一种触控显示面板及其检测方法、触控显示装置与流程

1.本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种触控显示面板及其检测方法、触控显示装置。


背景技术：

2.由于触控操作是一种简单、方便的人机交互方式，因此越来越多的产品将触控功能集成到显示装置中，触控显示装置应用而生。触控显示装置通常包括多个触控电极，在制程工艺中可能存在触控电极之间有金属残留的现象，从而导致触控不良、触控检测性能差的问题。


技术实现要素：

3.本发明实施例提供了一种触控显示面板及其检测方法、触控显示装置，可实现触控电极间金属残留的检测，从而改善触控不良、触控检测性能差的问题。
4.第一方面，本发明实施例提供了一种触控显示面板，包括显示区和非显示区；
5.所述显示区包括矩阵排布的多个触控电极；
6.所述非显示区包括触控多路选择电路；
7.多个所述触控电极包括多个触控电极列，所述触控电极列沿第一方向延伸，多个所述触控电极列沿第二方向排列，所述第一方向和所述第二方向相交，且均与所述触控显示面板的出光面平行；
8.所述触控电极列包括多个触控电极组，所述触控多路选择电路包括多个多路选择单元，所述触控电极组与所述多路选择单元一一对应；所述触控电极组包括n个触控电极，所述多路选择单元包括n个开关元件，n个所述开关元件的第一端相互电连接作为所述多路选择单元的触控信号输入端，所述开关元件的第二端作为所述多路选择单元的触控信号输出端与所述触控电极电连接，n≥2且n为整数；
9.沿所述第一方向，同一所述触控电极组中的任意两个触控电极间隔设置。
10.第二方面，本发明实施例提供了一种触控显示面板的检测方法，应用于第一方面所述的触控显示面板，所述触控显示面板包括驱动芯片；
11.多个所述触控电极包括多个触控电极行，所述触控电极行沿所述第二方向延伸，多个所述触控电极行沿所述第一方向排列；
12.所述触控显示面板的检测阶段包括短路检测阶段，所述短路检测包括第一子检测阶段和第二检测阶段；
13.所述检测方法包括：
14.在所述第一检测阶段，向奇数列或者偶数列所述触控电极列传输短路检测信号，并根据所述偶数列或者所述奇数列上触控电极上的检测信号判断相邻两列触控电极列之间是否短路；
15.在所述第二检测阶段，向奇数行或者偶数行所述触控电极行传输短路检测信号，
并根据所述偶数行或者所述奇数行触控电极上的检测信号判断相邻两行触控电极行之间是否短路。
16.第三方面，本发明实施例还提供了一种触控显示装置，包括第一方面所述的触控显示面板
17.本发明实施例提供的触控显示面板，显示区包括矩阵排布的多个触控电极，多个触控电极包括多个触控电极列，每个触控电极列包括多个触控电极组，非显示区包括触控多路选择电路，触控多路选择电路包括多个多路选择单元，触控电极组和多路选择单元一一对应，同时每个触控电极组包括n个触控电极，每个多路选择单元包括n个开关元件，n个开关元件的第一端相互电连接作为该多路选择单元的触控信号输入端，n个开关元件的第二端与n个触控电极一一对应电连接作为该多路选择选择单元的触控信号输出端，可实现触控显示面板的分时驱动，减小了信号引脚的数量；另外，沿触控电极列延伸的第一方向，通过设置同一触控电极组内的任意两个触控电极间隔设置，可实现触控电极间金属残留的检测，从而改善触控不良、触控检测性能差的问题。
附图说明
18.图1是现有技术中一种触控显示面板的结构示意图；
19.图2是现有技术中一种触控显示面板的时序图；
20.图3是本发明实施例提供的一种触控显示面板的结构示意图；
21.图4是本发明实施例提供的另一种触控显示面板的结构示意图；
22.图5是图3提供的触控显示面板在第一检测阶段的一种短路检测示意图；
23.图6是图3提供的触控显示面板在第一检测阶段的另一种短路检测示意图；
24.图7是图3提供的触控显示面板在第二检测阶段的一种短路检测示意图；
25.图8是图3和图4提供的触控显示面板的一种时序图；
26.图9是本发明实施例提供的又一种触控显示面板的结构示意图；
27.图10是本发明实施例提供的再一种触控显示面板的结构示意图；
28.图11是本发明实施例提供的一种触控显示面板的部分膜层结构示意图；
29.图12是本发明实施例提供的一种触控显示面板的检测方法的流程图；
30.图13是本发明实施例提供的一种触控显示装置的结构示意图。
具体实施方式
31.下为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下将结合本发明实施例中的附图，通过具体实施方式，完整地描述本发明的技术方案。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下获得的所有其他实施例，均落入本发明的保护范围之内。
32.图1是现有技术中一种触控显示面板的结构示意图，图2是现有技术中一种触控显示面板的时序图。参考图1，现有的触控显示面板1’包括驱动芯片300’和矩阵排布的多个触控电极10’，以及与多个触控电极10’一一对应电连接的多个开关元件20’，多个开关元件20’均与驱动芯片300’电连接。在触控显示面板的制备过程中，难免会出现触控电极之间金属残留，触控电极之间的金属残留通常会导致触控不良，使得触控显示面板的触控检测性
