触控检测装置及其控制方法、显示模组与流程

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种触控检测装置及其控制方法、显示模组。

背景技术：

目前，触控显示面板已广泛应用于手机等显示产品中，其中，fic(fullincell，内嵌式)触控相比于sloc(singlelayercncell，单层多点外嵌式)触控，将公共电极块复用为触控电极块，无需专门制作触控电极，避免了sloc工序损耗。其中，应用触控显示面板的显示产品出货前，需要监控触控电极块的自电容的容值及短路和断路情况，对触控显示面板进行测试，以便及时跟踪触控显示面板及其生产工艺水平。

技术实现要素：

本发明的实施例提供一种触控检测装置及其控制方法、显示模组，可提高触控显示面板的测试效率。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种触控检测装置，包括：触控检测电路和处理器；所述触控检测电路与触控显示面板中的呈阵列排布的多个触控电极块电连接；所述触控检测电路被配置为在预设时间向所述多个触控电极块中的部分触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向所述多个触控电极块中的其余部分触控电极块提供第二电压信号和所述调制信号，并获取各触控电极块的反馈信号；其中，所述第二电压信号的电压小于所述第一电压信号的电压；将接收所述第一电压信号的触控电极块作为第一触控电极块，将接收所述第二电压信号的触控电极块作为第二触控电极块，每个所述第一触控电极块的四周均为所述第二触控电极块；所述处理器与所述触控检测电路电连接；所述处理器被配置为将接收到的来自所述触控检测电路的所述反馈信号，与预设值比较分别得到所述第一触控电极块和所述第二触控电极块的变化量；并将所述第一触控电极块和所述第二触控电极块的变化量，进行插值拟合，判断拟合曲线的趋势与所述第一触控电极块和所述第二触控电极块的位置是否匹配。

可选的，一帧包括m段所述预设时间，m为大于1的正整数；所述触控检测电路被配置为在每段所述预设时间均向多个所述第一触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向多个所述第二触控电极块提供第二电压信号和所述调制信号，并获取所述第一触控电极块和所述第二触控电极块的反馈信号；其中，所述触控检测电路在不同的所述预设时间，向完全不同的所述第一触控电极块提供所述第一电压信号。

可选的，所述触控检测电路被配置为在预设时间向所述多个触控电极块中的部分触控电极块提供第一电压信号和调制信号，包括：沿所述多个触控电极块排布的行方向或者列方向，所述触控检测电路被配置为在预设时间内每隔n个触控电极块，向一个触控电极块提供所述第一电压信号和所述调制信号；其中，5≥n≥1。

可选的，所述处理器还被配置为根据卡尔曼滤波算法，结合在当前帧中预设时间下检测得到的所述触控电极块的变化量、以及所述当前帧之前的所有帧中该预设时间下所述触控电极块的变化量的平均值和误差，得到所述当前帧该预设时间下所述触控电极块的变化量的有效值，并预测下一帧该预设时间下所述触控电极块的变化量的区间，判断下一帧该预设时间下检测得到的所述触控电极块的变化量是否位于该区间内。

可选的，所述触控检测电路包括多个检测子电路和多个数据选择器；一个所述数据选择器与一列所述触控电极块对应且电连接；多个所述检测子电路与所述数据选择器电连接；与一个所述数据选择器电连接的多个所述检测子电路，和与该数据选择器电连接的一列所述触控电极块一一对应；所述数据选择器被配置为将所述检测子电路和与该检测子电路对应的所述触控电极块电连接；一行触控电极块中的多个触控电极块，通过各自对应的数据选择器与同一个所述检测子电路电连接；所述检测子电路还与电压信号输入端电连接，所述检测子电路被配置为在所述触控电极块的充电阶段，向与该检测子电路电连接的所述部分触控电极块提供来自所述电压信号输入端的第一电压信号，对该部分触控电极块充电，将检测得到的该部分触控电极块的反馈信号，传输至所述处理器，并在不同时刻，向与该检测子电路电连接的其余部分触控电极块提供来自所述电压信号输入端的第二电压信号，对该其余部分触控电极块充电，并将检测得到的该其余部分触控电极块的反馈信号，传输至所述处理器；在所述触控电极块的放电阶段，将所述触控电极块接地。

可选的，所述触控检测电路还包括调制信号输入子电路；所述调制信号输入子电路与调制信号输入端和所述多个触控电极块电连接；所述调制信号输入子电路被配置为在触控电极块的充电阶段，将来自所述调制信号输入端的调制信号传输至所述触控电极块。

可选的，所述检测子电路包括第一开关、第二开关、第一放大器、第一电容、第三开关、数模转换器、以及数字信号处理器；所述第一开关的第一端与所述第一放大器的负输入端电连接，所述第一开关的第二端与所述数据选择器电连接；所述第二开关的第一端与所述第一开关的第二端电连接，所述第二开关的第二端接地；所述第一放大器的正输入端与所述电压信号输入端电连接，所述第一放大器的输出端与所述数模转换器的输入端电连接；所述数模转换器的输出端与所述数字信号处理器的输入端电连接，所述数字信号处理器的输出端与所述处理器电连接；所述第一电容的第一极与所述第一放大器的负输入端电连接，所述第一电容的第二极与所述第一放大器的输出端电连接；所述第三开关的第一端与所述第一放大器的输出端电连接，所述第三开关的第二端与所述第一放大器的负输入端电连接。

可选的，所述调制信号输入子电路包括第二放大器和第四开关；所述第二放大器的正输入端与所述调制信号输入端电连接，所述第二放大器的负输入端和输出端均与所述触控电极块电连接；所述第四开关的第一端与所述触控电极块电连接，所述第四开关的第二端接地。

