校准方法、装置及存储介质与流程

[0001]
本文涉及电子技术，尤指一种校准方法、装置及存储介质。


背景技术：

[0002]
现有的电子设备，例如，笔记本电脑等，均设置有触控板等输入装置。由于电子设备被频繁使用，所以对电子设备的输入装置提出了很高的要求。电子设备在出厂时，常常要对触控板性能进行测试，例如，测试触摸板是否灵敏、有效等。


技术实现要素：

[0003]
本申请提供了一种校准方法、装置及存储介质。
[0004]
本申请至少一实施例提供了一种校准方法，包括：
[0005]
获取在多个待校准面的多个目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值，所述多个待校准面是多个待校准设备上的待校准面，每一待校准面包括多个目标点；
[0006]
根据所述多个待校准面的多个目标点的原始力度值，确定校准模型；
[0007]
根据所述校准模型和所述作用力，对所述待校准设备进行校准。
[0008]
在一实施例中，所述多个目标点为所述待校准面上按行列划分形成的网格点。
[0009]
在一实施例中，所述根据所述多个待校准面的多个目标点的原始力度值，确定校准模型包括：
[0010]
确定原始力度值满足第一预设条件的待校准面，根据满足所述第一预设条件的各待校准面的多个目标点的原始力度值确定校准模型。
[0011]
在一实施例中，所述原始力度值满足第一预设条件的待校准面包括以下至少之一：
[0012]
所述待校准面的目标点的原始力度值位于第一预设范围；
[0013]
所述待校准面的目标点的原始力度值按预设顺序构成的曲线的曲率位于第二预设范围。
[0014]
在一实施例中，根据满足所述第一预设条件的各待校准面的多个目标点的原始力度值确定校准模型包括：
[0015]
对任一目标点，根据满足所述第一预设条件的各待校准面的在该目标点的原始力度值的均值得到该目标点在校准模型中的力度值；或者
[0016]
根据每个满足所述第一预设条件的待校准面的目标点的原始力度值，按预定顺序生成一个曲线或曲面，将生成的多个曲线或曲面进行拟合得到校准曲线或校准曲面，基于所述校准曲线或校准曲面生成所述校准模型。
[0017]
在一实施例中，所述根据所述校准模型和所述作用力，对所述待校准设备进行校准包括：
[0018]
对任一目标点，计算校准系数coe＝f/force，其中，f为所述作用力，force为所述校准模型中该目标点的力度值，通过插值确定所述待校准面上除目标点外其他点的校准系
数，将所述校准系数下发给所述待校准设备。
[0019]
在一实施例中，所述方法还包括：
[0020]
对每一所述待校准设备的待校准面，获取在所述待校准面的多个测试点施加所述作用力后的校准后的力度值，当所述测试点的校准后的力度值满足第二预设条件时，所述待校准设备校准通过，其中，一个测试点的校准后的力度值为在该测试点检测到的原始力度值与该测试点的校准系数的乘积；
[0021]
当存在第一待校准设备，其测试点的校准后的力度值不满足第二预设条件时，获取所述第一待校准设备的部分或全部目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值，根据该第一待校准设备的部分或全部目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值，确定适用于所述第一待校准设备的修正校准模型，根据所述修正校准模型对所述第一待校准设备进行校准。
[0022]
在一实施例中，根据该第一待校准设备的部分目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值，确定适用于所述第一待校准设备的修正校准模型包括：
[0023]
所述校准模型为h
×
l的矩阵a，所述部分目标点为h
×
l网格点中的h行和l列构成的目标点；
[0024]
修正校准模型b＝w1·
c+w2·
g，其中，所述w1、w2为权重因子，且w1、w2的取值使得使用所述修正校准模型b校准所述第一待校准设备时校准通过，所述矩阵c为对力度值矩阵b进行插值得到的h
×
