一种走钞故障模拟系统的制作方法

1.本发明涉及故障诊断技术领域，尤其涉及一种走钞故障模拟系统。


背景技术：

2.由于atm(automated teller machine，自动取款机)结构特性等客观原因，或者控制程序中间的一些bug。走钞通道内某些转弯或换向器的位置，可能发生卡钞、走钞倾斜等问题。为了调查现场发生的问题，并根据问题现象定位到控制程序的具体产生bug的位置。一般是根据现场现象问题描述，研发人员在研发部门尝试模拟故障现象。由于尝试复现使用的atm机芯并非现场的故障atm机芯，很多故障难以通过常规测试方法模拟复现。


技术实现要素：

3.基于此，有必要针对上述问题，提出了一种走钞故障模拟系统。
4.一种走钞故障模拟系统，包括：日志解析器，用于获取现场日志文件，解析所述现场日志文件，生成传感器事件文件；传感器时序模拟器，与所述日志解析器通过通用串行总线连接，用于根据所述传感器事件文件生成至少一个控制器局域网络总线消息；主控设备，与所述传感器时序模拟器通过控制器局域网络总线连接，用于接收所述至少一个控制器局域网络总线消息。
5.采用本发明实施例，具有如下有益效果：
6.通过解析现场日志文件，生成传感器事件文件，根据传感器事件文件生成至少一个控制器局域网络总线消息，将至少一个控制器局域网络总线消息发送给主控设备，可以模拟卡钞时atm机芯中mcu向主控设备发送can消息的情景，而无需到达卡钞现场，且可以随时进行多次重复模拟，有利于技术人员更快诊断导致卡钞的问题节点，提升工作效率，降低工作成本。
附图说明
7.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
8.其中：
9.图1是本发明提供的金融自助设备的一实施例的结构示意图；
10.图2是本发明提供的走钞通道走钞正常的一实施例的结构示意图；
11.图3是本发明提供的模拟光电对射传感器电平变化第一实施例中的时序示意图；
12.图4是本发明提供的atm机芯的控制系统一实施例的结构示意图；
13.图5是本发明提供的走钞故障模拟系统的第一实施例的结构示意图；
14.图6是本发明提供的走钞通道走钞倾斜的一实施例的结构示意图；
15.图7是本发明提供的模拟光电对射传感器电平变化第二实施例中的时序示意图；
16.图8是本发明提供的走钞通道明卡钞的一实施例的结构示意图；
17.图9是本发明提供的模拟光电对射传感器电平变化第三实施例中的时序示意图；
18.图10是本发明提供的走钞通道暗卡钞的一实施例的结构示意图；
19.图11是本发明提供的模拟光电对射传感器电平变化第三实施例中的时序示意图；
20.图12是本发明提供的走钞故障模拟系统的第二实施例的结构示意图；
21.图13是本发明提供的光电传感器的一实施例的结构示意图；
22.图14是本发明提供的光电传感器快门的第一实施例的结构示意图；
23.图15是本发明提供的光电传感器快门处于第一位置时的结构示意图；
24.图16是本发明提供的光电传感器快门处于第二位置时的结构示意图；
25.图17是本发明提供的光电传感器快门的第二实施例的结构示意图；
26.图18是本发明提供的走钞故障模拟系统的第三实施例的结构示意图。
具体实施方式
27.下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
28.请参阅图1，图1是本发明提供的金融自助设备的一实施例的结构示意图。在本实施场景中，金融自助设备为atm机芯。走钞通道10包括分离部11、走钞通道12和积累部13。分离部11用于从钞堆底部逐张分离钞票堆的钞票，按一定间隔间隙，逐张把钞票传送到走钞通道12。走钞通道12用于按照接收的顺序逐张将钞票匀速传送到累积部13。累积部13用于逐张接收走钞通道送来的钞票并将其叠放整齐备用。
29.为了控制和检测钞票的位置。在走钞通道12中不同的位置，安装了一些模拟光电对射传感器。一个位置称为通道的一个节点(node)。一个节点可以并排安装多个模拟光电对射传感器。同一位置处并排的多个模拟光电对射传感器组成此节点。请结合参阅图2，图2是本发明提供的走钞通道走钞正常的一实施例的结构示意图。
