一种锡槽液位检测方法、装置、设备与流程

1.本发明涉及液位测量技术领域，特别是涉及一种锡槽液位检测方法、装置、设备。


背景技术：

2.浮法玻璃是一种利用特定工艺生产成型的固态玻璃，需要将熔融玻璃从池窑中连续流入并漂浮在相对密度大的锡液表面，在重力和表面张力作用下，玻璃液在锡液面上铺开、摊平，最终成型为固态玻璃；因为工艺过程玻璃是浮在锡液上的，因而称为“浮法玻璃”。
3.在浮法玻璃的实际生产过程中，锡液液面的高度直接影响了浮法玻璃制备过程，锡槽液位的稳定性对浮法玻璃的生产质量具有重要的意义。传统的浮法玻璃生产过程，依靠将锡槽工业摄像头接入工业电视上墙，由专岗人员定时查看锡槽液位变化，并根据观察到的实际情况操作液位控制装置。但完全靠人工巡查的方式来监测液位变化，很容易由于人员的疏忽而未能及时了解到液位变化超限，从而酿成生产事故。也可以采用接触式机械装置实现对锡槽内的锡液液位进行检测，但往往又存在实施与维护的高难度与高成本问题。


技术实现要素：

4.本发明的目的是提供一种锡槽液位检测方法、装置、设备，能够在一定程度上简化锡槽液位检测的难度和降低成本。
5.为解决上述技术问题，本发明提供一种锡槽液位检测方法，包括：
6.采集锡液图像，所述锡液图像中至少包含第一成像区域和第二成像区域；其中，所述第一成像区域为锡槽侧壁上标识件的成像区域，第二成像区域为所述标识件在锡液液面形成的标识件倒影的成像区域；
7.识别所述锡液图像中的所述第一成像区域和所述第二成像区域，并确定所述第一成像区域和所述第二成像区域之间的成像距离；
8.根据所述成像距离确定所述锡槽内锡液液位信息。
9.在本技术的一种可选地实施例中，识别所述锡液图像中的所述第一成像区域和所述第二成像区域，并确定所述第一成像区域和所述第二成像区域之间的成像距离，包括：
10.确定所述锡液图像中的感兴趣区域，并对所述感兴趣区域的各个像素点的灰度值进行均衡化处理；
11.利用sobel边缘检测算法对所述感兴趣区域中各个像素点的灰度值进行运算，获得所述第一成像区域的第一边缘像素点和所述第二成像区域的第二边缘像素点；
12.对所述第一边缘像素点的灰度值和第二边缘像素点的灰度值分别进行二次求导，获得亚像素级的第一边缘线和第二边缘线；
13.根据所述第一边缘线和第二边缘线之间所间隔的像素距离，确定所述成像距离。
14.在本技术的一种可选地实施例中，确定所述锡液图像中的感兴趣区域，包括：
15.以预先划定区域的像素位置确定所述锡液图像中相同像素位置对应的成像区域
为所述感兴趣区域。
16.在本技术的一种可选地实施例中，确定所述成像距离之后，还包括：
17.判断所述成像距离在设定成像阈值范围内；
18.若否，则对所述锡槽内锡液液位进行调节。
19.一种锡槽液位检测装置，包括：
20.图像采集模块，用于采集锡液图像；所述锡液图像中至少包含第一成像区域和第二成像区域，其中，所述第一成像区域为锡槽侧壁上标识件的成像区域，第二成像区域为所述标识件在锡液液面形成的标识件倒影的成像区域；
21.距离运算模块，用于识别所述锡液图像中的所述第一成像区域和所述第二成像区域，并确定所述第一成像区域和所述第二成像区域之间的成像距离；
22.确定液位模块，用于根据所述成像距离确定所述锡槽内锡液液位信息。
23.一种锡槽液位检测设备，包括：
24.soc芯片，用于将获取解析锡液图像数据的数据流；
25.fpga芯片，用于根据所述soc芯片解析后的锡液图像的数据流，实现如上任一项所述的锡槽液位检测方法的步骤。
26.在本技术的一种可选地实施例中，所述fpga芯片包括：
27.histogram_equalization模块，用于确定所述锡液图像中的感兴趣区域，并对所述感兴趣区域的各个像素点的灰度值进行均衡化处理；
28.sobel_matrix_calc模块，用于利用sobel边缘检测算法对所述感兴趣区域中各个像素点均衡化处理后的灰度值进行运算，获得所述第一成像区域的第一边缘像素点和所述第二成像区域的第二边缘像素点；