l的矩阵，所述力度值矩阵b为对所述第一待校准设备的部分目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值构成的h
×
l的矩阵；
[0025]
所述矩阵g满足：g
ij
＝r
ij
·
c
ij
,i＝1,...,h,j＝1,...,l，r
ij
为矩阵r的第i行，第j列的值，c
ij
为矩阵c的第i行，第j列的值，矩阵r为h
×
l的比值矩阵进行插值得到的h
×
l的矩阵，所述h
×
l的比值矩阵由矩阵b中的每个力度值与矩阵a中对应同一目标点的力度值相除生成。
[0026]
在一实施例中，所述多个待校准面是同一批次的多个触控设备上的触控面。
[0027]
本发明至少一实施例提供一种校准装置，包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述程序在被所述处理器读取执行时，实现任一实施例所述的校准方法。
[0028]
本发明至少一实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现任一实施例所述的校准方法。
[0029]
与相关技术相比，本申请一实施例中包括一种校准方法，获取在多个待校准面的多个目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值，所述多个待校准面是多个待校准设备上的待校准面，每一待校准面包括多个目标点；根据所述多个待校准面的多个目标点的原始力度值，确定校准模型；根据所述校准模型和所述作用力，对所述待校准设备进行校准。本实施例提供的方案，能对待校准设备进行校准，使得待校准设备能准确检测力度。
[0030]
本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所描述的方案来实现和获得。
附图说明
[0031]
附图用来提供对本申请技术方案的理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。
[0032]
图1为本申请一实施例提供的校准方法流程图；
[0033]
图2为本发明一实施例提供的目标点示意图；
[0034]
图3为本申请另一实施例提供的校准方法流程图；
[0035]
图4为本发明一实施例提供的修正点示意图；
[0036]
图5为本申请一实施例提供的校准装置框图；
[0037]
图6为本申请一实施例提供的计算机可读存储介质框图。
具体实施方式
[0038]
本申请描述了多个实施例，但是该描述是示例性的，而不是限制性的，并且对于本领域的普通技术人员来说显而易见的是，在本申请所描述的实施例包含的范围内可以有更多的实施例和实现方案。尽管在附图中示出了许多可能的特征组合，并在具体实施方式中进行了讨论，但是所公开的特征的许多其它组合方式也是可能的。除非特意加以限制的情况以外，任何实施例的任何特征或元件可以与任何其它实施例中的任何其他特征或元件结合使用，或可以替代任何其它实施例中的任何其他特征或元件。
[0039]
本申请包括并设想了与本领域普通技术人员已知的特征和元件的组合。本申请已经公开的实施例、特征和元件也可以与任何常规特征或元件组合，以形成由权利要求限定的独特的发明方案。任何实施例的任何特征或元件也可以与来自其它发明方案的特征或元件组合，以形成另一个由权利要求限定的独特的发明方案。因此，应当理解，在本申请中示出和/或讨论的任何特征可以单独地或以任何适当的组合来实现。因此，除了根据所附权利要求及其等同替换所做的限制以外，实施例不受其它限制。此外，可以在所附权利要求的保护范围内进行各种修改和改变。
[0040]
此外，在描述具有代表性的实施例时，说明书可能已经将方法和/或过程呈现为特定的步骤序列。然而，在该方法或过程不依赖于本文所述步骤的特定顺序的程度上，该方法或过程不应限于所述的特定顺序的步骤。如本领域普通技术人员将理解的，其它的步骤顺序也是可能的。因此，说明书中阐述的步骤的特定顺序不应被解释为对权利要求的限制。此外，针对该方法和/或过程的权利要求不应限于按照所写顺序执行它们的步骤，本领域技术人员可以容易地理解，这些顺序可以变化，并且仍然保持在本申请实施例的精神和范围内。
