显示面板和显示装置的制作方法

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板和显示装置。

背景技术：

随着显示技术的发展，显示面板追求越来越窄的边框。

请参考图1，图1是现有技术提供的一种显示面板的结构示意图。图1所示的显示面板包括显示区01和周边区02，显示区01可以显示图像信息，周边区02可以设置走线、电路、电子元件等结构。

周边区02包括下边框区021和上边框区022，下边框区021和上边框区022位于显示区01相对的两侧。下边框区021设置有绑定区03，绑定区03用于绑定ic芯片或者柔性电路板(flexibleprintedcircuit，简称fpc)；下边框区021还设置有demux电路(图中未示意出)等其他结构，下边框区021通常较宽。上边框区022通常设置静电防护电路，上边框区022中的走线和电子元件较少，上边框区022通常较窄。

显示面板在下边框区021设置有测试电路04，测试电路04用于在绑定ic芯片或者柔性电路板之前，检查显示面板中的缺陷。避免将ic芯片或者柔性电路板绑定在有缺陷的显示面板上，造成成本较高的ic芯片或者柔性电路板的浪费。

由于下边框区021设置绑定区03、测试电路04以及其他结构，下边框区021远远宽于上边框区022，下边框区021和上边框区022的宽度差异较大，不利于实现显示面板的窄边框化，

技术实现要素：

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板和显示装置。

本发明提供了一种显示面板，包括：第一基板，第一基板包括显示区和围绕显示区的非显示区；显示区包括多个第一触控电极和多条第一触控电极线，第一触控电极与第一触控电极线电连接；非显示区包括第一边框区和第二边框区，第一边框区和第二边框区分别设置在显示区相对的两侧；第一边框区包括绑定区，绑定区包括多个导电焊盘；第一基板还包括测试电路，测试电路包括测试走线和测试晶体管；测试晶体管设置在第二边框区；测试走线的一端包括信号输入端，信号输入端设置在第一边框区；至少一条测试走线由第二边框区延伸，依次经过第二边框区、显示区和第一边框区，并与第一触控电极线同层设置。

本发明还提供了一种显示装置，包括本发明提供的显示面板。

与现有技术相比，本发明提供的显示面板和显示装置，至少实现了如下的有益效果：

本发明提供的显示面板和显示装置中，测试电路包括测试走线和测试晶体管，将测试晶体管设置在第二边框区，并且至少一条测试走线由第二边框区延伸，依次经过第二边框区、显示区和第一边框区，在第一边框区中不设置测试晶体管、将测试走线的信号输入端设置在第一边框区。可以减小第一边框区的宽度，有利于实现显示面板的窄边框化。除此之外，至少一条测试走线与第一触控电极线同层设置，可以复用第一触控电极线所在的导电层制作测试走线，有利于节省显示面板的制造工艺制程，提高显示面板的制造效率。

当然，实施本发明的任一产品不必同时达到以上所述的所有技术效果。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是现有技术提供的一种显示面板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图3是沿图2中cc’线的一种剖面结构示意图；

图4是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图5是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图7是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图8是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图9是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；

图10是图9提供的显示面板的一种剖面结构示意图；

图11是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图12是沿图11中dd’线的一种剖面结构示意图；

图13是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；

图14是沿图13中ee’线的一种剖面结构示意图；

图15是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

请参考图2和图3，图2为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，图3为沿图2中cc’线的一种剖面结构示意图。本实施例提供了一种显示面板，包括：第一基板100，第一基板100包括显示区aa和围绕显示区aa的非显示区bb；显示区aa包括多个第一触控电极50和多条第一触控电极线51，第一触控电极50与第一触控电极线51电连接；非显示区包括第一边框区bb1和第二边框区bb2，第一边框区bb1和第二边框区bb2分别设置在显示区aa相对的两侧；第一边框区bb1包括绑定区10，绑定区10包括多个导电焊盘11；第一基板100还包括测试电路，测试电路包括测试走线30和测试晶体管40；测试晶体管40设置在第二边框区bb2；测试走线30的一端包括信号输入端31，信号输入端31设置在第一边框区bb1；至少一条测试走线302由第二边框区bb2延伸，依次经过第二边框区bb2、显示区aa和第一边框区bb1，并与第一触控电极线51同层设置。

