针插头的检测方法及装置、针插头与流程

本发明涉及图像处理，具体而言，涉及一种针插头的检测方法及装置、针插头。

背景技术：

1、针插头作为电子器件的连接头，在实际中具备广泛的应用，如多针的串口针插头，电路板连接排线的针插头，其生产质量及性能，对电子设备的正常使用有着关键的影响。

2、针插头本身比较细，在生产过程中，若有挤压或者注塑组装工艺的问题，会导致生产出的针插头出现弯针、插针间距不等或者高低不一的情形，弯针和插针间距导致插头无法进行器件的连接，高低不一会导致电子器件供电或者通信等故障，甚至引起电弧导致着火等安全性问题，行业对针插头的生产质量把控具有严格的要求，现今的针插头缺陷检测多依赖人工，人眼长时间检测会导致的误检和漏检，并且检测的过程极大的损耗了人力及时间。

3、针对上述相关技术中采用人工方式对针插头进行缺陷检测，容易出现误检或漏检等，可靠性较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种针插头的检测方法及装置、针插头，以至少解决相关技术中采用人工方式对针插头进行缺陷检测，容易出现误检或漏检等，可靠性较低的技术问题。

2、根据本发明实施例的一个方面，提供了一种针插头的检测方法，包括：从针插头图像中提取目标针插头的实际针插头轮廓，其中，所述目标针插头是需要进行缺陷检测的针插头，所述针插头图像是对所述目标针插头进行图像采集得到的图像；获取所述目标针插头的参考针插头轮廓，其中，所述参考针插头轮廓是从参考针插头图像中提取的参考针插头的轮廓，所述参考针插头是不存在缺陷的针插头，并且所述参考针插头与所述目标针插头结构相同；将所述实际针插头轮廓与所述参考针插头轮廓进行匹配，得到匹配结果；在根据所述匹配结果确定所述实际针插头轮廓与所述参考针插头轮廓存在不一致的信息时，确定所述目标针插头存在缺陷。

3、可选地，从针插头图像中提取目标针插头的实际针插头轮廓，包括：在接收到针插头检测指令后，触发针插头检测区域的图像采集设备采集所述目标针插头的所述针插头图像，其中，所述图像采集设备以俯视角度采集所述目标针插头的所述针插头图像，所述针插头图像为所述目标针插头的俯视图；对所述针插头图像进行预处理，得到预处理针插头图像，其中，所述预处理包括以下至少之一操作：二值化处理、灰度化处理；根据所述目标针插头的结构对所述预处理针插头图像进行轮廓提取，得到所述实际针插头轮廓。

4、可选地，获取所述目标针插头的参考针插头轮廓，包括：根据所述目标针插头的结构选择与所述目标针插头结构相同，且不存在缺陷的针插头作为所述参考针插头；控制图像采集设备以俯视角度采集所述参考针插头的俯视图，得到所述参考针插头图像；从所述参考针插头图像中提取所述参考针插头轮廓。

5、可选地，将所述实际针插头轮廓与所述参考针插头轮廓进行匹配，得到匹配结果，包括：确定所述参考针插头轮廓中参考插针的参考特征信息，其中，所述参考特征信息包括：所述参考插针的插针形状、各所述参考插针的排列方式、各所述参考插针的灰度值；将所述实际针插头轮廓中的实际插针的实际特征信息与所述参考特征信息依次比对，得到所述匹配结果。

6、可选地，确定所述目标针插头存在缺陷，包括：在所述匹配结果表示所述实际针插头轮廓中存在插针形状与所述参考插针的插针形状不同的所述实际插针的情况下，确定所述目标针插头存在弯针缺陷，其中，所述弯针缺陷表示所述目标针插头中存在弯曲变形的插针；在所述匹配结果表示所述实际针插头轮廓中插针的排列方式与各所述参考插针的排列方式不同的情况下，确定所述目标针插头存在排列不均缺陷，其中，所述排列不均缺陷表示所述目标针插头中存在未按照所述参考插针的排列方式排列的插针；在所述匹配结果表示所述实际针插头轮廓中存在灰度值与各所述参考插针的灰度值不同的所述实际插针的情况下，确定所述目标针插头存在长短针缺陷，其中，所述长短针缺陷包括以下至少之一：插针长度大于所述参考插针的长度、插针长度小于所述参考插针的长度。

7、可选地，确定所述目标针插头存在缺陷，包括：确定所述实际针插头轮廓中各实际插针之间的连线；在各所述实际插针之间的连线不平行的情况下，确定所述目标针插头存在排列不均缺陷，其中，所述排列不均缺陷表示所述目标针插头中存在未按照参考插针的排列方式排列的插针，所述参考插针是所述参考针插头中的插针。

