技术总结
本发明公开一种基于FPGA和V93000测试机的预测试平台，属于芯片测试领域，包括FPGA和V93000测试机，所述V93000测试机通过MS DPS板卡与所述FPGA的电源模块连接，为所述FPGA及外围电路供电，所述V93000测试机通过Pogo block模组与所述FPGA的IO模块进行通道直连；所述预测试平台还包括BPI FLASH模块、NorFLASH模块、时钟模块和SCI模块；其中，所述BPI FLASH模块与所述FPGA直连，用于存储SoC芯片的网表文件；所述NorFLASH模块通过电压转换后与所述FPGA进行连接，用于存储SoC芯片程序运行文件；所述FPGA通过SPI端口对所述时钟模块进行配置；所述SCI模块实现所述FPGA对串口读写的控制，与其他外设互联进行数据传输。其他外设互联进行数据传输。其他外设互联进行数据传输。
技术研发人员：陶知 侯庆庆 李文学 桂江华 邵健
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第五十八研究所
技术研发日：2020.10.30
技术公布日：2021/1/29