一种光学信息检测方法、装置及设备与流程

本申请属于光学技术领域，尤其涉及一种光学信息检测方法、装置及设备。

背景技术：

基于结构光或飞行时间(timeofflight,，tof)技术的深度测量系统都包括发射端与接收端，在系统使用前需要对发射端与接收端的光学信息进行检测，例如，发射端中光学衍射元件与光源之间的相对旋转角度信息、发射端与接收端的光轴偏转角度信息等等。

现有的光学信息的检测方法是利用灰度相似性进行图像特征计算，从而计算光学参数信息。在利用灰度相似性进行图像特征计算时，需要零级的投影图案具有全局唯一的特性。但是，当投影图案规则排列时，形成的零级的投影图案不具有唯一性，无法准确的在这种情况下计算光学信息。

技术实现要素：

本申请实施例提供了一种光学信息检测方法、装置及设备，可以解决当投影图案规则排列时，无法准确计算光学信息的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种光学信息检测方法，包括：

获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；

对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；

获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；

计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；

根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；

根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。

进一步地，所述第一特征信息为所述目标全场投影图案中的目标全场散斑点，所述第二特征信息为所述参考全场投影图案中的参考全场散斑点；

所述计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系，包括：

计算所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的初始映射关系；

根据预设散斑局部对应关系和所述初始映射关系，确定所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的映射关系。

进一步地，所述目标光学信息包括所述目标全场投影图案的亮暗分布信息和/或所述目标全场投影图案的视场角信息。

进一步地，投影所述目标全场投影图案的投影组件包括光源和衍射光学元件，所述光源为多个垂直腔面发射激光器vcsel组成的阵列；

所述目标光学信息包括所述衍射光学元件与所述光源的相对偏转信息和/或所述阵列的vcsel缺失情况信息。

进一步地，所述第一特征信息包括目标全场散斑点的内部特征、目标全场散斑的角点特征、目标全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。

进一步地，所述第二特征信息包括参考全场散斑点的内部特征、参考全场散斑的角点特征、参考全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。

进一步地，所述目标光学信息为第二成像模组与投影组件的光轴夹角；

所述根据所述第二图形信息，计算目标光学信息，包括：

获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；

计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；

根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；

根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。

第二方面，本申请实施例提供了一种光学信息检测装置，包括：

第一获取单元，用于获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；

提取单元，用于对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；

第二获取单元，用于获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；

第一计算单元，用于计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；

第一处理单元，用于根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；

第二计算单元，用于根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。

进一步地，所述第一特征信息为所述目标全场投影图案中的目标全场散斑点，所述第二特征信息为所述参考全场投影图案中的参考全场散斑点；

所述第一计算单元，具体用于：

计算所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的初始映射关系；

根据预设散斑局部对应关系和所述初始映射关系，确定所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的映射关系。

进一步地，所述目标光学信息包括所述目标全场投影图案的亮暗分布信息和/或所述目标全场投影图案的视场角信息。

进一步地，投影所述目标全场投影图案的投影组件包括光源和衍射光学元件，所述光源为多个垂直腔面发射激光器vcsel组成的阵列；

所述目标光学信息包括所述衍射光学元件与所述光源的相对偏转信息和/或所述阵列的vcsel缺失情况信息。

进一步地，所述第一特征信息包括目标全场散斑点的内部特征、目标全场散斑的角点特征、目标全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。

进一步地，所述第二特征信息包括参考全场散斑点的内部特征、参考全场散斑的角点特征、参考全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。

进一步地，所述目标光学信息为第二成像模组与投影组件的光轴夹角；

所述第二计算单元，具体用于：

获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；

计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；

根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；

根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。

第三方面，本申请实施例提供了一种光学信息检测设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的光学信息检测方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的光学信息检测方法。

本申请实施例中，获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。上述方法，可兼容投影组件投影的投影图案为规则或非规则两种情况，即在投影组件投影的散斑图案中，无论零级散斑图案是否具有全局唯一性，都可以准确的对光学信息进行检测。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请第一实施例提供的一种光学信息检测系统的示意图；

图2是本申请第二实施例提供的一种光学信息检测方法的示意流程图；

图3是本申请第二实施例提供的一种光学信息检测方法中目标全场投影图案的示意图；

图4是本申请第二实施例提供的一种光学信息检测方法中目标全场投影图案的示意图；

图5是本申请第二实施例提供的一种光学信息检测方法中s104细化的示意流程图；

图6是本申请第二实施例提供的一种光学信息检测方法中s106细化的示意流程图；

图7是本申请第三实施例提供的光学信息检测装置的示意图；

图8是本申请第四实施例提供的光学信息检测设备的示意图。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本申请。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。

应当理解，当在本申请说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

如在本申请说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。

另外，在本申请说明书和所附权利要求书的描述中，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本申请的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。

