存储器诊断方法及装置与流程

技术特征：

技术总结
本申请公开了一种存储器诊断方法及装置。所述诊断方法包括：将所述存储器的空间划分为多个区块；针对所述多个区块，选取至少一个边界区，所述边界区中的每一个分别跨越所述多个区块中的两个相邻区块；以及针对所述区块和所述边界区分别执行诊断操作。本申请解决了现有的存储器诊断方案所存在的诊断覆盖率不高的技术问题。

技术研发人员：宋晋泉;王玥;杨昊佐
受保护的技术使用者：北京龙鼎源科技股份有限公司
技术研发日：2017.03.16
技术公布日：2017.07.18