确定电子设备性能评测过程中是否存在恶意行为的方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子设备性能评测领域，特别涉及确定电子设备性能评测过程中是否存在恶意行为的方法及装置。
【背景技术】
[0002]随着通讯技术和互联网技术的发展，电子设备已经成为人们生活中必不可少的一部分。现在，电子设备的种类和型号越来越多，为了让用户更好的了解电子设备的性能，技术人员开发了一些评测软件，通过在电子设备上运行这些评测软件可以获得电子设备的性能参数信息、各项性能评测得分等评测结果。用户通过查看评测结果就可以了解电子设备的性能，为用户购机或随时了解自己电子设备的性能提供参考。
[0003]但是，为了让电子设备在利用评测软件测评时具有较好的测评结果，电子设备厂商可以通过向电子设备中植入监控程序，当监控有评测软件进行测试时，该监控程序自动更改电子设备的目标性能参数，例如，提高CPU和GPU的工作频率，让电子设备处于高于正常应用场景的运行状态，最终导致评测软件关于电子设备的测评结果不真实，从而误导用户。
[0004]可见，为了向用户提供真实的测评结果，在利用评测软件测试电子设备时，存在判断电子设备是否存在恶意行为的需求。
【发明内容】
[0005]为解决上述问题，本发明实施例公开了确定电子设备性能评测过程中是否存在恶意行为的方法及装置。技术方案如下:
[0006]确定电子设备性能评测过程中是否存在恶意行为的方法，可以包括:
[0007]在电子设备的性能评测过程中，获得电子设备的目标性能参数的至少一个目标参数值；
[0008]获得预先存储的、所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述目标性能参数的至少一个参考参数值；
[0009]依据所述目标性能参数的所述至少一个目标参数值和所述至少一个参考参数值，确定所述电子设备的性能评测过程中是否存在恶意行为。
[0010]在本发明的一种优选实施方式中，所述依据所述目标性能参数的所述至少一个目标参数值和所述至少一个参考参数值，确定所述电子设备的性能评测过程中是否存在恶意行为，包括:
[0011]判断所述目标性能参数的所述至少一个目标参数值和所述至少一个参考参数值是否符合预先设定的与所述目标性能参数对应的判定条件，如果符合，确定所述电子设备的性能评测过程中存在恶意行为；否则，确定所述电子设备的性能评测过程中不存在恶意行为。
[0012]在本发明的一种优选实施方式中，所述依据所述目标性能参数的所述至少一个目标参数值和所述至少一个参考参数值，确定所述电子设备的性能评测过程中是否存在恶意行为，包括:
[0013]判断待判断的目标性能参数的至少一个目标参数值和至少一个参考参数值是否符合与预先设定的所述待判断的目标性能参数对应的判定条件，如果符合，则确定所述电子设备的性能评测过程中存在恶意行为；
[0014]如果不符合，进一步检测是否存在尚未判断的目标性能参数，
[0015]若存在，将所述尚未判断的一个目标性能参数确定为待判断的目标性能参数，并继续执行判断待判断的目标性能参数的至少一个目标参数值和至少一个参考参数值是否符合与所述待判断的目标性能参数对应的判定条件的步骤；
[0016]若不存在，则确定所述电子设备的性能评测过程中不存在恶意行为。
[0017]在本发明的一种优选实施方式中，所述目标性能参数，包括:CPU工作频率、GPU工作频率、设备温度及单位时间耗电量中的至少一项。
[0018]在本发明的一种优选实施方式中，
[0019]在所述目标性能参数包括CPU工作频率的情况下:
[0020]所述CPU工作频率的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述CPU工作频率的最大值；
[0021]所述CPU工作频率的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值；
[0022]所述判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述CPU工作频率的最大值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值的差值大于预设的第一阈值；
[0023]或者，
[0024]所述CPU工作频率的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述CPU工作频率始终保持的恒定值；
[0025]所述CPU工作频率的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值；
[0026]所述判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述CPU工作频率始终保持的恒定值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值相同；
[0027]在所述目标性能参数包括GPU工作频率的情况下:
[0028]所述GPU工作频率的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述GPU工作频率的最大值；
[0029]所述GPU工作频率的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述GPU工作频率的最大值；
[0030]所述判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述GPU工作频率的最大值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值的差值大于预设的第二阈值；
[0031]或者，
[0032]所述GPU工作频率的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述GPU工作频率始终保持的恒定值；
[0033]所述GPU工作频率的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述GPU工作频率的最大值；
[0034]所述判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述GPU工作频率始终保持的恒定值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述GPU工作频率的最大值相同；
