绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质与流程

1.本技术涉及三维测量的技术领域，尤其是涉及一种绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质。


背景技术：

2.绝缘子爬电距离是指正常施加运行电压的导电部分之间沿其表面的最短距离或最短距离之和。在不同的使用情况下，由于导体周围的绝缘材料被电极化，导致绝缘子呈现带电的现象。绝缘子爬电距离是否达标，深刻影响着操作人员的生命安全。
3.绝缘子表面光滑，由多段圆弧组成，爬电距离测量存在一定困难，目前绝缘子爬电距离主要通过人工手动进行测量，操作困难且效率低。因此，如何非接触式的对绝缘子爬电距离进行测量，成为了亟待解决的问题。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术的目的在于提供一种绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质，能够通过三维扫描设备获取绝缘子的扫描图像，利用预先训练好的图像提取模型提取附着在绝缘子上的标记物，计算标记物的长度，并将标记物的长度确定为爬电距离，实现了非接触式的绝缘子爬电距离测量，提高了爬电距离测量的效率以及准确性。
5.本技术主要包括以下几个方面：
6.第一方面，本技术实施例提供了一种绝缘子爬电距离的测量方法，所述测量方法包括：
7.获取待测量绝缘子的扫描图像；其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；
8.将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；
9.将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。
10.进一步的，所述图像提取模型包括下采样层、注意力提取层以及上采样层，所述下采样层、注意力提取层以及上采样层顺次连接；所述将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像的步骤，包括：
11.将所述扫描图像输入至下采样层经过编码过程进行图像缩小处理，获得缩小特征图像；
12.将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像；
13.将所述目标特征图像输入至上采样层经过解码过程进行图像放大处理，获得所述标记物图像。
14.进一步的，所述注意力提取层包括通道注意力提取层以及空间注意力提取层；所
述将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像的步骤，包括：
15.将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像；
16.将所述通道注意力图像输入至所述空间注意力提取层中，根据特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像。
17.进一步的，所述将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像的步骤，包括：
18.将所述缩小特征图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第一描述特征图像；
19.将所述两个第一描述特征图根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取得到两个特征图像；
20.将所述两个特征图像进行图像处理后，基于预设的激活函数确定第一权重系数；
21.基于所述第一权重系数以及所述缩小特征图像，获得通道注意力图像。
22.进一步的，所述将所述通道注意力图像输入至所述空间注意力提取层中，根据特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像的步骤，包括：
23.将所述通道注意力图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第二描述特征图像；
24.将所述两个第二描述特征图像根据特征信息在空间位置上的关系进行拼接后，经过卷积以及激活函数处理，确定第二权重系数；
25.基于所述第二权重系数以及所述通道注意力图像，获得目标特征图像。
26.进一步的，所述将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为爬电距离的步骤，包括：
27.将所述标记物图像通过预设方向的切割面进行切割，获取每相邻两个切割面之间的多段标记物点云数据；
28.针对于每一段标记物点云数据，将经过筛除后的该段标记物点云数据确定为标记物条带；
29.针对于每一段标记物条带，将所述该段标记物条带投影至所述切割面上，进行去噪、稀疏以及插值处理，确定所述该段标记物条带的长度；
30.将确定出的多段标记物条带的长度相加后获得所述标记物的长度，并将所述标记物的长度确定为爬电距离。
31.第二方面，本技术实施例还提供了一种绝缘子爬电距离的测量装置，所述测量装置包括：
32.获取模块，用于获取待测量绝缘子的扫描图像；其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；
33.处理模块，用于将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；
34.确定模块，用于将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标
记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。
35.进一步的，所述图像提取模型包括下采样层、注意力提取层以及上采样层，所述下采样层、注意力提取层以及上采样层顺次连接；所述处理模块在用于将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像时，所述处理模块具体用于：
