技术总结
本发明公开了一种基于层次状态机的AXI总线性能分析方法，步骤如下：步骤1、分析总线占用：分析AXI总线上存在传输数，分别得到总线占用信号、读通道占用信号及写通道占用信号；步骤2、设置层次状态机：通过读通道与写通道占用情况设置层次状态机，包括一个父层状态机和两个子层状态机；步骤3、分析总线性能：父层状态机进行AXI总线全局性能分析，子层状态机进行AXI读写通道实时性能分析。本发明还公开了一种基于层次状态机的AXI总线性能分析装置，包括：总线占用分析模块；层次状态机设置模块；总线性能分析模块。本发明能够准确找到性能瓶颈，提高分析效率，大幅缩短芯片设计周期，可以广泛应用于芯片技术领域。广泛应用于芯片技术领域。广泛应用于芯片技术领域。
技术研发人员：黄怡康 呙涛 秦信刚 高齐
受保护的技术使用者：中国船舶重工集团公司第七0九研究所
技术研发日：2020.11.27
技术公布日：2021/3/29