29.gauss_derivative_calc模块，用于对所述第一边缘像素点的灰度值和第二边缘像素点的灰度值分别进行二次求导，获得求导结果；
30.search_peak模块，用于根据所述求导结果获得所述第一边缘像素点对应的第一边缘线和所述第二边缘像素点对应的第二边缘线，并根据所述第一边缘线和第二边缘线之间所间隔的像素距离，确定所述成像距离。
31.在本技术的一种可选地实施例中，还包括和所述soc芯片相连接的dac芯片以及和所述dac芯片相连接的液位控制器；
32.所述dac芯片用于根据所述fpga芯片传输至所述soc芯片的锡液液位信息，向所述液位控制器输出液位控制信号。
33.在本技术的一种可选地实施例中，还包括和所述soc芯片相连接的显示屏，用于显示多路摄像头采集的锡液图像分别对应的锡槽液位信息。
34.本发明所提供的一种锡槽液位检测方法，包括采集锡液图像；锡液图像中至少包含第一成像区域和第二成像区域；其中，第一成像区域为锡槽侧壁上标识件的成像区域，第二成像区域为标识件在锡液液面形成的标识件倒影的成像区域；识别锡液图像中的第一成像区域和第二成像区域，并确定第一成像区域和第二成像区域之间的成像距离；根据成像距离确定锡槽内锡液液位信息。
35.本技术中在对锡槽液位进行检测的过程中，利用锡液具有强反光的特性，在锡槽侧壁上设置标识件，显然在采集的锡液图像中该标识件的成像位置和标识件在锡液表面的
成像位置之间的间距和标识件与液面的高度距离之间成正相关；由此本技术中以此为依据，通过识别锡液图像中标识件的第一成像区域和标识件倒影的第二成像区域之间的成像距离，确定锡液液面实际的高度信息。在一定程度上降低了锡液液面的检测难度和检测成本，便于广泛的应用于浮法玻璃的制备工艺中。
36.本技术中还提供了一种锡槽液位检测装置、设备，具有上述有益效果。
附图说明
37.为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
38.图1为本技术实施例提供的一种锡槽液位检测方法的流程示意图；
39.图2为本技术实施例提供的一种锡液图像示意图；
40.图3为本技术实施例提供的锡液图像中标识件和标识件倒影之间的相对位置关系示意图；
41.图4为成像边缘区域的像素点的像素值进行多种运算后的波形示意图；
42.图5为本技术实施例提供的锡槽液位检测装置的结构框图；
43.图6为本技术实施例提供的锡槽液位检测设备的框架结构示意图。
具体实施方式
44.本技术的核心是提供一种锡槽液位检测方法、装置、设备，在一定程度上减小浮法玻璃制备过程中，锡槽液位的检测难度和检测成本。
45.为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
46.图1为本技术实施例提供的一种锡槽液位检测方法的流程示意图，图2为本技术实施例提供的一种锡液图像；图3为本技术实施例提供的锡液图像中标识件和标识件倒影之间的相对位置关系示意图。
47.本技术中一种具体实施例中的锡槽液位检测方法可以包括：
48.s11：采集锡液图像，锡液图像中至少包含第一成像区域和第二成像区域。
49.其中，第一成像区域为锡槽侧壁上标识件的成像区域，第二成像区域为标识件在锡液液面形成的标识件倒影的成像区域。
50.需要说明的是，本实施例中的标识件为锡槽侧壁上能够明显区别于其周边其他背景的部件，可以是贴合于锡槽侧壁上任意形状的部件，也可以是锡槽侧壁上的通孔等，对此本实施例中均不做具体限制。
51.当然为了后续在锡液图像中能够更容易的识别出标识件和标识件倒影的成像区域，可以尽可能的采用形状规则或是颜色便于识别的标识件。
52.参照图2所示的锡液图像中的标识件为置于锡槽侧壁上的矩形观察口，其在锡液