30.如图2所示，节点node002由单个模拟光电对射传感器sc003组成；而节点node003由3个模拟光电对射传感器组成，他们分别是sc004、sc005、sc006。实际应用的走钞通道中，在哪个位置设置节点，每个节点并排安装多少个模拟光电对射传感器。是根据实际应用的结构而设定的。在此不详细描述。
31.在此示例中，各模拟光电对射传感器与其组成的节点(走钞通道的位置)间的关系如表1所示：
32.位置节点模拟光电对射传感器10mmnode001sc001、sc002120mmnode002sc003350mmnode003sc004、sc005、sc006630mmnode004sc007、sc008
33.表1
34.假设此张钞票的宽度是76mm。以1mm/ms的速度通过此走钞通道。在第10ms时刻，钞票到达节点node001，同时触发了sc001和sc002，使这两个模拟光电对射传感器遮挡，其电信号变成高电平。在第86ms时，钞票尾离开节点node001位置，即钞尾同时离开模拟光电对射传感器sc001和sc002，这两个模拟光电对射传感器变成畅通状态，其对应的电信号变为低电平。此信号下降沿即为票尾离开节点的触发事件。其他模拟光电对射传感器的触发与此同理，此处不再进行赘述。请结合参阅图3，图3是本发明提供的模拟光电对射传感器电平变化第一实施例中的时序示意图。
35.请结合参阅图4，图4是本发明提供的atm机芯的控制系统一实施例的结构示意图。atm机芯的控制系统20包括工控电脑21、主控设备22和至少一个mcu(microcontroller unit，微控制单元)23。工控电脑21包括客户应用层，用于提供人机界面以及客户端与服务器的通讯协议。中间层，用于为ap层提供符合xfs协议的接口协议。并控制管理各个挂接的设备。包括机芯的控制。驱动层，用于提供与主控设备22通讯的命令协议。工控电脑21和主控设备22通过usb(universal serial bus，通用串行总线)连接，每个mcu23连接至少一个模拟光电对射传感器。
36.在日常走钞业务中，每个模拟光电对射传感器将其通过感应是否被遮挡而生成的电信号(高电平和低电平)发送给其连接的mcu23，mcu23根据接收到的电信号生成can(controller area network，控制器局域网络)消息，将can消息发送至主控设备22，主控设备22接收到can消息时，会将此can消息记录到日志sensor_yyyymmdd_[hh
‑
mm
‑‑
ss].log中。例如,其中can每个消息格式如下：
[0037]
[tickproc]:[senidx],[sts],[tickrcv]
[0038]
其中，tickproc，表示此传感器can消息从队列中取出处理的时刻，单位us。
[0039]
senidx，表示模拟光电对射传感器的编号。
[0040]
sts，表示模拟光电对射传感器的状态；其中，0，表示畅通；1，表示遮挡。
[0041]
tickrcv，表示该can消息从can总线上接收到，放入队列的时刻。单位us。
[0042]
在运行期间，日志文件临时存放在主控设备22的文件系统中。待应用业务完成后。工控电脑21再通过读取日志命令将主控设备22中的日志，读取到工控电脑21的文件系统中。
[0043]
根据上述描述可知，每一笔走钞业务，多张走钞的模拟光电对射传感器的触发信号都会记录在日志文件中，若在现场发生卡钞等故障时，现场技术支持人员可把日志文件发回，根据日志文件能够模拟现场故障现象，从而技术人员可以进行技术分析。
[0044]
请参阅图5，图5是本发明提供的走钞故障模拟系统的第一实施例的结构示意图。走钞故障模拟系统30包括日志解析器31、传感器时序模拟器32和主控设备33。
[0045]
日志解析器31用于获取现场技术支持人员提供的现场日志文件，现场日志文件可以是从发生卡钞的atm机芯的主控设备或者工控电脑中获取的。发生卡钞的atm机芯的mcu根据连接的模拟光电对射传感器的电信号生成can消息并通过can总线将can消息发送至发生卡钞的atm机芯的主控设备，发生卡钞的atm机芯的主控设备将其记录在现场日志文件中。因此，现场日志文件与模拟光电对射传感器的电信号是对应的，现场日志文件记录了atm机芯现场运行走钞期间，主控设备接收到各个模拟光电对射传感器的触发时刻、处理时刻、模拟光电对射传感器的编号及状态(遮挡/畅通)等信息，
