显示屏显示缺陷检测方法及装置与流程

1.本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示屏显示缺陷检测方法及装置。


背景技术：

2.显示屏生产过程中由于材料、工艺、结构等原因，会有部分产品出现画面显示亮度不均的现象；这种亮度不均的斑点痕迹会给视觉上带来不舒适感，留有这种mura痕迹的产品无法达到终端客户的规格要求。例如折叠显示屏中因弯折区折痕存在，膜层与胶层不平，会对人眼产生视觉冲击引起弯折区mura缺陷。针对显示屏亮度显示不均的mura缺陷，现有技术中通过外部补偿系统将存在mura不良的显示屏通过子像素级光学成像技术和软件算法消除mura纹，使得显示屏的显示质量达到面板厂出货规格要求，提高显示屏量产的良率，而对mura区域进行亮度补偿的前提是准确的对显示屏的mura区域进行检测。
3.然而，本发明的发明人发现，现有技术中的显示屏显示缺陷检测方法的缺陷检测效果较差，对mura区域的检测结果不准确，导致亮度补偿后的显示结果较差。


技术实现要素：

4.本发明实施方式的目的在于提供一种显示屏显示缺陷检测方法及装置，提升显示屏缺陷检测的准确度。
5.为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种显示屏显示缺陷检测方法，用于对显示有样本图像的显示屏进行检测，包括：获取采样图像，所述采样图像为拍摄所述显示有样本图像的显示屏得到的图像；获取所述采样图像中的各个像素点；对各个所述像素点分别进行亮度除杂处理，得到目标图像；对所述目标图像进行缺陷检测以获取所述目标图像中的缺陷位置；其中，所述亮度除杂处理包括：计算所述像素点处的环境光亮度值，所述环境光亮度值为所述显示屏以外的环境光在所述像素点处的亮度值，根据所述环境光亮度值对所述像素点的亮度进行亮度补偿。
6.本发明的实施方式还提供了一种显示屏显示缺陷检测装置，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如前述的显示屏显示缺陷检测方法。
7.本发明实施方式相对于现有技术而言，拍摄显示有样本图像的显示屏得到采样图像后，对采样图像进行缺陷检测之前，还对采样图像中的各个像素点进行亮度除杂处理，通过计算像素点处的环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿，从而去除环境光对像素点的亮度值的影响，以得到去除环境光对亮度影响的目标图像，对目标图像进行缺陷检测可以避免环境光对缺陷检测结果的影响，提升了缺陷检测结果的准确度。
8.优选的，所述计算所述像素点处的环境光亮度值，具体包括：获取所述像素点周围预设范围内的其它像素点、得到多个目标像素点；计算至少部分所述目标像素点的亮度平均值作为所述像素点处的环境光亮度值。
9.优选的，所述计算至少部分所述目标像素点的亮度平均值，具体包括：将所述目标像素点按照亮度自高向低进行排序；计算排序位于前n位的所述目标像素点的亮度平均值作为所述环境光亮度值，n为大于1的正整数。
10.优选的，所述计算排序位于前n位的所述目标像素点的亮度平均值前，还包括：排除排序位于第一位的所述目标像素点；对剩余的各个所述目标像素点按照亮度自高向低重新进行排序。
11.优选的，所述根据所述环境光亮度值对所述像素点的亮度进行亮度补偿，具体包括：获取所述像素点在所述采样图像中的亮度作为像素亮度值；判断所述像素点对应的环境光亮度值是否大于其对应的像素亮度值；若否，输出补偿亮度值为255；若是，输出补偿亮度值为255-(a-b)，其中，a为所述背景亮度值，b为所述像素亮度值；将所述像素点的像素亮度值替换为所述补偿亮度值。
12.优选的，所述输出补偿亮度值为255-(a-b)后、所述将所述像素点的像素亮度值替换为所述补偿亮度值前，还包括：根据所述像素亮度值确定对比度扩大系数k，变更所述补偿亮度值为255-k*(a-b)。
13.优选的，所述根据所述像素亮度值确定对比度扩大系数k，具体包括：根据公式
14.确定所述对比度扩大系数k；其中，b1和b2为预设常数，ib(x，y)为所述像素点的像素亮度值。
15.优选的，所述变更所述补偿亮度值为255-k*(a-b)后、所述将所述像素点的像素亮度值替换为所述补偿亮度值前，还包括：判断255-k*(a-b)是否小于191；若是，变更所述补偿亮度值为191。
16.优选的，所述对所述目标图像进行缺陷检测，具体包括：对所述目标图像进行二值化处理，对二值化处理后的所述目标图像进行缺陷检测。
17.优选的，所述对二值化处理后的所述目标图像进行缺陷检测，具体包括：计算二值化处理后的所述目标图像中各个像素点的亮度的平均值；将亮度小于所述平均值的所述像素点作为有显示缺陷的像素点。
附图说明
18.图1是本发明第一实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法的流程示意图；
19.图2是本发明第一实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法中对各个像素点分别进行亮度除杂处理的流程示意图；
