测试方法、装置、电子设备及存储介质与流程

本发明涉及测试领域但不限于测试领域，尤其涉及一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、相关技术中，在自动化测试待测试设备的过程中，若利用测试工具测试待测试设备失败，会直接认定待测试设备的性能不符合测试标准。相关技术中往往没有充分考虑待测试设备的性能之外的因素对测试待测试设备的结果造成的影响。此时，可能受待测试设备的性能之外的因素影响，在待测试设备的性能符合测试标准的情况下，测试待测试设备失败，导致误认定待测试设备的性能不符合测试标准。如此，相关技术中不能精准认定待测试设备的性能是否符合测试标准，导致自动化测试待测试设备的测试准确度低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开实施例公开了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质。

2、根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试方法，所述方法由控制端执行，所述方法包括：

3、接收测试端发送的测试信息；其中，所述测试信息包括利用第一测试通道测试待测试设备的结果；

4、响应于所述测试信息指示所述待测试设备未通过测试，从按照预定测试顺序排列的测试通道中确定出第二测试通道；其中，所述按照预定测试顺序排列的测试通道至少包括与所述第一测试通道不同的第三测试通道；

5、向测试端发送第一指示信息；其中，所述第一指示信息用于指示利用所述第二测试通道复测所述待测试设备。

6、在一个实施例中，所述预定测试顺序为从预定测试顺序集中确定出的测试顺序，所述预定测试顺序集包括以下至少之一：

7、第一测试顺序，所述第一测试顺序用于指示按照所述第一测试顺序排列的测试通道依次为所述第一测试通道、所述第一测试通道和与所述第三测试通道；

8、第二测试顺序，所述第二测试顺序用于指示按照所述第二测试顺序排列的测试通道依次为所述第一测试通道、所述第三测试通道和与所述第三测试通道；以及

9、第三测试顺序，所述第三测试顺序用于指示按照所述第三测试顺序排列的测试通道依次为所述第一测试通道、第三测试通道和与所述第一测试通道。

10、在一个实施例中，在向所述测试端发送所述第一指示信息之前，所述方法还包括：

11、基于所述测试信息，确定是否向所述测试端发送所述第一指示信息。

12、在一个实施例中，所述基于所述测试信息，确定是否向所述测试端发送所述第一指示信息，包括：

13、响应于所述测试信息指示所述待测试设备未通过测试，确定待测试设备未通过测试的次数；

14、基于所述待测试设备未通过测试的次数，确定是否向所述测试端发送所述第一指示信息。

15、在一个实施例中，所述基于所述待测试设备未通过测试的次数，确定是否向所述测试端发送所述第一指示信息，包括：

16、响应于所述待测试设备未通过测试的次数不大于第一预定次数，向所述测试端发送所述第一指示信息；

17、和/或，

18、响应于所述待测试设备未通过测试的次数大于第二预定次数，确定向测试端发送第二指示信息；其中，所述第二指示信息用于指示停止测试所述待测试设备。

19、在一个实施例中，在接收所述测试端发送的所述测试信息之前，所述方法还包括：

20、接收所述测试端发送的指示第一标识的请求信息；其中，所述第一标识用于指示所述待测试设备；

21、基于所述第一标识，确定所述第一测试通道；

22、向所述测试端发送第三指示信息；其中，所述第三指示信息用于指示利用所述第一测试通道测试待测试设备。

23、在一个实施例中，所述基于所述第一标识，确定所述第一测试通道，包括：基于所述第一标识，查找与所述第一标识对应的测试记录；其中，所述测试记录根据接收的测试信息确定；

24、基于查找所述测试记录的结果，确定所述第一测试通道。

25、在一个实施例中，所述测试端设置有至少两个测试通道，所述基于查找所述测试记录的结果，确定所述第一测试通道，包括：

26、响应于未查找到与所述第一标识对应的测试记录，利用随机算法从所述至少两个测试通道中确定出所述第一测试通道；

27、和/或，

28、响应于查找到与所述第一标识对应的测试记录且所述待测试设备通过第一测试单元的测试，利用随机算法从第二测试单元的至少两个测试通道中确定出所述第一测试通道；其中，所述第二测试单元为在利用所述第一测试单元测试完所述待测试设备后待测试所述待测试设备的测试单元；所述第一测试单元和所述第二测试单元设置有至少两个测试通道。在一个实施例中，所述测试信息用于指示以下至少之一：用于指示所述待测试设备的第一标识、用于指示所述第一测试通道的第二标识、所述测试结果和待测试设备所处的测试位；所述测试结果为利用所述第一测试通道的待测试设备所处的测试位测试所述待测试设备的结果；测试通道内的不同测试位对应的测试项目不同。

29、在一个实施例中，所述方法还包括：

30、基于所述测试信息，更新测试记录；

31、其中，所述测试记录包括以下至少之一：所述第一标识、所述第二标识、所述测试结果、待测试设备未通过测试的次数、第一测试位和第二测试位；所述第一测试位为在所述第一测试通道内所述待测试设备通过测试时对应的测试位置；所述第二测试位为在所述第一测试通道内所述待测试设备未通过测试时对应的测试位置；