[0046]
日志解析器31对现场日志文件进行解析，获取传感器事件文件。传感器事件文件包括各个模拟光电对射传感器的状态(遮挡/畅通)的跳变边沿时刻。现场日志文件记录的时刻，为各个模拟光电对射传感器实际动作的时刻。而传感器事件文件中描述的，是各个传感器触发时刻间隔关系，是时序图的文本表达形式。
[0047]
传感器时序模拟器32与日志解析器31通过usb(universal serial bus，通用串行总线)连接。日志解析器31操作系统非实时操作系统，无法准确实现各个模拟光电对射传感器的can消息的毫秒级模拟。因此，需要将传感器事件文件传送到一个基于单片机的模拟器，即传感器时序模拟器32中。传感器时序模拟器32用于根据传感器事件文件生成至少一个can消息。传感器时序模拟器32包括基于单片机的电路321，基于单片机的电路包括硬件定时器3211，可以实现毫秒及或十微秒级的定时，从而能够精确模拟发送指定延时的can消息。
[0048]
在一个实施场景中，传感器时序模拟器32根据传感器事件文件对应的传感器事件队列，传感器事件队列包括至少一个传感器元素，每个传感器元素包括传感器序号、延时时间和触发事件。其中，触发事件包括传感器被遮挡和传感器畅通的情况。根据该至少一个传感器元素生成至少一个控制器局域网络总线消息，并将至少一个控制器局域网络总线消息在其对应的延时时间发送至主控设备33。
[0049]
主控设备33与传感器时序模拟器32通过can总线连接，用于接收至少一个控制器局域网络总线消息。自此，成功模拟了在发生卡钞的atm机芯中，mcu根据连接的模拟光电对射传感器的电信号生成can消息并通过can总线将can消息发送至发生卡钞的atm机芯的主控设备的过程，使得技术人员可以根据当前走钞故障模拟系统30的情况进行分析，而无需到达卡钞现场，且采用走钞故障模拟系统30可以随时进行卡钞情况模拟，以及进行多次重复模拟，有利于技术人员更快诊断导致卡钞的问题节点，提升工作效率，降低工作成本。
[0050]
在其他实施场景中，按照预设时间间隔启动/中断硬件计时器3211，间隔时间可在十微秒内。当硬件计时器处于中断状态时，遍历传感器事件队列，判断是否存在延时时间匹配的至少一个控制器局域网络总线消息，若存在，则发送该至少一个控制器局域网络总线消息。
[0051]
在其他实施场景中，针对每一个传感器事件队列，遍历该传感器事件队列中的至少一个传感器元素，对每个传感器元素进行计时，判断当前时刻是否满足其中某个或某几个传感器元素的延时时间，若满足，则根据这个或者几个传感器元素生成一个或多个控制器局域网络总线消息，并发送该一个或多个控制器局域网络总线消息至主控设备33。
[0052]
在其他实施场景中，判断传感器事件队列是否为空，若传感器事件队列不为空，则针对传感器事件队列中至少一个传感器元素进行计时；根据传感器事件队列中至少一个传感器元素的排序的依次读取传感器事件队列中的传感器元素，判断当前计时是否满足当前读取的传感器元素的延时时间，若当前计时满足当前读取的传感器元素的延时时间，则取出当前读取的传感器元素，根据前读取的传感器元素生成控制器局域网络总线消息并发送控制器局域网络总线消息；若当前计时不满足当前读取的传感器元素的延时时间，则将当前读取的传感器元素的延时时间减1。
[0053]
具体地说，首先判断传感器事件队列是否为空，若传感器事件队列为空，则表示传感器事件队列中的传感器元素已经全部遍历后取出，则在该传感器事件队列上设置任务完
成标识。
[0054]
若传感器事件队列不为空，则将遍历指针指向传感器事件队列排序第一的传感器元素，读取第一个传感器元素，但不取出。判断当前计时是否满足第一个传感器元素的延时时间，若满足，则从传感器事件队列取出第一个传感器元素，根据第一个传感器元素生成can消息，并发送该can消息。
[0055]
若当前计时不满足第一个传感器元素的延时时间，则将第一个传感器元素的延时时间减1，读取第二个传感器元素，重复上述步骤，直至遍历传感器事件队列的全部传感器元素。