可选的，所述检测子电路还包括第二电容、第五开关和第六开关；所述第二电容的第一极与所述第一放大器的负输入端电连接，所述第二电容的第二极与所述第五开关的第一端和所述第六开关的第二端电连接；所述第五开关的第二端接地；所述第六开关的第一端与初始化电压端电连接。

第二方面，提供一种显示模组，包括如上述的触控检测装置和触控显示面板；所述触控显示面板包括呈阵列排布的多个触控电极块以及与所述触控电极块电连接的触控电极线，所述触控电极线与所述触控检测装置电连接。

第三方面，提供一种如上述的触控检测装置的控制方法，包括：触控检测电路在预设时间向多个触控电极块中的部分触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向所述多个触控电极块中的其余部分触控电极块提供第二电压信号和所述调制信号，并获取各触控电极块的反馈信号；其中所述第二电压信号的电压小于所述第一电压信号的电压；将接收所述第一电压信号的触控电极块作为第一触控电极块，将接收所述第二电压信号的触控电极块作为第二触控电极块；处理器将接收到的来自所述触控检测电路的所述反馈信号，与预设值比较分别得到所述第一触控电极块和所述第二触控电极块的变化量；并将所述第一触控电极块和所述第二触控电极块的变化量，进行插值拟合，判断拟合曲线的趋势与所述第一触控电极块和所述第二触控电极块的位置是否匹配。

可选的，一帧包括m段所述预设时间，m为大于1的正整数；所述触控检测装置的控制方法还包括：所述触控检测电路在每段所述预设时间均向多个所述第一触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向多个所述第二触控电极块提供第二电压信号和所述调制信号，并获取所述第一触控电极块和所述第二触控电极块的反馈信号；其中，所述触控检测电路在不同的所述预设时间，向完全不同的所述第一触控电极块提供所述第一电压信号，向完全不同的所述第二触控电极提供所述第二电压信号。

可选的，所述触控检测装置的控制方法还包括：所述处理器根据卡尔曼滤波算法，结合在当前帧中预设时间下检测得到的所述触控电极块的变化量、以及所述当前帧之前的所有帧中该预设时间下所述触控电极块的变化量的平均值和误差，得到所述当前帧该预设时间下所述触控电极块的变化量的有效值，并预测下一帧该预设时间下所述触控电极块的变化量的区间，判断下一帧该预设时间下检测得到的所述触控电极块的变化量是否位于该区间内。

综上所述，本发明实施例提供一种触控检测装置及其控制方法、显示模组，触控检测装置包括触控检测电路和处理器。触控检测电路与触控显示面板中的呈阵列排布的多个触控电极块电连接。触控检测电路用于在预设时间向多个触控电极块中的部分触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向多个触控电极块中的其余部分触控电极块提供第二电压信号和调制信号，并获取各触控电极块的反馈信号。其中，第二电压信号的电压小于第一电压信号的电压。将接收第二电压信号的触控电极块作为第一触控电极块，将接收第二电压信号的触控电极块作为第二触控电极块，每个第一触控电极块的四周均为第二触控电极块。处理器与触控检测电路电连接。处理器用于将接收到的来自触控检测电路的反馈信号，与预设值比较分别得到第一触控电极块和第二触控电极块的变化量，并将第一触控电极块和第二触控电极块的变化量，进行插值拟合，判断拟合曲线的趋势与第一触控电极块和第二触控电极块的位置是否匹配。在此基础上，通过插值拟合，根据拟合曲线的趋势与触控电极块的位置是否匹配，判断触控电极块与走线之间是否存在短路或者断路的问题，当拟合曲线的趋势出现异常，与触控电极块的位置不匹配时，则触控电极块与走线之间存在短路或者断路的问题，在触控检测电路的反馈信号差异较小，可以通过拟合曲线是否出现异常点，与触控电极块的位置不匹配，从而准确判断触控电极块与走线存在弱短路或者弱断路的不良问题，提高触控显示面板的测试效率。并且，当在触控显示面板具有特定区域时，例如，触控电极块在触控显示面板边缘位置处有缺失，可以通过补全触控电极块缺失区域的拟合曲线，使得拟合曲线符合触控显示面板中所有触控电极块符合均匀分布的情况，以判断触控电极块与走线是否存在短路或者断路，从而避免由于触控电极块排列不规则导致检测结果出现偏差，提高触控显示面板测试的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种显示模组的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种预设时间下触控显示面板的检测示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种预设时间下触控显示面板的检测示意图；

图4为本发明实施例提供的又一种预设时间下触控显示面板的检测示意图；

图5为本发明实施例提供的又一种预设时间下触控显示面板的检测示意图；

图6为本发明实施例提供的一种拟合曲线的示意图；

图7为本发明实施例提供的另一种拟合曲线的示意图；

图8为本发明实施例提供的另一种拟合曲线的示意图；

图9为本发明实施例提供的另一种拟合曲线的示意图；

图10为现有技术提供的触控显示面板的检测示意图；

图11为现有技术提供的另一种触控显示面板的检测示意图；

图12为本发明实施例提供的一种显示模组的具体结构示意图；

图13为本发明实施例提供的一种触控检测电路的结构示意图；

图14为本发明实施例提供的一种触控检测电路的具体结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种显示模组，包括触控检测装置10和触控显示面板20。

示例的，该触控显示面板20为tddi(触控与显示驱动器集成，touchdisplaydriverintegration)。

如图1所示，触控显示面板20包括呈阵列排布的多个触控电极块201以及与触控电极块201电连接的触控电极线tx。触控电极线tx与触控检测装置10电连接。

如图1所示，多个触控电极块201呈n行m列的阵列形式排布。在此情况下，沿水平方向x排列成一排的触控电极块201称为同一行触控电极块，沿竖直方向y排列成一排的触控电极块201称为同一列触控电极块。

