一种进行云判决的装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及云判决领域，特别涉及一种进行云判决的装置。
【背景技术】
[0002] 国内外对云的检测与分类已经形成了多种方法。研宄的算法集中对于云不同特征 的提取和分类方法的应用。较早的算法多基于光谱灰度特征，以灰度阈值或灰度聚类的方 法实现。由于基于灰度的特征对于云、雪、沙地等难以区分，因此，云判实现方法加入了纹理 信息。纹理特征常以统计模型法、结构法、场模型法或频域/空域联合分析法来度量。其中 尤以传统的统计模型研宄较多，如灰度共生矩阵（GLCM)、灰度差分矩阵（GLDM)、灰度差分 矢量（GLDV)和差直方图（SADH)等，新近提出的一些方法如场模型法中的分形分维、马尔可 夫随机场方法，频域/空域联合分析法中的Gabor变换、小波变换等。
【发明内容】
[0003] 有鉴于此，本发明提供一种进行云判决的装置，通过设置主状态机，统筹运算步 骤，到达对各个模块的调配，提高了云判的效率。
[0004] 本发明提供了一种进行云判决的装置，包括：主状态机、读写控制模块、主控制模 块、存储器控制模块以及主运算模块，其中，
[0005] 所述主状态机用于向所述主控制模块发出各种状态信号；
[0006] 所述读写控制模块用于通过APB总线实现寄存器的读写控制；
[0007] 所述主控制模块用于接收主状态机的指令控制其他模块实现各自功能和数据的 传输；
[0008] 所述存储器控制模块用于对存储器的读写进行控制；
[0009] 所述主运算模块用于对各种数据进行相应的运算。
[0010] 所述主状态机包括第1-8种状态，分别是：
[0011] 空闲状态：在空闲状态下，所述装置不工作；
[0012] 第一状态：存储block直方图、覆盖率、灰度均值；
[0013] 第二状态：计算tile直方图；
[0014] 第二状态：计算tile灰度方差；
[0015] 第四状态：计算block的覆盖率；
[0016] 第五状态：计算tile覆盖率和预判彳目息；
[0017] 第六状态：协助主状态机控制二值图运算模块；
[0018] 第七状态：二值图相减及参数计算；
[0019] 其中，采用LXL的正方形在待云判的图像中进行水平和竖直方向的步进，步进量 为4，获得多个分块，称为tile。每四个上下左右相邻相互重叠的tile分块可以看成是九2 个不重叠的大小为4X4的小分块构成，这种小分块称为block。L可以根据需要进行设22 置。
[0020] 在第一状态下，所述主控制模块向所述存储器控制模块和主运算模块发送第一状 态信号，通知存储器控制模块和主运算模块准备接收block直方图、覆盖率、灰度均值数据 并存储到相应地址的存储器中；所述存储器控制模块接收主控制模块的控制信号，生成存 储器的相应地址和写控制；所述主运算模块直接获取block直方图、覆盖率、灰度均值数据 并基于与控制存入存储器的相应地址中；
[0021] 在第二状态下，所述主控制模块向所述存储器控制模块和主运算模块发送第二状 态信号，通知所述存储器控制模块和所述主运算模块从存储器中读出4个block的直方图 数据进行相加，相加后再存储到存储器中；所述存储器控制模块生成每个tile对应的4个 block的直方图数据所在的存储器的地址和读控制，并在所述主运算模块运算出tile直方 图后生成存储器的相应的地址和写控制；所述主运算模炔基于读控制从存储器中读出每个 tile对应的4个block的直方图数据，并相加每个tile对应的4个block的直方图，得到 tile的直方图，同时进行tile直方图的调整，计算有关参数，同时累加调整后的灰度值计 算灰度均值，然后基于写控制，将得到的结果存入存储器控制模块生成的地址中；
[0022] 在第三状态下，所述主控制模块给存储器控制模块和主运算模块发送第三状态信 号，通知存储器控制模块和主控制模块从存储器中读出tile的直方图数据和相应的tile 的灰度均值，并计算灰度方差；所述存储器控制模块生成每个tile调整后的直方图和灰度 均值的存储器的地址和读控制，并在所述主运算模块计算得到灰度方差后生成存储器的相 应的地址和写控制；所述主运算模炔基于读控制从存储器中读出tile的直方图数据和灰 度均值，用每个tile调整后的直方图和灰度均值，计算灰度方差，然后基于写控制，将得到 的结果存入存储器控制模块生成的地址中；