能较差，影响用户体验感。示例性的，如图1所示，触控电极i与触控电极i+1之间存在金属残留p1，与触控电极i+4之间存在金属残留p2，与触控电极i+5之间存在金属残留p3。因此，在触控显示面板制备完成后，需要对其进行检测，即检测触控电极之间是否存在金属残留。示例性的，参考图1和图2，在t1’阶段，时钟控制信号tpswa’输出高电平，时钟控制信号tpswb’输出低电平，接收时钟控制信号tpswa’的开关元件20’导通，驱动芯片300’通过开关元件20’将检测信号发送至奇数行中的部分触控电极10’，并根据奇数行中其他部分的触控电极10’反馈的电流信号判断奇数行中的触控电极10’之间是否存在金属残留，例如将检测信号发送至奇数行中偶数列的触控电极10’，并根据奇数行中奇数列的触控电极10’反馈的电流信号判断奇数行中的触控电极10’之间是否存在金属残留；在t2’阶段，时钟控制信号tpswa’输出低电平，时钟控制信号tpswb’输出高电平时，接收时钟控制信号tpswb’的开关元件20’导通，驱动芯片300’通过开关元件20’将检测信号发送至偶数行中的部分触控电极10’，并根据偶数行中其他部分的触控电极10’反馈的电流信号判断偶数行中的触控电极10’之间是否存在金属残留，例如将检测信号发送至偶数行中偶数列的触控电极10’，并根据偶数行中奇数列的触控电极10’反馈的电流信号判断偶数行中的触控电极10’之间是否存在金属残留。通过现有的技术中，可以检测出触控电极i与触控电极i+4之间存在的金属残留p2，但却无法检测出触控电极i与触控电极i+1之间存在的金属残留p1，以及触控电极i与触控电极i+5之间存在的金属残留p3，也就是说，现有技术中，可以检测同一行中的触控电极10’之间是否存在金属残留，却无法检测不同行的触控电极10’之间是否存在金属残留。
33.针对上述技术问题，本发明实施例提供的触控显示面板，包括显示区和非显示区；所述显示区包括矩阵排布的多个触控电极；所述非显示区包括触控多路选择电路；多个所述触控电极包括多个触控电极列，所述触控电极列沿第一方向延伸，多个所述触控电极列沿第二方向排列，所述第一方向和所述第二方向相交，且均与所述触控显示面板的出光面平行；所述触控电极列包括多个触控电极组，所述触控多路选择电路包括多个多路选择单元，所述触控电极组与所述多路选择单元一一对应；所述触控电极组包括n个触控电极，所述多路选择单元包括n个开关元件，n个所述开关元件的第一端相互电连接作为所述多路选择单元的触控信号输入端，所述开关元件的第二端作为所述多路选择单元的触控信号输出端与所述触控电极电连接，n≥2且n为整数；沿所述第一方向，同一所述触控电极组中的任意两个触控电极间隔设置。
34.本发明实施例中，显示区包括矩阵排布的多个触控电极，多个触控电极包括多个触控电极列，每个触控电极列包括多个触控电极组，非显示区包括触控多路选择电路，触控多路选择电路包括多个多路选择单元，触控电极组和多路选择单元一一对应，同时每个触控电极组包括n个触控电极，每个多路选择单元包括n个开关元件，n个开关元件的第一端相互电连接作为该多路选择单元的触控信号输入端，n个开关元件的第二端与n个触控电极一一对应电连接作为该多路选择选择单元的触控信号输出端，可实现触控显示面板的分时驱动，减小了信号引脚的数量；另外，沿触控电极列延伸的第一方向，通过设置同一触控电极组内的任意两个触控电极间隔设置，可实现触控电极间金属残留的检测，从而改善触控不良、触控检测性能差的问题。
35.以上是本发明的核心思想，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例
中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
36.图3是本发明实施例提供的一种触控显示面板的结构示意图，图4是本发明实施例提供的另一种触控显示面板的结构示意图。参考图3和图4，该触控显示面板1包括显示区aa和非显示区bb；显示区aa包括矩阵排布的多个触控电极10；非显示区bb包括触控多路选择电路200；多个触控电极10包括多个触控电极列100，触控电极列100沿第一方向x延伸，多个触控电极列100沿第二方向y排列，第一方向x和第二方向y相交，且均与触控显示面板1的出光面平行；触控电极列100包括多个触控电极组110，触控多路选择电路200包括多个多路选择单元210，触控电极组110与多路选择单元210一一对应；触控电极组110包括n个触控电极10，多路选择单元210包括n个开关元件20，n个开关元件20的第一端相互电连接作为多路选择单元210的触控信号输入端，开关元件20的第二端作为多路选择单元210的触控信号输出端与触控电极10电连接，n≥2且n为整数；沿第一方向x，同一触控电极组110中的任意两个触控电极10间隔设置。
37.其中，本发明实施例中触控显示面板1中的触控电极10可以为自容式触控电极，则其工作过程如下：每一个触控电极10对应于一个确定的坐标位置，并且这些触控电极10分别与地构成电容，当手指触摸该触控显示面板1时，手指的电容将会叠加到其触摸的触控电极10上，使其所触摸的触控电极10的对地电容发生变化，由于各触控电极10的信号的变化反应触控电极对地电容的变化，因此，通过检测触控电极10反馈的触控检测信号，即可确定具体哪个触控电极的信号发生了变化，再根据信号发生变化的触控电极对应的坐标值即可确定手指的触控位置。
38.其中，开关单元20例如可以包括晶体管或mos管等可以实现截止和导通功能的器件。
