的测试系统2、电源开关3及显示器4，其特征在于，所述测试系统2包括：输入模块、输出模块、测试模块和中央处理器，所述测试模块的一端与输入模块连接，所述测试模块的另一端与输出模块连接，所述测试模块上海连接有中央处理器；

所述测试模块包括：电源模块、内存模块、待测模块1和待测模块2，所述电源模块分别与内存模块、待测模块1和待测模块2并联连接；所述电源模块与待测模块1之间设置有1号开关21，所述电源模块与待测模块2之间设置有2号开关22；

所述电源开关3分别控制测试系统2通电；

所述显示器4连接所述测试机台1，用于显示测试系统2的测试结果。

优选的，所述输入模块包括 ：键盘、鼠标及触摸屏。

优选的，所述待测模块1和待测模块2的上方分别设置有插槽口，所述插槽口包括：无缓冲双通道内存插槽口和小型双列直插式内存插槽口。

本实用新型当将待测内存条插入到待测模块1的插槽口中，2号开关断开，1号开关闭合时，待测模块1上的内存条测试工作正常进行；当将待测内存条插入到待测模块2的插槽口中，1号开关断开，2号开关闭合时，待测模块2上的内存条测试工作正常进行；当将待测内存条插入到待测模块1和待测模块2的插槽口中，1号开关闭合，2号开关闭合时，待测模块1和待测模块2上的内存条测试工作正常进行；在测试期间，不需要重新启动电脑，可以对内存条连续测试，提高了工作效率。

本实用新型的有益效果：本实用新型能够独立读取SPD信息，支持内存的即插即用，不再需要重启电脑，且本实用新型可以通过测试系统自动将二进制信息通过ASCII码自动转换成易识别信息，避免人为换算的错误，大大提高了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型一种DDR4内存快速检测系统的测试系统的原理图；

图2为本实用新型一种DDR4内存快速检测系统的结构示意图。

图中：1-测试机台；

2-测试系统，21-1号开关，22-2号开关；

3-电源开关；4-显示器。

具体实施方式

以下是本实用新型的具体实施例并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的描述，但本实用新型并不限于这些实例。

如图1和图2所示，一种DDR4内存快速检测系统，其特征在于，包括：测试机台1及设于所述测试机台1上的测试系统2、电源开关3及显示器4，其特征在于，所述测试系统2包括：输入模块、输出模块、测试模块和中央处理器，所述测试模块的一端与输入模块连接，所述测试模块的另一端与输出模块连接，所述测试模块上海连接有中央处理器；

所述测试模块包括：电源模块、内存模块、待测模块1和待测模块2，所述电源模块分别与内存模块、待测模块1和待测模块2并联连接；所述电源模块与待测模块1之间设置有1号开关21，所述电源模块与待测模块2之间设置有2号开关22；

所述电源开关3分别控制测试系统2通电；

所述显示器4连接所述测试机台1，用于显示测试系统2的测试结果。

在本实施例中，优选的，所述输入模块包括 ：键盘、鼠标及触摸屏。

在本实施例中，优选的，所述待测模块1和待测模块2的上方分别设置有插槽口，所述插槽口包括：无缓冲双通道内存插槽口和小型双列直插式内存插槽口。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例方式，不能以此来限定本实用新型保护的范围，本领域的技术人员在本实用新型的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本实用新型所要求保护的范围。