[0041]
本申请中，扩展触控板的功能，通过增加弹性波传感器，实现力度检测。弹性波传感器能够检测物体受到碰撞所产生的弹性波信号，可以是压电陶瓷传感器、压电薄膜传感器、压电晶体传感器或者其它具有压电效应的传感器。当触控板被施加外力时，输出力度值，但是相同力量施加在触摸板的不同位置时，可能检测出不同的力度值，因此，有必要对触控板进行校准。
[0042]
如图1所示，本发明一实施例提供一种校准方法，包括：
[0043]
步骤101，获取在多个待校准面的多个目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值，所述多个待校准面是多个待校准设备上的待校准面，每一待校准面包括多个目标点；
[0044]
其中，待校准设备比如为独立的触控板，也可能是包括触控板的设备，比如笔记本
电脑等。该多个待校准设备为相同的设备。比如，所述多个待校准面是同一批次的多个触控设备上的触控面，当然，也可以不限定批次，是同一型号的多个触控设备上的触控面。
[0045]
待校准面比如是触控板接受用户触控的正面，也可以是任一固定结构的平面或曲面。
[0046]
目标点是待校准面上用于进行校准的多个点，可以根据需要选择。在一实施例中，所述目标点为所述待校准面上按行列划分形成的网格点。如图2所示，待校准面20上存在多个目标点21。划分时，可以均匀划分，即相邻两行的距离一样，相邻两列的距离一样。在另一实施例中，目标点是以待校准面为中心的成辐射状排列，即目标点位于以待校准面的中心为圆心的各圆周上。需要说明的是，目标点的选择不限于此，可以根据需要按其他方式进行选择。
[0047]
假设目标点为m个，则在每个待校准设备上采集m个原始力度值。原始力度值即未进行校准的力度值。
[0048]
若干个弹性波传感器检测待校准面被接触碰撞时产生的弹性波信号，并转换成对应的电信号，电信号经过对应的硬件电路转换为力度信号，根据力度信号即得到原始力度值。原始力度值大小受待校准面材质及弹性波传感器安装位置影响。以相同的力度按压待校准面的不同位置，弹性波传感器处接收到的弹性波信号强度不同。可以使用一校准测试设备的点击装置在待校准面的目标点进行点击(称为打点)，按待校准面打点的方式对整个待校准面进行原始力度值采集。弹性波传感器检测弹性波信号，将弹性波信号转换为电压信号，将电压信号传输给处理器，处理器根据电压信号计算各目标点的原始力度值。
[0049]
步骤102，根据所述多个待校准面的多个目标点的原始力度值，确定校准模型；
[0050]
所述校准模型包括多个力度值，与所述目标点一一对应。
[0051]
步骤103，根据所述校准模型和所述作用力，对所述待校准设备进行校准。
[0052]
本实施例提供的方案，对待校准设备进行校准，使得待校准设备能准确检测力度。
[0053]
在一实施例中，根据所述多个待校准面的多个目标点的原始力度值，确定校准模型包括：
[0054]
确定原始力度值满足第一预设条件的待校准面，根据满足所述第一预设条件的各待校准面的多个目标点的原始力度值确定校准模型。即只使用采集到的原始力度值中满足第一预设条件的数据来确定校准模型。该步骤是为了去除采集到的原始力度值中的异常数据。
[0055]
在一实施例中，所述原始力度值满足第一预设条件的待校准面包括以下至少之一：
[0056]
所述待校准面的目标点的原始力度值位于第一预设范围；
[0057]
所述待校准面目标点的原始力度值按预设顺序构成的曲线或曲面的曲率位于第二预设范围。
[0058]
比如，为目标点进行编号，以目标点的编号为平面直角坐标系的x坐标，目标点的原始力度值作为y坐标，从而每个目标点对应平面直角坐标系的一个点，将这些点按预设顺序连成曲线。或者，以目标点的位置为空间直角坐标系中的x,y坐标，原始力度值作为z坐标，每个目标点对应三维坐标系中的一个点，将这些点按预设顺序连成曲线或曲面，需要说明的是，预设顺序可以根据需要设定，但各待校准面的目标点按同样顺序生成曲线或曲面。
预设顺序比如为目标点的编号大小。
[0059]
