电容触摸屏性能测试笔及电容触摸屏性能测试机的制作方法

本实用新型涉及电子设备
技术领域：
，特别涉及一种电容触摸屏性能测试笔及电容触摸屏性能测试机。
背景技术：
：传统技术的电容触摸屏性能测试机使用的硬质笔头只能实现平面触摸屏的性能测试；对于目前最新出现的曲面触摸屏，电容触摸屏性能测试机使用的硬质笔头跟被测产品的曲面触摸屏表面接触不均匀或不完全接触，从而使得被测产品的曲面触摸屏表面在电容触摸屏性能测试机使用的硬质笔头上形成不均匀的电容变化量，导致测试结果不准确。针对这种接触不均匀的情况，现有的电容触摸屏性能测试机提出了采用软质笔头替代硬质笔头的方案，虽然软质笔头能与被测产品的曲面触摸屏表面接触均匀，但其在具体应用中仍存在以下不足之处：1)软质笔头的电阻值比较大，影响测试结果；2)软质笔头的强度低，变形大，具有使用寿命短的缺点，容易出现实际接触方位精度不可控的情况；3)软质笔头只能测试曲率与软质笔头的材料压缩能力匹配的被测产品。技术实现要素：本实用新型的第一个目的是提供一种电容触摸屏性能测试笔，旨在提高测试结果的准确度。为实现上述目的，本实用新型提出的电容触摸屏性能测试笔，包括固定座和若干个设于所述固定座上的笔杆，各所述笔杆在背离与所述固定座连接的一端活动连接有伸缩笔头组件，所述伸缩笔头组件设有用于与被测产品的触摸屏表面接触的金属测试面。可选地，所述伸缩笔头组件包括弹性件、活动杆以及测试笔头；所述笔杆设有一端与外界连通的活动槽，所述弹性件置于所述活动槽中；所述活动杆包括活动插设于所述活动槽中的第一杆体和位于所述活动槽外且与所述第一杆体的一端连接的第二杆体；所述第一杆体的另一端与所述弹性件抵接，所述第二杆体之背离与所述第一杆体连接的一端与所述测试笔头固定连接；所述金属测试面为所述测试笔头之背离与所述第一杆体连接的一端端面。可选地，所述弹性件为弹簧或弹片。可选地，所述笔杆在靠近所述活动槽的槽口位置凹设形成有凹痕并在所述活动槽的槽壁内形成有与所述凹痕延伸方向相反的凸环，所述凸环具有中空通孔；所述第二杆体的直径等于或小于所述中空通孔的直径，所述第一杆体的直径大于所述中空通孔的直径。可选地，所述测试笔头呈棱数大于三的正多边形棱柱设置。可选地，所述测试笔头为金属测试笔头。可选地，所述固定座设有数量与所述笔杆相同的安装通孔，所述笔杆部分穿设于所述安装通孔中。可选地，所述笔杆的直径大于所述安装通孔的直径。可选地，所述笔杆的外壁设有金属层。本实用新型第二个目的是提供一种电容触摸屏性能测试机，包括如上所述的电容触摸屏性能测试笔、用于放置被测产品的测试平台、用于控制所述电容触摸屏性能测试笔运动的机械手以及用于控制所述机械手运动的控制器；所述控制器设于所述测试平台内，所述机械手与所述控制器电连接，所述电容触摸屏性能测试笔安装于所述机械手上。本实用新型通过将若干个笔杆设于固定座上，且各笔杆上活动连接有伸缩笔头组件，伸缩笔头组件上设有金属测试面；如此，使得伸缩笔头组件在测试过程中可抵接在笔杆与被测产品的触摸屏表面之间，且各个伸缩笔头组件可根据触摸屏表面的弯曲情况而单独进行不同的伸缩运动，使得若干个伸缩笔头组件的金属测试面形成与被测产品的触摸屏表面弯曲一致的曲面，即若干个伸缩笔头组件的金属测试面均与被测产品的触摸屏表面完全接触，被测产品的触摸屏在若干个伸缩笔头组件的金属测试面形成相同的电容变化量，从而提高了测量结果的准确度。附图说明为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本实用新型实施例提供的电容触摸屏性能测试笔的结构示意图；图2为本实用新型实施例提供的笔杆的结构示意图；图3为本实用新型实施例提供的固定座的结构示意图；图4为本实用新型实施例提供的笔杆的俯视图；图5为图4的A-A截面剖视图；图6为本实用新型实施例提供的电容触摸屏性能测试笔一视角的工作示意图；图7为本实用新型实施例提供的电容触摸屏性能测试笔另一视角的工作示意图。附图标号说明：标号名称标号名称100固定座200笔杆300伸缩笔头组件301金属测试面310弹性件320活动杆330测试笔头210活动槽321第一杆体322第二杆体220凸环221中空通孔110安装通孔本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。