36.将所述扫描图像输入至下采样层经过编码过程进行图像缩小处理，获得缩小特征图像；
37.将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像；
38.将所述目标特征图像输入至上采样层经过解码过程进行图像放大处理，获得所述标记物图像。
39.第三方面，本技术实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行如上述的绝缘子爬电距离的测量方法的步骤。
40.第四方面，本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器运行时执行如上述的绝缘子爬电距离的测量方法的步骤。
41.本技术实施例提供的一种绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质，所述测量方法包括：获取待测量绝缘子的扫描图像，其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。
42.这样，采用本技术提供的技术方案能够通过三维扫描设备获取绝缘子的扫描图像，利用预先训练好的图像提取模型提取附着在绝缘子上的标记物，计算标记物的长度，并将标记物的长度确定为爬电距离，实现了非接触式的绝缘子爬电距离测量，提高了爬电距离测量的效率以及准确性。
43.为使本技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
44.为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
45.图1示出了本技术实施例所提供的一种绝缘子爬电距离的测量方法的流程图；
46.图2示出了本技术实施例所提供的另一种绝缘子爬电距离的测量方法的流程图；
47.图3示出了本技术实施例所提供的一种绝缘子爬电距离的测量装置的结构示意图；
48.图4示出了本技术实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
49.为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，应当理解，本技术中的附图仅起到说明和描述的目的，并不用于限定本技术的保护范围。另外，应当理解，示意性的附图并未按实物比例绘制。本技术中使用的流程图示出了根据本技术的一些实施例实现的操作。应当理解，流程图的操作可以不按顺序实现，没有逻辑的上下文关系的步骤可以反转顺序或者同时实施。此外，本领域技术人员在本技术内容的指引下，可以向流程图添加一个或多个其他操作，也可以从流程图中移除一个或多个操作。
50.另外，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施例。基于本技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的全部其他实施例，都属于本技术保护的范围。
51.为了使得本领域技术人员能够使用本技术内容，结合特定应用场景“绝缘子爬电距离的测量”，给出以下实施方式，对于本领域技术人员来说，在不脱离本技术的精神和范围的情况下，可以将这里定义的一般原理应用于其他实施例和应用场景。
52.本技术实施例下述方法、装置、电子设备或计算机可读存储介质可以应用于任何需要进行测量绝缘子爬电距离的场景，本技术实施例并不对具体的应用场景作限制，任何使用本技术实施例提供的一种绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质的方案均在本技术保护范围内。
53.值得注意的是，绝缘子爬距是指正常施加运行电压的导电部分之间沿其表面的最短距离或最短距离之和。在不同的使用情况下，由于导体周围的绝缘材料被电极化，导致绝缘子呈现带点的现象。绝缘子爬距是否达标，深刻影响着操作人员的生命安全。
54.由于绝缘子表面光滑，由多段圆弧组成，爬距测量存在一定困难，目前，主要通过人工手动进行测量，操作困难且效率低。因此，如何非接触式的对绝缘子爬电距离进行测量，成为了亟待解决的问题。
55.基于此，本技术提出了一种绝缘子爬电距离的测量方法、装置、电子设备及存储介质，所述测量方法包括：获取待测量绝缘子的扫描图像，其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。采用本技术提供的技术方案能够通过三维扫描设备获取绝缘子的扫描图像，利用预先训练好的图像提取模型提取附着在绝缘子上的标记物，计算标记物的长度，并将标记物的长度确定为爬电距离，实现了非接触式的绝缘子爬电距离测量，提高了爬电距离测量的效率以及准确性。
56.为便于对本技术进行理解，下面结合具体实施例对本技术提供的技术方案进行详细说明。
57.请参阅图1，图1为本技术实施例所提供的一种绝缘子爬电距离的测量方法的流程图，如图1中所示，所述测量方法，包括：
58.s101、获取待测量绝缘子的扫描图像；
59.该步骤中，通过校准后的三维扫描设备，对绝缘子进行三维扫描，得到绝缘子三维点云数据的扫描图像，其中，对三维扫描设备的标定和校准方法不做限制，例如通过棋盘格标靶进行标定与校准；需要说明的是，绝缘子表面附着有长条形标记物，该标记物具有一定厚度，沿着绝缘子某一径向方向紧密、连续粘贴，从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘，可选取绝缘子中心和边缘的任意一点的连线作为标记物的粘贴方向；标记物颜色为黑色、红色或其他与绝缘子有一定对比度的颜色，标记物厚度不宜过厚，同样不宜过薄，其厚度应高于三维扫描设备的扫描能力，使得绝缘子在标记物区域的相对高度高于其他区域，过薄的标记物会使三维扫描设备无法获取其点云信息，过厚的标记物会使得测出的绝缘子爬距误差较大；将绝缘子使用悬挂装置吊起，利用三维扫描设备对绝缘子进行扫描时，应对绝缘子顶面、底面和侧面多个角度进行扫描，以获取更详细的绝缘子的点云数据和标记物的点云数据，生成包含绝缘子和标记物的三维点云数据的扫描图像。
