一种统一存储阵列的测试方法及其装置与流程

本发明涉及计算机测试领域，特别涉及一种统一存储阵列的测试方法及其装置。

背景技术：

在云计算时代，数据传输过程的大量数据需要掉电存储，即断电存储。为了降低数据丢失风险，对统一存储阵列掉电存储稳定性和可靠性会有更高的要求，统一存储是一个能在单一设备上运行、管理文件和应用程序的存储系统。供电模块、备份电池模块、掉电切换控制电路是统一存储阵列关键部件，这些关键部件的性能指标决定了统一存储阵列的稳定性和可靠性，并且可以判断出是否有数据丢失的风险。在设计统一存储阵列过程中，需对统一存储阵列掉电时序、功能验证及可靠性进行测试。现有的对统一存储阵列的测试步骤繁琐，需要人工参与的地方较多，即测试相关模块时需要人工手动输入有关参数，并且测试结束后对测试模块的问题定位也需要大量人力物力，产品大批量生产时可能还存有一定的隐患，并且当需要测试统一存储阵列中的一个模块时，需要将所有的模块都安装好之后才可以进行测试，复杂度高。

由此可见，如何克服在对统一存储阵列进行测试的过程中测试过程复杂、可靠性低的问题是本领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现要素：

本申请实施例提供了一种统一存储阵列的测试方法及其装置，以解决现有技术中对统一存储阵列进行测试的过程中测试过程复杂、可靠性低的问题。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种统一存储阵列的测试方法，包括：

对系统进行初始化，并利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数；

根据所述测试参数对所述待测试模块进行测试以得到测试数据；

分析处理所述测试数据以得到测试结果。

优选地，所述对系统进行初始化包括：对所述通讯接口、控制定时器以及寄存器进行初始化。

优选地，所述对所述待测试模块进行测试以得到测试数据具体包括：

发送与所述待测试模块对应的测试指令；

依据所述测试指令对所述待测试模块进行测试以得到测试数据。

优选地，其特征在于，所述发送与所述待测试模块对应的测试指令具体为：

发送与掉电时序测试对应的第一测试指令；

依据所述第一测试指令对所述掉电时序进行测试以得到第一测试数据；

其中，所述测试指令包括所述第一测试指令，所述测试数据包括所述第一测试数据。

优选地，其特征在于，所述依据所述第一测试指令对所述掉电时序进行测试以得到第一测试数据具体为：

判断电池模块的使能信号和系统关机信号的上升沿与下降沿的时间间隔以及数据存储备份时间是否超过第一阈值；

如果是，则报警提示，并将所述第一测试数据发送至存储系统以对所述第一测试数据进行分析处理；

如果否，则将所述第一测试数据发送至存储系统以对所述第一测试数据进行分析处理。

优选地，其特征在于，所述发送与所述待测试模块对应的测试指令具体为：

发送与统一存储阵列的功能测试对应的第二测试指令；

依据所述第二测试指令对所述功能进行测试以得到第二测试数据；

其中，所述测试指令包括所述第二测试指令，所述测试数据包括所述第二测试数据。

优选地，所述依据所述第二测试指令对所述功能进行测试以得到第二测试数据具体为：

判断cpld逻辑可编程芯片的控制逻辑是否异常以及所述电池模块的充放电切换时间是否大于第二阈值；

如果是，则报警提示，并将所述第二测试数据发送至存储系统以对所述第二测试数据进行分析处理；

如果否，则将所述第二测试结果发送至存储系统以对所述第二测试数据进行分析处理。

优选地，所述发送与所述待测试模块对应的测试指令具体为：

发送与所述统一存储阵列的可靠性测试对应的第三测试指令；

依据所述第三测试指令对所述可靠性进行测试以得到第三测试数据；

其中，所述测试指令包括所述第三测试指令，所述测试数据包括所述第三测试数据。

优选地，所述依据所述第三测试指令对所述可靠性进行测试以得到第三测试数据具体为：

判断是否在第三阈值内所述电池模块的充放电异常且测试系统最低供电电压小于第四阈值；

如果是，则报警提示，并将所述第三测试数据发送至存储系统以对所述第三测试数据进行分析；

如果否，将所述第三测试数据发送至存储系统以对所述第三测试数据进行分析。

为解决上述技术问题，本发明还提供了一种与统一存储阵列的测试方法对应的测试装置，包括：

存储器，用于存储计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序以实现上述统一存储阵列的测试方法的步骤。