39.其中，沿第一方向x，同一触控电极组110中的任意两个触控电极10间隔设置。现有技术中，如图1所示，同一触控电极组110’中的触控电极10’是相邻设置的，如此，在时钟控制信号tpswa’为高电平，时钟控制信号tpswb’为低电平时，可以检测奇数行中的相邻触控电极10’之间是否存在金属残留；在时钟控制信号tpswa’为低电平，时钟控制信号tpswb’为高电平时，可以检测偶数行中的相邻触控电极10’之间是否存在金属残留；但奇数行的触控电极10’与偶数行的触控电极10’之间的金属残留却无法检测。然而，在本发明实施例中，对比图1和图3，通过调整现有技术中开关元件20’的第二端与触控电极10’之间的连接关系，或对比图1和图4，通过调整现有技术中开关元件20’的第一端与驱动芯片300’的连接关系，可以实现沿第一方向x，同一触控电极组110中的任意两个触控电极10间隔设置，进而实现触控电极间金属残留的检测、改善触控不良和触控检测性能差的问题。
40.示例性的，如图3和图4所示，第一触控电极组111内的触控电极10与第二触控电极组112内的触控电极10交叉设置，如此，在第一时钟控制信号tpswa为高电平，第二时钟控制信号tpswb为低电平时，可以检测第1+4k行和第2+4k行中的相邻触控电极10之间是否存在金属残留，k≥0，k为整数；在第一时钟控制信号tpswa为低电平，第二时钟控制信号tpswb为高电平时，可以检测第3+4k行和第4+4k行中的相邻触控电极10之间是否存在金属残留，k≥0，k为整数；在第一时钟控制信号tpswa和第二时钟控制信号tpswb均为高电平时，可以检测第2k+1行和第2k+2行之间的相邻触控电极10之间是否存在金属残留，k≥0，k为整数，也就
是说，可以检测整个触控显示面板1的不同行之间的触控电极10之间的金属残留；另外，可以理解的是，采用本发明实施例的技术方案，沿第一方向x和第二方向y的对角线方向，不同行之间的触控电极10之间的金属残留也可以检测。
41.需要说明的是，本发明实施例对触控电极10的数量不做限定，也对触控电极列100的数量、触控电极列100内的触控电极组110的数量以及触控电极组110内的触控电极10的数量不做限定，图3和图4仅以触控显示面板1包括6个触控电极列100，每个触控电极列100包括两个触控电极组110，即第一触控电极组111和第二触控电极组112，每个触控电极组110包括两个触控电极10，即第一触控电极11和第二触控电极12为例进行说明。继续参考图3和图4，相应的，触控多路选择电路200可以包括12个多路选择单元210，每个多路选择单元210包括两个开关元件20，即第一开关元件21和第二开关元件22。进一步的，每个多路选择单元210内的两个开关元件20的第一端相互电连接且与驱动芯片300电连接，两个开关元件20的第一端作为该多路选择单元210的触控信号输入端，用于接收驱动芯片300的触控信号；每个多路选择单元210的两个开关元件20的第二端，与对应的触控电极组110的两个触控电极10一一对应电连接，作为该多路选择单元210的触控信号输出端，用于在各自导通的状态下将驱动芯片300的触控信号传输至对应的触控电极10；每个多路选择单元210的两个开关元件20的控制端分别接收第一时钟控制信号tpswa和第二时钟控制信号tpswb，并根据对应的时钟控制信号控制各自开关元件的导通或关闭。
42.本发明实施例提供的技术方案，在实现触控显示面板的分时驱动，减小信号引脚的数量的同时，还可实现触控电极间金属残留的检测，从而改善触控不良、触控检测性能差的问题。
43.可选的，继续参考图3和图4，该触控显示面板1还可以包括驱动芯片300；多个触控电极10可以包括多个触控电极行l0，触控电极行l0沿第二方向y延伸，多个触控电极行l0沿第一方向x排列；触控显示面板1的检测阶段可以包括短路检测阶段，短路检测阶段可以包括第一检测阶段t1和第二检测阶段t2；在第一检测阶段t1，驱动芯片300用于向奇数列或者偶数列触控电极列100传输短路检测信号，并根据偶数列或者奇数列上触控电极10上的检测信号判断相邻两列触控电极列100之间是否短路；在第二检测阶段t2，驱动芯片300用于向奇数行或者偶数行触控电极行l0传输短路检测信号，并根据偶数行或者奇数行上触控电极10上的检测信号判断相邻两行触控电极行l0之间是否短路。
44.其中，在第一检测阶段t1，驱动芯片300用于向奇数列或者偶数列触控电极列100传输短路检测信号，并根据偶数列或者奇数列上触控电极10上的检测信号判断相邻两列触控电极列100之间是否短路。示例性的，图5是图3提供的触控显示面板在第一检测阶段的一种短路检测示意图。如图5所示，在第一检测阶段t1，当第一时钟控制信号tpswa为高电平，第二时钟控制信号tpswb为低电平时，与第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中的触控电极10电连接的开关元件20导通，驱动芯片300向第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中奇数列的触控电极10发送短路检测信号，并根据1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中偶数列上的触控电极10上的检测信号判断相邻列之间触控电极10之间是否存在短路电流，即是否存在金属残留；另外，驱动芯片300还可以向第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中偶数列的触控电极10发送短路检测信号，并根据1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中奇数列上的触控电极10上的检测信号判断相邻列之间触控电极