[0056]
若传感器事件队列的全部传感器元素全部被取出，则该传感器事件队列为空，本次模拟完成并结束。
[0057]
请结合参阅图2和图3，在图2所示的情景中，钞票走钞正常，传感器时序模拟器32生成的传感器事件文件对应于图3所示的时序示意图。当硬件计时器处于中断状态后，第10ms传感器时序模拟器32生成两个can消息并发送至主控设备33，这两个can消息分别对应模拟光电对射传感器sc001和sc002的电信号由低电平变为高电平的电平变化，即对应此刻模拟光电对射传感器sc001和sc002被钞票遮挡的触发事件。第86ms传感器时序模拟器32生成两个can消息并发送至主控设备33，这两个can消息分别对应模拟光电对射传感器sc001和sc002的电信号由高电平变为低电平的电平变化，即对应此刻模拟光电对射传感器sc001和sc002被不再被遮挡，处于畅通状态的触发事件。其他的can消息的生成和发送与此类似，此处不再进行赘述。
[0058]
请结合参阅图6和图7，图6是本发明提供的走钞通道走钞倾斜的一实施例的结构示意图。图7是本发明提供的模拟光电对射传感器电平变化第二实施例中的时序示意图。当硬件计时器处于中断状态后，第10ms传感器时序模拟器32生成一个can消息并发送至主控设备33，该can消息对应模拟光电对射传感器sc001的电信号由低电平变为高电平的电平变化，即对应此刻sc001被钞票遮挡的触发事件。第10+deltat ms(其中，delta是由于钞票处于倾斜状态，从而钞票的一部分比另一部分更晚(本实施场景中是下半部分比上半部分更晚)离开node1，delta的值与钞票的倾斜角度相关，钞票倾斜角度越大，delta的值越大)传感器时序模拟器32生成一个can消息并发送至主控设备33，该can消息对应模拟光电对射传感器sc002的电信号由低电平变为高电平的电平变化，即对应此刻模拟光电对射传感器sc002被钞票遮挡的触发事件。第86ms传感器时序模拟器32生成一个can消息并发送至主控设备33，该can消息对应模拟光电对射传感器sc001的电信号由高电平变为低电平的电平变化，即对应此刻模拟光电对射传感器sc001被不再被遮挡，处于畅通状态的触发事件。第86+deltat ms传感器时序模拟器32生成一个can消息并发送至主控设备33，该can消息对应模拟光电对射传感器sc002的电信号由高电平变为低电平的电平变化，即对应此刻模拟光电对射传感器sc002被不再被遮挡，处于畅通状态的触发事件。其他的can消息的生成和发送与此类似，此处不再进行赘述。
[0059]
成功模拟了走钞倾斜时atm机芯的主控设备接收到的can消息。若发生卡钞事故可以根据主控设备33接收到的can消息判断是由于走钞倾斜导致的。
[0060]
请结合参阅图8和图9，图8是本发明提供的走钞通道明卡钞的一实施例的结构示意图。图9是本发明提供的模拟光电对射传感器电平变化第三实施例中的时序示意图。在图
8所示的场景中，钞票被卡在节点node001处。当硬件计时器处于中断状态后，第10ms传感器时序模拟器32生成两个can消息并发送至主控设备33，这两个can消息分别对应模拟光电对射传感器sc001和sc002的电信号由低电平变为高电平的电平变化，即对应此刻模拟光电对射传感器sc001和sc002被钞票遮挡的触发事件。由于钞票卡在节点node001处，因此sc001和sc002的电平将不会变化，其他节点的模拟对射光电传感器不会被钞票遮挡，也不会有电平变化，主控设备将长时间接收不到其他can消息。
[0061]
成功模拟了明卡钞时atm机芯的主控设备接收到的can消息。可以根据主控设备33接收到的can消息找到发生卡钞的节点位置。
[0062]
请结合参阅图10和图11，图10是本发明提供的走钞通道暗卡钞的一实施例的结构示意图。图11是本发明提供的模拟光电对射传感器电平变化第三实施例中的时序示意图。在图10所示的情景中，钞票离开模拟光电对射传感器sc002后，卡在节点node002和node003之间，未能在期望的时刻到达节点node003的模拟光电对射传感器。
[0063]
