屏体显示边缘的检测方法和装置与流程

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及屏体显示边缘的检测方法和装置。

背景技术：

随着显示技术的发展，oled(organiclight-emittingdiode)显示技术成为了目前主流的显示技术。相应地，oled显示面板也成为了目前主流的显示面板。在oled显示面板的生产过程中，为了保障质量，通常需要在屏体的生产阶段对屏体进行质量检测和管控。然而在检测的过程中，异形屏体的显示区的边缘会存在过检或者漏检的情况。

因此，如何改善异形屏体的显示区的边缘的过检或者漏检成为亟待解决的问题。

技术实现要素：

有鉴于此，本申请实施例致力于提供了屏体显示边缘的检测方法和装置，以改善现有技术中异形屏体的显示区的边缘过检或者漏检的情况。

本申请一方面提供了一种屏体显示边缘的检测方法，包括：依据预存的弯边集，识别待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边；在所述待测屏体的图像中，截取所述弯边对应的最小矩阵，得到弯边模块；将所述待测屏体的所述弯边模块与标准弯边模块进行对比，以判断所述待测屏体的所述弯边是否存在缺陷像素。通过将待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边模块与标准弯边模块直接对比，从而实现了对显示区的边缘的弯边的针对性检测，进而提高了显示区的边缘的检测精度。

在本申请的一个实施例中，在所述识别待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边之前，进一步包括：获取良品屏体的图像，其中，所述良品屏体的图像的全部像素呈矩阵排列；依次判断所述良品屏体的图像的全部像素中每个所述像素是否满足第一预设条件；以及若被判断的所述良品屏体的图像的像素满足所述第一预设条件，确认所述被判断的所述良品屏体的图像的像素位于所述良品屏体的显示区。提供了一种快速、准确确定显示区像素的方法。

在本申请的一个实施例中，在所述确认所述被判断的所述良品屏体的图像的像素位于所述良品屏体的显示区之后，进一步包括：判断所述被判断的所述良品屏体的图像的像素是否在显示区像素集内；以及若所述被判断的所述良品屏体的图像的像素不在所述显示区像素集内，将所述被判断的所述良品屏体的图像的像素记录在所述显示区像素集内。提供了一种得到显示区像素的位置信息的获取方式。

在本申请的一个实施例中，在所述确认所述被判断的所述良品屏体的图像的像素位于所述良品屏体的显示区之后，进一步包括：判断所述被判断的所述良品屏体的图像的像素的相邻周边像素是否满足第二预设条件；以及若所述相邻周边像素不能满足所述第二预设条件，确认所述被判断的所述良品屏体的图像的像素位于所述良品屏体的显示区的边缘。可准确区分开被判断的像素是否位于屏体的显示区的边缘。

在本申请的一个实施例中，在所述确认所述被判断的所述良品屏体的图像的像素位于所述良品屏体的显示区的边缘之后，进一步包括：判断所述被判断的所述良品屏体的图像的像素是否在边缘像素集内；以及若所述被判断的所述良品屏体的图像的像素不在所述边缘像素集内，将所述被判断的所述良品屏体的图像的像素记录在所述边缘像素集内。确定了边缘像素集的范围，为后续的步骤提供了良好的基础。

在本申请的一个实施例中，所述获取良品屏体的图像被执行了多次，所述边缘像素集记录了多个所述良品屏体的图像的显示区的边缘的所有像素，所述显示区像素集记录了所述多个所述良品屏体的图像的显示区的所有像素，进一步包括：判断所述显示区像素集中的像素是否在所述边缘像素集内；以及若所述显示区像素集中的所述像素不在所述边缘像素集内，将所述显示区像素集中的所述像素记录在非边缘像素集内。将显示区的像素划分出边缘像素集和非边缘像素集，对像素进行了更精确的分类。

在本申请的一个实施例中，在所述显示区像素集中最后一个像素被判断是否在所述边缘像素集内之后，进一步包括：判断所述非边缘像素集中的像素是否是所述边缘像素集中的像素的一个相邻周边像素；以及若所述非边缘像素集中的所述像素是所述边缘像素集中的像素的一个相邻周边像素，将所述非边缘像素集中的所述像素记录在次边缘像素集内。提供了一种得到需检测的次边缘像素集的方法，便于后期对屏体的边缘缺陷进行检测。