图像中成像区域的颜色明显比其他区域的成像颜色深，由此可以在锡液图像中更容易被识别。锡液液面具有较强的反光性能，由此使得锡液液面能够清晰的呈现出标识件的倒影。
53.在进行锡液图像的采集时，应当对同时包含标识件和标识件倒影所在空间画面进行图像采集，使得锡液图像中同时显现出标识件和标识件倒影的成像图像。
54.s12：识别锡液图像中的第一成像区域和第二成像区域，并确定第一成像区域和第二成像区域之间的成像距离。
55.s13：根据成像距离确定锡槽内锡液液位信息。
56.因为标识件在锡槽侧壁上的位置是固定不变的，而当锡液液位越低，显然标识件在锡液液面的倒影和标识件之间的高度差显然也就越大，并且这一高度差是和锡液液位的高度成反比。
57.而锡液图像中标识件倒影和标识件的成像区域之间的距离显然也是与实际空间中标识件倒影和标识件之间的高度差呈正比的；因此，在锡液图像中标识件倒影和标识件的成像区间之间的成像距离也就在一定程度上体现了锡液液面的高度，由此即可通过这一成像距离确定锡槽内锡液液位信息。
58.可以预先确定锡液图像中标识件和标识件倒影的成像距离与液位高度之间的对应关系，以实现基于成像距离确定锡液液位信息。
59.参照图3，假设在锡液图像中，标识件的下边缘线距离锡液液面的像素距离为h，则标识件倒影的上边缘线距离锡液液面在锡槽侧壁的边界的像素距离也为h(根据镜面成像的镜像原理可知，锡液图像中标识件倒影的上边缘线实际为标识件下边缘线镜像投影后所成的像)；由此可以基于锡液图像中标识件的下边缘线和标识件倒影的上边缘线之间的像素距离的一半，即等于h，作为锡液图像中标识件下的边缘线和锡液液面之间的像素距离。
60.假设锡液图像中标识件的上边缘线与其下边缘线像素距离为l，由于标识件的实际物理高度h是已知量，可以依此标定计算摄像头像素当量为h/l。基于该像素当量h/l和锡液图像中标识件的下边缘线和锡液液面之间的像素距离h进行乘积运算，即可获得标识件的下边缘和锡液液面的实际物理距离。
61.一般情况下在实际物理距离应当在一个合理的距离范围内，若在实际应用中确定的实际物理距离远超出该合理距离范围，则当前检测结果不可用，应当重新根据新的锡液图像进行锡槽液位检测。而一旦检测结果不可用的次数累计过大而到一定的次数阈值，则说明锡液液位检测的相关设备存在故障，应当及时向工作人员发出报警提示。
62.在基于锡液图像确定出锡槽内液位信息之后，还可以进一步地将当前的锡液液位高度和标准的液位高度进行对比，一旦该液位高度过高或过低，即可采取相应的液位调整措施对锡槽内锡液液位进行调节。
63.例如，可以设定标识件的下边缘和锡液液面之间的实际物理距离的合理距离范围区间，一但这一实际物理距离超出这一合理距离范围区间内，即可对锡液液位进行控制调节。
64.在设定合理距离范围区间时，可以先设定一个标准距离，并以该标准距离上下波动的一定范围区间作为合理距离范围区间。当标识件的下边缘和锡液液面之间的实际物理距离超出合理距离范围区间时，可以根据该实际物理距离和标准距离之间差值大小，对锡液液面高度进行控制调节。
65.当然，也可以直接根据锡液图像中标识件和标识件倒影之间的成像距离大小进行液位调节，具体过程如下：
66.判断成像距离在设定成像阈值范围内；若否，则对锡槽内锡液液位进行调节。
67.以标识件和标识件倒影之间的成像距离大小确定是否需要进行液位调节的原理和上述基于标识件的下边缘和锡液液面之间的实际物理距离确定是否需要进行液位调节的距离类似。也可以设定一个标准成像距离，并以标准成像距离上下波动的一定的范围区间作为设定成像阈值范围，当标识件和标识件倒影之间的成像距离大小超出设定成像阈值范围，则基于标识件和标识件倒影之间的成像距离和标准成像距离之间的差值，对锡液液位进行调节，也能实现本技术中的技术方案。