请参见图1，图1是本申请第一实施例提供的一种光学信息检测系统的示意。光学信息检测系统包括投影组件、投影屏、第一成像模组，以及分别与投影组件、第一成像模组进行通信连接的具有光学信息检测功能的设备。其中，具有光学信息检测功能的设备可以为服务器、处理器等。所述投影组件，用于将投影图案投射至所述投影屏；所述第一成像模组。用于采集投射至投影屏的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案。

请参见图2，图2是本申请第二实施例提供的一种光学信息检测方法的示意流程图。本实施例中一种光学信息检测方法的执行主体为具有光学信息检测功能的设备，例如，服务器、处理器等。如图2所示的光学信息检测方法可以包括：

s101：获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案。

设备获取由第一成像模组采集的第一图像，第一图像包括目标全场投影图案。其中，投影组件将投影图案投射至投影屏，第一成像模组采集投影屏上的投影图案。第一成像模组采集到的图像即为第一图像，第一图像中包括的投影图案即为目标全场投影图案。

在一个实施例中，投影组件与第一成像模组可以分别设置于投影屏的两侧，也可以置于投影屏的同侧。投影屏包括沿投影组件发射的光束方向依次设置的玻璃板、纸张和pc压板，为了使第一成像模组能采集到清晰的投影图案，上述玻璃板、纸张和pc压板的透射率应该保证不小于90％。需要说明的是，为了能采集到全场第一图像，第一成像模组可以采用大广角的成像模组，或者可适当拉长第一成像模组与投影屏的距离，避免第一成像模组的视场过大，影响采集的第一图像的质量。

投影组件包括光源和衍射光学元件doe，doe设于光源的出光路径上，衍射光学元件用于将光源产生的光投射至投影屏，以形成投影图案。可以理解的是，光源发出的光束经由doe元件扩散后投射至投影屏形成结构光图案。其中，光源可以包括边发射激光器、垂直腔面发射激光器(vcsel)、vcsel阵列或led。其中，vcsel阵列可以为规则排列或不规则排列。光源产生的光可以为可见光、红外、紫外、不可见光等，光源也支持不同图像组成的编码投射方案，如散斑状、块状、十字状、条纹状、特定符号等图案。可以理解是，第一成像模组能采集的光的波长应该与投影组件投影的光的波长相同。

在一个实施例中，当投影组件投影的投影图案为红外散斑图案时，第一成像模组对应为红外相机。

s102：对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息。

设备对采集到的第一图像进行特征提取，提取第一图像中的目标全场投影图案的特征信息，得到第一特征信息。当目标全场投影图案为散斑状图案时，第一特征信息可以包括目标全场散斑点的内部特征、目标全场散斑的角点特征、目标全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。如图3和图4所示，图3和图4为目标全场投影图案的示意图，以及全场散斑点的内部特征、全场散斑的角点特征、全场散斑的边缘曲线特征的示意图。可以理解是，图3和图4中的示意图只是目标全场投影图案的两种形式，并非对目标全场投影图案的限制。

s103：获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息。

设备中存储预设参考全场投影图案的第二特征信息，其中，预设参考全场投影图案为预先采集的投影组件投射至投影屏的投影图案。第二特征信息可以包括参考全场散斑点的内部特征、参考全场散斑的角点特征、参考全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。参考全场散斑点的内部特征、参考全场散斑的角点特征、参考全场散斑的边缘曲线特征可以参考s102中的关于目标全场散斑点的内部特征、目标全场散斑的角点特征、目标全场散斑的边缘曲线特征的相关描述，此处不再赘述。

设备获取第一图形信息，图形信息包括零级信息和/或次级信息。其中，零级信息可以包括零级点、零级散斑图案等等；次级信息可以包括散斑点的坐标、灰度信息等等。

s104：计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系。

设备根据第一特征信息和第二特征信息，计算第一特征信息和第二特征信息之间的第一映射关系。第一映射关系实质上也表示了预设参考全场投影图案和目标全场投影图案之间的关系。

进一步地，所述第一特征信息为所述目标全场投影图案中的目标全场散斑点，所述第二特征信息为所述参考全场投影图案中的参考全场散斑点，s104可以包括s1041～s1042，如图5所示，s1041～s1042具体如下：

s1041：计算所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的初始映射关系。

本实施例中，第一特征信息为目标全场投影图案中的目标全场散斑点，第二特征信息为参考全场投影图案中的参考全场散斑点。设备根据目标全场散斑点和参考全场散斑点计算目标全场散斑点和参考全场散斑点之间的初始映射关系。举例来说，计算初始映射关系为利用参考全场散斑点与目标全场散斑点的单应性进行计算；根据全场散斑的边缘曲线特征计算初始映射关系可以利用参考全场投影图案中的边缘曲线和目标全场投影图案中的边缘曲线的单应性进行计算。

s1042：根据预设散斑局部对应关系和所述初始映射关系，确定所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的映射关系。