在本申请的一个实施例中，进一步包括：依据位置关系，将所述次边缘像素集中的所有像素分为直边集和所述弯边集。提供了一种如何区分次边缘的直边集和弯边集的方法，进一步确定出屏体边缘的弯边集像素。

在本申请的一个实施例中，进一步包括：在所述良品屏体的图像中，截取所述弯边集对应的最小矩阵，得到所述标准弯边模块。提供了一种如何得到标准弯边模块的方法，便于与待测屏体进行对比。

本申请另一方面提供了一种屏体显示边缘的检测装置，包括：识别模块，用于依据预存的弯边集，识别待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边；截取模块，用于在所述待测屏体的图像中，截取所述弯边对应的最小矩阵，得到弯边模块；对比模块，用于将所述待测屏体的所述弯边模块与标准弯边模块进行对比，以判断所述待测屏体的所述弯边是否存在缺陷像素。

本申请的实施例通过将待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边模块与标准模块直接对比，从而实现了对显示区的边缘的弯边的针对性检测，进而提高了显示区的边缘的检测精度。

附图说明

图1是根据本申请一个实施例的屏体显示边缘的检测系统的示意性框架图。

图2是根据本申请一个实施例的显示区的边缘的局部示意图。

图3是根据本申请一个实施例的屏体显示边缘的检测方法的示意性流程图。

图4是根据本申请另一个实施例的屏体显示边缘的检测方法的示意性流程图。

图5是根据本申请一个实施例的矩阵的局部示意图。

图6是根据本申请又一个实施例的屏体显示边缘的检测方法的示意性流程图。

图7是根据本申请再一个实施例的屏体显示边缘的检测方法的示意性流程图。

图8是根据本申请一个实施例的屏体显示边缘的检测装置的示意性结构图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

在可能的情况下，附图中相同或相似的部分将采用相同的附图标记。

图1是根据本申请一个实施例的屏体显示边缘的检测系统的示意性框架图。图2是根据本申请一个实施例的显示区的边缘的局部示意图。

如图1所示，屏体显示边缘的检测系统可以包括屏体110、拍摄组件120和电子设备130。在这里，拍摄组件120和电子设备130可以通信，以便电子设备130可以处理拍摄组件120拍摄的屏体110的图像。

为了满足光的需求，拍摄组件120可以进一步包括光学单元，以便在拍摄的时候，光学单元可以为屏体110进行补光。

屏体110可以是oled显示面板中的屏体，且该屏体110可以是异形屏体。具体地，异形屏体可以是指显示区的外观形状为非直角矩形的屏体。例如，如图2所示，异形屏体的显示区的外观形状可以为圆角矩形。也就是说，显示区的边缘可以包括直边1和弯边2，如图2中的a所示。

再有，显示区的边缘可以进一步包括缺口(notch)，以便屏体110上可以预留出其它部件的设置位置。例如，对于手机来说，其它部件可以包括听筒、光感应传感器或前置摄像头等。相应地，缺口也可以包括直边1和弯边2。

另外，屏体110可以是良品屏体，也可以是待测屏体。显示区可以是指屏体110上用于显示的区域。

正如背景技术所述，异形屏体在对显示区的像素进行检测时，显示区的边缘存在过检或者漏检的情况。经过统计，过检或者漏检的情况主要集中在边缘的弯边2。因此，如果能提高弯边2的检测精度，将有效改善异形屏体的显示区的边缘的过检或者漏检的情况。