8、可选地，在确定所述目标针插头存在缺陷之后，该针插头的检测方法还包括：确定所述目标针插头的缺陷类型；根据所述缺陷类型生成检测结果。

9、根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种针插头的检测装置，包括：提取单元，用于从针插头图像中提取目标针插头的实际针插头轮廓，其中，所述目标针插头是需要进行缺陷检测的针插头，所述针插头图像是对所述目标针插头进行图像采集得到的图像；获取单元，用于获取所述目标针插头的参考针插头轮廓，其中，所述参考针插头轮廓是从参考针插头图像中提取的参考针插头的轮廓，所述参考针插头是不存在缺陷的针插头，并且所述参考针插头与所述目标针插头结构相同；匹配单元，用于将所述实际针插头轮廓与所述参考针插头轮廓进行匹配，得到匹配结果；第一确定单元，用于在根据所述匹配结果确定所述实际针插头轮廓与所述参考针插头轮廓存在不一致的信息时，确定所述目标针插头存在缺陷。

10、可选地，所述提取单元，包括：触发模块，用于在接收到针插头检测指令后，触发针插头检测区域的图像采集设备采集所述目标针插头的所述针插头图像，其中，所述图像采集设备以俯视角度采集所述目标针插头的所述针插头图像，所述针插头图像为所述目标针插头的俯视图；预处理模块，用于对所述针插头图像进行预处理，得到预处理针插头图像，其中，所述预处理包括以下至少之一操作：二值化处理、灰度化处理；第一提取模块，用于根据所述目标针插头的结构对所述预处理针插头图像进行轮廓提取，得到所述实际针插头轮廓。

11、可选地，所述获取单元，包括：选择模块，用于根据所述目标针插头的结构选择与所述目标针插头结构相同，且不存在缺陷的针插头作为所述参考针插头；控制模块，用于控制图像采集设备以俯视角度采集所述参考针插头的俯视图，得到所述参考针插头图像；第二提取模块，用于从所述参考针插头图像中提取所述参考针插头轮廓。

12、可选地，所述匹配单元，包括：第一确定模块，用于确定所述参考针插头轮廓中参考插针的参考特征信息，其中，所述参考特征信息包括：所述参考插针的插针形状、各所述参考插针的排列方式、各所述参考插针的灰度值；匹配模块，用于将所述实际针插头轮廓中的实际插针的实际特征信息与所述参考特征信息依次比对，得到所述匹配结果。

13、可选地，所述第一确定单元，包括：第二确定模块，用于在所述匹配结果表示所述实际针插头轮廓中存在插针形状与所述参考插针的插针形状不同的所述实际插针的情况下，确定所述目标针插头存在弯针缺陷，其中，所述弯针缺陷表示所述目标针插头中存在弯曲变形的插针；第三确定模块，用于在所述匹配结果表示所述实际针插头轮廓中插针的排列方式与各所述参考插针的排列方式不同的情况下，确定所述目标针插头存在排列不均缺陷，其中，所述排列不均缺陷表示所述目标针插头中存在未按照所述参考插针的排列方式排列的插针；第四确定模块，用于在所述匹配结果表示所述实际针插头轮廓中存在灰度值与各所述参考插针的灰度值不同的所述实际插针的情况下，确定所述目标针插头存在长短针缺陷，其中，所述长短针缺陷包括以下至少之一：插针长度大于所述参考插针的长度、插针长度小于所述参考插针的长度。

14、可选地，所述第一确定单元，包括：第五确定模块，用于确定所述实际针插头轮廓中各实际插针之间的连线；第六确定模块，用于在各所述实际插针之间的连线不平行的情况下，确定所述目标针插头存在排列不均缺陷，其中，所述排列不均缺陷表示所述目标针插头中存在未按照参考插针的排列方式排列的插针，所述参考插针是所述参考针插头中的插针。

15、可选地，该针插头的检测装置还包括：第二确定单元，用于在确定所述目标针插头存在缺陷之后，确定所述目标针插头的缺陷类型；生成单元，用于根据所述缺陷类型生成检测结果。

16、根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种针插头，所述针插头使用上述中任一项所述的针插头的检测方法。

17、根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行上述中任意一项所述的针插头的检测方法。

18、根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行上述中任意一项所述的针插头的检测方法。

19、在本发明实施例中，从针插头图像中提取目标针插头的实际针插头轮廓，其中，目标针插头是需要进行缺陷检测的针插头，针插头图像是对目标针插头进行图像采集得到的图像；获取目标针插头的参考针插头轮廓，其中，参考针插头轮廓是从参考针插头图像中提取的参考针插头的轮廓，参考针插头是不存在缺陷的针插头，并且参考针插头与目标针插头结构相同；将实际针插头轮廓与参考针插头轮廓进行匹配，得到匹配结果；在根据匹配结果确定实际针插头轮廓与参考针插头轮廓存在不一致的信息时，确定目标针插头存在缺陷。通过本发明的针插头的检测方法，实现了通过图像识别的方式来确定针插头是否存在缺陷的目的，降低了针插头缺陷检测对人工的依赖，同时也提高了针插头缺陷检测的可靠性，有效率克服了现有方式中通过人工方式对针插头进行缺陷检测，容易出现误检或漏检的缺陷，进而解决了相关技术中采用人工方式对针插头进行缺陷检测，容易出现误检或漏检等，可靠性较低的技术问题。