1.本发明涉及一种图像检测方法，具体地说，是一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法。
背景技术：
2.当线路板的板厚大于6mm，纵横比大于等于15∶1时，在外层使用负片蚀刻(酸性药水)容易因为板太厚而造成堵板，线路蚀刻过度报废；而如果使用正片蚀刻，容易因为镀锡时≤0.4mm的孔孔中间部分锡薄而造成蚀刻孔无铜报废。现有技术中，通常采用延长镀锡时间或加大镀锡电流密度来解决纵横比高的多层板。但是，采用延长镀锡时间的方法，容易产生外层线路夹膜，导致线路间短路报废；而且延长时间和加大电流仍然不能将小孔的孔内锡厚电镀到7.6μm以上。
3.基于上述技术难题，针对这种高纵横比的pcb板表面的缺陷检测需要增强型检测方法。
技术实现要素：
4.发明目的：本发明目的在于针对现有技术的不足，提供一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法。
5.技术方案：本发明所述一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，包括以下步骤：
6.s1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合；
7.s2、对s1中获得的待检测图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像；
8.s3、对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域；
9.s4、对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征。
10.作为优选的，s1中，对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合的同时对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行标号。
11.作为优选的，s1中，通过线扫相机获取待检测图像后对待检测图像建立坐标系，并根据参与排列组合的高纵横比工件的标号在坐标系中建立各高纵横比工件间在待检测图像上的分割线。
12.作为优选的，s4中，根据标号和分割线将检测出的缺陷特征分散至每个高纵横比工件上，从而获得每个高纵横比工件上的准确缺陷特征。
13.作为优选的，s2中，首先对s1中获得的待检测图像进行双边伽马校正，获取两幅校
正图像，将两幅校正图像进行多尺度图像融合，获取一加强图像，随后对加强图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像。
14.作为优选的，s2中，根据伽马校正算法设计两条校正曲线，通过上边伽马校正曲线中斜率大于1的曲线段校正待检测图像，获得过亮度校正图像，通过上边伽马校正曲线中斜率大于1的曲线段校正待检测图像获得过暗度校正图像。
15.本发明相比于现有技术具有以下有益效果：通过组合高纵横比工件的方法缩小纵横比，便于后续的图像处理，同时处理出十张锐化图像并进行缺陷特征提取和比较，随后取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征，可以获得准确度更高的高纵横比工件的缺陷特征。
具体实施方式
16.下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
17.在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
18.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，也可以是成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，也可以是通讯连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介的间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
19.下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
20.实施例1：一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，包括以下步骤：
21.s1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合；
22.s2、对s1中获得的待检测图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像；
23.s3、对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域；
24.s4、对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征。
25.实施例2：一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，包括以下步骤：
26.s1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合并进行标号，同时通过线扫相机获取待检测图像后对待检测图像建立坐标系，并根据参与排列组合的高纵横比工件的标号在坐标系中建立各高纵横比工件间在待检测图像上的分割线；
27.s2、对s1中获得的待检测图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像；
28.s3、对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域；
29.s4、对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征，根据标号和分割线将检测出的缺陷特征分散至每个高纵横比工件上，从而获得每个高纵横比工件上的准确缺陷特征。
30.实施例3：一种针对高纵横比工件缺陷的增强型检测方法，包括以下步骤：
31.s1、将高纵横比工件横向排列并通过线扫相机获取待检测图像，设置待检测图像中的纵横比为1：1，并在待检测图像下上对每一个参与排列组合的高纵横比工件进行排列组合并进行标号，同时通过线扫相机获取待检测图像后对待检测图像建立坐标系，并根据参与排列组合的高纵横比工件的标号在坐标系中建立各高纵横比工件间在待检测图像上的分割线；
32.s2、首先对s1中获得的待检测图像进行双边伽马校正，获取两幅校正图像，将两幅校正图像进行多尺度图像融合，获取一加强图像，具体的，根据伽马校正算法设计两条校正曲线，通过上边伽马校正曲线中斜率大于1的曲线段校正待检测图像，获得过亮度校正图像，通过上边伽马校正曲线中斜率大于1的曲线段校正待检测图像获得过暗度校正图像，随后对加强图像进行十次锐化处理，获得十张锐化图像，
33.s3、对十张锐化图像分别做保亮度的高细节增强图像，并分别对十张高细节增强的锐化图像提取特征缺陷，在十张高细节增强的锐化图像上获取图像缺陷特征区域；
34.s4、对十张高细节增强的锐化图像上的图像缺陷特征区域进行对比，去除离散度较大的锐化图像，取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征，根据标号和分割线将检测出的缺陷特征分散至每个高纵横比工件上，从而获得每个高纵横比工件上的准确缺陷特征。
35.这一技术方案的优点在于通过组合高纵横比工件的方法缩小纵横比，便于后续的图像处理，同时处理出十张锐化图像并进行缺陷特征提取和比较，随后取六张图像缺陷特征区域近似的锐化图像竞合获得准确的缺陷特征，从而检测出高纵横比工件的缺陷特征，可以获得准确度更高的高纵横比工件的缺陷特征。
36.在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一特征和第二特征直接接触，或第一特征和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可以是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述，意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。
37.而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任意一个或者多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
38.最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。