10之间是否存在短路电流，即是否存在金属残留；其中k≥0，k为整数。图6是图3提供的触控显示面板在第一检测阶段的另一种短路检测示意图。如图6所示，在第一检测阶段t1，当第一时钟控制信号tpswa为低电平，第二时钟控制信号tpswb为高电平时，与第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中的相邻触控电极10电连接的开关元件20导通，驱动芯片300向第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中奇数列的触控电极10发送短路检测信号，并根据第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中偶数列上的触控电极10上的检测信号判断相邻列之间触控电极10之间是否存在短路电流，即是否存在金属残留；另外，驱动芯片300还可以向第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中偶数列的触控电极10发送短路检测信号，并根据第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中奇数列上的触控电极10上的检测信号判断相邻列之间触控电极10之间是否存在短路电流，即是否存在金属残留；其中k≥0，k为整数。
45.其中，在第二检测阶段t2，驱动芯片300用于向奇数行或者偶数行触控电极行l0传输短路检测信号，并根据偶数行或者奇数行上触控电极10上的检测信号判断相邻两行触控电极行l0之间是否短路。示例性的，图7是图3提供的触控显示面板在第二检测阶段的一种短路检测示意图。如图7所示，在第二检测阶段t2，第一时钟控制信号tpswa和第二时钟控制信号tpswb均为高电平，所有的开关元件20均导通，驱动芯片300可以向奇数行(第2k+1行)的触控电极10发送短路检测信号，并根据偶数行(第2k+2行)上的触控电极10上的检测信号判断相邻行之间的触控电极10是否存在短路电流，即是否存在金属残留；另外，驱动芯片300还可以向偶数行(第2k+2行)的触控电极10发送短路检测信号，并根据奇数行(第2k+1行)上的触控电极10上的检测信号判断相邻行之间的触控电极10是否存在短路电流，即是否存在金属残留；其中，k≥0，k为整数。
46.可选的，继续参考图3和图4，触控显示面板1还可以包括多条触控信号源线310和n条时钟控制信号线40；触控信号源线310与多路选择单元210一一对应，且分别与触控信号输入端和驱动芯片300电连接；第n条时钟控制信号线40与多路选择单元210中的第n个开关元件20的控制端电连接；1≤n≤n，且n为整数；第一检测阶段t1可以包括n个子阶段；在第n子阶段，第n条时钟控制信号线310用于向多路选择单元210中的第n个开关元件20的控制端传输使能信号；驱动芯片300用于向与第n个开关元件20的第二端连接的多个触控电极行l0中的奇数个或者偶数个触控电极10传输短路检测信号，并根据该多个触控电极行l0中的偶数个或者奇数个触控电极10上的检测信号判断该多个触控电极行l0中相邻两个触控电极10之间是否短路；在第二检测阶段t2，n条时钟控制信号线均用于向多路选择单元210中与其连接的开关元件20传输使能信号；驱动芯片300用于向奇数行或者偶数行触控电极行l0传输短路检测信号，并根据偶数行或者奇数行上触控电极10上的检测信号判断相邻两行触控电极行l0之间是否短路。
47.具体的，触控信号源线310的第一端与驱动芯片300电连接，触控信号源线310的第二端与多路选择单元210中n个开关元件20的第一端电连接；触控信号源线310用于将驱动芯片300的短路检测信号传输至对应的开关元件20。每个多路选择单元210中的n个开关元件20的控制端与n条时钟控制信号线40一一对应电连接，每条时钟控制信号线40用于将对应的时钟控制信号，即使能信号传输至对应的开关元件20，以控制对应开关元件20的导通或关闭。
48.其中，第一检测阶段t1可以包括n个子阶段，也就是说，每个触控电极组110内的n个触控电极10、每个多路选择单元210内的n个开关元件20的数量、n条时钟控制信号线40以及n个子阶段是一一对应的，即在第n个子阶段，第n条时钟控制信号线40将使能信号传输至每个多路选择单元210内的第n个开关元件20的控制端，以使对应的开关元件20导通，驱动芯片300将短路检测信号通过触控信号源线310传输至每个多路选择单元210的第n个开关元件20的第一端，并由第n个开关元件20的第二端传输至每个触控电极组110内的第n个触控电极10，进而可以根据触控电极10上的检测信号判断相邻触控电极10之间是否存在短路电流，即判断是否存在金属残留。示例性的，图8是图3和图4提供的触控显示面板的一种时序图。如图8所示，第一检测阶段t1可以包括两个子阶段，第一子阶段t1和第二子阶段t2。第一子阶段t1表示第一条时钟控制信号线41将使能信号tpswa传输至每个多路选择单元210内的第一个开关元件21的控制端，以使对应的开关元件21导通；驱动芯片300将短路检测信号通过触控信号源线310传输至多路选择单元210的第一个开关元件21的第一端，并由第一个开关元件21的第二端传输至每个触控电极组110内的第一个触控电极11，具体的，可以传输至第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中的奇数个触控电极10，进而根据同一触控电极行l0内的偶数个触控电极10上的检测信号就可判断相邻两个触控电极10之间是否存在短路，是否存在金属残留；还可以理解的是，还可以传输至第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中的偶数个触控电极10，进而根据同一触控电极行l0内的奇数个触控电极10上的检测信号就可判断相邻两个触控电极10之间是否存在短路，是否存在金属残留；其中，k≥0，k为整数。