技术特征：
技术总结
本发明公开了一种跨尺度分辨率的光场图像超分辨率及深度估计方法及装置，其中，方法包括：通过单张图像超分辨率SISR方法进行上采样；将位于中间视角的高分辨率图像下采样后，利用SISR方法进行上采样，并获取误差图；获取视差图并利用光场固有属性对视差图进行全局优化，同时进行补洞操作，使得视差图估计无法估计到的区域进行重新估计；利用全局视差图对误差图进行传递，使得图像恢复高分辨率信息，以实现光场的超分辨率重建；根据超分辨率后的光场图像进行场景的深度估计，获取深度估计结果。该方法可以利用全局视差图对误差图进行传递，使得图像恢复高分辨率信息，以通过高分辨光场获取场景深度信息，并且提高鲁棒性，计算速度快。
技术研发人员：刘烨斌;赵漫丹;戴琼海
受保护的技术使用者：清华大学
技术研发日：2017.12.18
技术公布日：2018.05.18