[0035]在所述目标性能参数包括设备温度的情况下:
[0036]所述设备温度的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述设备温度的最大值；
[0037]所述设备温度的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述设备温度的最大值；
[0038]所述判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述设备温度的最大值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述设备温度的最大值的差值大于预设的第三阈值；
[0039]在所述目标性能参数包括单位时间耗电量的情况下:
[0040]所述单位时间耗电量的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述单位时间耗电量的最大值；
[0041]所述单位时间耗电量的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述单位时间耗电量的最大值；
[0042]所述判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述单位时间耗电量的最大值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述单位时间耗电量的最大值的差值大于预设的第四阈值。
[0043]在本发明的一种优选实施方式中，在所述目标性能参数包括CPU工作频率的情况下:
[0044]所述CPU工作频率的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述CPU工作频率所采用的频率值；
[0045]所述CPU工作频率的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值；
[0046]所述判定条件为:所述CPU工作频率的至少一个目标参数值和至少一个参考参数值满足第一判定条件和第二判定条件中的至少一项，其中，所述第一判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述CPU工作频率所采用的频率值中的最大值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值的差值大于预设的第一阈值；
[0047]所述第二判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述CPU工作频率所采用的频率值恒定，且所述CPU工作频率所采用的频率值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值相同。
[0048]在本发明的一种优选实施方式中，在所述目标性能参数包括GPU工作频率的情况下:
[0049]所述GPU工作频率的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述GPU工作频率所采用的频率值；
[0050]所述GPU工作频率的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述GPU工作频率的最大值；
[0051]所述判定条件为:所述GPU工作频率的至少一个目标参数值和至少一个参考参数值满足第三判定条件和第四判定条件中的至少一项，其中，所述第三判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述GPU工作频率所采用的频率值中的最大值与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU工作频率的最大值的差值大于预设的第二阈值；
[0052]所述第四判定条件为:所述电子设备的性能评测过程中所述GPU工作频率所采用的频率值恒定，且所述GPU工作频率所采用的频率值均与所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述GPU工作频率的最大值相同。
[0053]在本发明的一种优选实施方式中，所述目标性能参数包括CPU核心开启数；
[0054]所述CPU核心开启数的至少一个目标参数值中包括所述电子设备的性能评测过程中所述CPU核心实际开启数目；
[0055]所述CPU核心开启数的至少一个参考参数值包括所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU核心实际开启数目；
[0056]所述判定条件为:所述电子设备的性能评测过程所述CPU核心实际开启数目大于所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述CPU核心实际开启数目。
[0057]在本发明的一种优选实施方式中，所述获取预先存储的、所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述目标性能参数的至少一个参考参数值包括:
[0058]从本地获取预先存储的、所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述目标性能参数的至少一个参考参数值；
[0059]或
[0060]从服务器获取预先存储的、所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述目标性能参数的至少一个参考参数值。
[0061]相应于上面的方法，本发明还提供了确定电子设备性能评测过程中是否存在恶意行为的装置，包括:
[0062]目标参数值获得模块，用于在电子设备的性能评测过程中，获得电子设备的目标性能参数的至少一个目标参数值；
[0063]参考参数值获得模块，用于获得预先存储的、所述电子设备处于未进行性能评测的正常状态时所述目标性能参数的至少一个参考参数值；
[0064]恶意行为确定模块，用于依据所述目标性能参数的所述至少一个目标参数值和所述至少一个参考参数值，确定所述电子设备的性能评测过程中是否存在恶意行为。
[0065]在本发明的一种优选实施方式中，所述恶意行为确定模块包括:
[0066]第一恶意行为确定单元，用于判断所述目标性能参数的所述至少一个目标参数值和所述至少一个参考参数值是否符合预先设定的与所述目标性能参数对应的判定条件，如果符合，确定所述电子设备的性能评