图3是根据本申请一个实施例的屏体显示边缘的检测方法的示意性流程图。图3的方法可以由图1中的电子设备130执行。

基于此，本申请的实施例提供了一种屏体显示边缘的检测方法。如图3所示，该检测方法可以包括如下步骤。

步骤310，依据预存的弯边集，识别待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边2。

在这里，弯边集可以包括弯边2中每个像素的位置信息。

步骤320，在上述待测屏体的图像中截取上述弯边2对应的最小矩阵，得到弯边模块。

在上述待测屏体的图像中，全部像素呈矩阵排列，从而可以实现上述弯边2对应的最小矩阵的截取。

步骤330，将上述待测屏体的弯边模块与标准弯边模块进行对比，以判断该待测屏体的弯边是否存在缺陷像素。

具体地，当弯边模块的数量为多个时，每个弯边模块都有对应的标准弯边模块。在这里，弯边模块与标准弯边模块进行的对比可以是图像对比。若在对比的过程中，发现像素差异，例如，像素的亮度差异，可以确定弯边模块中的该像素为缺陷像素。下一步可以判断该缺陷像素是否属于弯边集，从而确认该缺陷像素是否位于弯边2。

本申请的实施例通过将待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边模块与标准弯边模块直接对比，从而实现了对显示区的边缘的弯边2的针对性检测，进而提高了显示区的边缘的检测精度。

图4是根据本申请另一个实施例的屏体显示边缘的检测方法的示意性流程图。

在本申请的一个实施例中，如图4所示，在步骤310之前，该检测方法可以进一步包括如下步骤。

步骤410，获取良品屏体的图像，其中，良品屏体的图像的全部像素呈矩阵排列。

步骤420，沿上述矩阵的行方向或者沿上述矩阵的列方向，依次判断上述全部像素中每个像素是否满足第一预设条件。

步骤430，若上述被判断的像素满足第一预设条件，确认该被判断的像素位于良品屏体的显示区。

具体地，在拍摄良品屏体的图像之前，可以先将良品屏体点亮，以便通过亮度将良品屏体的图像的显示区和非显示区进行区分。非显示区可以由非显示像素5构成。进一步地，为了使得区分变得更明显，可以在点亮良品屏体的同时，利用拍摄组件120的光学单元对屏体进行补光。

在这样的情况下，第一预设条件可以是指处于亮的状态。也就是说，判断良品屏体的图像的一个像素是否满足第一预设条件即是判断该像素是否处于亮的状态。

在本申请的一个实施例中，在步骤430之后，该检测方法可以进一步包括判断上述被判断的良品屏体的图像的像素是否在显示区像素集内，以及若该被判断的良品屏体的图像的像素不在显示区像素集内，而其又符合第一预设条件，则将该被判断的良品屏体的图像的像素记录在显示区像素集内。显示区像素集中记录有其中每个像素的位置信息。

例如，在上述矩阵中，该矩阵的一个行方向可以定义为x轴，该矩阵的一个列方向可以定义为y轴，x轴和y轴的交点可以定义为原点。相应地，在该矩阵中，一个像素会有一个坐标，且该坐标可以作为该像素的位置信息。

图5是根据本申请一个实施例的矩阵的局部示意图。

在本申请的一个实施例中，在步骤430之后，该检测方法可以进一步包括如下步骤。

步骤440，判断上述被判断的像素的相邻周边像素是否满足第二预设条件。

具体地，如图5所示，在由良品屏体的图像的像素构成的矩阵中，一个像素的相邻周边像素可以是指与该像素距离最近的所有像素。例如，像素a的相邻周边像素可以是指像素b、像素c、像素d和像素e。

步骤450，若上述相邻周边像素不能满足第二预设条件，确认上述被判断的像素位于良品屏体的显示区的边缘。

具体地，当第一预设条件指处于亮的状态时，第二预设条件可以是指均处于亮的状态。也就是说，判断良品屏体的图像的一个像素的相邻周边像素是否满足第二预设条也就是判断该良品屏体的图像的像素的四个相邻周边像素是否均处于亮的状态。若被判断的像素满足第一预设条件，但又不满足第二预设条件，则该被判断的良品屏体的图像的像素位于良品屏体的显示区的边缘。

在本申请的一个实施例中，在步骤450之后，该检测方法可以进一步包括判断上述被判断的良品屏体的图像的像素是否在边缘像素集内，以及若被判断的良品屏体的图像的像素不在边缘像素集内，而其又满足第一预设条件，不满足第二预设条件，则将该被判断的良品屏体的图像的像素记录在边缘像素集内。边缘像素集中记录有其中每个像素的位置信息。