相比于现有技术，本发明所提供的一种统一存储阵列的测试方法，包括对系统进行初始化，并利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数；根据测试参数对待测试模块进行测试以得到测试数据；分析处理测试数据以得到测试结果。由此可见，该方法，首先对系统进行初始化，然后利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数，即需要测试统一存储阵列中的哪个模块，系统就会自动通过与待测试模块对应的通讯接口获取与待测试模块对应的测试参数，再根据测试参数对待测试模块进行测试以便得到测试数据，最后通过对测试数据进行分析处理获知该统一存储阵列的整体情况，避免了对相关模块进行测试时需要人工手动输入有关参数的问题，进而降低了测试复杂性，提高了测试可靠性。另外，本发明还提供了一种统一存储阵列的测试装置，效果如上。

附图说明

图1为本发明实施例所提供的一种统一存储阵列的测试方法流程图；

图2为本发明实施例所提供的另一种统一存储阵列的测试方法流程图；

图3为本发明实施例所提供的另一种统一存储阵列的测试方法流程图；

图4为本发明实施例所提供的另一种统一存储阵列的测试方法流程图；

图5为本发明实施例所提供的另一种统一存储阵列的测试方法流程图；

图6为本发明实施例所提供的一种统一存储阵列的测试装置组成示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明的核心是提供统一存储阵列的测试方法及其装置，可以解决在对统一存储阵列进行测试的过程中测试过程复杂、可靠性低的问题。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明的方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。

图1为本发明实施例所提供的一种统一存储阵列的测试方法流程图，如图1所示，该测试方法包括以下步骤：

s101：对系统进行初始化，并利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数。

对统一存储阵列进行测试时，首先需要对系统进行初始化，然后利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数，即在对待测试模块进行测试时，可通过相关通讯接口自动获取测试参数，不再需要人工手动去操作，降低测试复杂度。作为优选地实施方式，对系统进行初始化包括：对通讯接口、控制定时器以及寄存器进行初始化，在对统一存储阵列进行测试过程中，首先需要对测试时用到的相关器件及接口进行初始化，然后才能执行后面的相关操作，可以理解的是，除了需要对通讯接口、控制定时器以及寄存器进行初始化之外，有可能还需要对其它器件进行初始化，在本申请实施例中对通讯接口、控制定时器以及寄存器进行初始化只是一种优选地方式，也就是在测试时以上器件是比较主要的，并不代表只对通讯接口、控制定时器以及寄存器进行初始化，需要对哪些器件进行初始化，可根据实际情况而定，并不是固定不变的。

s102：根据测试参数对待测试模块进行测试以得到测试数据。

s103：分析处理测试数据以得到测试结果。

当获取到待测试模块的相关测试参数时，根据获取到的测试参数对相关待测试模块进行测试以得到测试数据，最后对返回的测试数据进行分析处理以得到测试结果即获知统一存储阵列的整体情况。

本发明所提供的测试方法，可以分开对不同模块进行测试，例如掉电时序模块，功能验证测试和可靠性测试等，不需要所有模块都组合起来进行测试，方便简单，并且测试准确性高。

本发明所提供的一种统一存储阵列的测试方法，包括对系统进行初始化，并利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数；根据测试参数对待测试模块进行测试以得到测试数据；分析处理测试数据以得到测试结果。由此可见，该方法，首先对系统进行初始化，然后利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数，即需要测试统一存储阵列中的哪个模块，系统就会自动通过与待测试模块对应的通讯接口获取与待测试模块对应的测试参数，再根据测试参数对待测试模块进行测试以便得到测试数据，最后通过对测试数据进行分析处理获知该统一存储阵列的整体情况，避免了对相关模块进行测试时需要人工手动输入有关参数的问题，进而降低了测试复杂性，提高了测试可靠性。

图2为本发明实施例所提供的另一种统一存储阵列的测试方法流程图，如图2所示，在图1的基础上，步骤s102具体包括：

s201：发送与待测试模块对应的测试指令。

s202：依据测试指令对待测试模块进行测试以得到测试数据。

在实际测试过程中，首先会设置好与待测试模块对应的测试参数，然后通过与待测试模块对应的通讯接口自动获取该测试参数以对统一存储阵列中的相关模块进行测试，在测试时会发送与该待测试模块对应的测试指令，相关测试工具会依据测试指令对待测试模块进行测试，最后得到测试结果。