第二子阶段t2表示第二条时钟控制信号线42将使能信号tpswb传输至每个多路选择单元210内的第二个开关元件22的控制端，以使对应的开关元件22导通；驱动芯片300将短路检测信号通过触控信号源线310传输至多路选择单元210的第二个开关元件22的第一端，并由第二个开关元件22的第二端传输至每个触控电极组110内的第二个触控电极12，具体的，可以传输至第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中的奇数个触控电极10，进而根据同一触控电极行l0内的偶数个触控电极10上的检测信号就可判断相邻两个触控电极10之间是否存在短路，是否存在金属残留；可以理解的是，还可以传输至第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中的偶数个触控电极10，进而根据同一触控电极行l0内的奇数个触控电极10上的检测信号就可判断相邻两个触控电极10之间是否存在短路，是否存在金属残留；其中，k≥0，k为整数。在第二检测阶段t2，所有时钟控制信号线40均将使能信号tpswa和tpswb传输至每个多路选择单元210内的第一开关元件21的控制端和第二开关元件22的控制端，以使所有的开关元件20均导通；驱动芯片300将短路检测信号通过触控信号源线310传输至多路选择单元210的所有开关元件20的第一端，并由每个开关元件20的第二端传输至所有触控电极行l0中的触控电极10，具体的，可以向奇数行(第2k+1行)触控电极行l0发送短路检测信号，则可以根据偶数行(第2k+2行)触控电极行l0上的触控电极10的检测信号判断相邻两个触控电极行l0之间是否有短路电流，即是否存在金属残留；还可以偶数行(第2k+2行)触控电极行l0发送短路检测信号，则可以根据奇数行(第2k+1行)触控电极行l0上的触控电极10的检测信号判断相邻两个触控电极行l0之间是否有短路电流，即是否存在金属残留；其中，k≥0，k为整数。
49.可选的，继续参考图3和图4，触控电极列100可以包括m个触控电极组110，触控电极组110可以包括第一触控电极11和第二触控电极12，m≥2且m为整数；沿第一方向x，第i触
控电极组110中的第一触控电极11与第i+1触控电极组110中的第一触控电极11相邻设置，第m触控电极组110中的第一触控电极11与第一触控电极组110中的第二触控电极12相邻设置，第j触控电极组110中的第二触控电极12与第j+1触控电极组110中的第二触控电极12相邻设置；其中，1≤i≤m
‑
1，1≤j≤m
‑
1。
50.示例性的，如图3和图4所示，每个触控电极列100可以包括两个触控电极组110，即第一触控电极组111和第二触控电极组112，每个触控电极组110可以包括两个触控电极10，即第一触控电极11和第二触控电极12，沿第一方向x，同一触控电极组110中的任意两个触控电极10间隔设置，具体可以是，沿第一方向x，第一触控电极组111中的第一触控电极11与第二触控电极组112中的第一触控电极11相邻设置，第二触控电极组112中的第一触控电极11与第一触控电极组111中的第二触控电极12相邻设置，第一触控电极组111中的第二触控电极12与第二触控电极组112中的第二触控电极12相邻设置。本发明实施例对每个触控电极列100内的触控电极组110的数量不做限定。
51.可选的，继续参考图3，该触控显示面板1还可以包括多条触控信号线50，触控信号线50分别与触控信号输出端和触控电极10电连接；触控多路选择电路200可以包括m个多路选择单元210；触控信号线50可以包括m个触控信号线组510；沿第二方向y，多个多路选择单元210依次设置；多个触控信号线组510依次设置。
52.具体的，该触控线显示面板1在各个开关元件20的第二端与对应的触控电极10之间可以通过触控信号线50进行电连接，触控信号线50用于将短路检测信号传输至对应的触控电极10。
53.具体的，为实现触控电极间金属残留的检测，改善触控不良和触控检测性能差的问题，可以设置沿第一方向x，同一触控电极组110中的任意两个触控电极10间隔设置，可以如图3所示，调整开关元件20的第二端与触控电极10之间的连接关系，示例性的，沿第二方向y，将多个触控信号线50分为多个依次设置的触控信号线组510，对应的，多个多路选择单元210也沿第二方向y依次设置。参见图3，该触控显示面板1包括6个触控电极列100，每个触控电极列100包括两个触控电极组110，一共是12个触控电极组110，每个触控电极组110包括两个触控电极10，一共是24个触控电极10，对应的，包括24条触控信号线50，沿第二方向y，分为12个触控信号线组510，另外，沿第二方向y，触控多路选择电路200分为12个多路选择单元210，如此，可以实现沿第一方向x，第一触控电极组111中的第一触控电极11与第二触控电极组112中的第一触控电极11相邻设置，第二触控电极组112中的第一触控电极11与第一触控电极组111中的第二触控电极12相邻设置，第一触控电极组111中的第二触控电极12与第二触控电极组112中的第二触控电极12相邻设置，即沿第一方向x，同一触控电极组110中的任意两个触控电极10间隔设置，进而实现触控电极间金属残留的检测，改善触控不良和触控检测性能差的问题。