本实施例提供的显示面板中，第一基板100包括显示区aa和非显示区bb，显示区aa可以显示图像信息，非显示区bb可以设置走线和电子元件。

第一基板100具有触控功能，显示区aa中包括多个第一触控电极50和多条第一触控电极线51，第一触控电极线51用于向与其电连接的第一触控电极50传输电信号。可选的，第一触控电极50选用透明的、导电材料制作，例如铟镓锌氧化物(indiumgalliumzincoxide，简称igzo)、铟锌氧化物(indiumzincoxide，简称izo)、铟锡氧化物(indiumtinoxide，简称ito)等，本实施例对此不作具体限制。可选的，第一触控电极50也可以选用金属材料，设置成金属网格结构(metalmesh)，这种结构既能保证透光率，又能提高信号的传输特性。本实施例中，仅以第一触控电极50的数量为6个，且第一触控电极50的形状为矩形为例进行说明。需要说明的是，本实施例对于第一触控电极50的数量、形状、大小均不作具体限制。

非显示区包括第一边框区bb1和第二边框区bb2。其中，第一边框区bb1包括绑定区10，绑定区10可以绑定ic(integratedcircuit)芯片或者柔性电路板(flexibleprintedcircuit，简称fpc)。第一边框区bb1中的电路或者走线等结构较多，第一边框区bb1除了绑定区10外，通常还包括demux电路(图中未示出)等电路或者走线等结构。第二边框区bb2中的走线等结构较少，可选的，第二边框区bb2中包括静电防护电路(图中未示出)，静电防护电路用于保护显示面板中的结构免受外部的静电击伤，保护显示面板不被损坏。

绑定区10包括多个导电焊盘11，导电焊盘11可以与ic芯片或者柔性电路板电连接，导电焊盘11可以将显示面板中的至少部分走线的电信号传输至ic芯片或者柔性电路板。例如，可选的，导电焊盘11可以将多条第一触控电极线51的电信号传输至ic芯片或者柔性电路板。

本实施例提供的显示面板中，第一基板100还包括测试电路。测试电路与显示面板中的待测试结构电连接，用于在绑定ic芯片或者柔性电路板前，测试显示面板中的待测试结构是否可以正常工作。

测试电路包括测试走线30和测试晶体管40。可选的，测试走线30包括用于控制测试晶体管40导通或者截止的测试走线302，以及与测试晶体管40的第一极电连接的测试走线301，测试走线301用于通过测试晶体管40向待测试结构传输测试信号。测试走线30的一端包括信号输入端31，电信号从信号输入端31输入测试电路。本实施例中，仅以测试晶体管40的数量为3个、测试走线30的数量为2条为例进行说明。可选的，测试晶体管40的数量可以为1个、2个、4个或者更多个，测试走线30的数量可以为1条、3条或者更多条，本实施例对此不作具体限制。

本实施例提供的显示面板中，将测试晶体管40设置在走线等结构较少的第二边框区bb2中，可以减小第一边框区bb1的面积，有利于实现显示面板的窄边框化。并且，至少一条测试走线302由第二边框区bb2延伸，依次经过第二边框区bb2、显示区aa和第一边框区bb1，至少一条测试走线302仅靠近信号输入端31的极小部分走线设置在第一边框区bb1，可以进一步减小第一边框区bb1的面积。另外，至少一条测试走线302从显示区aa中延伸，不占用侧边框区bb3和侧边框区bb4的面积，从而不会增加侧边框区bb3和侧边框区bb4的宽度。

除此之外，测试走线302与第一触控电极线51同层设置，可以复用第一触控电极线所在的导电层制作测试走线。具体的，在制造显示面板的工艺制程中，可以使用掩膜版(mask)刻蚀导电层、在同一工艺制程中同时形成测试走线302与第一触控电极线51。可选的，第一基板100包括衬底基板00，测试走线302、第一触控电极线51、第一触控电极50均设置在衬底基板00上。

本实施例中，仅以测试走线302由第二边框区bb2延伸，依次经过第二边框区bb2、显示区aa和第一边框区bb1、并且与第一触控电极线51同层设置为例进行说明。在一些可选的实施例中，可以设置至少一条测试走线301由第二边框区bb2延伸，依次经过第二边框区bb2、显示区aa和第一边框区bb1；或者，在一些可选的实施例中，设置测试走线301和测试走线302均由第二边框区bb2延伸，依次经过第二边框区bb2、显示区aa和第一边框区bb1。