68.此外，对于本实施例中所指的锡液图像中标识件和标识件倒影之间的成像距离，可以是标识件的上边缘和标识倒影的上边缘、下边缘、中心点中任意一位置之间的成像距离；还可以是标识件的下边缘和标识倒影的上边缘、下边缘、中心点中任意一位置之间的成像距离，还可以是标识件的中心点和标识件倒影的中心点之间的成像距离等等，都可以实现本技术的技术方案，对此，本实施例中不做具体限制。
69.另外，对于本实施例中的锡槽液位检测方法，可以是通过上位机中的处理器运行相关的软件程序实现。也可以采用fpga芯片等硬件电路实现这一检测方法；相对于处理器执行上述检测方法而言，fpga芯片的硬件电路的设备成本更低，运行过程更稳定。
70.综上所述，本技术中通过在锡槽侧壁上设置标识件，并利用标识件和标识件在锡液液面倒影之间的距离随锡液液面的高度变化而变化这一原理，采集标识件和标识件倒影的锡液图像，并基于标识件和标识件倒影在锡液图像中的成像距离，进而确定出锡槽内锡液液位信息，无需人工实时巡查或者布局复杂的机械器件，在一定程度上降低了锡液液位检测难度和检测成本，进而在一定程度上优化浮法玻璃的制备工艺。
71.基于上述任意实施例，在确定锡液图像中标识件和标识件倒影之间的成像距离的过程可以包括：
72.s21：确定锡液图像中的感兴趣区域，并对感兴趣区域的各个像素点的灰度值进行均衡化处理。
73.可选地，可以以预先划定区域的像素位置确定锡液图像中相同像素位置对应的成像区域为感兴趣区域。
74.在摄像头采集锡液图像时，摄像头的位置和方向一般也是保持不变；由此，标识件在锡液图像中的第一成像区间位置显然也是固定不变的，但是标识件倒影在锡液图像中的二成像区间位置会随着锡液液面高度的变化而变化，但也基本上是在一个局部范围内变化。为此可以预先人工手动标定锡液图像中感兴趣区域的像素位置区间，后续每次采集锡液图像中即可直接以预先标定好的像素位置区间作为感兴趣区域。
75.当然，在实际应用中，也可以通过图形识别的方式，直接识别出锡液图像中的标识件的第一成像区域和标识件倒影的第二成像区域，并将该第一成像区域和第二成像区域分别向外扩展一定区域后形成的区域作为感兴趣区域，还存在其他类似的方式，本实施例中不再详细赘述。
76.s22：利用sobel边缘检测算法对感兴趣区域中各个像素点的灰度值进行运算，获得第一成像区域的第一边缘像素点和第二成像区域的第二边缘像素点。
77.sobel边缘检测算法对感兴趣区域中的各个像素点的灰度值进行运算，即可大致确定出第一成像区域和第二成像区域的边缘位置，第一成像区域的边缘线周围的像素点即为第一边缘像素点和第二成像区域的边缘线周围的像素点即为第二边缘像素点。
78.s23：对第一边缘像素点的灰度值和第二边缘像素点的灰度值分别进行二次求导，获得亚像素级的第一边缘线和第二边缘线。
79.s24：根据第一边缘线和第二边缘线之间所间隔的像素距离，确定成像距离。
80.在确定roi区域(即感兴趣区域)之后，可以将roi区域内各个像素点的灰度值进行sobel计算，分别得到标识件与标识件倒影的边缘初步定位；取初步定位的边缘线附近取n个像素点区域，将n个像素点区域中各个像素点的灰度值进行一阶导数，再对一阶导数进行求导得到二阶导数，从而得到二阶导数“过零点”即为边缘线位置，由此处理精度可以达到亚像素级别。如图4所示，基于图4中可以明显看出，边界线周围像素点的灰度值进行一阶求导后，峰值点的位置即为边界点，而进行二阶求导后，过零点的位置即为边界点的位置。
81.由于边缘的灰度等级服从高斯分布，同时为了方便fpga对边缘检测算法进行逻辑编码，我们取边缘高斯一维分布函数的数字表达形式公式：
82.其中，δ为标准差，又叫做高斯半径，k是均值，即期望；i为各个像素点的灰度值。
83.基于上述边缘高斯一维分布函数的数字表达形式公式，推导出高斯一维卷积一阶算子、二阶算子。
84.一阶算子：
85.二阶算子：
86.以在本技术的一种可选的实施例中，取k＝6，则同时得到2k+1＝13个系数。
