特征图干扰去除方法和包含该方法的屏摄水印识别方法

技术特征：
1.一种特征图干扰去除方法，其特征在于：包括如下步骤：对特征图的原始图像进行自适应二值化处理得到前景图并将前景图作为掩膜图像；根据掩膜图像，以固定步长逐级从外向内进行腐蚀操作；将腐蚀操作后的结果和上一级的掩膜图像进行比较得到插值区域；计算特征图插值区域的均值滤波并将计算结果填充至插值区域；持续上述步骤直至掩膜图像腐蚀到消失，经过多次填充后得到去除干扰后的特征图。2.如权利要求1所述的特征图干扰去除方法，其特征在于：所述的对特征图进行自适应二值化处理得到前景图并将前景图作为掩膜图像步骤中，将前景图进行膨胀处理后得到的图像作为掩膜图像。3.如权利要求1所述的特征图干扰去除方法，其特征在于：所述以固定步长逐级从外向内进行腐蚀操作中的固定步长为1~4像素。4.如权利要求1所述的特征图干扰去除方法，其特征在于：所述的步骤对特征图的原始图像进行自适应二值化处理得到前景图并将前景图作为掩膜图像中，特征图和原始图像按如下步骤获得：对拍摄的屏幕图像进行剪裁和/或缩放得到原始图像；利用水印提取程序对原始图像进行水印提取得到特征图。5.如权利要求4所述的特征图干扰去除方法，其特征在于：所述拍摄的屏幕图像包含文字，前景图即文字区域；原始图像的尺寸与水印提取程序的输出尺寸相同。6.一种屏摄水印识别方法，其特征在于：包括如下步骤：对拍摄的屏幕图像进行剪裁和/或缩放得到原始图像；利用水印提取程序对原始图像进行水印提取得到特征图；将原始图像和特征图按照权利要求1中所述的步骤进行处理得到去除干扰后的特征图；构造与水印特征尺寸相对应的特征滤波器；使用特征滤波器对去除干扰后的特征图进行提取强化得到响应图像；根据响应图像计算水印可能性评分s，并将s与设定的阈值t进行比较，若s＞t，则判定待检测屏摄图像中含有水印，否则判定待检测屏摄图像中不含水印。7.如权利要求6所述的屏摄水印识别方法，其特征在于：所述的待检测屏摄图像中的水印为块状；所述的构造与水印特征尺寸相对应的特征滤波器包括如下步骤：根据块状的水印确定其可能组成的结构，可能的结构包括边角结构、直边结构以及棋盘状结构；针对这三个结构设计14个强化水印边缘信息的特征滤波器，特征滤波器的尺寸大于水印特征尺寸；所述的使用特征滤波器对去除干扰后的特征图进行提取强化得到响应图像包括：使用特征滤波器对去除干扰后的特征图进行提取强化，对于每个特征滤波器i得到一个特征图对该特征滤波器的结构模式响应图像r
i
，其中i＝1,2,
…
,14。8.如权利要求7所述的屏摄水印识别方法，其特征在于：所述的根据响应图像计算水印可能性评分s包括如下步骤：将14个响应图像r
i
合而为一得到综合响应图像r，综合响应图像r在坐标(x,y)处的取值
r(x,y)按如下公式计算得到：r(x,y)＝max[r
i
(x,y)]，式中，r
i
(x,y)即第i个响应图像在坐标(x,y)处的取值；对综合响应图像r所有坐标位置的取值求平均值即为水印可能性评分s；所述的阈值t为常数，且6≤t≤7。9.一种计算机可读存储介质，其特征在于：其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求1-5中任一项所述的特征图干扰去除方法或如权利要求6-8中任一项所述的屏摄水印识别方法。10.一种电子设备，其特征在于：包括存储器、处理器及存储在存储器上的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1-5中任一项所述的特征图干扰去除方法或如权利要求6-8中任一项所述的屏摄水印识别方法。

技术总结
本发明特别涉及一种特征图干扰去除方法和包含该方法的屏摄水印识别方法，其中一种特征图干扰去除方法，包括如下步骤：对特征图的原始图像进行自适应二值化处理得到前景图并将前景图作为掩膜图像；根据掩膜图像，以固定步长逐级从外向内进行腐蚀操作；将腐蚀操作后的结果和上一级的掩膜图像进行比较得到插值区域；计算特征图插值区域的均值滤波并将计算结果填充至插值区域；持续上述步骤直至掩膜图像腐蚀到消失，经过多次填充后得到去除干扰后的特征图。本方法可以方便的实现前景图的淡化，从特征图中有效地去除了前景图的干扰。从特征图中有效地去除了前景图的干扰。从特征图中有效地去除了前景图的干扰。


技术研发人员：田辉 马泽华 张卫明 俞能海 郭玉刚 张志翔
受保护的技术使用者：中国科学技术大学
技术研发日：2022.08.11
技术公布日：2022/9/13