本实施例提供的显示面板中，测试电路包括测试走线和测试晶体管，将测试晶体管设置在第二边框区，并且至少一条测试走线由第二边框区延伸，依次经过第二边框区、显示区和第一边框区，在第一边框区中不设置测试晶体管、将测试走线的信号输入端设置在第一边框区。可以减小第一边框区的宽度，有利于实现显示面板的窄边框化。除此之外，至少一条测试走线与第一触控电极线同层设置，可以复用第一触控电极线所在的导电层制作测试走线，有利于节省显示面板的制造工艺制程，提高显示面板的制造效率。

在一些可选的实施例中，请参考图4，图4是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，显示区aa包括多个阵列排布的像素60，沿着列方向y位于同一列的多个像素60为一个像素列600(虚线框所圈区域)；显示区aa包括多条虚拟电极线52，虚拟电极线52与第一触控电极线51同层设置，且虚拟电极线52和第一触控电极线51均沿着列方向y延伸；显示区aa还包括多个走线区aa1(点线框所圈区域)，走线区aa1与像素列600交替设置；走线区aa1中包括第一触控电极线51、虚拟电极线52、测试走线30中的任意一者；虚拟电极线52包括第一虚拟电极线521；第一虚拟电极线521与第一触控电极50绝缘，第一虚拟电极线521从显示区aa靠近第一边框区bb1的一侧延伸至显示区aa靠近第二边框区bb2的一侧；其中，至少一条测试走线302在显示区aa中的走线复用第一虚拟电极线521。

本实施例提供的显示面板中，多个像素60可以显示不同的亮度、或者颜色，或者显示不同的亮度和颜色，多个像素60可以显示图像信息。可选的，像素60包括薄膜晶体管开关、像素电极、公共电极等结构。沿着列方向y位于同一列的多个像素60为一个像素列600，显示区aa中包括多个像素列600。可选的，显示面板中包括栅极线(图中未示出)和数据线(图中未示出)，像素60与栅极线电连接，且像素60与数据线电连接。相邻的两个像素列600之间的区域为走线区aa1，走线区aa1用于设置走线，例如，走线区aa1中设置有第一触控电极线51；可选的，走线区aa1中可以设置数据线。

本实施例提供的显示面板中设置了第一触控电极线51为第一触控电极50传输电信号，第一触控电极线51与第一触控电极50通过第一过孔510电连接。第一触控电极线51沿列方向y延伸，并且第一触控电极线51设置在走线区aa1中。由于一个触控电极50覆盖多个像素60，触控电极50的数量远少于像素60的数量，相应的，第一触控电极线51的数量也较少。第一触控电极线51的数量可能少于走线区aa1的数量，存在一些走线区aa1中没有设置第一触控电极线51。为了保证多个像素60的结构、电学性能较为均一，避免个别像素列600由于相邻的走线区aa1中设置了第一触控电极线51而产生的膜层厚度有差异、寄生电容有差异等情况，本实施例提供的显示面板中，在部分走线区aa1中设置了虚拟电极线52。

虚拟电极线52与第一触控电极线51同层设置、并且虚拟电极线52与第一触控电极线51的延伸方向相同。虚拟电极线52不用于向第一触控电极50传输电信号。虚拟电极线52可以提升多个像素60的结构、电学性能的均一性，并且改善个别像素列600由于相邻的走线区aa1中设置了第一触控电极线51而产生的膜层厚度有差异、寄生电容有差异的情况。

虚拟电极线52包括第一虚拟电极线521，第一虚拟电极线521与第一触控电极50绝缘，第一虚拟电极线521从显示区aa靠近第一边框区bb1的一侧延伸至显示区aa靠近第二边框区bb2的一侧。测试走线302在显示区aa中的走线复用第一虚拟电极线521。换言之，测试走线302从由第二边框区bb2延伸，经过第二边框区bb2后、在显示区aa中的部分走线复用第一虚拟电极线521，而后到达第一边框区bb1。本实施例提供的显示面板中，至少一条测试走线302在显示区aa中的走线复用第一虚拟电极线521，因而显示区aa中无需设置供额外的区域用于给测试走线302提供走线空间，可以避免由于测试走线302从显示区aa中经过而占用显示区aa的面积、影响显示面板的透过率。