20.图3是本发明第一实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法中计算像素点处的环境光亮度值的流程示意图；
21.图4是本发明第一实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法中从多个目标像素点中获取部分目标像素点的流程示意图；
22.图5是本发明第一实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法中根据环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿的流程示意图；
23.图6是本发明第二实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法的流程示意图；
24.图7是本发明第三实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测装置的结构示意图。
具体实施方式
25.为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施方式中，为了使读者更好地理解本技术而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本技术所要求保护的技术方案。
26.本发明的发明发现，现有技术中的oled显示屏在显示过程中因为制作工艺或者是显示屏结构的影响，可能存在亮度显示不均匀的mura缺陷，而一种去除mura缺陷的方法是，通过拍摄显示屏显示的样本画面的图像，对拍摄的图像进行却缺陷检测，获取存在mura缺陷的区域和缺陷区域的亮度数据，根据缺陷区域的位置和亮度数据，在显示时对缺陷区域进行亮度补偿，去除亮度显示不均的显示缺陷。然而在拍摄显示屏显示的样本画面的图像，由于存在环境光照、拍照角度等影响，拍摄的图像和显示屏显示的图像之间并不完全相同，且在环境光照的影响下拍摄的图像进行缺陷检测时，环境光照会对缺陷检测的结果造成影响，从而降低了缺陷检测结果的准确度。
27.为了解决上述技术问题，本发明的第一实施方式涉及一种显示屏显示缺陷检测方法，用于对显示有样本图像的显示屏进行检测，具体流程如图1所示，包括：
28.步骤s101：获取采样图像，采样图像为拍摄显示有样本图像的显示屏得到的图像。
29.具体的，在本步骤中，首先在待测的显示屏上显示样本图像，使用例如ccd相机、数码相机等摄像装置对显示有样本图像的显示屏进行拍摄，拍摄获得的图像即作为采样图像。
30.在本实施方式中，点亮显示屏后，由于不同品牌、不同种类的显示屏的显示要求不同，需要被检测的画面也不同，常见的有例如32、64、96、160、192、224灰阶的rgb图像，共18张图；即获取18张不同灰阶的采样图像分别进行缺陷检测。可以理解的是，前述获取18张不同灰阶的采样图像分别进行缺陷检测仅为本实施方式中的一种具体的举例说明，并不构成限定，在本发明的其它实施方式中，也可以根据其它的标准进行采样图像的采集，具体可以根据实际需要进行灵活的设置。此外，在本实施方式中，对不同灰阶的采样图像进行缺陷检测的步骤是分别进行的，即下述的缺陷检测步骤是针对各个采样图像分别进行的，下述的采样图像为多个采样图像中的任意一个，而不是针对所有的采样图像同时进行缺陷检测。
31.步骤s102：获取采样图像中的各个像素点。
32.具体的，在本步骤中，可以是通过摄像装置在拍摄采样图像时直接获取采样图像中的各个像素点的划分，也可以是在获取采样图像后通过图像处理技术对采样图像中的各个像素点进行划分，具体可以根据实际需要进行灵活的设置。
33.步骤s103：对各个像素点分别进行亮度除杂处理，得到目标图像。
34.具体的，在本步骤中，对各个像素点分别进行亮度除杂处理，各个像素点之间进行亮度除杂处理时的过程相互独立，可以同时进行，也可以先后逐一进行，具体可以根据实际
需要进行灵活的设置。具体针对任意一个像素点进行亮度除杂处理的步骤如图2所示，包括：
35.步骤s201：计算像素点处的环境光亮度值。
36.具体的，在本步骤中，环境光亮度值为显示屏以外的环境光在像素点处的亮度值。具体计算方法如图3所示，包括：
37.步骤s301：获取像素点周围预设范围内的其它像素点、得到多个目标像素点。
38.具体的，在本步骤中，例如获取以该像素点为圆心，半径为r的圆形区域内的像素点作为目标像素点，或者是获取以该像素点为中心，r为边长的菱形区域内的像素点作为目标像素点，再或者是获取以该像素点为中心，m为长边、n为宽边的矩形区域内的像素点作为目标像素点。可以理解的是，前述三种方法仅为本实施方式中的具体举例说明，并不构成限定，具体的获取目标像素点的范围可以根据实际需要进行灵活的设置。
39.步骤s302：计算至少部分目标像素点的亮度平均值作为该像素点处的环境光亮度值。