设备中存储预设散斑局部对应关系，预设散斑局部对应关系可以包括散斑块相似性信息，散斑点局部最近邻信息等等。设备根据预设散斑局部对应关系和初始映射关系，确定目标全场散斑点和参考全场散斑点之间的映射关系。

s105：根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息。

设备根据第一映射关系将第一图形信息映射至目标全场投影图案中，得到第一图形信息在目标全场投影图案中的图形信息，即为第二图形信息。举例来说，设备根据第一映射关系将零级信息映射至目标全场投影图案中，得到零级信息在目标全场投影图案中的零级信息，即为第二图形信息。

s106：根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。

设备可以根据目标全场投影图案中对应的第二图形信息来计算目标光学信息。计算规则可以在设备中预先设置，根据目标光学信息的种类来确定计算规则。根据计算规则来计算目标光学信息。

其中，目标光学信息可以包括目标全场投影图案的亮暗分布信息和/或所述目标全场投影图案的视场角信息。

在一种实施方式中，投影目标全场投影图案的投影组件包括光源和衍射光学元件，光源为多个垂直腔面发射激光器vcsel组成的阵列；目标光学信息可以包括衍射光学元件与光源的相对偏转信息和/或阵列的vcsel缺失情况信息。其中，vcsel阵列在处理器的控制下经由doe可投射出不同的组合光点点阵图案，其中doe对vcsel阵列形成的原始图案进行复制、重叠和/或旋转等操作即可在投影屏上形成最终的散斑图案，因此，该散斑图案与vcsel阵列的vcsel光源在空间位置上形成一一对应关系，进而可通过散斑图案来检测vcsel阵列光源中单个vcsel光源是否缺失。

在一种实施方式中，目标光学信息为第二成像模组与投影组件的光轴夹角，s106可以包括s1061～s1064，如图6所示，s1061～s1064具体如下：

s1061：获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案。

在本实施例中，光学信息的检测装置包括第二成像模组，最后需要计算的目标光学信息为第二成像模组与投影组件的光轴夹角。

在本实施例中，光学信息检测系统还包括第二成像模组和标定图案投影仪。其中，标定图案投影仪，用于将标定图案投射至投影屏上。其中，标定图案不限定于棋盘格，圆点等，目的是够提供足够多的特征。成像模组，用于采集上述标定图案。需要说明的是，当开启上述标定图案投影仪时，需要关闭投影组件。为了便于区分，将第一成像模组采集的标定图案记为第一标定图案，第二成像模组采集的标定图案记为第二标定图案。

s1062：计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系。

设备计算第一标定图案和第二标定图案之间的第二映射关系。第二映射关系标识了第一成像模组和第二成像模组之间的关系。

s1063：根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息。

设备根据第二映射关系将第二图形信息映射至第二标定图案中，得到第二图形信息在第二标定图案中的图形信息，即为第三图形信息。举例来说，设备根据第二映射关系将零级信息映射至第二标定图案中，得到零级信息在第二标定图案中的零级信息，即为第三图形信息。

s1064：根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。

设备根据第三图形信息确定第一标定图案中映射后的点的坐标，根据第一标定图案中映射后的点的坐标计算投影组件与第二成像模组之间的光轴夹角。

本申请实施例中，获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。上述方法，可兼容投影组件投影的投影图案为规则或非规则两种情况，即在投影组件投影的散斑图案中，无论零级散斑图案是否具有全局唯一性，都可以准确的对光学信息进行检测。

应理解，上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。

请参见图7，图7是本申请第三实施例提供的光学信息检测装置的示意图。包括的各单元用于执行图2、图5～图6对应的实施例中的各步骤。具体请参阅图2、图5～图6各自对应的实施例中的相关描述。为了便于说明，仅示出了与本实施例相关的部分。参见图7，光学信息检测装置7包括：第一获取单元710，用于获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；提取单元720，用于对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；第二获取单元730，用于获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；第一计算单元740，用于计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；第一处理单元750，用于根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；第二计算单元760，用于根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。

进一步地，所述第一特征信息为所述目标全场投影图案中的目标全场散斑点，所述第二特征信息为所述参考全场投影图案中的参考全场散斑点；

第一计算单元740，具体用于：计算所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的初始映射关系；根据预设散斑局部对应关系和所述初始映射关系，确定所述目标全场散斑点和所述参考全场散斑点之间的映射关系。