其中，一个触控电极块201与一根触控电极线tx电连接，且触控电极线tx沿竖直方向y延伸。例如，第一行第一列触控电极块与一根触控电极线tx(1-1)电连接，第一行第二列触控电极块与一根触控电极线tx(1-2)电连接，第n行第m列触控电极块与一根触控电极线tx(n-m)电连接。

在此基础上，该显示模组还包括集成电路(integratedcircuit，简称ic)，ic与触控显示面板20电连接。触控检测装置10位于ic中。

在此基础上，本发明实施例提供一种触控检测装置，如图1所示，该触控检测装置10包括触控检测电路101和处理器102。

触控检测电路101与触控显示面板20中的呈阵列排布的多个触控电极块201电连接。处理器102与触控检测电路101电连接。

示例的，处理器102可以采用mcu(微控制单元，microcontrollerunit)或者cpu(中央处理器，centralprocessunit)。

触控检测电路101用于在预设时间向多个触控电极块中的部分触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向多个触控电极块中的其余部分触控电极块提供第二电压信号和调制信号，并获取各触控电极块的反馈信号。

其中，第二电压信号的电压小于第一电压信号的电压。

需要说明的是，调制信号为触控电极块的基准信号。在根据第一电压信号或者第二电压信号对触控电极块的自电容充电时，触控电极块的自电容的电压均在该基准信号的基础上，叠加第一电压信号或者第二电压信号。

示例的，调制信号可以来自触控显示面板的公共电压信号。触控电极块的材料为ito(氧化铟锡)。

在此情况下，如图2所示，将接收第一电压信号的触控电极块作为第一触控电极块2011，将接收第二电压信号的触控电极块作为第二触控电极块2012。

每个第一触控电极块2011的四周均为第二触控电极块2012。并且，第一触控电极块2011和第二触控电极块2012之间会形成额外电容。

需要说明的是，每个第一触控电极块2011的四周均为第二触控电极块2012，指的是沿行方向(即图2中的水平方向x)，除了第一列和最后一列触控电极块之外的触控电极块作为第一触控电极块2011时，第一触控电极块2011的两侧均为第二触控电极块2012；沿列方向(即图2中的竖直方向y)，除了第一行和最后一行触控电极块之外的触控电极块作为第一触控电极块2011时，第一触控电极块2011的两侧均为第二触控电极块2012。此外，如图2所示，在沿第一触控电极块2011的对角线方向，与该第一触控电极块2011相邻的触控电极块也为第一触控电极块2011的情况下，形成的额外电容较小，可以忽略对该第一触控电极块2011的影响。

处理器102用于将接收到的来自触控检测电路101的反馈信号，与预设值比较分别得到第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的变化量，进行插值拟合，判断拟合曲线的趋势与第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的位置是否匹配。

其中，预设值是触控显示面板20中的触控电极块201在未发生触摸时的反馈信号。不同的触控显示面板中的触控电极块不同，相应的预设值也不同。

可以理解的是，触控电极块201与接地端形成自电容。在预设时间，触控检测电路101向第一触控电极块2011输入第一电压信号，对第一触控电极块2011的自电容进行充电，直至第一触控电极块2011的自电容的电压与第一电压信号的电压相等，此时，第一触控电极块2011的自电容被充满。触控检测电路101向第二触控电极块2012输入第二电压信号，对第二触控电极块2012的自电容进行充电，直至第二触控电极块2012的自电容的电压与第二电压信号的电压相等，由于第二电压信号的电压低于第一电压信号的电压，因此第二触控电极块2012的自电容无法被充满。

由于第一触控电极块2011和第二触控电极块2012之间存在额外电容，因此可以通过第二触控电极块2012模拟第一触控电极块2011发生手指触控时其自电容的变化情况。在触控电极块上发生手指触控时，手指相当于大地，该触控电极块的自电容变大，充电过程需要的电荷量增大，第一触控电极块2011的自电容的充电过程需要的电荷量相比于第二触控电极块2012的自电容的充电过程需要的电荷量增加。

可以理解的是，在因绑定工艺或者触控显示面板20走线断路而导致触控电极块201和走线之间存在断路时，触控电极块201的自电容过大，使得各触控电极块201的信号量将有明显差异降低，影响触控性能，此时触控显示面板20不良。并且，由于触控显示面板20的走线(例如触控电极线或者电源线等)间距较小，或者，用于将触控电极线与触控电极块电连接的过孔出现底切(undercut)现象，使得触控电极块201容易与相邻的触控电极块201或走线出现短路。

在此基础上，对触控显示面板20进行短路或者断路检测，触控检测电路101分别获取第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的反馈信号。由于第一触控电极块2011的自电容的充电过程所充的电荷量大于第二触控电极块2012的自电容的充电过程所充的电荷量，因此，触控检测电路101获取的第一触控电极块2011的反馈信号大于第二触控电极块2012的反馈信号。在此情况下，处理器102将接收到的第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的反馈信号，与预设值比较分别得到第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的变化量。根据第一触控电极块2011的变化量和第二触控电极块2012的变化量，进行插值拟合，得到拟合曲线。判断拟合曲线的趋势与第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的位置是否匹配。若拟合曲线的趋势与第一触控电极块2011或第二触控电极块2012的位置基本匹配，此时第一触控电极块或第二触控电极块2012与触控显示面板的走线(例如触控电极线tx)之间无短路或断路不良情况。若拟合曲线的趋势与第一触控电极块2011或第二触控电极块2012的位置匹配异常，此时第一触控电极块2011或第二触控电极块2012与触控显示面板的走线之间存在短路或断路不良情况。