当硬件计时器处于中断状态后，第10ms传感器时序模拟器32生成两个can消息并发送至主控设备33，这两个can消息分别对应模拟光电对射传感器sc001和sc002的电信号由低电平变为高电平的电平变化，即对应此刻sc001和sc002被钞票遮挡的触发事件。第86ms传感器时序模拟器32生成两个can消息并发送至主控设备33，这两个can消息分别对应模拟光电对射传感器sc001和sc002的电信号由高电平变为低电平的电平变化，即对应此刻sc001和sc002被不再被遮挡，处于畅通状态的触发事件。第120ms传感器时序模拟器32生成一个can消息，对应模拟光电对射传感器sc003由低电平变为高电平的电平变化，即对应此刻模拟光电对射传感器sc003被钞票遮挡的触发事件。第206ms传感器时序模拟器32生成一个can消息，对应模拟光电对射传感器sc003由高电平变为低电平的电平变化，即对应此刻模拟光电对射传感器sc003不再被遮挡，处于畅通状态的触发事件。由于钞票出现卡钞，剩余的模拟光电对射传感器的电平将不会出现变化。主控设备将长时间接收不到其他can消息。
[0064]
成功模拟了暗卡钞时atm机芯的主控设备接收到的can消息。可以根据主控设备33接收到的can消息找到发生卡钞的节点位置。
[0065]
通过上述描述可知，在本实施例中，通过解析现场日志文件，生成传感器事件文件，根据传感器事件文件生成至少一个控制器局域网络总线消息，将至少一个控制器局域网络总线消息发送给主控设备，可以模拟卡钞时atm机芯中mcu向主控设备发送can消息的情景，而无需到达卡钞现场，且可以随时进行多次重复模拟，有利于技术人员更快诊断导致卡钞的问题节点，提升工作效率，降低工作成本。
[0066]
请参阅图12，图12是本发明提供的走钞故障模拟系统的第二实施例的结构示意图。走钞故障模拟系统40包括日志解析器41、传感器时序模拟器42、主控设备43、驱动电路44和光电传感器组45。
[0067]
日志解析器41用于获取现场技术支持人员提供的现场日志文件，、对现场日志文件进行解析，获取传感器事件文件。传感器事件文件包括各个模拟光电对射传感器的状态(遮挡/畅通)的跳变边沿时刻。传感器时序模拟器42与日志解析器41连接，用于根据传感器事件文件生成模拟时序配置文件。主控设备43与传感器时序模拟器42连接，用于根据模拟时序配置文件生成至少一个驱动控制信号。模拟时序配置文件与上文中的传感器事件文件
类似，是各发生卡钞的atm机芯所包括的模拟光电对射传感器在卡钞过程中电平变化的时序图的文本表达。
[0068]
光电传感器组45包括至少一个光电传感器451，光电传感器451的数量可以与发生卡钞的atm机芯所包括的模拟光电对射传感器的数量相同，以实现卡钞状态重现。主控设备43获取每一个光电传感器451对应的发生卡钞的atm机芯所包括的模拟光电对射传感器，根据模拟时序配置文件获取对应于每一个模拟光电对射传感器的电平变化时延和触发内容，根据电平变化时延和触发内容生成至少一个驱动控制信号。
[0069]
请结合参阅图13，图13是本发明提供的光电传感器的结构示意图。每个光电传感器451包括光电传感器快门4511。如图5所示的，光电传感器快门4511安装在光电传感器451原来放置光电管4512的位置，而光电管4512设置在光电传感器快门4511上方。开启光电传感器快门4511，则光电管4512的光可进入接收管4513，模拟走钞通道畅通的状态。关闭电控快门，则光电管4512发出的光被光电传感器快门4511遮挡，模拟通道被钞票遮挡的状态。在一个实施场景中，光电传感器快门4511包括一个可移动遮光板，当可移动遮光板移动至第一位置时，光电管4512的光线能够照射至光电传感器451的接收管4513，当可移动遮光板移动至第二位置时，光电管4512的光线被可移动遮光板挡住，则照射不到接收管4513。
[0070]
驱动电路44与每个光电传感器451的光电传感器快门4511连接，根据接收到的至少一个驱动控制信号，在每个驱动控制信号对应电平变化时延的时间，向对应的光电传感器451的光电传感器快门4511发送驱动控制信号，以驱动光电传感器快门4511开启或者关闭。
[0071]