需要说明，本实用新型实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本实用新型中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本实用新型要求的保护范围之内。本实用新型提出一种电容触摸屏性能测试笔。在本实用新型实施例中，参照图1至图5，该电容触摸屏性能测试笔包括固定座100和若干个设于固定座100上的笔杆200，各笔杆200在背离与固定座100连接的一端活动连接有伸缩笔头组件300，伸缩笔头组件300设有用于与被测产品的触摸屏表面接触的金属测试面301。具体地，在本实施例中，固定座100用于固定多个笔杆200，使得伸缩笔头组件300在测试过程中可抵接在笔杆200与被测产品的触摸屏表面之间，从而让伸缩笔头组件300的金属测试面301能与被测产品的触摸屏表面充分接触，得到更准确的测量结果。伸缩笔头组件300活动连接于笔杆200上，使的伸缩笔头组件300可相对于笔杆200进行线性伸缩运动，即伸缩笔头组件300可上下伸缩；参照图6和图7，而且在伸缩笔头组件300上设有用于与被测产品的触摸屏表面接触的金属测试面301；通过各笔杆200的伸缩笔头组件300都能单独动作，互不干扰，使得伸缩笔头组件300的金属测试面301能自动适应被测产品的触摸屏的外形，从而保证金属测试面301与被测产品的触摸屏的表面接触稳定均匀。若被测产品的触摸屏表面为平面，则若干个伸缩笔头组件300的金属测试面301与被测产品的触摸屏表面接触后形成一个完整的平面；若被测产品的触摸屏表面为曲面，则各个伸缩笔头组件300可根据触摸屏表面的弯曲情况而单独进行不同的伸缩运动，使得若干个伸缩笔头组件300的金属测试面301形成与被测产品的触摸屏表面弯曲一致的曲面，即若干个伸缩笔头组件300的金属测试面301均与被测产品的触摸屏表面完全接触，被测产品的触摸屏在若干个伸缩笔头组件300的金属测试面301形成相同的电容变化量。另外电容触摸屏性能测试笔使用若干个笔杆200的伸缩笔头组件300组成所需要的电容触摸屏性能测试笔的直径，由于每个金属测试面301的面积很小，即使是对于曲面曲率很大的被测产品，所以因高度差带来的电容变化也可以忽略。本实用新型通过将若干个笔杆设于固定座100上，且各笔杆200上活动连接有伸缩笔头组件300，伸缩笔头组件300上设有金属测试面301；如此，使得伸缩笔头组件300在测试过程中可抵接在笔杆200与被测产品的触摸屏表面之间，且各个伸缩笔头组件300可根据触摸屏表面的弯曲情况而单独进行不同的伸缩运动，使得若干个伸缩笔头组件300的金属测试面301形成与被测产品的触摸屏表面弯曲一致的曲面，即若干个伸缩笔头组件300的金属测试面301均与被测产品的触摸屏表面完全接触，被测产品的触摸屏在若干个伸缩笔头组件300的金属测试面301形成相同的电容变化量，从而提高了测量结果的准确度。可选地，参照图3至图5，伸缩笔头组件300包括弹性件310、活动杆320以及测试笔头330；笔杆200设有一端与外界连通的活动槽210，弹性件310置于活动槽210中；活动杆320包括活动插设于活动槽210中的第一杆体321和位于活动槽210外且与第一杆体321的一端连接的第二杆体322；第一杆体321的另一端与弹性件310抵接，第二杆体322之背离与第一杆体321连接的一端与测试笔头330固定连接；金属测试面301为测试笔头330之背离与第一杆体321连接的一端端面。具体地，活动杆320的第一杆体321活动插设于笔杆200的活动槽210中，且与设置在活动槽210中的弹性件310抵接，如此各个活动杆320的第二杆体322上的测试笔头330的金属测试面301接触到被测产品的触摸屏表面时，各个活动杆320在弹性件310的弹力推动下，使得测试笔头330的金属测试面301充分抵接于被测产品的触摸屏表面，从而金属测试面301能得到一个更准确的测试结果。另外弹性件310还可以为活动插设于活动槽210的活动杆320在测试后进行复位，便于活动杆320进行下一次测试。将活动杆320分设第一杆体321和第二杆体322，且第一杆体321具体在活动槽210中活动，而第二杆体322随第一杆体321往活动槽210的内部运动而运动，但第二杆体322只有靠近与第一杆体321的一部分缩进活动槽210的内部，其余部分则位于活动槽210外。