可以理解的是，拟合曲线为处理器102根据各触控电极块的变化量经过插值后的数据矩阵中的数据大小绘制的热点图。若触控显示面板20中的各触控电极块与走线出现短路或断路的情况，则热点图上可能会出现某一点凸起或者凹陷，热点图的趋势与触控显示面板中的各触控电极块的位置分布不匹配，若触控显示面板20中的各触控电极块与走线无短路或断路的情况，则热点图的趋势与触控显示面板20中的各触控电极块的位置分布匹配。

其中，插值拟合可以采用高斯插值方法。并且，在进行插值拟合的过程中，会将触控显示面板20的实际情况(例如边界条件等)纳入计算。在此基础上，处理器102将触控显示面板20中各触控电极块的变化量构成的数据矩阵，在经过高斯插值后，可以映射成规模更大的矩阵，例如，原本10×10的数据矩阵在经过高斯插值后会映射为30×30的数据矩阵，以该映射后的数据矩阵来描述拟合曲线的分布及变化情况。

并且，在触控显示面板存在弱短路或者弱断路的情况下，触控检测电路101的反馈信号差异较小，此时通过拟合曲线，可以明显发现拟合曲线的趋势在触控电极块的位置处存在异常点，判断触控电极块是否存在弱短路或者弱断路的情况，从而提高触控显示面板检测的准确性。

在此基础上，对于触控电极块按一定规律正常排布的触控显示面板，在第一触控电极块2011位置处经过高斯插值后映射拟合曲线l1(如图6所示)呈高斯分布，该高斯分布曲线的中点位置定为判断点所在位置，触控显示面板20中第一触控电极块2011位置处判断点的分布情况为曲线l2(如图6所示)，根据拟合曲线中点位置与触控电极块的位置是否匹配，来判断触控电极块与走线之间是否存在短路或者断路。对于特殊触控显示面板，如触控显示面板的边缘位置的触控电极块有缺失的情况下，无法检测得到缺失触控电极块区域位置处的数据，会影响在缺失触控电极块区域附近的判断点的位置，但在经过插值拟合后，能够补齐在缺失触控电极块的区域202处的拟合曲线(如图7-图8所示)，使得在缺失触控电极块的区域202周围的拟合曲线仍符合高斯分布，此时可以根据拟合曲线的中点位置与触控电极块的位置是否匹配，判断触控电极块与触控电极线之间的是否存在短路或断路。此外，对于触控显示面板两侧边缘均存在触控电极块缺失的情况(如图9所示)，也可以补全缺失触控电极块的区域202处的拟合曲线，以判断触控电极块与触控电极线之间的是否存在短路或断路，或者，可以根据实际触控显示面板的触控效果，考虑忽略该缺失触控电极块区域处的判断点。

综上所述，本发明实施例提供一种触控检测装置10，包括触控检测电路101和处理器102。触控检测电路101与触控显示面板20中的呈阵列排布的多个触控电极块电连接。触控检测电路101用于在预设时间向多个触控电极块中的部分触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向多个触控电极块中的其余部分触控电极块提供第二电压信号和调制信号，并获取各触控电极块的反馈信号。其中，第二电压信号的电压小于第一电压信号的电压。将接收第二电压信号的触控电极块201作为第一触控电极块2011，将接收第二电压信号的触控电极块201作为第二触控电极块2012，每个第一触控电极块2011的四周均为第二触控电极块2012。处理器101与触控检测电路102电连接。处理器101用于将接收到的来自触控检测电路102的反馈信号，与预设值比较分别得到第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的变化量，并将第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的变化量，进行插值拟合，判断拟合曲线的趋势与第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的位置是否匹配。在此基础上，通过插值拟合，根据拟合曲线的趋势与触控电极块201的位置是否匹配，以判断触控电极块201与走线之间是否存在短路或者断路的问题，当拟合曲线的趋势出现异常，与触控电极块201的位置不匹配时，则触控电极块201与走线之间存在短路或者断路的问题，在触控检测电路101的反馈信号差异较小，可以通过拟合曲线是否出现异常点，与触控电极块的位置不匹配，从而准确判断触控电极块与走线存在弱短路或者弱断路的不良问题，提高触控显示面板20的测试效率。并且，当在触控显示面板具有特定区域时，例如，触控电极块201在触控显示面板20边缘位置处有缺失，可以通过补全触控电极块201缺失区域的拟合曲线，使得拟合曲线符合触控显示面板20中所有触控电极块201符合均匀分布的情况，以判断触控电极块201与走线是否存在短路或者断路，从而避免由于触控电极块201排列不规则导致检测结果出现偏差，提高触控显示面板20测试的准确性。

在此基础上，在本发明的一些实施例中，一帧包括m段预设时间，m为大于1的正整数。

触控检测电路101用于在每段预设时间均向多个第一触控电极块2011提供第一电压信号和调制信号，向多个第二触控电极块2012提供第二电压信号和调制信号，并获取第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的反馈信号。

其中，触控检测电路101在不同的预设时间，向完全不同的第一触控电极块2011提供第一电压信号。

示例的，一帧的时长至少为一显示图像帧的时长。

可以理解的是，在第m-1段预设时间的第一触控电极块，与第m段预设时间的第一触控电极块完全不同。并且，在一帧内，触控显示面板20中的一个触控电极块会在一段预设时间内作为第一触控电极块2011，在其余段预设时间内均作为第二触控电极块2012。