87.一阶高斯求导的卷积模板为[0,0,0,-8,-4,-2,0,2,4,8,0,0,0]；二阶导数高斯求导的卷积模板为[16,16,12,4,-7,-20,-42,-20,-7,4,12,16,16]。对边缘线所选取的区域图像进行一阶、二阶卷积运算，随后可以在卷积运算完的图像上基于图像y方向(即竖直方向)遍历，非常容易找到“峰值点”和“过零点”，将“峰值点”和“过零点”的像素位置坐标进行多项式拟合则最终得到边缘线，由此即可确定标识件和标识件倒影之间的成像距离。同时选取合适的阈值，则可以对卷积结果与阈值大小进行比较，去除干扰点。
[0088]
下面对本发明实施例提供的锡槽液位检测装置进行介绍，下文描述的锡槽液位检测装置与上文描述的锡槽液位检测方法可相互对应参照。
[0089]
图5为本发明实施例提供的锡槽液位检测装置的结构框图，参照图5的锡槽液位检测装置可以包括：
[0090]
图像采集模块100，用于采集锡液图像；所述锡液图像中至少包含第一成像区域和第二成像区域，其中，所述第一成像区域为锡槽侧壁上标识件的成像区域，第二成像区域为所述标识件在锡液液面形成的标识件倒影的成像区域；
[0091]
距离运算模块200，用于识别所述锡液图像中的所述第一成像区域和所述第二成像区域，并确定所述第一成像区域和所述第二成像区域之间的成像距离；
[0092]
确定液位模块300，用于根据所述成像距离确定所述锡槽内锡液液位信息。
[0093]
在本技术的一种可选地实施例中，距离运算模块200包括：
[0094]
区域识别单元，用于确定锡液图像中的感兴趣区域，并对感兴趣区域的各个像素点的灰度值进行均衡化处理；
[0095]
均值化单元，用于利用sobel边缘检测算法对所述感兴趣区域中各个像素点的灰度值进行运算，获得所述第一成像区域的第一边缘像素点和所述第二成像区域的第二边缘像素点；
[0096]
求导单元，用于对所述第一边缘像素点的灰度值和第二边缘像素点的灰度值分别进行二次求导，获得亚像素级的第一边缘线和第二边缘线；
[0097]
距离运算单元，用于根据所述第一边缘线和第二边缘线之间所间隔的像素距离，确定所述成像距离。
[0098]
在本技术的一种可选地实施例中，区域识别单元用于以预先划定区域的像素位置确定所述锡液图像中相同像素位置对应的成像区域为所述感兴趣区域。
[0099]
在本技术的一种可选地实施例中，还包括液位调节模块，用于判断所述成像距离在设定成像阈值范围内；若否，则对所述锡槽内锡液液位进行调节。
[0100]
本实施例的锡槽液位检测装置用于实现前述的锡槽液位检测方法，因此锡槽液位检测装置中的具体实施方式可见前文中的锡槽液位检测方法的实施例部分，在此不再赘述。
[0101]
参照图6，图6为本技术实施例提供的锡槽液位检测设备的框架结构示意图。本技术还提供了一种锡槽液位检测设备的实施例，该锡槽液位检测设备可以包括：
[0102]
soc芯片1，用于将获取解析锡液图像数据的数据流；
[0103]
fpga芯片2，用于根据soc芯片1解析后的锡液图像的数据流，实现如上任一项所述的锡槽液位检测方法的步骤。
[0104]
参照图6，在本技术的一种具体实施例中，多路高清(1080p)网络摄像头接入锡槽液位检测设备，由soc芯片1中的rtsp协议解析软件模块，获取h.264或h.265码流数据，然后由soc芯片1中的硬件h.264/h.265模块实时解码，将解码的帧图像存入ddr内存。soc芯片1外挂ddr内存单独开辟3840x2160分辨率的存储空间，可以同时存入4路1080p解码帧图像；该4路帧图像数据基于bt1120接口模块流入fpga芯片2，由fpga芯片2进一步对图像进行算法处理。
[0105]
fpga芯片2通过bt1120接口模块同时接收最多4路1080p帧数据，缓存入fpga芯片2外挂ddr内存，然后fpga芯片2中的图像预处理算法模块对帧数据进行图像预处理，然后启动液位线识别计算算法，得到液位线位置信息，并最终得到液位线相对于标准液位的偏差值。
