一种新型检测面板的方法与流程

1.本发明涉及面板检测技术领域，特别是一种新型检测面板的方法。


背景技术：

2.显示面板用mask镀完rgb像素之后，需要将缺陷进行检出。因整块面板很大又要进行微观检测，面相机速度没线扫相机快，故都是用黑白线扫相机做缺陷检测。
3.但用mask印刷或蒸渡rgb可能会产生颜色丢失(color lost)或颜色偏移(color shift)，以目前架构无法检测，因黑白相机对rgb色彩不敏感，对比不佳，故此缺陷只能在后期人员抽检复判，无法实时报警处理。因mask造成此缺陷，是因定位误差造成，会造成整体丢失或颜色偏移，经过发明人长期研究，在现有基础上，加上彩色面相机，发明了一种新型检测面板的方法。


技术实现要素：

4.本发明的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种新型检测面板的方法。
5.本发明的目的通过以下技术方案来实现：一种新型检测面板的方法，包括线扫相机和面相机，线扫相机与面相机互相配合对产品进行扫描。
6.优选的，包括以下步骤：
7.s1：产品往扫描区移动，使扫描区内的线扫相机和面相机同时对产品进行扫描；
8.s2：线扫相机将图像传输到子机内进行处理；
9.s3：子机将处理后的缺陷数据通过hub传输给主机；
10.s4：面相机将图像传输到主机进行处理，主机汇整线扫相机扫描出来的缺陷，并将面相机和线扫相机扫描出来的数据整合，产生map数据。
11.优选的，s2和s4中图像处理之前均需要对亮度和对比度进行调节以及降噪处理。
12.优选的，调整图像亮度和对比度公式为
13.g(i，j)＝a*f(i，j)+b；
14.其中a＞0，b是增益系数，即a参数调节图像整体对比度，b参数调节图像整体亮度。
15.优选的，降噪处理包括以下步骤：
16.a1：选择3*3的卷积核；
17.a2：确定卷积中心坐标；
18.a3：利用二维高斯函数分配卷积核权重；
19.a4：与图像卷积达到去噪效果。
20.优选的，面相机的曝光时间≤精度/运动平台的速度。
21.优选的，面相机包括以下处理步骤：
22.b1：面相机获取到面板显示区的三维彩色图像；
23.b2：裁定出m*m大小的矩形框；
24.b3：矩形框的两条对角线为缺陷待检区；
25.b4：返回缺陷坐标并于线扫相机数据整合产生map数据；
26.b5：识别缺陷、获取缺陷宽度并分类。
27.优选的，b5中
28.本发明具有以下优点：本发明通过线扫相机和面相机互相配合对产品进行扫描，线扫相机可将拍摄的图像快速处理，将划伤、膜不均和错位等缺陷检出，再通过面相机提取rgb的颜色信息，从而可以将rgb像素溢出、偏移和遗漏等缺陷检出，避免了后期人工复检。
附图说明
29.图1为检测面板方法基本流程的结构示意图；
30.图2为检测面板方法数据硬件架构的结构示意图；
31.图中，1-线扫相机，2-子机，3-hub，4-主机，5-面相机。
具体实施方式
32.为使本发明实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施方式的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
33.因此，以下对在附图中提供的本发明的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
34.需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施方式及实施方式中的特征可以相互组合。
35.应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
36.在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
37.在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
38.在本实施例中，如图1所示，一种新型检测面板的方法，包括线扫相机1和面相机5，线扫相机1与面相机5互相配合对产品进行扫描。通过线扫相机1和面相机5互相配合对产品进行扫描，线扫相机1可将拍摄的图像快速处理，将划伤、膜不均和错位等缺陷检出，再通过
面相机5提取rgb的颜色信息，从而可以将rgb像素溢出、偏移和遗漏等缺陷检出，避免了后期人工复检。
39.进一步的，如图2所示，包括以下步骤：
40.s1：产品往扫描区移动，使扫描区内的线扫相机1和面相机5同时对产品进行扫描；
41.s2：线扫相机1将图像传输到子机2内进行处理；
42.s3：子机2将处理后的缺陷数据通过hub3传输给主机4；
43.s4：面相机5将图像传输到主机4进行处理，主机4汇整线扫相机1扫描出来的缺陷，并将面相机5和线扫相机1扫描出来的数据整合，产生map数据。具体地说，线扫相机1主要作用是将面板全部影像拍出，以黑白影像的方式呈现，再将线扫相机1拍出的图像传输到子机2内，子机2将划伤、膜不均和错位等缺陷检出，再通过hub3将子机2处理后的缺陷数据传输给主机4，面相机5主要用于拍摄面板显示区的彩色影像，并将彩色影像传输到主机4进行处理并汇整线扫相机1的缺陷情报，将两相机检出数据整合并产生map数据。
44.在本实施例中，s2和s4中图像处理之前均需要对亮度和对比度进行调节以及降噪处理。进一步的，调整图像亮度和对比度公式为
45.g(i，j)＝a*f(i，j)+b；
46.其中a＞0，b是增益系数，即a参数调节图像整体对比度，b参数调节图像整体亮度。再进一步的，降噪处理包括以下步骤：
47.a1：选择3*3的卷积核；
48.a2：确定卷积中心坐标；
49.a3：利用二维高斯函数分配卷积核权重；
50.a4：与图像卷积达到去噪效果。具体地说，降噪处理的主要目的是为了抑制图像在传输过程中受到各种噪声对后续图像的处理和图像视觉效果所带来的不利影响，在本实施例中，采用高斯滤波处理。
51.在本实施例中，面相机5的曝光时间≤精度/运动平台的速度。具体地说，面相机5选择全局曝光相机，曝光时间≤精度/运动平台的速度的主要目的是解决残影问题。
52.进一步的，面相机5包括以下处理步骤：
53.b1：面相机5获取到面板显示区的三维彩色图像；
54.b2：裁定出m*m大小的矩形框；
55.b3：矩形框的两条对角线为缺陷待检区；
56.b4：返回缺陷坐标并于线扫相机数据整合产生map数据；
57.b5：识别缺陷、获取缺陷宽度并分类。
58.在本实施例中，由于图像按rgb通道排列不利于颜色在色相、饱和度以及颜色明亮程度上划分，因此以hsv通道将图像对缺陷颜色阈值进行划分，由于缺陷在面相机下呈现以白色为主，因此rgb通道转换成hsv通道的公式如下：
[0059]v←
max(r，g，b)；
[0060]
[0061][0062]
通过调节和测试，得到hsv通道下白色的颜色阈值划分为色相(h)：min(0)～max(180)；饱和度(s)：min(0)～max(30)；颜色明暗(v)：min(221)～max(255)。
[0063]
进一步的，b5中具体地说，缺陷宽度小于r，g，b颜色带宽即为颜色偏移，缺陷宽度等于r，g，b颜色带宽即为颜色丢失。
[0064]
尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。