60.s102、将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；
61.该步骤中，标记物图像是基于标记物的特征信息从扫描图像中提取出来的；示例性的，可以通过标记物与绝缘子之间的颜色对比，根据标记物的颜色特征，从扫描图像中提取出标记物图像；图像提取模型例如u-net模型，包括下采样层、上采样层以及跳跃连接，在下采样层和上采样层之间增加注意力机制，注意力机制包括通道注意力模块和空间注意力模块，在图像通道和空间维度上进行注意力标识，使得特征提取网络在特征提取过程更关注标记物。通过图像提取模型对扫描图像进行编码，再解码，获取目标区域，即标记物图像。编码是利用下采样的方式实现，以卷积层、池化层和激活函数作为特征提取器的基本单元，在对扫描图像进行数次特征提取对扫描图像进行缩小后，获得绝缘子点云数据中的特征信息；进一步地，利用上采样层解码和跳跃连接的方式，将缩小图像恢复至原始大小，并获得分割结果，即标记物图像。具体提取标记物图像的步骤请参阅图2，图2为本技术实施例所提供另一种绝缘子爬电距离的测量方法的流程图，如图2中所示，输出标记物图像的步骤包括：
62.s201、将所述扫描图像输入至下采样层经过编码过程进行图像缩小处理，获得缩小特征图像；
63.该步骤中，将步骤s101获取的扫描图像输入至下采样层经过编码过程进行图像缩小处理，获得缩小特征图像。
64.s202、将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像；
65.该步骤中，注意力提取层包括通道注意力提取层以及空间注意力提取层；将步骤s201获取的缩小特征图像输入至注意力提取层中，基于标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像的步骤，包括：
66.s2021、将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像；
67.该步骤中，将步骤s201获取的缩小特征图像输入至通道注意力提取层，这里，根据
标记物的特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像的步骤包括：
68.(1)、将所述缩小特征图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第一描述特征图像；
69.该步骤中，将输入特征图即步骤s201获取的缩小特征图像分别经过宽度不变和高度不变的全局最大池化层和全局平均池化层，得到两个大小相同的第一描述特征图像。示例性的，输入的缩小特征图像是一个h
×w×
c的特征f(h
×
w代表像素大小)，再进行一个空间的全局最大池化和平均池化得到两个1
×1×
c的通道描述。
70.(2)、将所述两个第一描述特征图根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取得到两个特征图像；
71.该步骤中，分别利用两层神经网络层和激活函数作为共享层，将上述步骤(1)获得的两个第一描述特征图根据标记物的特征信息进行特征提取得到两个特征图像；示例性的，将两个第一描述特征图分别送入一个两层的神经网络层，第一层神经元个数为c/r，激活函数为relu，第二层神经元个数为c，两层的神经网络是共享的，输出两个特征图像。
72.(3)、将所述两个特征图像进行图像处理后，基于预设的激活函数确定第一权重系数；
73.该步骤中，将上述步骤(2)获取的两个特征图像进行图像处理后，基于预设的激活函数确定第一权重系数；示例性的，将得到的两个特征图像相加后经过一个sigmoid激活函数得到第一权重系数mc。
74.(4)、基于所述第一权重系数以及所述缩小特征图像，获得通道注意力图像；
75.该步骤中，根据上述步骤(3)确定的第一权重系数以及输入通道注意力提取层的缩小特征图像，确定通道注意力图像；示例性的，输入的缩小特征图像是一个h
×w×
c的特征f(h
×
w代表像素大小)，将第一权重系数与缩小特征图像相乘，即mc
×
f得到通道注意力图像。
76.s2022、将所述通道注意力图像输入至所述空间注意力提取层中，根据特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像。
77.该步骤中，将步骤s2021确定的通道注意力图像输入至空间注意力提取层中，这里，根据标记物的特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像的步骤包括：
78.a、将所述通道注意力图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第二描述特征图像；
79.该步骤中，将通道注意力提取层的输出即通道注意力图像作为空间注意力提取层的输入特征，首先对输入特征通道注意力图像进行基于通道的全局最大池化操作和全局平均池化操作，获得两个单通道特征图，即两个第二描述特征图像。示例性的，与通道注意力提取层处理相似，通道注意力图像是一个h
×w×
c的特征f’，分别进行一个通道维度的最大池化和平均池化得到两个h
×w×
1的第二描述特征图像。
80.b、将所述两个第二描述特征图像根据特征信息在空间位置上的关系进行拼接后，经过卷积以及激活函数处理，确定第二权重系数；
81.该步骤中，将上述步骤a获得的两个第二描述特征图像根据标记物的特征信息在空间位置上的关系进行拼接后，经过卷积以及激活函数处理，确定第二权重系数；示例性
的，将这两个第二描述特征图像按照通道拼接在一起，然后，经过一个7
×
7的卷积层，激活函数为sigmoid，得到第二权重系数ms。
82.c、基于所述第二权重系数以及所述通道注意力图像，获得目标特征图像。
83.该步骤中，基于上述步骤b确定的第二权重系数，以及空间注意力提取层的输入即通道注意力图像，确定目标特征图像；示例性的，将第二权重系数与通道注意力图像相乘即可确定目标特征图像；例如，ms
