测试电路集成方法、装置、电子设备及计算机存储介质与流程

本公开涉及集成电路设计和测试，尤其涉及一种测试电路集成方法、装置、电子设备及计算机存储介质。

背景技术：

1、在电子设备中，芯片起着至关重要的作用，它们是设备功能实现的核心组件，其内部结构的稳定性以及准确性至关重要，可以直接影响产品的良率。因此，对于芯片的测试是芯片生产必不可少的环节。

2、可测试性设计（design for testability，dft）是一种在集成电路设计阶段就考虑测试需求的方法，通过dft测试可以在芯片的生产制造过程测试出缺陷，从而及时处理，提升芯片的良率。dft测试是通过将特有的测试电路插入被测试的芯片电路中，冠以激励，检查输出是否与预期结果一致来判断芯片电路的缺陷情况。

3、但dft测试需要测试人员手动将测试电路中包括的各个测试模块连接到芯片电路中，手动连接出错率高且导致测试效率低。

技术实现思路

1、本公开提供了一种测试电路集成方法、装置、电子设备及计算机存储介质；能够自动将测试电路插入芯片电路，得到用于仿真测试的文件。

2、本公开的技术方案是这样实现的：

3、第一方面，本公开提供了一种测试电路集成方法，该方法包括：将芯片的源设计文件解析为预设数据结构的源文件；基于dft测试方法，确定测试电路包括的多个测试模块；基于源文件，确定多个测试模块与芯片电路的各个功能模块的连接关系；根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件。如此，通过将源设计文件解析为易于对节点进行操作的预设数据结构的源文件，再将需要执行的dft测试方法对应的多个测试模块，根据连接关系，插入源文件中得到目标文件，对于测试人员需要执行的不同的dft测试，均能自动将测试模块插入芯片电路中，无需测试人员手动编写，从而降低了错误率且提升了测试效率。

4、本公开一些实施例中，根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件之后，该方法还包括：将目标文件转换为目标设计文件，目标设计文件与源设计文件的格式相同。以便于后续仿真测试直接使用该目标设计文件。

5、本公开一些实施例中，根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件之前，该方法还包括：基于连接关系，确定连接关系中源连接对象和目的连接对象是否满足连接条件；根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件，包括：在满足连接条件的情况下，根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件。如此，在执行连接之前，确保连接关系中包括的两端满足连接条件，以使得测试电路能够成功插入芯片电路中后能够成功进行测试。

6、本公开一些实施例中，基于连接关系，确定连接关系中源连接对象和目的连接对象是否满足连接条件之后，该方法还包括：在不满足连接条件的情况下，输出错误信息。对于不满足连接条件的连接关系，输出错误信息，以便于测试人员及时修正。

7、本公开一些实施例中，连接条件包括以下至少一项：源连接对象和目的连接对象存在，源连接对象和目的连接对象的位宽匹配，目的连接对象悬空，目的连接对象被占位且剩余位与源连接对象的位宽匹配。通过设置的不同的连接条件，对连接关系的两端进行完整检查，以确保最终连接后测试电路能够实现对芯片电路的检测。

8、本公开一些实施例中，将芯片的源设计文件解析为预设数据结构的源文件，包括：将源设计文件分解为多个标记，每个标记用于指示类型信息以及在源设计文件中的位置信息；根据源设计文件的语法规则，将多个标记转换为树状数据结构，得到源文件。由于树状数据结构具有清楚的层级关系且易于插入、删除以及查找，将源设计文件解析为树状数据结构，测试模块更易插入。

9、本公开一些实施例中，根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件，包括：根据连接关系，创建测试模块和功能模块的实例；在连接关系的源连接对象和目的连接对象跨层的情况下，生成跨层传输端口，以使源连接对象和目的连接对象通过跨层传输端口连接；在连接关系的源连接对象悬空且类型为端口或者引脚的情况下，生成连接线，以通过连接线连接源连接对象和目的连接对象；执行连接操作，以将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件。如此，对于需要跨层以及通过引脚或者端口互联的测试模块和功能模块，通过传输端口和连接线确保其能够成功连接。

10、第二方面，本公开提供了一种测试电路集成装置，该装置包括：解析部分，生成部分，确定部分，插入部分；该解析部分，被配置为将芯片的源设计文件解析为预设数据结构的源文件；该生成部分，被配置为基于可测试性设计dft测试方法，确定测试电路包括的多个测试模块；该确定部分，被配置为基于源文件，确定多个测试模块与芯片电路的各个功能模块的连接关系；该插入部分，被配置为根据连接关系将多个测试模块插入源文件中，得到目标文件。

11、本公开一些实施例中，该装置还包括：转换部分；该转换部分，被配置为在根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件之后，将目标文件转换为目标设计文件，目标设计文件与源设计文件的格式相同。

12、本公开一些实施例中，该确定部分，还被配置为在根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件之前，基于连接关系，确定连接关系中源连接对象和目的连接对象是否满足连接条件；该插入部分，具体被配置为在满足连接条件的情况下，根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件。

13、本公开一些实施例中，该装置还包括：输出部分；该输出部分，被配置为在基于连接关系，确定连接关系中源连接对象和目的连接对象是否满足连接条件之后，在不满足连接条件的情况下，输出错误信息。

14、本公开一些实施例中，连接条件包括以下至少一项：源连接对象和目的连接对象存在，源连接对象和目的连接对象的位宽匹配，目的连接对象悬空，目的连接对象被占位且剩余位与源连接对象的位宽匹配。

15、本公开一些实施例中，解析部分，被配置为将源设计文件分解为多个标记，每个标记用于指示类型信息以及在源设计文件中的位置信息；根据源设计文件的语法规则，将多个标记转换为树状数据结构，得到源文件。

16、本公开一些实施例中，该插入部分，具体被配置为根据连接关系，创建测试模块和功能模块的实例；在连接关系的源连接对象和目的连接对象跨层的情况下，生成跨层传输端口，以使源连接对象和目的连接对象通过跨层传输端口连接；在连接关系的源连接对象悬空且类型为端口或者引脚的情况下，生成连接线，以通过连接线连接源连接对象和目的连接对象；执行连接操作，以将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件。

17、第三方面，本公开提供了一种电子设备，该电子设备包括处理器、存储器及存储在该存储器上并可在该处理器上运行的程序或指令，该程序或指令被该处理器执行时实现如第一方面所述的测试电路集成方法的步骤。

18、第四方面，本公开提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储程序或指令，该程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的测试电路集成方法的步骤。

19、第五方面，本公开提供了一种计算机程序产品，其中，该计算机程序产品包括计算机程序或指令，当该计算机程序产品在处理器上运行时，使得处理器执行该计算机程序或指令，实现如第一方面所述的测试电路集成方法的步骤。

20、第六方面，本公开提供了一种芯片，该芯片包括处理器和通信接口，该通信接口和该处理器耦合，该处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的测试电路集成方法。

21、本公开提供了一种测试电路集成方法，包括：将芯片的源设计文件解析为预设数据结构的源文件；基于dft测试方法，确定测试电路包括的多个测试模块；基于源文件，确定多个测试模块与芯片电路的各个功能模块的连接关系；根据连接关系将多个测试模块插入到源文件中，得到目标文件。如此，通过将源设计文件解析为易于对节点进行操作的预设数据结构的源文件，再将需要执行的dft测试方法对应的多个测试模块，根据连接关系，插入源文件中得到目标文件，对于测试人员需要执行的不同的dft测试，均能自动将测试模块插入芯片电路中，无需测试人员手动编写，从而降低了错误率且提升了测试效率。