1.一种光线追踪加速硬件设备，包括：
2.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，其中所述相交检测电路包括第一相交电路和第二相交电路，所述第一相交电路被配置为在所述第一数值精度下操作，所述第二相交电路被配置为在所述第二数值精度下操作，并且其中所述第一相交电路被配置为执行确定所述光线是否与所述第一节点相交，以及所述第二相交电路被配置为执行确定所述光线是否与所述第二节点相交。
3.根据权利要求2所述的光线追踪加速硬件设备，其中所述第二相交电路进一步被配置为确定所述光线是否与一组几何元素中包括的几何图元相交。
4.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，其中所述第一数值精度的包围参数和所述第二数值精度的包围参数两者都涵盖同一组几何元素，所述一组几何元素被表示为所述几何体as中的叶节点。
5.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，其中所述第一节点进一步包括所述第一数值精度的包围参数对第一包围盒是有效的指示。
6.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，其中所述第一节点是实例节点并进一步包括变换信息。
7.根据权利要求6所述的光线追踪加速硬件设备，其被配置为与确定所述光线是否与由所述第一数值精度的包围参数定义的第一包围盒相交基本上并行地执行根据所述变换信息对所述光线的变换。
8.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，其中由所述第一数值精度的所述包围参数定义的第一包围盒和由所述第二数值精度的所述包围参数定义的第二包围盒是轴对齐的包围盒aabb。
9.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，其中确定所述光线是否与所述第一节点相交包括：基于所述光线和所述第一数值精度的包围参数执行平板测试，并且确定所述光线是否与所述第二节点相交包括：基于所述光线和所述第二数值精度的包围参数执行所述平板测试。
10.根据权利要求9所述的光线追踪加速硬件设备，其中确定所述光线是否与所述第二节点相交包括：在向所述光线添加膨胀的情况下执行所述平板测试，并且确定所述光线是否与所述第一节点相交包括：在没有向所述光线添加膨胀的情况下执行所述平板测试。
11.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，其中所述第二节点是所述几何体as的根节点。
12.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，被配置为：
13.根据权利要求1所述的光线追踪加速硬件设备，进一步包括光线管理电路，其被配置为基于所述光线与由所述第一数值精度的包围参数定义的第一包围盒或由所述第二数值精度的包围参数定义的第二包围盒之一的最小相交点来调整所述光线的原点，
14.根据权利要求13所述的光线追踪加速硬件设备，进一步包括光线管理电路，其被配置用于存储来自确定所述光线是否与所述第一节点相交的第一值，以及用于提供所存储的第一值作为用于调整所述光线的所述原点的所述最小相交点。
15.一种光线追踪加速方法，包括：
16.根据权利要求15所述的光线追踪加速方法，其中所述第一节点是实例节点，并且所述方法进一步包括：
17.根据权利要求15所述的光线追踪加速方法，进一步包括：
18.根据权利要求15所述的光线追踪加速方法，进一步包括：
19.根据权利要求18所述的光线追踪加速方法，进一步包括：