基于MES系统的光学器件半成品入库方法及相关设备与流程

本技术涉及半导体激光器入库，具体涉及一种基于mes系统的光学器件半成品入库方法及相关设备。

背景技术：

1、mes系统（manufacturing execution system，生产执行系统）是一套面向制造企业车间执行层的生产信息化管理系统，mes可以为企业提生产信息等管理模块，实现信息化和数字化。

2、目前，在半导体激光器的生产管理中，半成品的生产管理比较复杂，需要后续多道加工才能成为成品，所以在现有的生产线上，一般是通过半成品设置条形码或采用人工校验的方式进行数量校验和信息核对，实现对半成品的入库管理，其入库管理方式容易存在交接有误、易丢失、易混淆等问题，从而造成效率低下，作业成本高，不便于跟踪等不利于管理的影响。

技术实现思路

1、本技术提供一种基于mes系统的光学器件半成品入库方法及相关设备，旨在提高光学器件半成品入库信息的准确性，便于对光学器件半成品入库进行高效管理。

2、一方面，本技术提供一种基于mes系统的光学器件半成品入库方法，所述mes系统配置有光学器件数据库，所述光学器件数据库包括多个光学器件数据表，所述基于mes系统的光学器件半成品入库方法包括：

3、接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；

4、根据所述物料标识，从所述mes系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；

5、按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；

6、根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。

7、在本技术一种可能的实现方式中，在所述接收针对待入库的半成品的入库指令之前，还包括：

8、构建所述光学器件数据库，所述光学器件数据库中的多个光学器件数据表分为质检计划头表、质检计划行表、及所述物料信息数据表；

9、所述质检计划头表包括物料标识、头表标识，且所述物料标识与所述头表标识组合为所述质检计划头表对应的唯一索引；

10、所述质检计划行表包括头表标识、行表标识和检验项目，且所述头表标识、所述行表标识和所述检验项目组合为所述质检计划行表对应的唯一索引；

11、所述物料信息数据表包括物料标识，用于对各个半成品的物料信息进行定义。

12、在本技术一种可能的实现方式中，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到，包括：

13、从所述mes系统获取所述物料标识对应的质检计划头表，作为第一质检计划子表；

14、根据所述第一质检计划子表的子表标识，从所述mes系统获取所述子表标识对应的质检计划行表，作为第二质检计划子表；

15、将所述第一质检计划子表和所述第二质检计划子表进行关联，得到所述质检计划数据表。

16、在本技术一种可能的实现方式中，所述多项物料明细包括所述物料标识对应的物料检验项描述、物料规格范围、物料规格单位和物料数量；所述检验项目包括检验项描述、检验项描述对应的物料的规格范围、物料的规格单位和物料的数量；所述质检规则包括物料检验项描述是否存在、所述物料规格范围是否在有效范围内、所述物料规格单位是否匹配、所述物料数量是否正确；

17、所述按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述物料明细进行质检校验，生成校验结果，包括：

18、若所述物料检验项描述存在、所述物料规格范围在有效范围内、所述物料规格单位匹配且所述物料数量正确，判定所述校验结果为合格；否则，判定所述校验结果为不合格。

19、在本技术一种可能的实现方式中，所述根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息，包括：

20、若所述校验结果为合格，则将所述半成品与所述入库工位标识进行关联，生成入库信息；

21、若所述校验结果为不合格，则对所述半成品进行跟踪标识，生成入库信息。

22、在本技术一种可能的实现方式中，所述物料信息数据表还包括各个物料标识对应的质检类型，所述质检类型分为首次质检和非首次质检；

23、在所述根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息之后，还包括：

24、若所述质检类型为首次质检，且所述检验结果为合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库数据表中；

25、若所述质检类型为首次质检，且所述检验结果为不合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中，所述入库检修数据表记录了不合格的半成品，用于指示对所述不合格的半成品进行维修；

26、若所述质检类型为非首次质检，则获取所述半成品进行维修后的校验结果；

27、若所述进行维修后的校验结果为不合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库检修数据表中；

28、若所述进行维修后的校验结果为合格，则将所述半成品和所述检验结果保存至预设配置的入库数据表中。

29、在本技术一种可能的实现方式中，所述mes系统配置有可视化界面，还包括：在所述可视化界面对所述待入库的半成品进行质检校验和/或入库管理。

30、另一方面，本技术提供一种基于mes系统的光学器件半成品入库装置，所述mes系统配置有光学器件数据库，所述光学器件数据库包括多个光学器件数据表，所述基于mes系统的光学器件半成品入库装置包括：

31、接收模块，用于接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；

32、第一确定模块，用于根据所述物料标识，从所述mes系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；

33、校验模块，用于按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；

34、第二确定模块，用于根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息。

35、另一方面，本技术还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括：

36、一个或多个处理器；

37、存储器；以及

38、一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储于所述存储器中，并配置为由所述处理器执行以实现所述的基于mes系统的光学器件半成品入库方法。

39、另一方面，本技术还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器进行加载，以执行所述的基于mes系统的光学器件半成品入库方法中的步骤。

40、本技术实施例提供的基于mes系统的光学器件半成品入库方法及相关设备，该方法包括：接收针对待入库的半成品的入库指令，所述入库指令携带有所述半成品的物料标识、入库工位标识、及所述物料标识对应的物料信息数据表，所述物料信息数据表包括所述物料标识和多项物料明细，所述物料信息数据表为所述光学器件数据库中的一个光学器件数据表；根据所述物料标识，从所述mes系统获取所述半成品对应的质检计划数据表，所述质检计划数据表包括所述物料标识和检验项目，且每个所述检验项目设置有对应的质检规则，所述质检计划数据表是基于所述光学器件数据库中的至少两个光学器件数据表进行关联处理得到；按照所述物料信息数据表中的各个所述检验项目对应的所述质检规则，对所述物料信息数据表中的所述多项物料明细进行质检校验，生成校验结果；根据所述校验结果和所述入库工位标识确定所述半成品的入库信息，由于校验结果是通过基于mes系统中的光学器件数据库进行自动化分析，实现了对半成品各项物料明细的自动化质检，提高了对半成品的质检效率和校验结果的准确性，从而提高了入库信息的准确性，提高了对光学器件半成品的入库管理效率。