1.一种pcie卡测试装置，其用于测试一待测pcie卡，其特征在于，该pcie卡测试装置包括：
一pcie接口模块，其用于给该待测pcie卡提供对应的测试连接界面；
一信号控制模块，其电连接该pcie接口模块，该信号控制模块用于接收该pcie接口模块的一通断信号，当该待测pcie卡正确插入该pcie接口模块时，该信号控制模块接收到该通断信号为接通，反之则为断开；
一软体模块，其电连接该信号控制模块，该软体模块是一测试系统运行的载体并用于提供一测试程式对插入该pcie接口模块的该待测pcie卡进行功能测试并产生一测试结果，在接收到该信号控制模块的该通断信号为接通时，该软体模块的该测试系统能够根据插入该待测pcie卡类型的自动加载相对应的该测试程式进行功能测试，反之则不加载该测试程式对该待测pcie卡进行功能测试，该软体模块包括有一第二存储器模块，该第二存储器模块用于存储若干个测试程式；
一处理器模块，其分别电连接该信号控制模块和该软体模块，该处理器模块还分别电连接一显示模块、一联网模块和一第一存储器模块，该处理器模块通过该显示模块显示该测试结果并将该测试结果存储于该第一存储器模块，再通过该联网模块上传该测试结果，在该测试程式测试完成和该处理器模块处理完成后，该软体模块自动移除该测试程式会反馈一反馈信息给该信号控制模块和该供电模块，该信号控制模块接收信号为断开，同时该pcie接口模块的电被断开，可以拔开测试完成的该待测pcie卡，在拔开之后并且在插入下一张该待测pcie卡之前该测试系统被重置；以及
一供电模块，其电连接该处理器模块，并同时为其他各模块提供电力支持。
2.根据权利要求1所述的pcie卡测试装置，其特征在于，该pcie接口模块是x24pcie界面。
3.根据权利要求1所述的pcie卡测试装置，其特征在于，该信号控制模块是由一继电器和一mcu控制模块组成。
4.根据权利要求1所述的pcie卡测试装置，其特征在于，该pcie接口模块设置多个不同且相互独立控制的兼容不同带宽的测试连接界面。
5.根据权利要求1所述的pcie卡测试装置，其特征在于，该信号控制模块还设置有一信号灯，当该通断信号为接通时该信号灯为绿色，反之则为红色。
6.一种pcie卡测试方法，其用于一pcie卡测试装置，其特征在于，包含以下步骤：
步骤s10：接通一供电模块，再将一待测pcie卡正确插入一pcie接口模块；
步骤s20：一信号控制模块接收到一通断信号为接通，则一软体模块的一测试系统能够根据插入该待测pcie卡类型的自动加载相对应的一测试程式进行功能测试并产生一测试结果；
步骤s30：一处理器模块通过一显示模块显示该测试结果并将该测试结果存储于一第一存储器模块，再通过一联网模块上传该测试结果；
步骤s40：在上述动作都完成后，该软体模块会自动移除该测试程式并反馈一反馈信息给该信号控制模块和该供电模块，该pcie接口模块的电被断开，同时该信号控制模块接收该通断信号为断开；以及
步骤s50：拔开测试完成的该待测pcie卡后该测试系统被重置，然后再进行下一张该待测pcie卡的测试。