40.具体的，在本步骤中，可以是计算全部的目标像素点的亮度平均值作为该像素点处的环境光亮度值，也可以是从多个目标像素点中获取部分目标像素点进行平均值的计算，具体可以根据实际需要进行灵活的设置。
41.下面，对从多个目标像素点中获取部分目标像素点的方法进行举例说明。具体步骤如图4所示，包括：
42.步骤s401：将全部的目标像素点按照亮度自高向低进行排序。
43.步骤s402：计算排序位于前n位的目标像素点的亮度平均值作为环境光亮度值，n为大于1的正整数。
44.具体的，在本步骤中，例如获取排序位于前6位、前10位或者是前20位的目标像素点进行亮度平均值的计算，具体可以根据实际需要进行灵活的设置。例如，可以根据获取的目标像素点的数量进行获取，获取排名位于目标像素点数量前的1/3或者是1/2数量的目标像素点进行亮度平均值的计算。
45.优选的，在本发明的其它实施方式中，在计算排序位于前n位的目标像素点的亮度平均值前，还排除排序位于第一位的目标像素点，对剩余的各个目标像素点按照亮度自高向低重新进行排序。排除排序位于第一位的目标像素点后对目标像素点重新进行排序，可以减少极端情况对计算结果的影响，提升环境光亮度值计算的准确度，进而提升缺陷检测的准确度。
46.步骤s202：根据环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿。
47.具体的，在本步骤中，根据环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿的步骤如图5所示，包括以下步骤：
48.步骤s501：获取像素点在采样图像中的亮度作为像素亮度值。
49.步骤s502：判断像素点对应的环境光亮度值是否大于其对应的像素亮度值；若否，执行步骤s503；若是，执行步骤s504。
50.步骤s503：输出补偿亮度值为255。
51.步骤s504：输出补偿亮度值为255-(a-b)，其中，a为背景亮度值，b为像素亮度值。
52.步骤s505：将像素点的像素亮度值替换为补偿亮度值。
53.步骤s104：对目标图像进行缺陷检测以获取目标图像中的缺陷位置。
54.下面，对本步骤中的缺陷检测过程进行举例说明，可以理解的是，下述仅为本实施方式中对缺陷检测过程的两种具体的举例说明，并不构成限定，在本发明的其它实施方式中，也可以是使用其它方法进行缺陷检测，具体可以根据实际需要进行灵活的应用。
55.例1：对目标图像进行二值化处理，例如使用otsu算法、或者sauvola算法对目标图像进行二值化处理。计算二值化处理后的目标图像中各个像素点的亮度的平均值；将亮度小于平均值的像素点作为有显示缺陷的像素点。
56.其中，sauvola算法包括：首先根据公式
[0057][0058]
计算像素点r*r邻域内的灰度均值m(x，y)和标准方差s(x，y)；
[0059]
然后根据公式
[0060]
计算像素点的阈值t(x，y)。
[0061]
其中，r为标准方差的动态范围，若当前输入图像为8位灰度图像，则r＝128；k是预设常数，0《k《1。
[0062]
例2：目标图像得到之后，根据待测显示屏的不同制程区块的分布，将目标图像分割成至少两个区块。在一些实施例中，将每个制程区块划分至一个区块中。目标图像的区块分割完毕之后，获取各个区块的参数，比如各个区块的位置、形状和偏光度；根据每个区块的参数为每个区块匹配相对应的检测算法，然后根据所匹配的算法对各个区块执行预设种类的缺陷检测以得到缺陷检测结果。
[0063]
可以理解的是，不同区块制程对应的缺陷种类可能相同也可能不同，不同缺陷种类对应的检测算法可能相同也可能不同，因此需要通过一种或多种检测算法分析各个区块的缺陷。
[0064]
其中，每种检测算法包括可设置的预设检测参数，预设检测参数包括但不限于精度参数和对比度参数。
[0065]
每个区块的检测算法匹配完毕之后，为每个区块的检测算法设置预设检测参数，然后使用对应的检测算法对各个区块执行缺陷检测以得到对应于当前预设检测参数的缺陷检测结果。以精度参数为例，采用同一检测算法对同一区块进行分析，且精度a低于精度b。在精度a的水平下，能够检测出缺陷a，在精度b的水平下能够检测出缺陷a和缺陷b，那么，在当前精度水平为a时，检测算法仅输出缺陷a，在当前精度水平为b时，检测算法输出缺陷a和缺陷b。其中，缺陷包括但不限于spot(点状)缺陷、line(线状)缺陷、rubbin缺陷、band(带状)缺陷、omniline(全向线状)缺陷、side(边状)缺陷、twill(斜纹状)缺陷(斜纹缺陷)、grid(栅格状)缺陷中的至少一个。
[0066]
与现有技术相比，本发明第一实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法中，拍
摄显示有样本图像的显示屏得到采样图像后，对采样图像进行缺陷检测之前，还对采样图像中的各个像素点进行亮度除杂处理，通过计算像素点处的环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿，从而去除环境光对像素点的亮度值的影响，以得到去除环境光对亮度影响的目标图像，对目标图像进行缺陷检测可以避免环境光对缺陷检测结果的影响，提升了缺陷检测结果的准确度。
