用于半导体设计验证的方法、数据库系统及其相关产品与流程

本披露一般涉及半导体领域。更具体地，本披露涉及一种用于半导体设计验证的方法、电子装置、数据库系统、数据库设备、电子装置和计算机可读存储介质。

背景技术：

1、在半导体设计验证领域，尤其是在设计规则检查(drc)、光刻过程校正(opc)和opc验证(opcv)过程中，存在若干种主要的技术挑战。这些挑战影响了半导体制造的效率和精确性，从而对整个行业造成了显著影响。

2、首先，在某些情况下，设计验证过程可能产生大量的违规或错误。当前的技术缺乏一种有效的方法来处理这些相似的违规或错误。这导致了巨大的数据量，使得验证、审查和处理变得异常复杂和耗时。对于设计和验证团队来说，手动处理这些大量的违规或错误不仅低效，而且容易出错。

3、其次，现有技术中缺乏一种能力，即在不同设计和物理验证运行中比较违规或错误。这种比较对于识别和解决在不同设计条件(如不同的配置、deck或recipe)下出现的常见问题至关重要。缺乏这种比较机制限制了从经验中学习和改进设计的能力。

4、最后，目前没有一种自动化或简便的方法来提取、存储和检索相关的测试案例，而能够快速访问和重用先前的测试案例对于加速设计过程和提高设计质量至关重要。缺少这种能力增加了设计周期的长度和复杂性，降低了整体效率。

5、有鉴于此，亟需提供一种创新的半导体设计验证方案，以便有效处理大量的违规或错误数据，并显著提高数据处理的效率和准确性，从而改善半导体设计验证过程的整体性能和效率。

技术实现思路

1、为了至少解决如上所提到的一个或多个技术问题，本披露在多个方面中提出了用于半导体设计验证的方案。

2、在第一方面中，本披露提供一种用于半导体设计验证的方法，包括：识别在半导体布局验证过程中出现违规错误的布局片段并确定其片段信息；利用几何聚类对所述布局片段进行模式分类，以确定所述布局片段的模式类别；将所述模式类别和所述片段信息关联地存储于数据库中；根据所述模式类别从所述数据库中提取所述片段信息；以及基于所述片段信息将所述布局片段组装成测试矩阵，以用于优化半导体设计验证。

3、在一些实施例中，所述违规错误包括尺寸违规和/或配置错误，并且其中识别在半导体布局验证过程中出现违规错误的布局片段包括：在半导体布局上运行验证工具，以检测出存在尺寸违规和/或配置错误的布局区域；以及将所述存在尺寸违规和/或配置错误的布局区域识别为出现违规错误的布局片段。

4、在一些实施例中，其中所述片段信息包括所述违规错误的位置、类型和/或程度的违规信息。

5、在一些实施例中，其中利用几何聚类对所述布局片段进行模式分类包括利用所述片段信息来对所述布局片段进行模式分类，以得到所述模式类别；以及为所述模式类别分配唯一模式号，以实现二者之间的关联。

6、在一些实施例中，其中利用几何聚类对所述布局片段进行模式分类包括：响应于识别出多个布局片段，对所述多个布局片段分别进行模式分类，以确定各自的模式类别；对具有相同模式类别的布局片段进行聚类，并且为所述相同模式类别分配唯一模式，以实现二者之间的关联；以及对于具有不同于其他布局片段的模式类别的布局片段，为其模式类别分配唯一模式号，以实现二者之间的关联。

7、在一些实施例中，其中所述数据库是图数据库或非关系型数据库，其中将所述模式类别和所述片段信息关联地存储于数据库中包括：将所述唯一模式号和所述布局信息关联地存储于图数据库或非关系型数据库中。

8、在一些实施例中，其中根据所述模式类别从所述数据库中提取所述片段信息包括根据多个所述唯一模式号从所述数据库中提取对应的多个布局片段的多个片段信息，并且基于所述片段信息将所述布局片段组装成测试矩阵包括利用所述多个片段信息来对所述多个布局片段进行排列，以组装成所述测试矩阵。

9、在一些实施例中，基于所述片段信息将所述布局片段组装成测试矩阵还包括：将所述测试矩阵与一个或多个验证工具结合使用，以提供额外的测试和分析。

10、在第二方面中，本披露提供一种用于半导体设计验证的电子装置，包括：处理器；存储器，其上存储有用于半导体设计验证的程序指令，当所述程序指令由所述处理器执行时，使得实现根据第一方面及其多个实施例所述的方法。

11、在第三方面中，本披露提供一种计算机可读存储介质，其上存储有用于半导体设计验证的程序指令，当所述程序指令由处理器执行时，使得实现根据第一方面及其多个实施例所述的方法。

12、在第四方面中，本披露提供一种用于半导体设计验证的数据库系统，包括：数据库，其配置用于存储半导体的多个布局片段的模式类别及其片段信息，其中所述布局片段是在半导体布局验证过程识别出的出现违规错误的布局片段，并且模式类别是利用几何聚类对所述布局片段进行模式分类后所确定的；以及图形用户界面，其配置用于协助用户从所述数据库中选取模式类别和定位片段信息，以便利用所述片段信息将所述布局片段组装成测试矩阵。

13、在一些实施例中，其中所述违规错误包括布局片段的尺寸违规和/或配置错误。

14、在一些实施例中，每种所述模式类别分配有唯一模式号，并且与所述布局片段和所述片段信息相关联。

15、在一些实施例中，所述数据库配置用于存储历史模式号和/或新模式号，其中所述历史模式号包括在过往的半导体布局验证中经所述几何聚类所获得的唯一模式号，并且所述新模式号包括在新近的半导体布局验证中经所述几何聚类所获得的并且在所述模式数据库中并未曾存储过的唯一模式号。

16、在一些实施例中，所述图形用户界面还配置用于协助用户对数据库中存储的模式类别和片段信息进行审查，以实施处置过程，其中所述处置过程用于确定是否将所述片段信息中的违规或错误标记为可忽略或不可忽略。

17、在一些实施例中，响应于违规或错误被标记为可忽略，不采取进一步动作；以及响应于所述违规或错误被标记为不可忽略，则采取进一步行动以解决所述违规或错误。

18、在一些实施例中，所述数据库还配置用于存储所述处置过程的结果，以用于后续数据分析和验证工具的改进。

19、在第五方面中，本披露提供一种用于半导体设计验证的数据库设备，包括：处理器；以及根据第四方面及其多个实施例中所述的数据库系统，其中当所述数据库系统由所述处理器运行时，用于辅助所述半导体设计验证。

20、根据如上所讨论的用于半导体设计验证的方法、电子装置、数据库系统、数据库设备和计算机可读存储介质，本披露实施例通过识别在半导体布局验证过程中出现违规错误的布局片段并确定其片段信息、利用几何聚类对所述布局片段进行模式分类、将模式类别和片段信息关联地存储于数据库中、根据模式类别提取片段信息、以及基于片段信息将布局片段组装成测试矩阵，能够有效地优化半导体设计验证过程，提高错误检测的准确性和效率。进一步，通过在半导体布局上运行验证工具以检测尺寸违规和/或配置错误，并将违规或错误的布局区域识别为布局片段，可以更准确地定位和识别潜在的设计问题。此外，通过将模式类别和片段信息关联地存储于数据库(如图数据库或非关系型数据库)中，本技术能够提供更灵活和高效的数据管理和检索能力。最终，利用图形用户界面协助用户进行模式类别和片段信息的审查，并实施处置过程，本技术可以进一步增强半导体设计验证的效率和可靠性，同时确保违规或错误被正确处理。