需要说明的是，为了清楚的说明本实施例的技术方案，图4所示的显示面板中，第一触控电极50没有填充图案，仅以线框示意。

在一些可选的实施例中，请继续参考图4，虚拟电极线52包括第二虚拟电极线522；一个第二虚拟电极线522与一个第一触控电极50电连接并且与其余第一触控电极50绝缘。本实施例提供的显示面板中，第二虚拟电极线522与一个第一触控电极50电连接，第二虚拟电极线522不接收电信号。由于第二虚拟电极线522与一个第一触控电极50电连接，可以保证第二虚拟电极线522的电压和与其电连接的第一触控电极50的电压相同，第二虚拟电极线522保持较为稳定的电压。可以防止静电荷影响第二虚拟电极线522的电压、造成第二虚拟电极线522的电压不稳定，避免与第二虚拟电极线522交叠的第一触控电极50受到第二虚拟电极线522上变化的电压的影响，产生寄生电容，从而影响第一触控电极50的电压、影响触控性能。需要说明的是，第二虚拟电极线522也可以为与第一触控电极线51同层设置，另外，第二虚拟电极线522在aa区中为多个短线，每条短线与一个第一触控电极50对应电连接。

在一些可选的实施例中，请参考图5，图5是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，第一基板100包括a个走线区aa1，依次为第1走线区至第a走线区；测试走线30的数量为x条，x条测试走线30包括第一测试走线组和第二测试走线组；第一测试走线组包括m条测试走线30，第二测试走线组包括n条测试走线30；其中，显示区aa中，第一测试走线的m条测试走线30分别设置在第1走线区aa11至第m走线区aa1m；显示区aa中，第二测试走线组的n条测试走线30分别设置在第a-n+1走线区aa1a-n+1至第a走线区aa1a；其中，a、x、m、n均为正整数，且m+n＝x，x＜a。

图5所示的显示面板中，仅以x＝4、m＝2、且n＝2为例进行说明。具体的，测试走线30的数量为4条，4条测试走线30包括第一测试走线组和第二测试走线组。第一测试走线组包括2条测试走线30，分别为测试走线30a和测试走线30b，第二测试走线组包括2条测试走线30，分别为测试走线30c和测试走线30d。图5中，第一测试走线组中测试走线的数量与第二测试走线组中测试走线的数量相同，即为x为偶数，且m＝n＝x/2。可选的，第一测试走线组中测试走线的数量与第二测试走线组中测试走线的数量可以不同。例如，第一测试走线组可以包括1条测试走线、第二测试走线组可以包括3条测试走线；或者，第一测试走线组可以包括3条测试走线、第二测试走线组可以包括1条测试走线。

在显示区aa中，测试走线30a和测试走线30b分别设置在第1走线区aa11至第2走线区aa12；具体的，测试走线30a在显示区aa中的部分走线设置在第1走线区aa11中，测试走线30b在显示区aa中的部分走线设置在第2走线区aa12中。即为，第一测试走线组中的测试走线设置在最靠近侧边框区bb3的两个走线区aa1中，相应的，第一测试走线组中的测试走线的信号输入端31可以设置在靠近侧边框区bb3的位置处。由于显示区aa中的走线较多，显示区aa中的至少部分走线从显示区aa延伸至第一边框区bb1，例如，在第一边框区bb1或者称为扇出区，显示区aa中控制靠近侧边框区bb3的像素列发光、亮度的数据线会从像素列延伸出，经过第一边框区bb1连接到绑定区10包中的导电焊盘11，在垂直于像素列方向的方向上，绑定区10靠近第一边框区bb1的中间位置，因此在第一边框区bb1中数据线的颜色方向与像素列方向即测试走线的延伸方向会有交叉。将测试走线的信号输入端31可以设置在靠近侧边框区bb3的位置处，可以防止测试走线与显示区aa中的至少部分走线在第一边框区bb1交叉，有利于简化显示面板在第一边框区bb1中的走线设置。

