技术特征：1.一种人工智能芯片检测计算方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的人工智能芯片检测计算方法，其特征在于，所述典型数据存储单元具有第一比特位宽，所述第一比特位宽为芯片最大数据位宽三倍加上第一计数位宽，所述第一计数位宽用于存放第一输入数据出现频次。
3.根据权利要求2所述的人工智能芯片检测计算方法，其特征在于，所述第一比特位宽包括第一输入数据位宽、第二输入数据位宽和输出数据位宽，所述输出数据位宽高于或等于所述第一输入数据位宽和所述第二输入数据位宽。
4.根据权利要求2所述的人工智能芯片检测计算方法，其特征在于，当所述典型数据存储单元存储数据达到上限时，所述典型数据存储单元剔除存储次数较少的第一输入数据。
技术总结本申请提供一种人工智能芯片检测计算方法，在计算阵列内设置多向冗余跳过模块和多个计算单元线，多向冗余跳过模块设置在计算单元线顶层，多向冗余跳过模块包括典型数据存储单元和计数模块，计算单元线包含多个计算单元，典型数据存储单元内预存储有一个或多个典型输入值、典型输入值对应的输入操作及典型输出值；将第一输入数据输入到多向冗余跳过模块，通过将第一输入数据与典型数据存储单元中的数据比对，当两者比对结果符合预设机制，将典型输出值作为计算单元的输出值，计算单元不参与计算，降低了计算单元的计算资源及功耗的功耗，提高计算单元的工作效率。
技术研发人员：李慧清
受保护的技术使用者：北京怀美科技有限公司
技术研发日：技术公布日：2024/1/15