相比于触控电极块201呈n行m列阵列排布的触控显示面板20，例如，n＝32，m＝18，对所有触控电极块进行逐行(如图10所示)逐列(如图11所示)检测。如图10所示，在预设时间从第一行至最后一行触控电极块，依次以一行触控电极块作为第一触控电极块2011，该一行触控电极块的相邻两行触控电极块作为第二触控电极块2012，以此增加该一行触控电极块的自电容的容值。在此情况下，将第一触控电极块2011的自电容充电至饱和状态，检测第一触控电极块2011的容值，若第一触控电极块2011的容值减小，则该一行触控电极块存在断路，若检测得到第二触控电极块2012的电压换算为电阻后，该电阻小于等于标准值时，则该一行触控电极块存在短路。同样的，如图11所示，在预设时间从第一列至最后一列触控电极块，依次以一列触控电极块作为第一触控电极块2011触控电极块进行检测。在对触控显示面板的触控电极块检测完成后，检测次数＝n+m＝32+18＝50次。虽然检测次数较少，但是检测结果只能反映一行或者一列触控电极块是否短路或者断路，无法准确判断出每个触控电极块的短路或者断路情况。此外，在对所有触控电极块进行逐个检测的情况下，检测次数＝n×m＝32×18＝576次，虽然可以准确判断出每个触控电极块的短路或者断路情况，但是增加了检测次数，耗费时间，影响工作效率。

而本发明实施例在一帧内，触控检测电路101在第m段预设时间均向多个第一触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向多个第二电极块提供第二电压信号和调制信号，并获取第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的反馈信号。在一帧时间内，处理器102在第m段预设时间接收该预设时间来自触控检测电路101的反馈信号，与预设值比较分别得到各触控电极块的变化量，进行插值拟合得到拟合曲线，判断拟合曲线的趋势与第m段预设时间内的第一触控电极块和第二触控电极块的位置是否匹配。处理器可以根据m个拟合曲线判断该拟合曲线对应的预设时间内第一触控电极块2011和第二触控电极块2012的位置是否匹配，来判断触控显示面板20中的触控电极块201与走线之间是否短路或者断路，不仅可以判断每个触控电极块的短路或者断路情况，而且缩短了检测所需的时间，从而提高了触控显示面板20的测试效率。

在本发明的一些实施例中，触控检测电路101用于在预设时间向多个触控电极块中的部分触控电极块提供第一电压信号和调制信号，包括：沿多个触控电极块排布的行方向或者列方向，触控检测电路用于在预设时间内每隔n个触控电极块，向一个触控电极块提供第一电压信号和调制信号。其中，5≥n≥1。

在此基础上，当5≥n≥1时，不同触控显示面板中的每个触控电极块在一帧的一预设时间作为第一触控电极块进行检测，触控电极块与触控电极线之间的短路和断路情况均可以准确地被检测出来。

本领域技术人员可以根据实际情况，对n的具体个数进行选择。例如，在n＝3的情况下，如图2-图5所示，向第一行第一列触控电极块提供第一电压信号和调制信号，作为第一触控电极块2011，沿触控电极块排布的行方向(即水平方向x)，间隔3个触控电极块，向第一行第五列触控电极块提供第一电压信号和调制信号，作为第一触控电极块2011，同时，也均向该间隔3个触控电极块提供第二触控电压信号和调制信号，作为第二触控电极块2012。在此情况下，第二行第二列触控电极块作为第一触控电极块，沿行方向间隔3个触控电极块，第二行第六列触控电极块作为第一触控电极块2011，向该间隔3个触控电极块提供第二触控电压信号和调制信号，作为第二触控电极块2012。同样的，在第一行第一列触控电极块为第一触控电极块2011的情况下，沿触控电极块排布的列方向(即竖直方向y)，间隔3个触控电极块，向第五行第一列触控电极块提供第一电压信号和调制信号，作为第一触控电极块2011，同时，也均向该间隔3个触控电极块提供第二触控电压信号和调制信号，作为第二触控电极块2012。在此情况下，第二行第二列触控电极块作为第一触控电极块2011，沿行方向间隔3个触控电极块，第二行第六列触控电极块作为第一触控电极块2011，沿列方向间隔3个触控电极块，第六行第二列触控电极块作为第一触控电极块2011。在此情况下，在一帧内需要4段预设时间，即可实现每个触控电极块在一帧的一预设时间作为第一触控电极块进行检测。

需要说明的是，可以通过控制触控检测电路101触控电极块102的充电时间，或者，使第二电压信号为直流低电压信号，进行弱断路检测。其中，直流低电压信号与不同的触控显示面板中的触控电极块的承载能力有关。通过使第一触控电极块2011相邻的第二触控电极块2012接收的第二电压信号为接地信号，进行短路测试。在第一触控电极块2011与相邻的第二触控电极块2012之间存在短路时，存在短路的触控电极块的电流大于不存在短路的触控电极块的电流，根据触控显示面板20的触控电极块201均正常的情况下设定触控电极块201的阈值电流，当检测到触控电极块的电流大于阈值电流时，可以判断该触控电极块存在短路。

在触控电极块201存在断路时，m段预设时间对应的插值拟合后的数据矩阵可以通过算法，例如，在一帧时间内，(第m-1段预设时间下的数据矩阵-第m段预设时间下的数据矩阵)/第m段预设时间下的数据矩阵，或者，在不同帧时间内，(前一帧第m段预设时间下的数据矩阵-当前帧第m段预设时间下的数据矩阵)/当前帧第m段预设时间下的数据矩阵，对比同一行或者同一列中相邻的触控电极块在断路情况下的变化量，设置触控电极块发生断路时对应的变化量所处的合理区间，根据该区间，对触控电极块与走线之间的断路情况进行分析，并据此对触控电极块201的断路测试结果进行补充。在此基础上，可以判断触控电极块201呈均匀分布的触控显示面板20中是否断路，以及具有特定区域的触控显示面板20边缘位置处的触控电极块201是否断路。