第一杆体321和第二杆体322的长度可以根据电容触摸屏性能测试笔所需的伸缩量来进行设置。可选地，弹性件310为压簧、片弹簧、螺旋弹簧或弹片。具体采用方案可根据实际情况来考虑。可选地，测试笔头330呈棱数大于三的正多边形棱柱设置。优选地，测试笔头330按照四棱柱、六棱柱或十二棱柱的形状设置，即测试笔头330的金属测试面301也呈菱形、六边形或十二变形设置，设置呈以上形状的若干个金属测试面301形成的平面更密集，从而让各测试笔头330均与被测产品的触摸屏表面接触均匀。进一步地，参照图2至图5，笔杆200在靠近活动槽210的槽口位置凹设形成有凹痕(图未标)并在活动槽210的槽壁内形成有与凹痕延伸方向相反的凸环220，凸环220具有中空通孔221；第二杆体322的直径等于或小于中空通孔221的直径，第一杆体321的直径大于中空通孔221的直径。具体地，将第二杆体322的直径等于或小于中空通孔221的直径，第一杆体的直径大于中空通孔221的直径设置；如此，第一杆体321只在活动槽210中活动，当第一杆体321靠近凸环220的一端活动抵接于凸环220时，凸环220可对第一杆体321的该端限位，阻止第一杆体321继续往活动槽210外活动；第二杆体322可自由在活动槽210内或活动槽210外活动，从而让活动杆320在活动槽210中做伸缩运动时，不至于完全滑出活动槽210外，使得测试笔头330不能抵接在被测产品的触摸屏表面与弹性件310之间。在活动杆320与笔杆200安装过程中，首先将活动杆320的第一杆体321先插入活动槽210中，再使用夹具在笔杆200靠近活动槽210的槽口位置夹持一下，使得笔杆200的外壁在夹具的夹持力往内凹设形成一圈凹痕，且笔杆200的外壁抵接在活动杆320的第二杆体322，如此笔杆200的活动槽210槽壁形成与凹痕延伸方向相反的凸环220，该凸环220的中空通孔221的直径比第一杆体321的直径小，并对第一杆体321进行限位。进一步地，参照图4，为了增加测试笔头330的导电性，以提高电容触摸屏性能测试笔的测试精度。在本实施例中，测试笔头330为金属测试笔头。可选地，测试笔头330可采用铜、铝或不锈钢等。可选地，参照图1和图2，固定座100设有数量与笔杆200相同的安装通孔110，笔杆200部分穿设于安装通孔110中。通过在固定座100上设置用于将笔杆200安装于固定座100上的安装通孔110，笔杆200穿设在安装通孔110中，更有利于笔杆200固定于固定座100上。进一步地，参照1和图2，笔杆200的直径大于安装通孔110的直径。如此设置，当笔杆200穿设于安装通孔110时，笔杆200可过盈配合至安装通孔110中，加强笔杆200与固定座100之间的安装强度。进一步地，参照图1，笔杆200的外壁设有金属层。如此设置，一方面可增加笔杆200的导电性，更有利于提高电容触摸屏性能测试笔的电容量测试精度。另一方面在笔杆200在安装于安装通孔110时，减少固定座100对笔杆200的摩擦。本实用新型还提出一种电容触摸屏性能测试机，该电容触摸屏性能测试机包括电容触摸屏性能测试笔、用于放置被测产品的测试平台、用于控制电容触摸屏性能测试笔运动的机械手以及用于控制机械手运动的控制器；控制器设于所述测试平台内，机械手与控制器电连接，电容触摸屏性能测试笔安装于机械手上。该电容触摸屏性能测试笔的具体结构参照上述实施例，由于本电容触摸屏性能测试机采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。在本实施例中，首先用户可将被测产品放置在测试平台，这时控制器控制机械手移动至被测产品的位置，紧接机械手控制电容触摸屏性能测试笔在被测产品的触摸屏表面进行接触并移动，如此被测产品可在电容触摸屏性能测试机的各部件协作互动下完成自动检测。以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的发明构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的
技术领域：
均包括在本实用新型的专利保护范围内。当前第1页1 2 3