在第二实施例的基础上，作为优选地实施方式，发送与待测试模块对应的测试指令具体包括：

发送与掉电时序测试对应的第一测试指令；

依据第一测试指令对掉电时序进行测试以得到第一测试数据；

其中，测试指令包括第一测试指令，测试数据包括第一测试数据。

当需要对统一存储阵列中的掉电时序模块进行测试时，首先需要发送与掉电时序模块对应的第一测试指令，然后依据第一测试指令对掉电时序模块进行测试，最后得出第一测试数据，也就是说系统会自动判断出需要测试的待测试模块并发送与该待测试模块对应的测试指令。

图3为本发明实施例所提供的另一种统一存储阵列的测试方法流程图，如图3所示，在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，该测试方法包括以下步骤：

s101：对系统进行初始化，并利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数。

可以理解的是，该步骤s101与上述实施例中的步骤s101相同，在此不再赘述。

s301：发送与掉电时序测试对应的第一测试指令。

s302：判断电池模块的使能信号和系统关机信号的上升沿与下降沿的时间间隔以及数据存储备份时间是否超过第一阈值。

如果是，则进入步骤s303。

如果否，则进入步骤s304。

s303：则报警提示，并将第一测试数据发送至存储系统以对第一测试数据进行分析处理。

s304：则将第一测试数据发送至存储系统以对第一测试数据进行分析处理。

当对统一存储阵列中的掉电时序模块进行测试时，首先发送与掉电时序模块对应的第一测试指令，然后依据第一测试指令判断电池模块的使能信号和系统关机信号的上升沿与下降沿的时间间隔以及数据存储备份时间是否超过第一阈值，如果是，则会报警提示有关工作人员，即这时掉电时序测试是异常的，并将第一测试数据发送至存储系统以对第一测试数据进行分析处理，即将异常数据发送至存储系统以对其进行分析处理，查找掉电时序模块的异常原因。如果电池模块的使能信号和系统关机信号的上升沿与下降沿的时间间隔以及数据存储备份时间没有超过第一阈值时，即掉电时序模块正常，将相关测试数据发送至存储系统存储分析掉电时序模块的整体情况，并且方便后期参考查找等。

可以理解的是，第一阈值是提前设定的，具体设定为多少合适，可根据实际情况和相关经验而定；第一测试指令和第一测试数据是为了区别测试不同模块时的不同指令与不同数据，根据个人喜好和习惯命名的，并不是固定不变的，当然，测试指令与测试数据的命名方式以及第一阈值的大小并不会影响本申请实施例的实现。

在第二实施例的基础上，作为优选地实施方式，发送与待测试模块对应的测试指令具体为：

发送与统一存储阵列的功能测试对应的第二测试指令；

依据第二测试指令对功能进行测试以得到第二测试数据；

其中，测试指令包括第二测试指令，测试数据包括第二测试数据。

当需要对统一存储阵列中的相关功能进行测试时，系统就会发送与功能测试对应的第二测试指令，然后依据第二测试指令对统一存储阵列的相关功能进行测试，最后得出第二测试数据，也就是说系统会自动判断出需要测试的待测试模块并发送与该待测试模块对应的测试指令。

图4为本发明实施例所提供的另一种统一存储阵列的测试方法流程图，如图4所示，在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，该测试方法包括以下步骤：

s101：对系统进行初始化，并利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数。

可以理解的是，该步骤s101与上述实施例中的步骤s101相同，在此不再赘述。

s401：发送与统一存储阵列的功能测试对应的第二测试指令。

s402：判断cpld逻辑可编程芯片的控制逻辑是否异常以及电池模块的充放电切换时间是否大于第二阈值。

如果是，则进入步骤s403。

如果否，则进入步骤s404。

s403：报警提示，并将第二测试数据发送至存储系统以对第二测试数据进行分析处理。

s404：将第二测试结果发送至存储系统以对第二测试数据进行分析处理。

当对统一存储阵列的相关功能进行测试时，系统就会发送与该功能对应的第二测试指令，然后依据第二测试指令判断cpld逻辑可编程芯片的控制逻辑是否异常以及电池模块的充放电切换时间是否大于第二阈值。如果cpld逻辑可编程芯片或者电池模块出现异常，则会报警提示有关工作人员，并将第二测试数据发送至存储系统以对第二测试数据进行分析处理，即将异常数据发送至存储系统以对其进行分析处理，查找相关模块出现异常的原因。如果cpld逻辑可编程芯片的控制逻辑和电池模块的充放电切换时间在正常范围内，也需要将相关测试数据发送至存储系统存储分析统一存储阵列的有关功能的整体情况，方便后期查找等。