54.可选的，继续参考图4，触控多路选择电路200可以包括m个多路选择单元210，多路选择单元210可以包括第一开关元件21和第二开关元件22，第一开关元件21可以包括第一触控信号输出端，第二开关元件22可以包括第二触控信号输出端；触控显示面板1还可以包括多条触控信号线50，触控信号线50可以包括m个触控信号线组510，触控信号线组510可以包括第一触控信号线51和第二触控信号线51；第一触控信号线51分别与第一触控信号输出端和第一触控电极11电连接，第二触控信号线52分别与第二触控信号输出端和第二触控电
极12电连接；沿第二方向y，第m个多路选择单元210中的第一开关元件21与第m+1个多路选择单元210中的第一开关元件21相邻设置，第m个多路选择单元210中的第一开关元件21与第一多路选择单元210中的第二开关元件22相邻设置，第q个多路选择单元210中的第二开关元件22与第q+1个多路选择单元210中的第二开关元件22相邻设置；其中，1≤m≤m
‑
1，1≤q≤m
‑
1；沿第二方向y，第w个触控信号线组510中的第一触控信号线51与第w+1触控信号线组510中的第一触控信号线51相邻设置，第m个触控信号线组510中的第一触控信号线51与第一触控信号线组510中的第二触控信号线52相邻设置，第z触控信号线组510中的第二触控信号线52与第z+1触控信号线组510中的第二触控信号线52相邻设置；其中，1≤w≤m
‑
1，1≤z≤m
‑
1。
55.具体的，该触控线显示面板1在各个开关元件20的第二端与对应的触控电极10之间可以通过触控信号线50进行电连接，触控信号线50用于将短路检测信号传输至对应的触控电极10。示例性的，如图4所示，每个触控电极组110包括两个触控电极10，即第一触控电极11和第二触控电极12，对应的，每个多路选择单元210包括两个开关元件20，即第一开关元件21和第二开关元件22，相对应的，每个触控信号线组510包括两个触控信号线50，即第一触控信号线51和第二触控信号线52。第一开关元件21的第二端，即第一触控信号输出端，通过第一触控信号线51与第一触控电极11电连接；第二开关元件22的第二端，即第二触控信号输出端，通过第二触控信号线52与第二触控电极12电连接。
56.具体的，为实现触控电极间金属残留的检测，改善触控不良和触控检测性能差的问题，可以设置沿第一方向x，同一触控电极组110中的任意两个触控电极10间隔设置，还可以如图4所示，调整开关元件20的第一端与驱动芯片300的连接关系，示例性的，一方面，沿第二方向y，同一个多路选择单元210内的任意两个开关元件20间隔设置，具体的，第一个多路选择单元210中的第一开关元件21与第二个多路选择单元210中的第一开关元件21相邻设置，第二个多路选择单元210中的第一开关元件21与第一个多路选择单元210中的第二开关元件22相邻设置，第一个多路选择单元210中的第二开关元件22与第二个多路选择单元210中的第二开关元件22相邻设置；另一方面，沿第二方向，同一触控信号线组510内的任意两个触控信号线51间隔设置，具体的，第一个触控信号线组510中的第一触控信号线51与第二触控信号线组510中的第一触控信号线51相邻设置，第二个触控信号线组510中的第一触控信号线51与第一触控信号线组510中的第二触控信号线52相邻设置，第一个触控信号线组510中的第二触控信号线52与第二触控信号线组510中的第二触控信号线52相邻设置，如此，可以实现沿第一方向x，第一触控电极组111中的第一触控电极11与第二触控电极组112中的第一触控电极11相邻设置，第二触控电极组112中的第一触控电极11与第一触控电极组111中的第二触控电极12相邻设置，第一触控电极组111中的第二触控电极12与第二触控电极组112中的第二触控电极12相邻设置，即沿第一方向x，同一触控电极组110中的任意两个触控电极10间隔设置，进而实现触控电极间金属残留的检测，改善触控不良和触控检测性能差的问题。
57.需要说明的是，本发明实施例对触控电极10的数量不做限定，也对触控电极列100的数量、触控电极列100内的触控电极组110的数量以及触控电极组110内的触控电极10的数量不做限定。图9是本发明实施例提供的又一种触控显示面板的结构示意图，图10是本发明实施例提供的再一种触控显示面板的结构示意图，如图9和图10所示，触控显示面板1包
括三个触控电极列100，每个触控电极列100包括两个触控电极组110，即第一触控电极组111和第二触控电极组112，每个触控电极组110包括三个触控电极10，即第一触控电极11、第二触控电极12和第三触控电极13。图9和图10提供的触控显示面板具有上述实施例中相应的有益效果，此处不再赘述。
58.可选的，该触控显示面板1还可以包括驱动芯片300；多个触控电极10可以包括多个触控电极行l0，触控电极行l0沿第二方向y延伸，多个触控电极行l0沿第一方向x排列；触控显示面板1的检测阶段可以包括触控检测阶段；在触控检测阶段，驱动芯片300用于通过触控多路选择电路200分时向触控电极10提供触控扫描信号，并根据触控电极10反馈的触控检测信号确定触控位置。
