技术特征：
1.一种相位差检测方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：对图形传感器的pd像素行中的左pd数据行和右pd数据行分别按同一方式进行分块处理，得到多个pd数据块对；在每个所述pd数据块对中选择一数据块作为卷积核，基于预设的相位差偏移量，使用所述卷积核对位于另一数据块所在pd数据行中的、同一位置的pd数据进行卷积运算，得到每个所述pd数据块对对应的差异数据集；对所述差异数据集进行拟合，根据拟合结果以及所述相位差偏移量，获取每个所述pd数据块对中左、右pd数据块之间的相位差；基于获取的每个所述pd数据块对的相位差生成相位差检测结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在每个所述pd数据块对中选择一数据块作为卷积核，基于预设的相位差偏移量，使用所述卷积核对位于另一数据块所在pd数据行中的、同一位置的pd数据进行卷积运算的步骤之前，还包括：采用预设的滤波器对每个所述pd数据块对进行去噪处理。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，基于预设的相位差偏移量，使用所述卷积核对位于另一数据块所在pd数据行中的、同一位置的pd数据进行卷积运算的步骤，包括：在所述另一数据块所在pd数据行中以所述另一数据块为基准，向前、向后分别移动所述相位差偏移量的距离，获取扩展后范围内的pd数据；使用所述卷积核对获取的所述pd数据进行卷积运算。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，使用所述卷积核对获取的所述pd数据进行卷积运算的步骤，包括：将所述卷积核的起点依次与所述pd数据中每个像素对齐并卷积，得到每个所述pd数据块对对应的差异数据集。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，将所述卷积核的起点依次与所述pd数据中每个像素对齐并卷积的步骤，包括：每次对所述卷积核与所述pd数据中对应大小的被卷积像素进行对齐并卷积，获取当次差异数据，移动所述卷积核，以使所述卷积核与所述pd数据中下一对应大小的被卷积像素进行对齐并卷积，直至得到所述pd数据块对对应的差异数据集。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，对所述差异数据集进行拟合的步骤，包括：使用最小二乘法对所述差异数据集进行二次方程拟合，得到对应的二次函数。7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，根据拟合结果以及所述相位差偏移量，获取每个所述pd数据块对中左、右pd数据块之间的相位差的步骤，包括：获取所述二次函数取极值时对应的目标像素点，将所述目标像素点的像素偏移量减去所述相位差偏移量，得到每个所述pd数据块对中左、右pd数据块之间的相位差。8.一种相位差检测装置，其特征在于，所述装置包括：数据分块单元，用于对图形传感器的pd像素行中的左pd数据行和右pd数据行分别按同一方式进行分块处理，得到多个pd数据块对；数据卷积单元，用于在每个所述pd数据块对中选择一数据块作为卷积核，基于预设的相位差偏移量，使用所述卷积核对位于另一数据块所在pd数据行中的、同一位置的pd数据进行卷积运算，得到每个所述pd数据块对对应的差异数据集；
相位差获取单元，用于对所述差异数据集进行拟合，根据拟合结果以及所述相位差偏移量，获取每个所述pd数据块对中左、右pd数据块之间的相位差；以及结果生成单元，用于基于获取的每个所述pd数据块对的相位差生成相位差检测结果。9.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述方法的步骤。
技术总结
本发明适用于图像处理技术领域，提供了一种相位差检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：对图形传感器的PD像素行中的左PD数据行和右PD数据行分别按同一方式进行分块处理，得到多个PD数据块对，在每个PD数据块对中选择一数据块作为卷积核，基于预设的相位差偏移量，使用卷积核对位于另一数据块所在PD数据行中的、同一位置的PD数据进行卷积运算，得到每个PD数据块对对应的差异数据集，对差异数据集进行拟合，根据拟合结果以及相位差偏移量，获取每个PD数据块对中左、右PD数据块之间的相位差，基于获取的每个PD数据块对的相位差生成相位差检测结果，从而实现了相位差的准确检测。检测。检测。
技术研发人员：李海勇 郭奕滨 谭坤
受保护的技术使用者：影石创新科技股份有限公司
技术研发日：2022.04.28
技术公布日：2022/8/8