可以理解的是，第二阈值是提前设定的，具体设定为多少合适，可根据实际情况和相关经验而定；第二测试指令和第二测试数据是为了区别测试不同模块时的不同指令与不同数据，根据个人喜好和习惯命名的，并不是固定不变的，当然，测试指令与测试数据的命名方式以及第二阈值的大小并不会影响本申请实施例的实现。

在第二实施例的基础上，作为优选地实施方式，发送与待测试模块对应的测试指令具体为：

发送与统一存储阵列的可靠性测试对应的第三测试指令；

依据第三测试指令对可靠性进行测试以得到第三测试数据；

其中，测试指令包括第三测试指令，测试数据包括第三测试数据。

当需要对统一存储阵列的可靠性进行测试时，系统就会发送与可靠性测试对应的第三测试指令，然后依据第三测试指令对统一存储阵列的可靠性进行测试，最后得出第三测试数据，也就是说系统会自动判断出需要测试的待测试模块并发送与该待测试模块对应的测试指令。

图5为本发明实施例所提供的另一种统一存储阵列的测试方法流程图，如图5所示，在上述实施例的基础上，作为优选地实施方式，该测试方法包括以下步骤：

s101：对系统进行初始化，并利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数。

可以理解的是，该步骤s101与上述实施例中的步骤s101相同，在此不再赘述。

s501：发送与统一存储阵列的可靠性测试对应的第三测试指令。

s502：判断是否在第三阈值内电池模块的充放电异常且测试系统最低供电电压小于第四阈值。

如果是，则进入步骤s503：

如果否，则进入步骤s504：

s503：报警提示，并将第三测试数据发送至存储系统以对第三测试数据进行分析处理。

s504：将第三测试数据发送至存储系统以对第三测试数据进行分析处理。

当对统一存储阵列的可靠性进行测试时，系统就会发送与该可靠性测试对应的第三测试指令，然后依据第三测试指令判断在第三阈值内电池模块的充放电是否异常且测试系统最低供电电压是否小于第四阈值，如果是，则报警提示有关工作人员，并将第三测试数据发送至存储系统以对第三测试数据进行分析处理，第三测试数据中既有电磁模块充放电的测试数据还有系统的供电电压数据，查找电池模块充放电异常原因或调解系统供电电压，如果正常则只需将相关测试数据发送至存储系统存储分析统一存储阵列可靠性方面的整体情况，并且可以方便后期查找等。

可以理解的是，第三阈值和第四阈值都是提前设定的，具体设定为多少合适，可根据实际情况和相关经验而定；第三测试指令和第三测试数据是为了区别测试不同模块时的不同指令与不同数据，根据个人喜好和习惯命名的，并不是固定不变的，当然，测试指令与测试数据的命名方式以及第三阈值和第四阈值的大小并不会影响本申请实施例的实现。

上文中对于一种统一存储阵列的测试方法的实施例进行了详细描述，基于上述实施例描述的统一存储阵列的测试方法，本发明实施例还提供了一种与该方法对应的统一存储阵列的测试装置。由于装置部分的实施例与方法部分的实施例相互对应，因此装置部分的实施例请参照方法部分的实施例描述，这里不再详细赘述。

图6为本发明实施例所提供的一种统一存储阵列的测试装置组成示意图，如图6所示，该测试装置包括：存储器601，处理器602。

存储器601，用于存储计算机程序；

处理器602，用于执行计算机程序以实现上述任意一种统一存储阵列的测试方法的步骤。

应用本发明所提供的一种统一存储阵列的测试装置，首先对系统进行初始化，然后利用与待测试模块对应的通讯接口获取测试参数，即需要测试统一存储阵列中的哪个模块，系统就会自动通过与待测试模块对应的通讯接口获取与待测试模块对应的测试参数，再根据测试参数对待测试模块进行测试以便得到测试数据，最后通过对测试数据进行分析处理获知该统一存储阵列的整体情况，避免了对相关模块进行测试时需要人工手动输入有关参数的问题，进而降低了测试复杂性，提高了测试可靠性。

以上对本发明所提供的一种统一存储阵列的测试方法及装置进行了详细介绍。本文中运用几个实例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明，只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制，本领域技术人员，在没有创造性劳动的前提下，对本发明所做出的修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请中。

还需要说明的是，在本说明书中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个操作与另一个操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或者操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”等类似词，使得包括一系列要素的单元、设备或系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种单元、设备或系统所固有的要素。