图6是根据本申请又一个实施例的屏体显示边缘的检测方法的示意性流程图。

在本申请的一个实施例中，步骤410被执行了多次，从而获取了多个良品屏体的图像，进而使得上述边缘像素集记录了多个良品屏体的图像的显示区的边缘的所有像素，上述显示区像素集记录了多个良品屏体的图像的显示区的所有像素。也就是说，判断了每个良品屏体的图像的显示区的像素是否在显示区像素集内，也判断了每个良品屏体的图像的显示区的边缘的像素是否在边缘像素集内。在这样的情况下，如图6所示，该检测方法可以进一步包括如下步骤。

步骤610，判断显示区像素集中的像素是否在边缘像素集内。

步骤620，若显示区像素集中的上述像素不在边缘像素集内，将显示区像素集中的这个像素记录在非边缘像素集内。非边缘像素集中记录有其中每个像素的位置信息。

具体地，对于良品屏体来说，显示区的边缘也可能存在缺陷像素，但是该缺陷像素未被察觉。当该良品屏体用于执行步骤410时，缺陷像素将不能记录在显示区像素集中，从而导致显示区的像素记录不完全。为了避免这种情况，步骤410可以被执行多次，从而通过其它良品屏体将显示区像素记录完全。

显示区像素集包括边缘像素3和非边缘像素。通过执行步骤610和步骤612，可以将显示区像素集中的非边缘像素记录在非边缘像素集内。

图7是根据本申请再一个实施例的屏体显示边缘的检测方法的示意性流程图。

在本申请的一个实施例中，在显示区像素集中最后一个像素被判断是否在边缘像素集内之后，即显示区像素集中最后一个像素被执行步骤610之后，如图7所示，该检测方法可以进一步包括如下步骤。

步骤710，判断非边缘像素集中的像素是否是边缘像素集中的像素的一个相邻周边像素。

步骤720，若非边缘像素集中的上述像素是边缘像素集中的像素的一个相邻周边像素，将非边缘像素集中的这个像素记录在次边缘像素集内。次边缘像素集中记录有其中每个像素的位置信息。

具体地，在进行待测屏体的显示区的边缘的检测时，由于边缘像素存在缺陷像素也可以是良品屏体，而次边缘的像素才是检测的重点，所以往往检测的不是显示区的边缘，而是显示区的次边缘。

非边缘像素集包括边缘像素集中像素的相邻像素，该相邻像素可以称为次边缘像素4。多个次边缘像素4构成次边缘，如图2中b所示。也就是说，次边缘紧邻边缘设置。通过执行步骤710和步骤720，可以将次边缘像素4聚集在一个集合中，且该集合可以被称为次边缘像素集。次边缘像素集可以包括每个像素的位置信息。

在本申请的一个实施例中，在非边缘像素集中的所有像素均被执行步骤710之后，该检测方法可以进一步包括依据位置关系，将次边缘像素集中的所有像素分为直边集和弯边集。

具体地，次边缘也包括直边1和弯边2。用于构成直边1的像素可以归类在直边集中，用于构成弯边2的像素可以归类在弯边集中。应当理解，当次边缘包括多个直边1和多个弯边2时，每个直边1有对应的直边集，每个弯边2也有对应的弯边集。直边集包括每个像素的位置信息，弯边集也包括每个像素的位置信息。

