齐，并裁剪其尺寸相同，如图12 所示；
[0188] 第 III 步，分别构建其一维图像 TgD1^tl 与 ε dl、TE1、DE1、U〇Ell、TnjO ni;
[0189] 第IV步，分别计算Tni和D ηι的值为0的元素数量得到C ,和C d，来确定待检测图像 中是否含有缺陷，例：Ct= Count(tnC3。,:)= 0) = 26，Cd= Count(dnC3。,:)= 0) = 28，则03。中 存在缺陷；并将缺陷边缘点的像素值突出显示；整个待检测图像遍历后，其缺陷如图13所 不。
[0190] 下面分别采用本发明方法和现有方法进行试验对比：以采用图11作为标准模板， 图12作为待检测图像进行缺陷检测。现有方法中，首先利用Canny算子，求取模板中ITO 线路的亚像素边缘，然后根据边缘的梯度方向构建一个容错的边缘模板；之后求取待检测 图像的边缘后，逐点比较待检测图像边缘是否被包含于容错边缘模板中；若被包含，则该点 不是缺陷；若未包含，则改点为缺陷并用黄色显示，最后检测的缺陷图如图14所示。在同样 的计算机上运算，现有方法用时为I. 3s，而本发明提出的算法只耗时0. 8s。
[0191] 上述实施例为本发明较佳的实施方式，但本发明的实施方式并不受上述实施例的 限制，其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化， 均应为等效的置换方式，都包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.基于一维图像的投射电容触摸屏ITO电路缺陷检测方法，其特征在于，依次包括一 维模板建立阶段和缺陷检测阶段；其中， 所述一维模板建立阶段包括如下步骤： 第一步，采用线阵相机对基板扫描形成图像；将图像分割成若干个尺寸为NXM的单元 图像，各个单元图像上分别包括一个完整的投射电容触摸屏ITO电路；任意选取三个单元 图像，并将三个单元图像分别设定为PjPP3; 第二步，将PdPjPP3进行空间对齐； 第三步，将Pp匕和P3分别分解为： Vi-(V(i，。)，v(i, 1)，…，v(i，M1))， Xi-(X(i，。)，x(i, 1)，…，x(i，M1)) ' Yi- (丫 (i，0),y(i，1)，…，y(i，M1))， 其中，ie(〇，N-l); 选取Vi为目标一维图像，X;和Y;为参考一维图像； 第四步，分别对XjPY进行处理和分析，求取其判断样本点矩阵V"、1与Y。1; 第五步，判别目标一维图像中是否存在缺陷边缘点，并记录缺陷边缘点的位置坐标；目 标一维图像中偶数坐标缺陷边缘点与其左侧奇数坐标缺陷边缘点组成缺陷区间； 第六步，利用参考一维图像的元素对目标一维图像的缺陷区间进行修复，完成一维模 板的构建；然后i=i+1，并跳至第四步，直至i=M，完成整幅标准模板构建； 第七步，将整幅标准模板储存为Pt，标准模板Pt的一维图像的分解为：Ti= (t(i，〇), t。』，…，t(i，M n); 所述缺陷检测阶段包括如下步骤： 第I步，读入待检测图像； 第II步，将待检测图像与标准模板Pt进行空间对齐，并将待检测图像裁剪为标准模板Pt的尺寸； 第III步，将待检测图像的一维图像分解为D1= (d&Q)，，…，dkMJ; 第IV步，采用Otsu法分别求取1\与0;在第i行的参考比较点eti与edi;以参考比较 点etl与edl为灰度基准进行变换得到TE1、DE1:第VE步，统计Tni和Dni中的值为0的元素数量并得到C,和Cd;判断C,和C,是否相等： 若Ct=Cd，则该一维图像中无缺陷边缘点，跳至第I步进行下一维图像的检测直至最后一 维图像完成检测；若(；辛Cd，则该一维图像中有缺陷边缘点，执行第VDI步；； 第VID步，将Tni中值为O点的元素的位置坐标存储到tk中，tk= (tkl，tk2；将Dni中 值为〇点的元素的位置坐标存储到dk中，dk= (dkl，dk2； 分别将各个4值代入到J&tk)中进行计算： J(i,D) -[tn(i，tk)_Pn(i，dk)tn(i，tk)_Pn(i，dk+l)tn(i，tk)_Pn(i，dk1)] -[CtlCt2Ct3] 计算V1=ctl&ct2&ct3，判断V1的大小：若V#O则d(iitk)是缺陷边缘点； 第IX步，记录缺陷边缘点的位置坐标，并形成缺陷区间坐标为（qdl，qd2)，将Dlq = (d&qdl)，c^qd2))设为1，其他像素设为0,以实现缺陷区间突出显示； 跳至第I步进行下一维图像的检测直至最后一维图像完成检测。2. 根据权利要求1所述的基于一维图像的投射电容触摸屏ITO电路缺陷检测方法，其 特征在于，所述第四步包括如下步骤： 四①步，采用Otsu法分别求取V;、XjPYi在第i行的参考比较点evi、exi和eyi; 四②步，分别将XjPY1以参考比较点evl、exl和eyl为灰度基准进行变换得到 VEi、XEi、YEi: Vei=VeviE= (v(i0)-evi,v(il)-evi, . . . ,v(iM 1}-evi) XEi-X厂 exiE- (x(i，。厂exi,x(i，！