×
f’得到目标特征图像。
84.s203、将所述目标特征图像输入至上采样层经过解码过程进行图像放大处理，获得所述标记物图像。
85.该步骤中，将上述步骤c确定的目标特征图像输入至上采样层经过解码过程进行填充，将目标特征图像进行放大，恢复到图像提取模型的输入原图即扫描图像的大小，获得标记物图像。
86.s103、将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。
87.该步骤中，将标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将标记物的长度确定为爬电距离的步骤，包括：
88.s1031、将所述标记物图像通过预设方向的切割面进行切割，获取每相邻两个切割面之间的多段标记物点云数据；
89.该步骤中，对于提取出的绝缘子的标记物点云，即步骤s102获得的标记物图像，以绝缘子所在平面法线方向为标记物法线方向，任意找两个与法线共面，且间距为定值的平行面作为切割面，对标记物图像进行切割，获取每相邻两个切割面之间的多段标记物点云数据。
90.s1032、针对于每一段标记物点云数据，将经过筛除后的该段标记物点云数据确定为标记物条带；
91.该步骤中，将步骤s1031获取的每两个切割面之间的所有标记物的点云数据进行筛除，筛除距离绝缘子圆心处法线固定距离的点，将经过筛除后的该段标记物点云数据确定为标记物条带。
92.s1033、针对于每一段标记物条带，将所述该段标记物条带投影至所述切割面上，进行去噪、稀疏以及插值处理，确定所述该段标记物条带的长度；
93.该步骤中，对于截取的一段标记物条带，将其投影至切割面上，对投影后的标记物点云数据进行下采样处理，包括去噪、稀疏；并采用线性样条对下采样处理后的标记物点云数据进行插值，计算该段标记物条带的长度；其中，对投影后的标记物点云数据可以用高斯平滑进行去噪，具体公式如下：
[0094][0095]
其中，是高斯平滑去噪后的图像，z(x)是投影在切割面上的一段标记物条带图像，“*”表示卷积，σ是标准差。
[0096]
s1034、将确定出的多段标记物条带的长度相加后获得所述标记物的长度，并将所述标记物的长度确定为爬电距离。
[0097]
该步骤中，将步骤s1033确定的多段标记物条带的长度进行相加，获得标记物的总长度，并将标记物的总长度确定为爬电距离；其中，标记物的总长度计算公式如下：
[0098][0099]
其中，l是标记物的总长度，即绝缘子的爬电距离，li表示第i段标记物条带的长度，n表示标记物图像的切割数。
[0100]
本技术实施例提供的一种绝缘子爬电距离的测量方法，所述测量方法包括：获取待测量绝缘子的扫描图像，其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。
[0101]
这样，采用本技术提供的技术方案能够通过三维扫描设备获取绝缘子的扫描图像，利用预先训练好的图像提取模型提取附着在绝缘子上的标记物，计算标记物的长度，并将标记物的长度确定为爬电距离，实现了非接触式的绝缘子爬电距离测量，提高了爬电距离测量的效率以及准确性。
[0102]
基于同一申请构思，本技术实施例中还提供了与上述实施例提供一种绝缘子爬电距离的测量方法对应的一种绝缘子爬电距离的测量装置，由于本技术实施例中的装置解决问题的原理与本技术上述实施例一种绝缘子爬电距离的测量方法相似，因此装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
[0103]
请参阅图3，图3为本技术实施例所提供的一种绝缘子爬电距离的测量装置的结构示意图，如图3中所示，所述测量装置310包括：
[0104]
获取模块311，用于获取待测量绝缘子的扫描图像；其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；
[0105]
处理模块312，用于将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；
[0106]
确定模块313，用于将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。
[0107]
可选的，所述图像提取模型包括下采样层、注意力提取层以及上采样层，所述下采样层、注意力提取层以及上采样层顺次连接；所述处理模块312在用于将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像时，所述处理模块312具体用于：
[0108]
将所述扫描图像输入至下采样层经过编码过程进行图像缩小处理，获得缩小特征图像；
[0109]
将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像；
[0110]
将所述目标特征图像输入至上采样层经过解码过程进行图像放大处理，获得所述标记物图像。
[0111]
可选的，所述注意力提取层包括通道注意力提取层以及空间注意力提取层；所述处理模块312在用于将所述缩小特征图像输入至所述注意力提取层中，基于所述标记物的特征信息进行特征提取，获得目标特征图像时，所述处理模块312具体用于：
[0112]
将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像；
[0113]
将所述通道注意力图像输入至所述空间注意力提取层中，根据特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像。
[0114]
可选的，所述处理模块312在用于将所述缩小特征图像输入至所述通道注意力提取层中，根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取，获得通道注意力图像时，所述处理模块312具体用于：
[0115]
将所述缩小特征图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第一描述特征图像；