[0106]
可选地，本技术中还可以进一步地包括dac芯片3用于根据fpga芯片2传输至soc芯片1的锡液液位信息，向液位控制器输出液位控制信号。
[0107]
在fpga芯片2得到液位线相对于标准液位的偏差值之后，通过fpga芯片2的ethernet硬模块直接与soc芯片1的ethernet硬模块进行mac-mac直连链路，最终回传到soc
芯片1，由soc芯片1的液位控制策略软件进程进行决策逻辑运行，并将运行结果通过i2c总线将控制电流值传入dac芯片3，最终由dac芯片3输出标准的对应的4ma～20ma电流值，从而实现对液位控制器的实时调节，最终实现对液位的实时动态调整，达到液位实时监测的目的。
[0108]
在本技术的另一可选地实施例中，还包括和所述soc芯片相连接的显示屏，用于显示多路摄像头分别采集的获得的锡槽液位信息。
[0109]
soc芯片1的液位控制策略软件进程进行决策逻辑运行，通过dma操作将锡槽液位和标准液位的偏差值及控制电流值传入soc芯片1中的osd叠加硬模块，将偏差值及控制电流值等信息叠加到多路显示画面。上述多路显示画面由soc芯片1通过vga物理接口，输出到lcd显示器，供现场监测的实时数据呈现。
[0110]
可选地，本技术中的fpga芯片2可以包括：
[0111]
histogram_equalization模块，用于确定锡液图像中的感兴趣区域，并对感兴趣区域的各个像素点的灰度值进行均衡化处理；
[0112]
sobel_matrix_calc模块，用于利用sobel边缘检测算法对感兴趣区域中各个像素点均衡化处理后的灰度值进行运算，获得第一成像区域的第一边缘像素点和第二成像区域的第二边缘像素点；
[0113]
gauss_derivative_calc模块，用于对第一边缘像素点的灰度值和第二边缘像素点的灰度值分别进行二次求导，获得求导结果；
[0114]
search_peak模块，用于根据求导结果获得第一边缘像素点对应的第一边缘线和第二边缘像素点对应的第二边缘线，并根据第一边缘线和第二边缘线之间所间隔的像素距离，确定成像距离。
[0115]
bt1120_decode硬件模块实现将bt1120传入的数据解码组成图形数据，为了在fpga芯片2中进行并行处理，bt1120完成1行数据解码马上通过mm2s_bridge总线桥传入databuf_pro缓存单元，同时histogram_equalization模块、sobel_matrix_calc模块、gauss_derivative_calc模块和search_peak模块四个硬件模块组成流水线的形式，实现对边缘线的轮廓亚像素实时提取。具体来说，该四个硬件模块都是对一行数据进行处理，该流水线过程从databuf_pro缓存单元读入1行数据，首先进入histogram_equalization模块。histogram_equalization实现一行数据的均衡化增强，sobel_matrix_calc实现一维sobel边缘矩阵计算，提取边缘轮廓，gauss_derivative_calc实现对提取的边缘轮廓进行一阶、二阶两次求导的一维矩阵卷积计算，search_peak模块实现对求导后的“峰值点”和“过零点”进行查找计算，最终得到亚像素精度的边缘像素点位置，至此完成目标窗口及其在液面倒影的上、下边缘线有效识别并精确的计算像素位置值。
[0116]
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。另外，本技术实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。
[0117]
本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。