[0067]
本发明的第二实施方式涉及一种显示屏显示缺陷检测方法。第二实施方式与第一实施方式大致相同，同样包括如图1所示的步骤s101至步骤s104，主要区别之处在于：在第一实施方式中，根据环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿的步骤如图5所示。而在本发明第二实施方式中，根据环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿的步骤如图6所示，包括：
[0068]
步骤s601：获取像素点在采样图像中的亮度作为像素亮度值。
[0069]
步骤s602：判断像素点对应的环境光亮度值是否大于其对应的像素亮度值；若否，执行步骤s603；若是，执行步骤s604。
[0070]
步骤s603：输出补偿亮度值为255。
[0071]
步骤s604：输出补偿亮度值为255-(a-b)，其中，a为背景亮度值，b为像素亮度值。
[0072]
步骤s605：根据像素亮度值确定对比度扩大系数k，变更补偿亮度值为255-k*(a-b)。
[0073]
具体的，在本步骤中，根据公式
[0074]
确定对比度扩大系数k；
[0075]
其中，b1和b2为预设常数，例如b1＝2.5，b2＝1.0等，ib(x，y)为改像素点的像素亮度值。
[0076]
步骤s606：将像素点的像素亮度值替换为补偿亮度值。
[0077]
与现有技术相比，本发明第二实施方式在保留第一实施方式的技术效果的同时，根据像素亮度值确定对比度扩大系数k，根据对比度扩大系数k对补偿亮度值进行调整，从而增大各个像素之间的对比度，提升计算结果的准确度，进而进一步提升缺陷检测结果的准确度。
[0078]
优选的，在本发明的另一实施方式中，在步骤s605之后，还包括：判断255-k*(a-b)是否小于191；若是，变更补偿亮度值为191后执行步骤s606；若否，则直接执行步骤s606。通过对255-k*(a-b)的值与191的亮度大小的判断，避免输出亮度值过低的极端亮度值，减少极端情况对缺陷检测结果的影响。
[0079]
上面各种方法的步骤划分，只是为了描述清楚，实现时可以合并为一个步骤或者对某些步骤进行拆分，分解为多个步骤，只要包含相同的逻辑关系，都在本专利的保护范围内；对算法中或者流程中添加无关紧要的修改或者引入无关紧要的设计，但不改变其算法和流程的核心设计都在该专利的保护范围内。
[0080]
本发明第三实施方式涉及一种显示屏显示缺陷检测装置，如图7所示，包括：至少一个处理器701；以及，与至少一个处理器701通信连接的存储器702；其中，存储器702存储有可被至少一个处理器701执行的指令，指令被至少一个处理器701执行，以使至少一个处理器701能够执行如上述显示屏显示缺陷检测方法。
[0081]
其中，存储器702和处理器701采用总线方式连接，总线可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线将一个或多个处理器701和存储器702的各种电路连接在一起。总线还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路连接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口在总线和收发机之间提供接口。收发机可以是一个元件，也可以是多个元件，比如多个接收器和发送器，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。经处理器701处理的数据通过天线在无线介质上进行传输，进一步，天线还接收数据并将数据传送给处理器701。
[0082]
处理器701负责管理总线和通常的处理，还可以提供各种功能，包括定时，外围接口，电压调节、电源管理以及其他控制功能。而存储器702可以被用于存储处理器701在执行操作时所使用的数据。
[0083]
本发明第四实施方式涉及一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序。计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例。
[0084]
即，本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一个设备(可以是单片机，芯片等)或处理器(processor)执行本技术各个实施例方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-only memory)、随机存取存储器(ram，random access memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
[0085]
本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。