1.一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据每个像素点与其对应的预设邻域内所有像素点在预设数量次分割时每个预设通道下的异常得分，确定每个像素点在每个预设通道下的缺陷异常权重，包括：
3.根据权利要求2所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，像素点在预设通道下的缺陷异常权重对应的公式为：
4.根据权利要求1所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据每个像素点在所有预设通道下的缺陷异常权重和通道值，对每个像素点进行灰度增强，得到每个像素点对应的目标灰度值，包括：
5.根据权利要求4所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，像素点对应的目标灰度值对应的公式为：
6.根据权利要求1所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述目标膜图像中所有像素点对应的目标灰度值，对所述目标膜图像中的所有像素点进行聚类，得到目标聚类簇集合，包括：
7.根据权利要求6所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，两个像素点之间的修正聚类距离对应的公式为：
8.根据权利要求1所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述目标聚类簇集合，对所述待检测量子点光学膜进行缺陷检测，包括：
9.根据权利要求1所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述目标膜图像中每个像素点在每次分割下所属分割区域内所有像素点在每个预设通道下的通道值，确定每个像素点在每次分割时每个预设通道下的异常得分，包括：
10.一种量子点光学膜的缺陷检测系统，其特征在于，包括处理器和存储器，所述处理器用于处理存储在所述存储器中的指令以实现权利要求1-9中任一项所述的一种量子点光学膜的缺陷检测方法。