[0023] 在第四状态下，所述主控制模块给存储器控制模块和主运算模块发送第四状态信 号，通知存储器控制模块和主控制模块从存储器中读出sobel值，并计算block的覆盖率； 所述存储器控制模块生成sobel值的存储器地址和读控制，并在所述主运算模块计算得到 block的覆盖率后生成相应的存储器地址和写控制；所述主运算模炔基于读控制从存储器 中读出sobel值，并用sobel值计算block的覆盖率，然后基于写控制，将计算得到的block 的覆盖率值存入存储器控制模块生成的存储器地址中；
[0024] 在第五状态下，所述主控制模块给存储器控制模块和主运算模块发送第五状态信 号，通知存储器控制模块和主运算模块从存储器中读出block的覆盖率，并计算tile的覆 盖率和预判信号；所述存储器控制模块生成每一个tile的4个block的三种覆盖率的存 储器地址和读控制，并在所述主运算模块计算得到预判值后生成相应的存储器地址和写控 制；所述主运算模炔基于所述读控制从存储器中读出block的覆盖率，并用每个tile的4 个block的三种覆盖率计算出每个tile覆盖率以及预判值；然后基于写控制，将计算得到 的结果存入存储器控制模块生成的存储器地址中；
[0025] 在第六状态下，所述主控制模块给存储器控制模块和主运算模块发送第六状态信 号，通知存储器控制模块和主控制模块从存储器中读取预判值和二值门限；所述存储器控 制模块生成每个tile的一次预判信息和二值门限的存储器地址和读控制；所述主运算模 炔基于读控制从存储器中读出一次预判值和二值门限，根据一次预判值和二值门限判断是 否需要进行二次判决，若需要，则通知主控制模块启动二值化处理过程；
[0026] 在第七状态下，所述主控制模块给存储器控制模块和主运算模块发送第七状态信 号，通知存储器控制模块和主运算模块读出两幅二值图，tile的灰度值，并计算差分二值图 和参数；所述存储器控制模块生成二值图的地址和读控制，并在主运算模块计算得到各种 参数后生成相应的存储器地址和写控制；所述主运算模炔基于读控制读出的二值图，并计 算差分二值图以及进行判断得到各种参数，然后基于写控制，将结果写入所述存储器地址 中。
【具体实施方式】
[0027] 为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明实施例中 的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本发明部分实施例，而不是全 部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提 下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0028] 本发明提供了一种进行云判决的装置，包括：主状态机、读写控制模块、主控制模 块、存储器控制模块以及主运算模块，其中，
[0029] 所述主状态机用于向所述主控制模块发出各种状态信号；
[0030] 所述读写控制模块用于通过APB总线实现寄存器的读写控制；
[0031] 所述主控制模块用于接收主状态机的指令控制其他模块实现各自功能和数据的 传输；
[0032] 所述存储器控制模块用于对存储器的读写进行控制；
[0033] 所述主运算模块用于对各种数据进行相应的运算。
[0034] 所述主状态机包括第1-8种状态，分别是：
[0035] 空闲状态：在空闲状态下，所述装置不工作；
[0036] 第一状态：存储block直方图、覆盖率、灰度均值；
[0037] 第二状态：计算tile直方图；
[0038] 第二状态：计算tile灰度方差；
[0039] 第四状态：计算block的覆盖率；
[0040] 第五状态：计算tile覆盖率和预判信息；
[0041] 第六状态：协助主状态机控制二值图运算模块；
[0042] 第七状态：二值图相减及参数计算；
[0043] 在第一状态下，所述主控制模块向所述存储器控制模块和主运算模块发送第一状 态信号，通知存储器控制模块和主运算模块准备接收block直方图、覆盖率、灰度均值数据 并存储到相应地址的存储器中；所述存储器控制模块接收主控制模块的控制信号，生成存 储器的相应地址和写控制；所述主运算模块直接获取block直方图、覆盖率、灰度均值数据 并基于与控制存入存储器的相应地址中；
[0044] 在第二状态下，所述主控制模块向所述存储器控制模块和主运算模块发送第二状 态信号，通知所述存储器控制模块和所述主运算模块从存储器中读出4个block的直方图 数据进行相加，相加后再存储到存储器中；所述存储器控制模块生成每个tile对应的4个 block的直方图数据所在的存储器的地址和读控制，并在所述主运算模块运算出tile直方 图后生成存储器的相应的地址和写控制；所述主运算模炔基于读控制从存储器中读出每个 tile对应的