其中，第一预设范围和第二预设范围可以根据实际测试结果确定。该方案剔除了所获取的原始力度值中的异常值。需要说明的是，此处的第一预设条件仅为示例，可以通过其他方式剔除异常数据。
[0060]
在一实施例中，根据满足所述第一预设条件的各待校准面的多个目标点的原始力度值确定校准模型包括：
[0061]
对任一目标点，根据满足所述第一预设条件的各待校准面的在该目标点的原始力度值的均值得到该目标点在校准模型中的力度值；校准模型可以是一个矩阵，矩阵中的每个值代表一个目标点对应的力度值。当然，校准模型也可以是一个向量，比如，给目标点编号，按编号顺序将目标点的力度值进行列表，等等。
[0062]
或者，根据每个满足所述第一预设条件的待校准面的目标点的原始力度值，按预定顺序生成一个曲线或曲面，将生成的多个曲线或曲面进行拟合得到校准曲线或校准曲面，基于所述校准曲线或校准曲面生成所述校准模型。
[0063]
在一实施例中，所述根据所述校准模型和所述作用力，对所述待校准设备进行校准包括：
[0064]
对任一目标点，计算校准系数coe＝f/force，其中，f为所述作用力，force为该校准模型中该目标点的力度值，通过插值确定所述待校准面上除目标点外其他点的校准系数，将所述校准系数下发给所述待校准设备；在一实施例中，插值方法比如为双线性插值。
[0065]
对每一所述待校准设备的待校准面，获取在所述待校准面的多个测试点施加所述作用力后的校准后的力度值，当所述测试点的校准后的力度值满足第二预设条件时，所述待校准设备校准通过，其中，一个测试点的校准后的力度值为在该测试点检测到的原始力度值与该测试点的校准系数的乘积。所述校准后的力度值由待校准设备输出。
[0066]
在一实施例中，当存在第一待校准设备，其测试点的校准后的力度值不满足第二预设条件时，获取所述第一待校准设备的部分或全部目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值，根据该第一待校准设备的部分或全部目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值，确定适用于所述第一待校准设备的校准模型。即测试未通过的待校准设备，需要对其校准模型进行修正。修正方法有多种，可以重新获取全部目标点的原始力度值来修正校准模型，也可以只获取部分目标点的原始力度值来修正校准模型。
[0067]
在一实施例中，根据该第一待校准设备的部分目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值确定适用于所述第一待校准设备的修正校准模型包括：
[0068]
所述校准模型为h
×
l的矩阵a，所述部分目标点为h
×
l网格点中的h行和l列构成的目标点；
[0069]
所述修正校准模型b＝w1·
c+w2·
g，其中，所述w1、w2为权重因子，且w1、w2的取值使得使用所述修正校准模型b校准所述第一待校准设备时校准通过，所述矩阵c为对力度值矩阵b进行插值得到的h
×
l的矩阵，所述力度值矩阵b为对所述第一待校准设备的部分目标点施加相同作用力后检测到的原始力度值构成的h
×
l的矩阵；
[0070]
所述矩阵g满足：g
ij
＝r
ij
·
c
ij
,i＝1,...,h,j＝1,...,l，r
ij
为矩阵r的第i行，第j列的值，c
ij
为矩阵c的第i行，第j列的值，矩阵r为h
×
l的比值矩阵进行插值得到的h
×
l的矩阵，所述h
×
l的比值矩阵由矩阵b中的每个力度值与矩阵a中对应同一目标点的力度值相除
生成。
[0071]
举例如下：
[0072]
假设将待校准面划分为h
×
l个网格，修正时，选取h
×
l个网格中成行列排布的某些行和某些列，形成一个h
×
l的网状结构，其对应的力度值矩阵表示为b，校准模型a的力度值矩阵表示为a。
[0073][0074]
对矩阵b插值得到h
×
l个力度值，其矩阵表示为c，插值方法可采用双线性插值、立方插值或双三次样条插值。
[0075][0076]
计算h
×
l的比值矩阵s
[0077][0078]
其中，f
′
ij
与f
ij