厂exi, ? ? ? ,x(i，Mi)_exi) Yei=YeyiE= (y(ii〇)-eyi,Ya.i)-eyi, . . . ,y(iiMd~eyi) 其中，E为IXM维全I矩阵； 四③步，分别将VepXe1与YE1的元素分别左移一位，并将其中值为0的元素用其左侧 的元素替代，并在末尾添加元素1，得到VEli、XEli与YEli: 四④步，将VE1、XE1、YE1分别与VEll、XEll与YEll相乘获得判别向量Vm、Xn#Ym，并分 别比较判别向量Vni、Xnr^Yni中各个元素的大小：若元素值< 0则该元素置为1，否则该元 素置为〇 : Vni=VEiXVEli=(vn(i0),vn(ijD, . . . ,vn(iMd) ,ifvn(id)^； 0,thenvn(iid) =I,else Vn(i,d)= 0 Xni=XE;XXEH =(xn(i0),xn(i_d，. . . ,xn(iMd) ,ifxn(id)^； 0,thenxn(iid) =I,else Xn(i,d) = 〇 Yni= Y E ;XYE H = (yn(ii〇), 7,,(1,i), ? ? ? , yn(iiMi)), if yn(i,d)^〇>then v n(iid) = I, else yn(i,d)=o 其中，dG(0,M_l); 将值为〇的元素分别设定为判断样本点； 四⑤步，将vni、Xnr^Yni中的值为0的元素分别设定为判断样本点，并将其存储为 新向里为：Vci-(Vn(i,kl)，Vn(i,k2)，…，Vn(i,k))，Xci-(Xnql)，Xn(;,q2)，…，Xn(;, q))与Yci- (y"n(i，zl)，y"n(i，z2)， ，Yndz))03. 根据权利要求2所述的基于一维图像的投射电容触摸屏ITO电路缺陷检测方法，其 特征在于，所述第五步包括如下步骤： 五①步，对Vni中所有判断样本点，计算主动判别矩阵J&K);对Xn^位置坐标不与Vni 中判断样本点重合的判断样本点，计算参考判别矩阵'Q);五②步，计算V1=cV2=c4&c5&c6;判断V挪V2的大小：若Vi=O且V2= 0,则 Vn(i，K)、Xn(i，K)和yn(i，K)均不是缺陷边缘点；SV1=1且V2=1，则V^^是缺陷边缘点； 五③步，对xn(i』中Qg(丨(-】，K+1)的判断样本点，计算V3=rAr2^r3,V4=r4&r5&r6; 判断VjPV4的大小：若V3= 1且V4= 0,则v 是缺陷边缘点； 五④步，记录缺陷边缘点的位置坐标；将Vni的缺陷边缘点的位置坐标存储为P_j,j= (1,2,…）；将vni中偶数坐标的缺陷边缘点与其左侧奇数坐标的缺陷边缘点组成缺陷区间； Vnl 的缺陷区间为（V&w：)，VapG+1：))。4.根据权利要求3所述的基于一维图像的投射电容触摸屏ITO电路缺陷检测方法，其 特征在于，所述第六步中的利用参考一维图像的元素对目标一维图像的缺陷区间进行修复 是指： 设目标一维图像缺陷区间（Vu，w)，Vu，pU+1))中，v&w)的前向缺陷区间位置坐标所对应 的像素点为V(lif3)，、11|:^+1)的后向像素点为V(liS)，计算： Vdi (V(i，e+1)，? ? ?，V(i，p j I)，V(i，p (j + 1)+1)，? ??，V(i，s 1)) Xdi (X (i，e+l)，? ? ?，X (土，p j i)，X (土，p (j + i)+i)，? ? ?，X (土，s i)) Ydl= (y(i，e+l)，? ? ?，y(i，pj 1)，y(i，p(j + l)+l), ? ? ?，y(i，s 1)) 利用OtSU算法，分别计算Vdl、乂&与Ydl所对应的分割值eal、ebl与e。1;分别对Vdl、Xd^Ydl进行阈值分割：若Vdl<eal则将Vdl中对应的元素归入V11,(其中元素用vUij)1表 示）否则将Vdl中对应的元素归入Vlh (其中元素用vu,j)h表示）；若Xdl<ebl则将Xdl中对 应的元素归入X11 (其中元素用j}1表示），否则将Xdl中对应的元素归入Xlh(其中元素用 叉(1，训表示）；若￥,1< ￡"则将￥出中对应的元素归入￥11(其中元素用7(1」)1表示），否则将 Ydl中对应的元素归入Ylh (其中元素用])h表示）； V1i、Vlh、X1:、X1AYu、Ylh分别为Vdl、Xdl与Ydl分割后所成的新向量，其中元素的纵坐标jG(e+l，? ? ?，pj-1，p(j+1) +1，? ? ?，s-1);分别计算出V11 与Xn、Vlh与Xlh，Vll与Yn、Vlh与 Yih的第i行向量间相关像素点的Pearson相关系数r;、ri+、Oi与〇 i+:
【专利摘要】本发明提供了一种基于一维图像的投射电容触摸屏ITO电路缺陷检测方法，其特征在于，依次包括一维模板建立阶段和缺陷检测阶段。首先采用三个单元图像进行处理分析以构建标准模板；之后将计算待检测图像的一维图的过参考线点个数，判断其是否与标准模板的一维图的过参考线点个数相等，以确定待检测图像是否含有缺陷。该方法实时性高，具有很高的检测速率和精度。
【IPC分类】G06T7/00
【公开号】CN105046695
【申请号】CN201510381994
【发明人】全燕鸣, 姜长城
【申请人】华南理工大学
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年7月1日