此外，为了能够依据位置关系得到直边集和弯边集，在进行良品屏体的图像的获取时，可以先进行位置的校准，以便上述x轴和显示区的边缘的一条直边1可以平行。

在这里，位置关系是指次边缘像素集中的所有像素在上述矩阵中的位置关系。在矩阵中，按行连续排列的像素可以归为一个直边集。当有多行时，可以得到每一行对应的直边集。类似地，按列连续排列的像素也可以归为一个直边集。当有多列时，可以得到每一列对应的直边集。应当理解，这些连续排列的像素要属于次边缘像素集。次边缘像素集中剩余的像素可以按集中的区域进行划分。例如，在剩余像素中，选取一个像素，可以称为第一像素，获取与第一像素距离最近的第二像素，其中，第一像素和第二像素之间的距离可以小于矩阵的行方向或者列方向相邻三个像素之间的距离，相邻三个像素之间的距离可以称为判断距离。应当理解，第二像素是属于次边缘像素集的。之后，获取与第二像素距离最近的第三像素，其中，第二像素和第三像素之间的距离也小于判断最小距离。应当理解，第三像素不是第一像素。依此类推，当第n个像素无距离最近的像素时，第一像素至第n像素可以属于一个集中的区域，属于一个弯边集。类似地，可以得到多个弯边集。在这里，判断的顺序可以依据加入次边缘像素集的顺序。

在本申请的一个实施例中，该检测方法可以进一步包括在良品屏体的图像中，截取上述弯边集对应的最小矩阵，得到标准弯边模块，如图2中c所示。在这里，得到的标准弯边模块可以是步骤330中的标准弯边模块。应当理解，当弯边集的数量为多个时，每个弯边集均有对应的标准弯边模块。

可选地，在本申请的另一个实施例中，在得到弯边集之后，在良品屏体图像中，以弯边集所指示的像素为本体，镜像出该本体的虚拟本体。在虚拟本体的周围补充虚拟像素，以便虚拟本体和补充的虚拟像素能够呈矩阵排列。应当理解，该本体和该本体周围的像素在良品屏体图像中的排列规律与虚拟本体和补充的虚拟像素的排列规律相同。

为了便于描述，虚拟本体和补充的虚拟像素所构成的矩阵可以称为标准弯边模块。对标准弯边模块中的像素进行逐行或者逐列的扫描，以便确定虚拟本体所对应的每个像素的位置，以及虚拟本体所对应的所有像素的数量。类似地，也可以确定每个虚拟像素的位置，以及全部虚拟像素的数量。

在进行弯边模块和标准弯边模块的对比之前，可以对弯边模块所在的矩阵进行逐行或者逐列的扫描，以便确定上述本体所对应的每个像素的位置，以及该本体所对应的所有像素的数量。类似地，也可以确定每个本体周围的像素的位置，以及本体周围的全部像素的数量。

当弯边模块和标准弯边模块进行对比时，可以是本体所对应的像素与虚拟本体所对应的像素的对比，以及本体周围的像素与虚拟像素的对比，从而也可以确定待测屏体的弯边是否存在缺陷像素。

在本申请的一个实施例中，在执行步骤330时，若弯边模块中一个不属于预存的弯边集的像素处于亮的状态，然而标准弯边模块中相应的像素却处于非亮的状态，则可以确定该待测屏体的边缘不规则。

经数据统计后得知，应用本申请提供的检测方法，待测屏体的显示区的边缘的缺陷像素的检出率大于等于99％，待测屏体的显示区的边缘的缺陷像素的过检率和漏检率小于等于5％，优于现有的检测结果。应当理解，在本申请的实施例中，待测屏体检测的显示区的边缘可以是指显示区的次边缘。也就是说，步骤310中的边缘指的是次边缘。

上面描述了根据本申请的实施例的屏体显示边缘的检测方法，下面结合图8描述根据本申请的实施例的屏体显示边缘的检测装置。

图8是根据本申请一个实施例的屏体显示边缘的检测装置的示意性结构图。

如图8所示，该屏体显示边缘的检测装置可以包括识别模块810、截取模块820和对比模块830。识别模块810可以用于依据预存的弯边集，识别待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边2。截取模块820可以用于在待测屏体的图像中，截取弯边2对应的最小矩阵，得到弯边模块。对比模块830可以用于将待测屏体的弯边模块与标准弯边模块进行对比，以判断待测屏体的弯边2中是否存在缺陷像素。

本申请的实施例通过将待测屏体的图像中显示区的边缘的弯边模块与标准模块直接对比，从而实现了对显示区的边缘的弯边2的针对性检测，进而提高了显示区的边缘的检测精度。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换等，均应包含在本申请的保护范围之内。