显示区aa中，测试走线30c和测试走线30d分别设置在第a-1走线区aa1a-1至第a走线区aa1a；具体的，测试走线30c在显示区aa中的部分走线设置在第a-1走线区aa1a-1中，测试走线30d在显示区aa中的部分走线设置在第a走线区aa1a中。即为，第二测试走线组中的测试走线设置在最靠近侧边框区bb4的两个走线区aa1中。即为，第二测试走线组中的测试走线设置在最靠近侧边框区bb4的两个走线区aa1中，相应的，第二测试走线组中的测试走线的信号输入端31可以设置在靠近侧边框区bb4的位置处。由于显示区aa中的走线较多，显示区aa中的至少部分走线从显示区aa延伸至第一边框区bb1，例如，在第一边框区bb1或者称为扇出区，显示区aa中控制靠近侧边框区bb4的像素列发光、亮度的数据线会从像素列延伸出，经过第一边框区bb1连接到绑定区10包中的导电焊盘11，在垂直于像素列方向的方向上，绑定区10靠近第一边框区bb1的中间位置，因此在第一边框区bb1中数据线的颜色方向与像素列方向即测试走线的延伸方向会有交叉。将测试走线的信号输入端31可以设置在靠近侧边框区bb4的位置处，可以防止测试走线与显示区aa中的至少部分走线在第一边框区bb1交叉，有利于简化显示面板在第一边框区bb1中的走线设置。

可选的，测试走线30a、测试走线30b、测试走线30c和测试走线30d在显示区aa中的部分走线均复用第一虚拟电极线521。

图5所示的显示面板，仅以x＝4为例进行说明。由于m、n均为正整数，且m+n＝x，m的最小值为1、n的最小值为1，因此，x的最小值为2。可选的，x＝3、或者x＝5、或者x为6以上的正整数。

在一些可选的实施例中，请参考图6，图6是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图，图6仅在图2实施例提供的显示面板的基础上进行说明，图6沿用了图2的附图标记、相同之处不再赘述。本实施例中，一条测试走线30包括至少两条并联的子测试走线，子测试走线由第二边框区bb2延伸，依次经过第二边框区bb2、显示区aa和第一边框区bb1。具体的，测试走线301包括两条并联的子测试走线，分别为子测试走线3011和子测试走线3012。子测试走线3011和子测试走线3012均由第二边框区bb2延伸，依次经过第二边框区bb2、显示区aa和第一边框区bb1。测试走线302包括两条并联的子测试走线，分别为子测试走线3021和子测试走线3022。子测试走线3021和子测试走线3022均由第二边框区bb2延伸，依次经过第二边框区bb2、显示区aa和第一边框区bb1。本实施例中，仅以一条测试走线30包括两条子测试走线为例进行说明，可选的，一条测试走线30可以包括三条以上子测试走线。一条测试走线30包括至少两条并联的子测试走线，当其中一条子测试走线发生断裂时，其余的子测试走线仍可以保证电信号的正常传输，可以提高显示面板的可靠性。并且，至少两条子测试走线是并联的，可以减小测试走线30的等效电阻，电信号从信号输入端31输入位于第二边框区bb2中的部分测试电路时，功耗损失较小，有利于节省显示面板的功耗。

可选的，子测试走线与走线区一一对应设置。即一个走线区中设置一条子测试走线。可选的，一条子测试走线复用一条第一虚拟电极线。

在一些可选的实施例中，请继续参考图6，信号输入端31为焊盘，且信号输入端31设置在绑定区10以外的区域。在向测试电路输入电信号时，可以借用外部的测试治具，使测试治具与信号输入端31电连接，通过测试治具向测试电路输入电信号。

在一些可选的实施例中，请参考图7，图7是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；图7沿用了图6的附图标记，相同之处不再赘述。本实施例中，显示面板还包括柔性电路板101，柔性电路板101在绑定区10中与第一基板100电连接；信号输入端31设置在绑定区10，并且信号输入端31与柔性电路板101电连接。本实施例中，使用柔性电路板101用于向第一基板100传输电信号，用于测试的电信号可以通过柔性电路板101传输至第一基板100中的测试电路中。可选的，本实施例提供的显示面板中，第一基板100上可以不设置ic芯片，可以将ic芯片设置在第一基板100外部，通过柔性电路板101连接第一基板100和ic芯片，从而可以进一步的减小第一边框区bb1的面积，有利于实现显示面板的窄边框化。