可以理解的是，由于触控显示面板20中存在短路的触控电极块201通常会成对或者成片出现，使得在一帧中会出现多段预设时间对应的拟合曲线与触控电极块的位置不匹配的情况，因此，可以在一行或者一列相邻的第一触控电极块之间设置较多个数的间隔的触控电极块，通过对比多段预设时间下得到的拟合曲线，更容易判断出出现短路的触控电极块。但是，当增加一行或者一列相邻的第一触控电极块之间间隔的触控电极块的个数时，可能会增加触控显示面板中的各触控电极块检测所需的时间，因此，本领域技术人员可以根据实际需要对间隔的触控电极块的个数进行合理设定。

此外，触控电极块201和电源线之间存在的短路一般为单点不良，也可以通过上述的测试方法判断，在此情况下，会出现一帧中一段预设时间对应的拟合曲线与触控电极块的位置不匹配。

在本发明的一些实施例中，处理器101还用于根据卡尔曼滤波算法，结合在当前帧中预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量、以及当前帧之前的所有帧中该预设时间下触控电极块201的变化量的平均值和误差，得到当前帧该预设时间下触控电极块201的变化量的有效值，并预测下一帧该预设时间下触控电极块201的变化量的区间，判断下一帧该预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量是否位于该区间内。

其中，卡尔曼滤波算法是一种利用线性系统状态方程，通过系统输入观测数据，对系统状态进行最优估计的算法。在此基础上，当前帧该预设时间下触控电极块201的变化量的有效值即为当前帧该预设时间下触控电极块201的变化量的最优解，该最优解考虑了包括噪声、干扰等环境因素的影响。并且，误差包括预测误差和测量误差；预测误差指的是卡尔曼滤波算法中预测的多帧中预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量的不确定度，测量误差指的是实际测试相邻两帧中同一段预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量的差异。

可以理解的是，在一帧时间内，处理器101在m段预设时间可以得到m组插值拟合后的数据矩阵。在当前帧(例如第201帧)中第m段预设时间下检测得到的触控电极块的变化量、以及当前帧之前的所有帧(例如第1帧至第200帧)中第m段预设时间下触控电极块的变化量的平均值和误差，得到当前帧第m段预设时间下触控电极块201的变化量的有效值，并预测下一帧(例如第202帧)第m段预设时间下触控电极块201的变化量的区间，判断下一帧第m段预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量是否位于该区间内。若下一帧第m段预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量位于该区间，则下一帧第m段预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量属于有效值，处理器根据第m段预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量得到拟合曲线，若下一帧第m段预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量不位于该区间，则下一帧第m段预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量不属于有效值，处理器101将舍弃下一帧第m段预设时间下检测得到的触控电极块201的变化量，不会得到拟合曲线。在此情况下，可以有效的避免检测环境对触控电极块201的检测结果造成的误差影响。

在本发明的一些实施例中，如图12所示，触控检测电路包括多个检测子电路afe(analogfronteffect)和多个数据选择器mux。

一个数据选择器mux与一列触控电极块对应且电连接。

可以理解的是，数据选择器mux的个数与触控电极块的列数相同，即，在触控显示面板有m列触控电极块的情况下，数据选择器mux的个数为m个。并且，第一列触控电极块与第一个数据选择器mux(1)对应且电连接，第二列触控电极块与第二个数据选择器mux(2)对应且电连接，第m列触控电极块与第m个数据选择器mux(m)对应且电连接。

多个检测子电路afe与数据选择器mux电连接。与一个数据选择器mux电连接的多个检测子电路afe，和与该数据选择器mux电连接的一列触控电极块一一对应。例如，如图13所示，第m列触控电极块对应的数据选择器mux(m)，与多个检测子电路afe(b1)～afe(bn)电连接，检测子电路afe(b1)～afe(bn)和与数据选择器mux(m)电连接的第m列触控电极块201一一对应且电连接。

可以理解的是，一个数据选择器mux连接多个检测子电路afe，且与一个数据选择器mux电连接的检测子电路afe的个数与触控电极块的行数相等，即，在触控显示面板有n行触控电极块的情况下，与一个数据选择器mux电连接的检测子电路afe的个数为n个。并且，与第一个数据选择器mux(1)电连接的多个检测子电路afe(a1)～afe(an)，检测子电路afe(a1)对应于第一行第一列触控电极块，第n个检测子电路afe(an)对应于第n行第一列触控电极块，与第m个数据选择器mux(m)电连接的多个检测子电路afe(b1)～afe(bn)，检测子电路afe(b1)对应第一行第m列触控电极块，第n个检测子电路afe(bn)对应第n行第m列触控电极块。

一行触控电极块中的多个触控电极块，通过各自对应的数据选择器mux与同一个检测子电路电连接。

例如，如图12所示，第一行第一列触控电极块通过数据选择器mux(1)与检测子电路afe(a1)电连接，第一行第二列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(2)与检测子电路afe(a1)电连接，第一行第i-1列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(i-1)与检测子电路afe(a1)电连接，第一行第i列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(i)与检测子电路afe(b1)电连接，第一行第m-1列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(m-1)与检测子电路afe(b1)电连接，第一行第m列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(m)与检测子电路afe(b1)电连接。第n行第一列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(1)与检测子电路afe(an)电连接，第n行第二列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(2)与检测子电路afe(an)电连接，第n行第i-1列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(i-1)与检测子电路afe(an)电连接，第n行第i列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(i)与检测子电路afe(bn)电连接，第一行第m-1列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(m-1)与检测子电路afe(bn)电连接，第n行第m列触控电极块通过其对应的数据选择器mux(m)与检测子电路afe(bn)电连接，其中，i不大于m。