32、基于更新后的所述测试记录，确定所述第一指示信息。

33、在一个实施例中，所述基于所述测试信息，更新测试记录，包括：

34、根据所述测试信息的第一标识，更新与所述第一标识对应的测试记录。

35、在一个实施例中，所述第一指示信息还用于指示利用所述第二测试通道的所述第二测试位测试所述待测试设备。

36、根据本公开实施例的第二方面，提供一种测试方法，所述方法由测试端执行，所述方法包括：

37、向控制端发送测试信息；其中，所述测试信息包括利用第一测试通道测试待测试设备的结果；

38、接收控制端发送的第一指示信息；其中，所述第一指示信息用于指示利用第二测试通道复测所述待测试设备；所述第二测试通道为从按照预定测试顺序排列的测试通道中确定出的通道；所述按照预定测试顺序排列的测试通道至少包括与所述第一测试通道不同的第三测试通道。

39、在一个实施例中，在向控制端发送测试结果之前，所述方法还包括：

40、向所述控制端发送指示第一标识的请求信息；其中，所述第一标识用于指示所述待测试设备；

41、接收所述控制端发送的第三指示信息；其中，所述第三指示信息用于指示利用所述第一测试通道测试待测试设备。

42、在一个实施例中，所述方法还包括：

43、接收所述控制端发送的第二指示信息；其中，所述第二指示信息用于指示停止测试所述待测试设备；

44、停止测试所述待测试设备。

45、在一个实施例中，所述第一指示信息还用于指示利用第二测试通道的第二测试位测试所述待测试设备；所述第二测试位为在所述第一测试通道内所述待测试设备未通过测试时对应的测试位置。

46、根据本公开实施例的第三方面，提供一种测试装置，所述装置包括：

47、接收模块，用于接收测试端发送的测试信息；其中，所述测试信息包括利用第一测试通道测试待测试设备的结果；

48、确定模块，用于响应于所述测试信息指示所述待测试设备未通过测试，从按照预定测试顺序排列的测试通道中确定出第二测试通道；其中，所述按照预定测试顺序排列的测试通道至少包括与所述第一测试通道不同的第三测试通道；

49、发送模块，用于向测试端发送第一指示信息；其中，所述第一指示信息用于指示利用所述第二测试通道复测所述待测试设备。

50、根据本公开实施例提供的第四方面，提供一种测试装置，所述装置包括：

51、发送模块，用于向控制端发送测试信息；其中，所述测试信息包括利用第一测试通道测试待测试设备的结果；

52、接收模块，用于接收控制端发送的第一指示信息；其中，所述第一指示信息用于指示利用第二测试通道复测所述待测试设备；所述第二测试通道为从按照预定测试顺序排列的测试通道中确定出的通道；所述按照预定测试顺序排列的测试通道至少包括与所述第一测试通道不同的第三测试通道。

53、根据本公开实施例的第五方面，提供一种电子设备，所述电子设备，包括：

54、处理器；

55、用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

56、其中，所述处理器被配置为：用于运行所述可执行指令时，实现本公开任意实施例所述的方法。

57、根据本公开实施例的第六方面，提供一种计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机可执行程序，所述可执行程序被处理器执行时实现本公开任意实施例所述的方法。

58、本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

59、本公开实施例中，接收测试端发送的测试信息；其中，所述测试信息包括利用第一测试通道测试待测试设备的结果；响应于所述测试信息指示所述待测试设备未通过测试，从按照预定测试顺序排列的测试通道中确定出第二测试通道；其中，所述按照预定测试顺序排列的测试通道至少包括与所述第一测试通道不同的第三测试通道；向测试端发送第一指示信息；其中，所述第一指示信息用于指示利用所述第二测试通道复测所述待测试设备。这里，由于在待测试设备未通过测试的情况下，会从按照预定测试顺序排列的测试通道中确定出第二测试通道，向测试端发送用于指示利用第二测试通道复测待测试设备的第一指示信息，且按照预定测试顺序排列的测试通道包括与第一测试通道不同的第三测试通道，因此，在待测试设备多次未通过测试的情况下，从按照预定测试顺序排列的测试通道中确定出的第二测试通道，会轮到与第一测试通道不同的第三测试通道。也就是说，在待测试设备多次未通过测试的情况下，会向测试端发送指示利用与第一测试通道不同的第三测试通道复测待测试设备的第一指示信息，从而在第一测试通道故障的情况下，测试端能够利用与第一测试通道不同的测试通道精准测试待测试设备，减小待测试设备的性能之外的因素(如第一测试通道自身故障)对测试待测试设备的结果的影响。相较于相关技术中没有充分考虑待测试设备的性能之外的因素对测试待测试设备的结果造成的影响的测试方式，本公开实施例中，在待测试设备多次未通过测试的情况下，会利用不同的测试通道测试待测试设备。如此，能够排除待测试设备的性能之外的因素对测试待测试设备的结果的影响，减小由于一直利用故障的测试通道对待测试设备进行复测导致的测试结果准确度低的情况，从而提高测试待测试设备的测试准确度。