[0116]
将所述两个第一描述特征图根据特征信息在通道间的关联关系，进行特征提取得到两个特征图像；
[0117]
将所述两个特征图像进行图像处理后，基于预设的激活函数确定第一权重系数；
[0118]
基于所述第一权重系数以及所述缩小特征图像，获得通道注意力图像。
[0119]
可选的，所述处理模块312在用于将所述通道注意力图像输入至所述空间注意力提取层中，根据特征信息在空间位置上的关系，进行特征提取，获得目标特征图像时，所述处理模块312具体用于：
[0120]
将所述通道注意力图像进行最大池化和平均池化处理后，获得两个第二描述特征图像；
[0121]
将所述两个第二描述特征图像根据特征信息在空间位置上的关系进行拼接后，经过卷积以及激活函数处理，确定第二权重系数；
[0122]
基于所述第二权重系数以及所述通道注意力图像，获得目标特征图像。
[0123]
可选的，所述确定模块313在用于将所述标记物图像经过划分计算后得到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为爬电距离时，所述确定模块313具体用于：
[0124]
将所述标记物图像通过预设方向的切割面进行切割，获取每相邻两个切割面之间的多段标记物点云数据；
[0125]
针对于每一段标记物点云数据，将经过筛除后的该段标记物点云数据确定为标记物条带；
[0126]
针对于每一段标记物条带，将所述该段标记物条带投影至所述切割面上，进行去噪、稀疏以及插值处理，确定所述该段标记物条带的长度；
[0127]
将确定出的多段标记物条带的长度相加后获得所述标记物的长度，并将所述标记物的长度确定为爬电距离。
[0128]
本技术实施例提供的一种绝缘子爬电距离的测量装置，所述测量装置包括：获取模块，用于获取待测量绝缘子的扫描图像，其中，所述绝缘子表面附着有标记物，所述标记物从绝缘子中心沿绝缘子表面覆盖到边缘；处理模块，用于将所述扫描图像输入至预先训练好的图像提取模型中，输出标记物图像；其中，所述标记物图像是基于所述标记物的特征信息从所述扫描图像中提取出来的；确定模块，用于将所述标记物图像经过划分计算后得
到标记物的长度，将所述标记物的长度确定为所述待测量绝缘子的爬电距离。
[0129]
这样，采用本技术提供的技术方案能够通过三维扫描设备获取绝缘子的扫描图像，利用预先训练好的图像提取模型提取附着在绝缘子上的标记物，计算标记物的长度，并将标记物的长度确定为爬电距离，实现了非接触式的绝缘子爬电距离测量，提高了爬电距离测量的效率以及准确性。
[0130]
请参阅图4，图4为本技术实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。如图4中所示，所述电子设备400包括处理器410、存储器420和总线430。
[0131]
所述存储器420存储有所述处理器410可执行的机器可读指令，当电子设备400运行时，所述处理器410与所述存储器420之间通过总线430通信，所述机器可读指令被所述处理器410执行时，可以执行如上述图1以及图2所示方法实施例中的绝缘子爬电距离的测量方法的步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。
[0132]
本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器运行时可以执行如上述图1以及图2所示方法实施例中的绝缘子爬电距离的测量方法的步骤，具体实现方式可参见方法实施例，在此不再赘述。
[0133]
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。
[0134]
在本技术所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，又例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
[0135]
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
[0136]
另外，在本技术各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
[0137]
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个处理器可执行的非易失的计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本技术的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本技术各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(read-only memory，rom)、随机存取存储器(random access memory，ram)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0138]
最后应说明的是：以上所述实施例，仅为本技术的具体实施方式，用以说明本技术的技术方案，而非对其限制，本技术的保护范围并不局限于此，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：任何熟悉本技术领域的技术人员
在本技术揭露的技术范围内，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改、变化或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本技术实施例技术方案的精神和范围，都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此，本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。