具体地说，请结合参阅2和图3，在图2所示的情景中，设置有7个模拟光电对射传感器(sc001
‑
sc007)，则光电传感器451的数量也为7个，分别对应模拟光电对射传感器sc001
‑
sc007。当主控设备43将至少一个驱动控制信号发送给驱动电路44后，第10ms驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc001和sc002的光电传感器451的光电传感器快门4511关闭，模拟被钞票遮挡的情况，第86ms时，驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc001和sc002的光电传感器451的光电传感器快门4511开启，模拟钞票离开的情况，其他的驱动控制信号驱动光电传感器快门4511的情况与此类似，此处不再进行赘述。
[0072]
请结合参阅图6和图7，当主控设备43将至少一个驱动控制信号发送给驱动电路44后，第10ms驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc001的光电传感器451的光电传感器快门4511关闭，模拟被钞票遮挡的情况，第10+deltat ms驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc002的电传感器451的光电传感器快门4511关闭，模拟被钞票遮挡的情况，第86ms时，驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc001的光电传感器451的光电传感器快门4511开启，模拟钞票一角离开的情况。第86+deltat ms时，驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc002的光电传感器451的光电传感器快门4511开启，模拟钞票另一角离开的情况，其他的驱动控制信号驱动光电传感器快门4511的情况与此类似，此处不再进行赘述。
[0073]
成功模拟了走钞倾斜时atm机芯的走钞通道中各个模拟光电对射传感器感应到的光线情况(遮挡或畅通)。
[0074]
请结合参阅图8和图9，在图8所示的场景中，钞票被卡在节点node001处。当主控设备43将至少一个驱动控制信号发送给驱动电路44后，第10ms驱动电路44驱动对应于模拟光
电对射传感器sc001和sc002的光电传感器451的光电传感器快门4511关闭，模拟被钞票遮挡的情况。由于钞票卡在节点node001处，因此后续没有驱动控制信号驱动所有光电传感器快门4511开启或关闭。
[0075]
成功模拟了明卡钞时atm机芯的的走钞通道中各个模拟光电对射传感器感应到的光线情况(遮挡或畅通)。
[0076]
请结合参阅图10和图11，在图10所示的情景中，钞票离开模拟光电对射传感器sc002后，卡在节点node002和node003之间，未能在期望的时刻到达节点node003的模拟光电对射传感器。当主控设备43将至少一个驱动控制信号发送给驱动电路44后，第10ms驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc001和sc002的光电传感器451的光电传感器快门4511关闭，模拟被钞票遮挡的情况，第86ms时，驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc001和sc002的光电传感器451的光电传感器快门4511开启，模拟钞票离开的情况。第120ms驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc003的光电传感器451的光电传感器快门4511关闭，模拟被钞票遮挡的情况，第206ms驱动电路44驱动对应于模拟光电对射传感器sc003的光电传感器451的光电传感器快门4511打开，模拟钞票离开的情况。由于钞票出现卡钞，后续没有驱动控制信号驱动所有光电传感器快门4511开启或关闭。
[0077]
成功模拟了暗卡钞时atm机芯的的走钞通道中各个模拟光电对射传感器感应到的光线情况(遮挡或畅通)。
