技术特征:
1.一种3d环视拼接缝消除方法,其特征在于,包括以下步骤:获取拼接缝模型;根据所述拼接缝模型调整摄像头纹理权重;将所述拼接缝模型基于调整后的所述摄像头纹理权重,映射两个相邻摄像头的拼接缝纹理。2.如权利要求1所述的3d环视拼接缝消除方法,其特征在于,所述“根据所述拼接缝模型调整摄像头纹理权重”步骤,具体包括以下步骤:通过对所述拼接缝模型基于夹角计算摄像头纹理权重;或者,通过对所述拼接缝模型基于模型数量计算摄像头纹理权重。3.如权利要求2所述的3d环视拼接缝消除方法,其特征在于,所述“通过对所述拼接缝模型基于夹角计算摄像头纹理权重”步骤,具体包括以下步骤:从所述拼接缝模型的顶点延伸多条线段至拼接缝模型的底边,获取每条线段与所述拼接缝模型的右边拼接缝之间的夹角;根据所述拼接缝模型的两个拼接缝之间的夹角,及每条线段与所述拼接缝模型的右边拼接缝之间的夹角,获取拼接缝左边摄像头纹理权重及拼接缝右边摄像头纹理权重;其中,单条线段上的顶点像素对应的摄像头纹理权重相同。4.如权利要求3所述的3d环视拼接缝消除方法,其特征在于,所述“根据所述拼接缝模型的两个拼接缝之间的夹角,及每条线段与所述拼接缝模型的右边拼接缝之间的夹角,获取拼接缝左边摄像头纹理权重及拼接缝右边摄像头纹理权重”步骤,具体包括以下步骤:根据所述拼接缝模型的两个拼接缝之间的夹角α,每条线段与所述拼接缝模型的右边拼接缝之间的夹角β;获取拼接缝左边摄像头纹理权重为a:a=β/α
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
式(1);获取拼接缝右边摄像头纹理权重为b:b=1-a
ꢀꢀꢀꢀ
式(2)。5.如权利要求2所述的3d环视拼接缝消除方法,其特征在于,所述“通过对所述拼接缝模型基于模型数量计算摄像头纹理权重”步骤,具体包括以下步骤:从所述拼接缝模型的顶点延伸多条线段至拼接缝模型的底边,多条线段将所述拼接缝模型划分为多个单元拼接缝模型,对每个所述单元拼接缝模型的位置从左至右逐渐增大依次设定位置编号;根据每个所述单元拼接缝模型的位置编号,获取拼接缝左边摄像头纹理权重及拼接缝右边摄像头纹理权重;其中,单个单元拼接缝模型上的顶点像素对应的摄像头纹理权重相同。6.如权利要求5所述的3d环视拼接缝消除方法,其特征在于,所述“根据每个所述单元拼接缝模型的位置编号,获取拼接缝左边摄像头纹理权重及拼接缝右边摄像头纹理权重”步骤,具体包括以下步骤:单元拼接缝模型的位置编号为k;获取拼接缝左边摄像头纹理权重为a:a=1-k*(1/(n+1))
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
式(3);
获取拼接缝右边摄像头纹理权重为b:b=1-a
ꢀꢀꢀꢀ
式(2);其中,k的范围为1—n。7.如权利要求3或5中任一项所述的3d环视拼接缝消除方法,其特征在于,所述“将所述拼接缝模型基于调整后的所述摄像头纹理权重,映射两个相邻摄像头的拼接缝纹理”步骤,具体包括以下步骤:获取左边摄像头的顶点像素及右边摄像头的顶点像素;根据所述左边摄像头的顶点像素、所述右边摄像头的顶点像素、所述拼接缝左边摄像头纹理权重及所述拼接缝右边摄像头纹理权重,获取拼接缝模型顶点像素。8.如权利要求7所述的3d环视拼接缝消除方法,其特征在于,所述“根据所述左边摄像头的顶点像素、所述右边摄像头的顶点像素、所述拼接缝左边摄像头纹理权重及所述拼接缝右边摄像头纹理权重,获取拼接缝模型顶点像素”步骤,具体包括以下步骤:根据所述左边摄像头的顶点像素a、所述右边摄像头的顶点像素b、所述拼接缝左边摄像头纹理权重a及所述拼接缝右边摄像头纹理权重b;获取拼接缝模型顶点像素为s:s=a*a+b*b
ꢀꢀꢀꢀ
式(4)。9.一种3d环视拼接缝消除方法系统,其特征在于,包括:拼接缝模型模块,用于获取拼接缝模型;摄像头纹理权重模块,与所述拼接缝模型模块通信连接,用于根据所述拼接缝模型调整摄像头纹理权重;映射模块,与所述摄像头纹理权重模块通信连接,用于将所述拼接缝模型基于调整后的所述摄像头纹理权重,映射两个相邻摄像头的拼接缝纹理。10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任一项所述的3d环视拼接缝消除方法。
技术总结
本发明公开了一种3D环视拼接缝消除方法及系统,其方法包括以下步骤:获取拼接缝模型;根据所述拼接缝模型调整摄像头纹理权重;将所述拼接缝模型基于调整后的所述摄像头纹理权重,映射两个相邻摄像头的拼接缝纹理;因此本发明通过调整摄像头纹理权重来解决拼接缝模型纹理映射的明显拼接线问题。型纹理映射的明显拼接线问题。型纹理映射的明显拼接线问题。
技术研发人员:李森林 余俊豪
受保护的技术使用者:武汉光庭信息技术股份有限公司
技术研发日:2022.08.31
技术公布日:2023/1/17