59.示例性的，如图3和图4所示，在触控检测阶段，在第一触控检测阶段内，在第一时钟控制信号tpswa为高电平，第二时钟控制信号tpswb为低电平时，每个多路选择单元210中的第一开关元件21导通，驱动芯片300可以将触控扫描信号传输至每个触控电极组110中的第一触控电极11，即第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中的触控电极10可以接收到触控扫描信号，若此时第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0的触控电极10被触摸到，相应的触控电极10就可以反馈触控检测信号至驱动芯片300，驱动芯片300经过运算就可以确定触控位置；在第二触控检测阶段内，在第一时钟控制信号tpswa为低电平，第二时钟控制信号tpswb为高电平时，每个多路选择单元210中的第二开关元件22导通，驱动芯片300可以将触控扫描信号传输至每个触控电极组110中的第二触控电极12，即第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中的触控电极10可以接收到触控扫描信号，若此时第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0的触控电极10被触摸到，相应的触控电极10就可以反馈触控检测信号至驱动芯片300，驱动芯片300经过运算就可以确定触控位置；其中，k≥0，k为整数。
60.上述实施例中的触控显示面板1可以为液晶显示面板，也可以为有机发光显示面板。而为了降低成本和简化工艺，本发明实施例中将触控显示面板1中的结构复用为触控电极，例如，当触控显示面板为液晶显示面板时，将液晶显示面板的公共电极复用为触控电极；当触控显示面板为有机发光显示面板时，将有机发光显示面板的阴极复用为触控电极；同时，把触控芯片与显示芯片整合进同一芯片中，在显示驱动阶段和触控检测阶段，芯片分时给公共电极(或阴极)提供公共(阴极)电压信号和触控扫描信号。图11是本发明实施例提供的一种触控显示面板的部分膜层结构示意图。可选的，参考图11，该触控显示面板1还可以包括像素电极62和公共电极61；触控电极10复用为公共电极61。
61.如图11所示，触控显示面板100包括液晶触控显示面板，此液晶触控显示面板包括阵列基板60、彩膜基板70以及设置在阵列基板60和彩膜基板70之间的液晶层80；阵列基板60包括第一金属层m1、第二金属层m2、第三金属层m3和设置在金属层之间的绝缘层，阵列基板60包括多个薄膜晶体管90；第一金属层m1包括薄膜晶体管90的栅极91和扫描线等(图中未示出)；第二金属层m2包括薄膜晶体管90的源极92、漏极93和数据线等(图中未示出)；第三金属层m3包括触控走线50；阵列基板60还包括公共电极块61以及像素电极62，公共电极块61与触控走线50电连接；其中，公共电极61复用为触控电极10。
62.当触控电极10复用为公共电极61时，该触控显示面板1可以分为显示驱动阶段和触控检测阶段。在显示驱动阶段，驱动芯片300向公共电极61，即触控电极10提供公共电压
信号，对显示区aa内的子像素进行显示驱动。在触控检测阶段，驱动芯片300分时向触控电极10，即公共电极61提供触控扫描信号，并根据公共电极61反馈的触控检测信号确定触控位置。
63.本发明实施例中，将公共电极(阴极)复用为触控电极，同时把触控芯片与显示芯片整合进同一芯片中，在显示驱动阶段和触控驱动阶段，芯片分时给公共电极(或阴极)提供公共(阴极)电压信号和触控扫描信号，降低了显示面板的成本。
64.基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种触控显示面板的检测方法，应用于上述任一实施例所述的触控显示面板，该触控显示面板包括驱动芯片；多个触控电极包括多个触控电极行，触控电极行沿第二方向延伸，多个触控电极行沿第一方向排列；触控显示面板的检测阶段包括短路检测阶段，短路检测包括第一子检测阶段和第二检测阶段。图12是本发明实施例提供的一种触控显示面板的检测方法的流程图。如图12所示，该触控显示面板的检测方法包括：
65.s110、在第一检测阶段，向奇数列或者偶数列触控电极列传输短路检测信号，并根据偶数列或者奇数列上触控电极上的检测信号判断相邻两列触控电极列之间是否短路。
66.示例性的，参见图3和图5，在第一检测阶段t1，当第一时钟控制信号tpswa为高电平，第二时钟控制信号tpswb为低电平时，与第1+4k行和第2+4k行中的触控电极10电连接的开关元件20导通，驱动芯片300向第1+4k行和第2+4k行中奇数列的触控电极10发送短路检测信号，并根据1+4k行和第2+4k行中偶数列上的触控电极10上的检测信号判断相邻列之间触控电极10之间是否存在短路电流，即是否存在金属残留；另外，驱动芯片300还可以向第1+4k行和第2+4k行中偶数列的触控电极10发送短路检测信号，并根据1+4k行和第2+4k行中奇数列上的触控电极10上的检测信号判断相邻列之间触控电极10之间是否存在短路电流，即是否存在金属残留；其中k≥0，k为整数。参见图3和图6，在第一检测阶段t1，当第一时钟控制信号tpswa为低电平，第二时钟控制信号tpswb为高电平时，与第3+4k行和第4+4k行中的相邻触控电极10电连接的开关元件20导通，驱动芯片300向第3+4k行和第4+4k行中奇数列的触控电极10发送短路检测信号，并根据第3+4k行和第4+4k行中偶数列上的触控电极10上的检测信号判断相邻列之间触控电极10之间是否存在短路电流，即是否存在金属残留；另外，驱动芯片300还可以向第3+4k行和第4+4k行中偶数列的触控电极10发送短路检测信号，并根据第3+4k行和第4+4k行中奇数列上的触控电极10上的检测信号判断相邻列之间触控电极10之间是否存在短路电流，即是否存在金属残留；其中k≥0，k为整数。