[0078]
通过上述描述可知，在本实施例中
[0079]
请参阅图14，图14是本发明提供的光电传感器快门的第一实施例的结构示意图。光电传感器快门50包括对应设置的第一电磁铁51和第二电磁铁52、可移动遮光板53和状态维持弹簧件54，可移动遮光板53包括遮光件531和磁性件532。磁性件532设置于遮光件531靠近第一电磁铁51和第二电磁铁52的一侧，磁性件532设置于遮光件531远离光电传感器通光孔的一端。磁性件532位于第一电磁铁51和第二电磁铁52之间。
[0080]
请结合参阅图15和图16，图15是本发明提供的光电传感器快门处于第一位置时的结构示意图，图16是本发明提供的光电传感器快门处于第二位置时的结构示意图。第一电磁铁51和第二电磁铁52不同时处于工作状态，在图15所示的场景中，第一磁铁51处于工作状态，对磁性件532产生吸附力，吸附住磁性件532，使得磁性件532带动遮光件531向第一电磁铁51的方向移动至第一位置，第一磁铁51与光电传感器的通光孔处于同一侧，因此，遮光件531移动至第一位置将遮住通光孔，光电传感器的光电管的光线被可移动遮光板53挡，即实现了关闭光电传感器快门50。
[0081]
在图16所示的场景中，第二电磁铁52处于工作状态，对磁性件532产生吸附力，吸附住磁性件532，使得磁性件532带动遮光件531向第二电磁铁52的方向移动至第二位置，第二磁铁52远离光电传感器的通光孔设置，因此，遮光件531移动至第二位置将使得通光孔畅通，光电管的光线能够照射至光电传感器的接收管，即实现了打开光电传感器快门50。
[0082]
通过上述描述可知，在本实施例中解析现场日志文件，生成传感器事件文件，根据传感器事件文件生成模拟时序配置文件，根据模拟时序配置文件生成至少一个驱动控制信号；根据至少一个驱动控制信号驱动至少一个光电传感器的光电传感器快门关闭或开启，从而模拟走钞通道中的传感器被钞票遮挡或者钞票离开后的光线畅通的情景，而无需到达卡钞现场，且可以随时进行多次重复模拟，有利于技术人员更快诊断导致卡钞的问题节点，
提升工作效率，降低工作成本。
[0083]
请参阅图17，图17是本发明提供的光电传感器快门的第二实施例的结构示意图。光电传感器快门60还可以是手动触发的开关，包括供电电池61、三档扭子开关62、第一电磁铁63、第二电磁铁64和可移动遮光板(图未示)，其中第一电磁铁63、第二电磁铁64和可移动遮光板与本发明提供的光电传感器快门的第一实施例中的第一磁铁51、第二磁铁52和可移动遮光板53的位置关系和功能基本一致，此处不再赘述。供电电池61连接三档扭子开关62，三档扭子开关62分别连接第一电磁铁63和第二电磁铁64。
[0084]
三档扭子开关62通常处于中间档，不通电，光电传感器快门60保持原状态，三档扭子开关62的左档对应第一电磁铁63处于工作状态，三档扭子开关62的右档对应第二电磁铁64处于工作状态。
[0085]
通过上述描述可知，在本实施例中，通过手动拨动三档扭子开关可以实现对光电传感器快门的控制，可以手动模拟走钞通道中的传感器被钞票遮挡或者钞票离开后的光线畅通的情景，能够根据技术人员的需求进行模拟，方便技术人员进行分析。
[0086]
请参阅图18，图18是本发明提供的走钞故障模拟系统的第三实施例的结构示意图。走钞故障模拟系统70包括时序编辑器71、传感器时序模拟器72和主控设备73。时序编辑器71用于获取用户输入的编辑指令，根据编辑指令生成传感器事件文件。传感器时序模拟器72和主控设备73与本发明提供的走钞故障模拟系统的第一实施例中的传感器时序模拟器32和主控设备33的结构和功能基本一致，此处不再进行赘述。
[0087]
通过上述描述可知，在本实施例中通过获取用户输入的编辑指令，根据编辑指令生成传感器事件文件，可以实现根据用户的需求模拟正常走钞或者卡钞等不同的场景，以方便用户进行测试、调试。
[0088]
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0089]
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。