需要说明的是，为了清楚的说明本实施例的技术方案，图7所示的显示面板中，柔性电路板101没有填充图案，仅以线框示意。

在一些可选的实施例中，请参考图8，图8是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；显示区aa包括多条并列设置的数据线15，数据线15用于向显示面板中的像素60传输电信号。测试走线30包括测试信号输入线32和控制线33；测试晶体管40的栅极与控制线33电连接，测试晶体管40的第一极与测试信号输入线32电连接，测试晶体管40的第二极与数据线15电连接。本实施例提供的显示面板中，测试电路用于向数据线15传输电信号，以测试数据线15、像素60是否存在缺陷。可选的，显示面板中包括三种颜色的像素60，例如，显示面板中包括红色的像素、绿色的像素和蓝色的像素。沿着列方向y位于同一列的像素60的颜色相同。测试信号输入线32包括第一测试信号输入线321、第二测试信号输入线322、第三测试信号输入线323。第一测试信号输入线321用于向第一颜色的像素60传输电信号，第二测试信号输入线322用于向第二颜色的像素60传输电信号，第三测试信号输入线323用于向第三颜色的像素60传输电信号。测试电路向不同颜色的像素60传输不同的电信号，以检测像素60是否存在缺陷。

在一些可选的实施例中，请继续参考图8，多个第一触控电极50同层设置并且成阵列式排布；一个第一触控电极50与一条第一触控电极线51电连接并且与其余的第一触控电极线51绝缘；显示区aa中，测试走线30的延伸方向与第一触控电极线51的延伸方向相同。本实施例提供的显示面板中，第一触控电极50为自电容式的触控电极。第一触控电极线51向第一触控电极50输入触控发射信号，通常触控发射信号为脉冲信号，当第一触控电极50检测到触控操作时，第一触控电极50与大地形成的耦合电容发生变化、该电容的变化引起第一触控电极50所带的电荷量的变化，电荷量的变化引起电流的变化，第一触控电极线51输出该电流的变化，经过计算分析该电流的变化可以确定触控操作的信息，该种第一触控电极50的工作模式称为自电容式。

可选的，请继续参考图8，第一触控电极线51沿第一方向y1延伸；第一方向y1为数据线15的延伸方向。可选的，第一方向y1与列方向y为相同的方向。

在一些可选的实施例中，本发明实施例提供的显示面板中，第一触控电极的工作模式可以为互电容式。具体的，请结合参考图9和图10，图9是本发明实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；图10是图9提供的显示面板的一种剖面结构示意图。显示面板还包括第二基板200，第二基板200与第一基板100相对设置；第二基板200包括多个第二触控电极70和多条第二触控电极线71；第一触控电极50沿第一方向y1延伸、且沿第二方向x排列；第二触控电极70沿第二方向x延伸、且沿第一方向y1排列；第一方向y1与第二方向x相交；显示区aa中，测试走线30与第一触控电极线51的延伸方向相同。可选的，显示区aa中，测试走线30、第一触控电极线51、数据线15的延伸方向相同。本实施例中，第一触控电极50的工作模式为互电容式。第一触控电极50为沿第一方向y1延伸的长条状，第二触控电极70为沿第二方向x延伸的长条状，第一方向y1与第二方向x交叉，可选的，第一方向y1与第二方向x垂直。

第一触控电极50和第二触控电极70中，一者为触控发射电极、另一者为触控感测电极。本实施例在此仅以第一触控电极50为触控发射电极、第二触控电极70为触控感测电极为例进行说明。第一触控电极线51向第一触控电极50传输触控发射信号，第二触控电极线71向第二触控电极70传输触控感测信号，第一触控电极50和与其交叠的第二触控电极70之间形成互电容用于感测触控操作。当显示面板发生触控操作时，对应位置的第一触控电极50和第二触控电极70的互电容发生变化，从而引起第二触控电极70所带的电荷量的变化，电荷量的变化引起电流的变化，第二触控电极线71输出该电流的变化，经过计算分析该电流的变化可以确定触控操作的信息。

需要说明的是，为了清楚的说明本实施例的技术方案，图9和图10所示的显示面板中，第一触控电极50以虚线示意。本发明在此，仅示例性的提供了两个实施例，以具体说明第一触控电极50的工作模式。可选的，第一触控电极50的具体设置方式有多种，本发明在此不再一一赘述。