对应同一目标点，s
ij
为比值矩阵s第i行，第j列的值。
[0079]
对比值矩阵s插值得到h
×
l的比值矩阵r，其中，插值时，对比值矩阵s的同一行的进行插值得到1
×
l个比例值，得到l行1
×
l个比例值，再对相邻两行进行插值得到位于这两行之间的目标点对应的比例值，从而得到比值矩阵r。比如，对比值矩阵s的第一行进行插值得到d1，对比值矩阵s的第二行进行插值得到d2，可以使用(w1·
d1+w2·
d2)得到第一行和第二行之间的其他行的比例值。矩阵r的元素与矩阵c的对应位置的元素相乘即为矩阵g对应位置的元素。w＝[w
1 w2]为权重因子。
[0080]
其中，插值方法可以是线性插值、三次多项式插值或三次样条插值。修正时仅采集部分目标点的原始力度值，可以减少校准使用的时间，提高效率。
[0081]
下面通过一具体实施例进一步说明本申请。
[0082]
如图3所示，本发明一实施例提供一种校准方法，包括：
[0083]
步骤301，对多个待校准设备的待校准面，采集待校准面上的m点在同一环境下的原始力度值数据。
[0084]
本实施例中，m点为10*9＝90点，如图2所示。该目标点为10*9的网格点。
[0085]
在采集原始受力数据时，可以对每个目标点施加一个相同的作用力f。
[0086]
步骤302，根据所述待校准面的原始力度值提取力度特征向量αn，特征向量包含若干特征值αn[i]，其中n≥1，每个目标点对应一个特征向量αn。特征值包括力度值、目标点位置信息(比如坐标)、力度曲线平滑度。
[0087]
力度曲线指步骤301中对应目标点的原始力度值按一定顺序构成的力度值向量构成的曲线，比如以目标点的位置为空间直角坐标系中的x,y坐标，原始力度值作为z坐标，每
个目标点对应三维坐标系中的一个点，将这些点按预设顺序连成曲线或曲面，需要说明的是，预设顺序可以根据需要设定，但各待校准面的目标点按同样顺序生成曲线或曲面。力度曲线平滑度可以用曲率作为评价指标。也可以为目标点进行编号，以目标点的编号为平面直角坐标系的x坐标，目标点的原始力度值作为y坐标，从而每个目标点对应平面直角坐标系的一个点，将这些点按预设顺序连成曲线。需要说明的是，顺序可以根据需要设定，但各待校准面的目标点按同样顺序生成曲线。
[0088]
步骤303，根据多个待校准面的原始力度值，生成校准模型a。
[0089]
其中，校准模型a中包括多个力度值，与所述目标点一一对应。本实施例中，校准模型a为一矩阵a，待校准面的第i行，第i列的目标点其对应的力度值为矩阵a中的第i行，第j列的值。
[0090]
本实施例中，在生成校准模型a之前，清洗数据，去除由于外界设备或其他干扰引起的异常数据，可用目标点的曲率、力度值至少之一作为判断标准，若曲率相对于正常数据曲率超过某一范围，或力度值超过某一范围，则认为是异常数据，如果异常数据大于预设比例，则重复步骤301。
[0091]
对清洗后数据对多个校准面的对应目标点取平均值作为该目标点的力度值，生成校准模型a，也可进行曲线或曲面拟合，生成校准曲线或校准曲面，基于校准曲线或校准曲面生成校准模型a。拟合方式可参考一般的拟合算法，此处不再赘述。
[0092]
此外，当目标点在待校准面上成辐射状分布时，特征值还可以包括目标点在同一角度下的力度变化，对全向的力度传感器，当在各向同性或准各向同性结构上近似认为距离传感器距离相等时，力度值相等，在同一角度上按极坐标划分，就可以获取整个待校准面的力度值，该方案下，仍可使用曲率和力度值进行数据清洗。
[0093]
步骤304，以校准模型a为依据，对待校准设备进行校准，达到力度均衡效果。
[0094]
具体的，包括：计算每个目标点的校准系数，对任一目标点，其校准系数coe＝f/force，force指校准模型a中该目标点对应的力度值，f为步骤301中施加的作用力。待校准面上除目标点外的其他点的力度系数采用插值计算求得，将校准系数下发给待校准设备。
[0095]
待校准设备获得校准系数后，将校准系数与采集的原始力度值相乘，得到校准后的力度值，在后续检测时，待校准设备输出校准后的力度值。
[0096]