在一个实施例中，所述目标光学信息包括所述目标全场投影图案的亮暗分布信息和/或所述目标全场投影图案的视场角信息。

在一个实施例中，投影所述目标全场投影图案的投影组件包括光源和衍射光学元件，所述光源为多个垂直腔面发射激光器vcsel组成的阵列；所述目标光学信息包括所述衍射光学元件与所述光源的相对偏转信息和/或所述阵列的vcsel缺失情况信息。

在一个实施例中，所述第一特征信息包括目标全场散斑点的内部特征、目标全场散斑的角点特征、目标全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。所述第二特征信息包括参考全场散斑点的内部特征、参考全场散斑的角点特征、参考全场散斑的边缘曲线特征中的一种或多种。所述目标光学信息为第二成像模组与投影组件的光轴夹角；

第二计算单元760，具体用于：获取由所述第一成像模组采集的第一标定图案和所述第二成像模组采集的第二标定图案；计算所述第一标定图案和所述第二标定图案之间的第二映射关系；根据所述第二映射关系将所述第二图形信息映射至所述第二标定图案，得到所述第二标定图案的第三图形信息；根据所述第三图形信息，计算所述第二成像模组与所述投影组件的光轴夹角。

图8是本申请第四实施例提供的光学信息检测设备的示意图。如图8所示，该实施例的光学信息检测设备8包括：处理器80、存储器81以及存储在所述存储器81中并可在所述处理器80上运行的计算机程序82，例如光学信息检测程序。所述处理器80执行所述计算机程序82时实现上述各个光学信息检测方法实施例中的步骤，例如图2所示的步骤101至106。或者，所述处理器80执行所述计算机程序82时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图5所示模块710至760的功能。

示例性的，所述计算机程序82可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器81中，并由所述处理器80执行，以完成本申请。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序82在所述光学信息检测设备8中的执行过程。例如，所述计算机程序82可以被分割成第一获取单元、提取单元、第二获取单元、第一计算单元、第一处理单元、第二计算单元，各单元具体功能如下：

第一获取单元，用于获取第一成像模组采集的第一图像，所述第一图像包括目标全场投影图案；提取单元，用于对所述第一图像进行特征提取，得到第一特征信息；第二获取单元，用于获取预设参考全场投影图案的第二特征信息、第一图形信息，所述图形信息包括零级信息和/或次级信息；第一计算单元，用于计算所述第一特征信息和所述第二特征信息之间的第一映射关系；第一处理单元，用于根据所述第一映射关系将所述第一图形信息映射至所述目标全场投影图案，得到所述目标全场投影图案对应的第二图形信息；第二计算单元，用于根据所述第二图形信息，计算目标光学信息。

所述光学信息检测设备可包括，但不仅限于，处理器80、存储器81。本领域技术人员可以理解，图8仅仅是光学信息检测设备8的示例，并不构成对光学信息检测设备8的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述光学信息检测设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。

所称处理器80可以是中央处理单元(centralprocessingunit，cpu)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digitalsignalprocessor，dsp)、专用集成电路(applicationspecificintegratedcircuit，asic)、现成可编程门阵列(field-programmablegatearray，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。

所述存储器81可以是所述光学信息检测设备8的内部存储单元，例如光学信息检测设备8的硬盘或内存。所述存储器81也可以是所述光学信息检测设备8的外部存储设备，例如所述光学信息检测设备8上配备的插接式硬盘，智能存储卡(smartmediacard,smc)，安全数字(securedigital,sd)卡，闪存卡(flashcard)等。进一步地，所述光学信息检测设备8还可以既包括所述光学信息检测设备8的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器81用于存储所述计算机程序以及所述光学信息检测设备所需的其他程序和数据。所述存储器81还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。

需要说明的是，上述装置/单元之间的信息交互、执行过程等内容，由于与本申请方法实施例基于同一构思，其具体功能及带来的技术效果，具体可参见方法实施例部分，此处不再赘述。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。另外，各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本申请实施例还提供了一种网络设备，该网络设备包括：至少一个处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述至少一个处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任意各个方法实施例中的步骤。

本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现可实现上述各个方法实施例中的步骤。

本申请实施例提供了一种计算机程序产品，当计算机程序产品在移动终端上运行时，使得移动终端执行时实现可实现上述各个方法实施例中的步骤。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实现上述实施例方法中的全部或部分流程，可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中，该计算机程序在被处理器执行时，可实现上述各个方法实施例的步骤。其中，所述计算机程序包括计算机程序代码，所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质至少可以包括：能够将计算机程序代码携带到拍照装置/终端设备的任何实体或装置、记录介质、计算机存储器、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质。例如u盘、移动硬盘、磁碟或者光盘等。在某些司法管辖区，根据立法和专利实践，计算机可读介质不可以是电载波信号和电信信号。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述或记载的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。

在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/网络设备和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置/网络设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

以上所述实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围，均应包含在本申请的保护范围之内。