在一些可选的实施例中，请参考图11和图12，图11是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；图12是沿图11中dd’线的一种剖面结构示意图；第一触控电极线51和数据线15同层设置。可选的，像素60包括像素电极61和公共电极62，图11和图12所示的显示面板中，仅示意了公共电极62设置在像素电极61远离衬底基板00的一侧的实施例，在其他可选的实现方式中，像素电极61可以设置在公共电极62远离衬底基板00的一侧。本实施例中，可以在制造显示面板的过程中，在同一工艺制程中同时形成第一触控电极线51和数据线15，可以减少制造显示面板的工艺制程，提高显示面板的制造效率。

在一些可选的实施例中，请参考图13和图14，图13是本发明实施例提供的又一种显示面板的局部结构示意图；图14是沿图13中ee’线的一种剖面结构示意图；第一触控电极线51和数据线15异层设置，在垂直于第一基板100的方向上，第一触控电极线51和数据线15交叠。其中，垂直于第一基板100的方向请参考图14中的z方向。可选的，像素60包括像素电极61和公共电极62，图11和图12所示的显示面板中，仅示意了公共电极62设置在像素电极61远离衬底基板00的一侧的实施例，在其他可选的实现方式中，像素电极61可以设置在公共电极62远离衬底基板00的一侧。本实施例中，第一触控电极线51和数据线15交叠，可以减小相邻的两个像素60之间的距离d60，使像素60排列更加紧密，有利于提高显示面板的分辨率。

对于上述实施例来说，无论是图11和图12中适用6道mask工艺制成的显示面板结构，还是图13和图14中适用8道mask工艺制成的显示面板结构，通过将测试走线设置在显示区域中，并与第一触控电极线同层设置，使没有第一触控电极线对应的像素列，可以通过测试走线对像素结构起到一定的补偿，保证了每个像素的像素结构、电学性能一致，避免个别像素列由于tp走线导致膜层厚度、寄生电容产生差异等，同时简化了制作工艺，不用单独制作测试走线，还减小了显示面板的边框。

尤其对于适用6mask制成的显示面板结构，由于第一触控电极线与数据线不能像适用6mask制成的显示面板结构那样重叠设置，第一触控电极线会单独占用一些面积，通过将测试走线设置在显示区域中，并与第一触控电极线同层设置，使没有第一触控电极线对应的像素列，使触控走线层的走线均匀分布，避免像素开口率不一致。

在一些可选的实施例中，本发明上述任一实施例提供的第一基板为阵列基板，阵列基板包括公共电极；第一触控电极复用为公共电极。本发明在此仅以图14为例进行说明，第一基板100为阵列基板，阵列基板包括公共电极62，公共电极62接收公共电压信号、像素电极61接收数据电压信号后，二者之间形成电场，用于实现显示功能。其中，第一触控电极复用为公共电极62。在显示面板的显示阶段，第一触控电极接收公共电压信号，用于实现显示功能；在显示面板的触控阶段，第一触控电极接收触控信号，用于实现触控功能。本实施例中，第一触控电极复用为公共电极，可以减少显示面板中的膜层结构，有利于显示面板的轻薄化，提高显示面板的制造效率。在一些可选的实施例中，本发明上述任一实施例提供的第二基板200可以是彩膜基板，也可以是显示面板中承载电极的任意膜层。

本发明还提供了一种显示装置，包括本发明上述任一实施例提供的显示面板。请参考图15，图15是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。图15提供的显示装置1000包括本发明上述任一实施例提供的显示面板100。图15实施例仅以手机为例，对显示装置1000进行说明，可以理解的是，本发明实施例提供的显示装置，可以是电脑、电视、车载显示装置等其他具有显示功能的显示装置，本发明对此不作具体限制。本发明实施例提供的显示装置，具有本发明实施例提供的显示面板的有益效果，具体可以参考上述各实施例对于显示面板的具体说明，本实施例在此不再赘述。

通过上述实施例可知，本发明提供的显示面板和显示装置，至少实现了如下的有益效果：

本发明提供的显示面板和显示装置中，测试电路包括测试走线和测试晶体管，将测试晶体管设置在第二边框区，并且至少一条测试走线由第二边框区延伸，依次经过第二边框区、显示区和第一边框区，在第一边框区中不设置测试晶体管、将测试走线的信号输入端设置在第一边框区。可以减小第一边框区的宽度，有利于实现显示面板的窄边框化。除此之外，至少一条测试走线与第一触控电极线同层设置，可以复用第一触控电极线所在的导电层制作测试走线，有利于节省显示面板的制造工艺制程，提高显示面板的制造效率。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。