检测子电路afe还与电压信号输入端vr电连接。

数据选择器mux用于将检测子电路afe和与该检测子电路afe对应的触控电极块201电连接。

检测子电路afe用于在触控电极块201的充电阶段，向与该检测子电路afe电连接的部分触控电极块提供来自电压信号输入端vr的第一电压信号，对该部分触控电极块充电，将检测得到的该部分触控电极块的反馈信号，传输至处理器101，并在不同时刻，向与该检测子电路afe电连接的其余部分触控电极块提供来自电压信号输入端vr的第二电压信号，对该其余部分触控电极块充电，并将检测得到的该其余部分触控电极块的反馈信号，传输至处理器101。在触控电极块201的放电阶段，将触控电极块201接地。

示例的，第一行第一列触控电极块和第一行第五列触控电极块为第一触控电极块，第一行第二列至第四列触控电极块均为第二触控电极块，且第一行第一列至第五列触控电极块分别对应数据选择器mux(1)～mux(5)，第一行第一列至第五列触控电极块均通过各自对应的数据选择器与检测子电路afe(a1)电连接，在此情况下，检测子电路向数据选择器mux(1)～mux(5)传输信号，在一时刻数据选择器mux(1)和数据选择器mux(5)将来自检测子电路afe(a1)的第一电压信号分别传输至第一行第一列触控电极块和第一行第五列触控电极块，并分别得到来自第一行第一列触控电极块和第一行第五列触控电极块的反馈信号；在另一时刻，数据选择器mux(2)、数据选择器mux(3)和数据选择器mux(4)将来自检测子电路afe(a1)的第二电压信号分别传输至第一行第二列触控电极块、第一行第三列触控电极块和第一行第四列触控电极块，并分别得到来自第一行第二列触控电极块、第一行第三列触控电极块和第一行第四列触控电极块的反馈信号。

需要说明的是，数据选择器mux可以根据来自ic的信号，在不同时刻，向与该数据选择器mux电连接的触控电极块201传输来自与该触控电极块201对应的检测子电路afe的信号。

此外，在本发明的另一些实施例中，触控检测电路101包括多个检测子电路afe，检测子电路afe与触控电极块201一一对应且电连接，即，无需通过数据选择器mux，一个检测子电路afe向一个触控电极块201传输信号。

在本发明的一些实施例中，如图12所示，触控检测电路还包括调制信号输入子电路103。

调制信号输入子电路103与调制信号输入端vc和多个触控电极块201电连接。

调制信号输入子电路103用于在触控电极块201的充电阶段，将来自调制信号输入端vc的调制信号传输至触控电极块201。

需要说明的是，如图12所示，在触控检测电路101包括多个数据选择器mux的情况下，调制信号输入子电路103与多个数据选择器mux电连接，通过数据选择器mux，向触控电极块201传输调制信号。

在本发明的一些实施例中，如图14所示，检测子电路afe包括第一开关s1、第二开关s2、第一放大器op1、第一电容c1、第三开关s3、数模转换器adc、以及数字信号处理器dsp。

第一开关s1的第一端与第一放大器op1的负输入端电连接，第一开关s1的第二端与数据选择器mux电连接。

需要说明的是，检测子电路afe与触控电极块一一对应的情况下，第一开关s1的第二端与触控电极块电连接。

第二开关s2的第一端与第一开关s1的第二端电连接，第二开关s2的第二端接地。

第一放大器op1的正输入端与电压信号输入端电连接，第一放大器op1的输出端与数模转换器adc的输入端电连接。

数模转换器adc的输出端与数字信号处理器dsp的输入端电连接，数字信号处理器dsp的输出端与处理器102电连接。

第一电容c1的第一极与第一放大器op1的负输入端电连接，第一电容c1的第二极与第一放大器op1的输出端电连接。

第三开关s3的第一端与第一放大器op1的输出端电连接，第三开关s3的第二端与第一放大器op1的负输入端电连接。

在本发明的一些实施例中，如图14所示，调制信号输入子电路103包括第二放大器op2和第四开关s4。

第二放大器op2的正输入端和调制信号输入端vc电连接，第二放大器op2的负输入端和输出端均与触控电极块电连接。

第四开关s4的第一端与触控电极块电连接，第四开关s4的第二端接地。

在本发明的一些实施例中，如图14所示，检测子电路还包括第二电容c2、第五开关s5和第六开关s6。

第二电容c2的第一极与第一放大器op1的负输入端电连接，第二电容c2的第二极与第四开关s4的第二端和第五开关s5的第一端和第六开关s6的第二端电连接。

第五开关s5的第二端接地。第六开关s6的第一端与初始化电压端vb电连接。

在此基础上，对图14中的触控检测装置的控制过程进行说明。在预设时间内，触控电极块的充电阶段，第四开关s4断开，调制信号输入子电路103中的第二放大器op2向触控显示面板的所有触控电极块传输来自调制信号输入端vc的调制信号，使得触控电极块的自电容cp的一极的电位与调制信号的电位相等，此时，触控电极块的自电容cp的电压为基准电压。在此基础上，第一开关s1闭合，第二开关s2断开，第三开关s3断开，检测子电路afe中的电压信号输入端vr经由第一放大器op1，并通过数据选择器mux，向与该检测子电路afe对应的触控电极块提供信号，对触控电极块的自电容cp充电，直至触控电极块的自电容cp被充满且电压为来自电压信号输入端vr的信号的电压，第一放大器op1自动停止充电。

同时，第六开关s6闭合，第五开关s5断开，第二电容c2的第二极与初始化电压端vb电连接，使得第二电容c2的第二极的电位为来自初始化电压端vb的信号的电位，第二电容c2的第一极的电位与第一放大器op1的负输入端的电位相同，此时第二电容c2会进行充电，并且，由于第二电容c2的两极的电位差不会突变，因此，第二电容c2可以使其与第一开关s1和第一放大器op1连接点位置处的电压保持稳定。