67.s120、在第二检测阶段，向奇数行或者偶数行触控电极行传输短路检测信号，并根据偶数行或者奇数行触控电极上的检测信号判断相邻两行触控电极行之间是否短路。
68.示例性的，参见图3和图7，在第二检测阶段t2，第一时钟控制信号tpswa和第二时钟控制信号tpswb均为高电平，所有的开关元件20均导通，驱动芯片300可以向奇数行(第2k+1行)的触控电极10发送短路检测信号，并根据偶数行(第2k+2行)上的触控电极10上的检测信号判断相邻行之间的触控电极10是否存在短路电流，即是否存在金属残留；另外，驱动芯片300还可以向偶数行(第2k+2行)的触控电极10发送短路检测信号，并根据奇数行(第2k+1行)上的触控电极10上的检测信号判断相邻行之间的触控电极10是否存在短路电流，即是否存在金属残留；其中，k≥0，k为整数。
69.可选的，触控显示面板还可以包括多条触控信号源线和n条时钟控制信号线；触控
信号源线与多路选择单元一一对应，且分别与触控信号输入端和驱动芯片电连接；第n条时钟控制信号线与多路选择单元中的第n个开关元件的控制端电连接；1≤n≤n，且n为整数；第一检测阶段包括n个子阶段；上述步骤s110可以包括：在第n子阶段，控制第n条时钟控制信号线向多路选择单元中的第n个开关元件的控制端传输使能信号，并向与第n个开关元件的第二端连接的多个触控电极行中的奇数个或者偶数个触控电极传输短路检测信号，根据多个触控电极行中的偶数个或者所述奇数个触控电极上的检测信号判断多个触控电极行中相邻两个触控电极之间是否短路；上述步骤s120可以包括：在第二检测阶段，控制n条时钟控制信号线分别向多路选择单元中与其连接的开关元件传输使能信号，并向奇数行或者偶数行触控电极行传输短路检测信号，根据偶数行或者奇数行触控电极上的检测信号判断相邻两行触控电极行之间是否短路。
70.示例性的，参考图3和图8，第一检测阶段t1可以包括两个子阶段，第一子阶段t1和第二子阶段t2。第一子阶段t1表示第一条时钟控制信号线41将使能信号传输至每个多路选择单元210内的第一个开关元件21的控制端，以使对应的开关元件21导通；驱动芯片300将短路检测信号通过触控信号源线310传输至多路选择单元210的第一个开关元件21的第一端，并由第一个开关元件21的第二端传输至每个触控电极组110内的第一个触控电极11，具体的，可以传输至第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中的奇数个触控电极10，进而根据同一触控电极行l0内的偶数个触控电极10上的检测信号就可判断相邻两个触控电极10之间是否存在短路，是否存在金属残留；还可以理解的是，还可以传输至第1+4k触控电极行l0和第2+4k触控电极行l0中的偶数个触控电极10，进而根据同一触控电极行l0内的奇数个触控电极10上的检测信号就可判断相邻两个触控电极10之间是否存在短路，是否存在金属残留。第二子阶段t2表示第二条时钟控制信号线42将使能信号传输至每个多路选择单元210内的第二个开关元件22的控制端，以使对应的开关元件22导通；驱动芯片300将短路检测信号通过触控信号源线310传输至多路选择单元210的第二个开关元件22的第一端，并由第二个开关元件22的第二端传输至每个触控电极组110内的第二个触控电极12，具体的，可以传输至第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中的奇数个触控电极10，进而根据同一触控电极行l0内的偶数个触控电极10上的检测信号就可判断相邻两个触控电极10之间是否存在短路，是否存在金属残留；可以理解的是，还可以传输至第3+4k触控电极行l0和第4+4k触控电极行l0中的偶数个触控电极10，进而根据同一触控电极行l0内的奇数个触控电极10上的检测信号就可判断相邻两个触控电极10之间是否存在短路，是否存在金属残留。在第二检测阶段t2，所有时钟控制信号线40均将使能信号传输至每个多路选择单元210内的第一开关元件21的控制端和第二开关元件22的控制端，以使所有的开关元件20均导通；驱动芯片300将短路检测信号通过触控信号源线310传输至多路选择单元210的所有开关元件20的第一端，并由每个开关元件20的第二端传输至所有触控电极行l0中的触控电极10，具体的，可以向奇数行(第2k+1行)触控电极行l0发送短路检测信号，则可以根据偶数行(第2k+2行)触控电极行l0上的触控电极10的检测信号判断相邻两个触控电极行l0之间是否有短路电流，即是否存在金属残留；还可以偶数行(第2k+2行)触控电极行l0发送短路检测信号，则可以根据奇数行(第2k+1行)触控电极行l0上的触控电极10的检测信号判断相邻两个触控电极行l0之间是否有短路电流，即是否存在金属残留；其中，k≥0，k为整数。
71.基于同样的发明构思，本发明实施例还提供了一种触控显示装置。图13是本发明
实施例提供的一种触控显示装置的结构示意图。如图13所示，该触控显示装置0包括上述任一实施例所述的触控显示面板1，因此，本发明实施例提供的触控显示装置0具备上述实施例中相应的有益效果，这里不再赘述。示例性的，该触控显示装置可以是手机、电脑、智能可穿戴设备(例如，智能手表)以及车载显示设备等电子设备，本发明实施例对此不作限定。
72.注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。