对任一待校准设备(已接收校准系数)，在待校准面上任意位置(称为测试点)施加作用力f，若采集到的校准后力度值与目标值的差值在误差范围内，则认为该待校准设备达到了力度均衡。在一实施例中，误差范围要求为正负0～50％。当然，可以根据需要设置其他实际操作时，可根据实际需求设置误差范围。在一实施例中，可选择m1个测试点做测试验证，m1大小不做限定。
[0097]
步骤305，若步骤304中存在一待校准设备，测试点的校准后的力度值与目标值的差值不满足误差范围，则认为对于该待校准设备，校准模型a校准失败，则对校准模型a进行修正。假设该待校准设备为第一待校准设备。采集第一待校准设备中待校准面的修正点的原始力度值，修正点的点数小于目标点的点数m，修正点为目标点的子集。对修正点施加的作用力与步骤301中相同。
[0098]
本实施例中，假设目标点如图2所示，h＝10，l＝9，共90点，修正点如图4所示，修正点41共4*3＝12点。
[0099]
假设将待校准面划分为10
×
9个网格，校准点位选取10
×
9个网格中成行列排布的某些行和某些列做力度数据采集，形成一个4
×
3的网状结构，其对应的力度值矩阵表示为b，校准模型a的力度矩阵表示为a。
[0100][0101]
步骤306，根据力度值矩阵b修正校准模型a，得到适用于第一待校准设备的修正校准模型b。
[0102]
对矩阵b插值得到新的10
×
9个力度值，其矩阵表示为c，插值方法可采用双线性插值、立方插值或双三次样条插值。
[0103][0104]
计算r，
[0105][0106]
对r插值得到1
×
l(本实施例中，1*9)个比例值，将其表示为d1＝[d
11 d
12
ꢀ…ꢀ
d
19
]。d1与c1的对应位置的值相乘得到e1＝[d
11
·
c
11 d
12
·
c
12
ꢀ…ꢀ
d
1l
·
c
1l
]＝[d
11
·
c
11 d
12
·
c
12
ꢀ…ꢀ
d
19
·
c
19
]。其中，对r的插值方法可以是线性插值、三次多项式插值或三次样条插值。
[0107]
按得到e1的类似方式进行计算得到：
[0108][0109]
上述矩阵e作为矩阵g的第1、4、7、10行，对其他行，采用相邻两行的比例值做线性运算，并与矩阵c的对应行的元素相乘。而矩阵g的第2、3、5、6、8、9根据各行的相邻行(该相邻行是指矩阵e中的各行)得到，比如矩阵g的第2行可以使用第1行的比例值d1和第4行的比例值d2，以及矩阵c的第2行c2得到：(w1·
d1+w2·
d2)
·
c2，此处向量相乘是指对应位置的元素相乘。比如矩阵g的第3行可以使用第1行的比例值d1和第4行的比例值d2，以及矩阵c的第3行c3得到：(w1·
d1+w2·
d2)
·
c3。不同的行可以使用不同的权重值w1和w2。
[0110]
令w＝[w
1 w2]，计算w1·
c+w2·
g，得到修正校准模型b。其中w为权重因子。
[0111]
步骤307，以修正校准模型b为依据，对第一待校准设备进行校准，若第一待校准设备校准通过，则结束，若第一待校准设备校准失败，则修改步骤306中的各权重因子，重新计算得到修正校准模型，直到测试通过。
[0112]
如图5所示，基于同一发明构思，本发明一实施例提供一种校准装置50，包括存储
器510和处理器520，所述存储器510存储有程序，所述程序在被所述处理器520读取执行时，实现任一实施例所述的校准方法。
[0113]
如图6所示，基于同一发明构思，本发明一实施例提供一种计算机可读存储介质60，所述计算机可读存储介质60存储有一个或者多个程序610，所述一个或者多个程序610可被一个或者多个处理器执行，以实现任一实施例所述的校准方法。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。
[0114]
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于ram、rom、eeprom、闪存或其他存储器技术、cd-rom、数字多功能盘(dvd)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。