可以理解是，在来自电压信号输入端vr的信号对触控电极块的自电容cp充电过程中，充电电荷会流经第一电容c1，使得第一放大器op1的输出端产生电压变化，在充电结束后，第一放大器op1的输出端的电压不再变化，此时，第一放大器op1的输出端的电压vout＝vr×cp/c1+vr。

在此基础上，数模转换器adc将来自第一放大器op1的输出端的电压信号转化为数字信号rawdata，并通过数字信号处理器dsp传输至处理器，该通过数字信号处理器dsp传输至处理器的数字信号rawdata可以作为反馈信号。其中，在触控检测装置的初始状态，例如触控检测装置刚上电或者复位完成时，处理器中存储每个触控电极块的预设值，该预设值为触控电极块未发生触摸时的反馈信号。在触控电极块发生触摸时，数模转换器adc输出的数字信号rawdata变大，并作为反馈信号通过数字信号处理器dsp传输至处理器，处理器将触控电极块在发生触摸时反馈信号与未发生触摸时的反馈信号的差值，即可得到该触控电极块对应的变化量。

在此情况下，在充电阶段的一时刻，检测子电路afe中的第一放大器op1将来自电压信号输入端vr的信号，通过数据选择器mux，向与该检测子电路afe对应的第一触控电极块提供第一电压信号，对第一触控电极块的自电容充电，直至第一触控电极块的自电容被充满且电压为来自电压信号输入端vr的第一电压信号的电压，第一放大器op1自动停止充电。此时，来自第一放大器op1的输出端的电压信号经由数模转换器adc和数字信号处理器dsp，向处理器输出第一触控电极块的反馈信号，处理器根据该反馈信号与预设值比较得到第一触控电极块的变化量。在充电阶段的另一时刻，检测子电路afe中的电压信号输入端vr经由第一放大器op1，并通过数据选择器mux，向与该检测子电路afe对应的第二触控电极块提供第二电压信号，对第二触控电极块的自电容充电，直至第二触控电极块的自电容被充满且电压为来自电压信号输入端vr的第二电压信号的电压，第一放大器op1自动停止充电。此时，来自第一放大器op1的输出端的电压信号经由数模转换器adc和数字信号处理器dsp，向处理器输出第二触控电极块的反馈信号，处理器根据该反馈信号与预设值比较得到第二触控电极块的变化量。

在预设时间内，触控电极块的放电阶段，第一开关s1断开，第二开关s2闭合，第四开关s4闭合，使得触控电极块的自电容cp两极均接地，从而进行放电。在此情况下，第三开关s3闭合，第一放大器op1不工作。并且，第五开关s5闭合，第六开关s6断开，使得第二电容c2的第二极与接地端电连接，对第二电容c2进行放电。

需要说明的是，触控检测装置每次开始使用时，均需要对第二电容c2进行重新校准。

在预设时间结束时，处理器102根据由第一触控电极块的变化量和第二触控电极块的变化量组成的数据矩阵，进行插值，使得原数据矩阵的规模被扩大，并根据该规模扩大的数据矩阵拟合曲线，判断该拟合曲线在各个触控电极块位置处的中点是否与触控电极块的位置匹配。若基本匹配，则各触控电极块与走线之间不存在短路或者断路不良情况；若拟合曲线上存在异常点，则该异常点位置处对应的触控电极块与走线之间存在短路或者断路不良情况。

需要说明的是，在触控显示面板中的触控电极块进行测试前期，可以根据多个触控电极块的仿真测试结果，设定判断触控电极块短路或者断路的初始标准。在触控显示面板进行量产后，可以根据不同触控显示面板和ic的工作能力、以及不同触控电极块的测试结果，修正该初始标准。

在此基础上，本发明实施例还提供一种触控检测装置的控制方法，包括：

参考图1，触控检测电路101在预设时间向多个触控电极块201中的部分触控电极块提供第一电压信号和调制信号，向多个触控电极块中的其余部分触控电极块提供第二电压信号和调制信号，并获取各触控电极块的反馈信号。

其中，第二电压信号的电压小于第一电压信号的电压。将接收第一电压信号的触控电极块作为第一触控电极块2011，将接收第二电压信号的触控电极块作为第二触控电极块2012。

处理器101将接收到的来自触控检测电路的反馈信号，与预设值比较分别得到第一触控电极块和第二触控电极块的变化量。并将第一触控电极块和第二触控电极块的变化量，进行插值拟合，判断拟合曲线的趋势与第一触控电极块和第二触控电极块的位置是否匹配。

在此基础上，在本发明的一些实施例中，一帧包括m段预设时间，m为大于1的正整数。

触控检测装置的控制方法还包括：触控检测电路101在每段预设时间均向多个第一触控电极块2011提供第一电压信号和调制信号，向多个第二触控电极块2012提供第二电压信号和调制信号，并获取第一触控电极块和第二触控电极块的反馈信号。

其中，触控检测电路101在不同的预设时间，向完全不同的第一触控电极块提供第一电压信号，向完全不同的第二触控电极块提供第二电压信号。

在本发明的一些实施例中，触控检测装置的控制方法还包括：处理器101根据卡尔曼滤波方法，结合在当前帧中预设时间下检测得到的触控电极块的变化量、以及当前帧之前的所有帧何种该预设时间下触控电极块的变化量的平均值和误差，得到当前帧该预设时间下触控电极块的变化量的有效值，并预测下一帧该预设实践下触控电极块的变化量的区间，判断下一帧该预设之间下检测得到的触控电极块的变化量是否位于该区间内。

上述的触控检测装置的控制方法具有与上述的触控检测装置相同的有益效果，因此不再赘述。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。